孔类尺寸及形位综合检具.pdf

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1、(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 (45)授权公告日 (21)申请号 202020042112.4 (22)申请日 2020.01.09 (73)专利权人 中核 （天津） 科技发展有限公司 地址 300180 天津市河东区津塘路168号 (72)发明人 王斌殷红秋杨建华 (74)专利代理机构 天津市宗欣专利商标代理有 限公司 12103 代理人 马倩 (51)Int.Cl. G01B 5/00(2006.01) (54)实用新型名称 一种孔类尺寸及形位综合检具 (57)摘要 本实用新型公开了一种孔类尺寸及形位综 合检具， 包括检具主体， 其包括依次。

2、连接的光轴 段、 外螺纹段、 过渡段和手柄段， 光轴段与外螺纹 段共轴线， 光轴段的外径小于外螺纹段的大径。 本实用新型可满足设计有连续光孔和螺孔的工 件尺寸及形位误差检验使用， 检具在准确检测连 续阶梯孔尺寸的同时， 检验了孔间的同轴度和圆 度， 实现了几何尺寸和形位误差的同步检测。 权利要求书1页 说明书3页 附图2页 CN 211120939 U 2020.07.28 CN 211120939 U 1.一种孔类尺寸及形位综合检具， 其特征在于： 包括检具主体 （1） ， 其包括依次连接的 光轴段 （11） 、 外螺纹段 （12） 、 过渡段 （13） 和手柄段 （14） ， 光轴段 （1。

3、1） 与外螺纹段 （12） 共轴 线， 光轴段 （11） 的外径小于外螺纹段 （12） 的大径。 2.根据权利要求1所述的孔类尺寸及形位综合检具， 其特征在于： 所述过渡段 （13） 、 手 柄段 （14） 和外螺纹段 （12） 共轴线。 3.根据权利要求1所述的孔类尺寸及形位综合检具， 其特征在于： 所述过渡段 （13） 的外 径小于外螺纹段 （12） 的小径。 4.根据权利要求1所述的孔类尺寸及形位综合检具， 其特征在于： 所述手柄段 （14） 的外 径大于于外螺纹段 （12） 的外径。 5.根据权利要求1所述的孔类尺寸及形位综合检具， 其特征在于： 所述光轴段 （11） 的外 表面粗糙度。

4、小于1.6 m。 6.根据权利要求1所述的孔类尺寸及形位综合检具， 其特征在于： 所述外螺纹段 （12） 的 外表面粗糙度小于1.6 m。 权利要求书 1/1 页 2 CN 211120939 U 2 一种孔类尺寸及形位综合检具 技术领域 0001 本实用新型属于量规量具领域， 具体涉及一种孔类尺寸及形位综合检具。 背景技术 0002 孔类产品的生产过程中需要对产品的尺寸进行检验， 检验常用光滑极限量规进行 计数型合格性判定， 而对于螺纹孔的检验则通常采用螺纹塞规进行检测。 当被检孔为光孔 和螺孔的分段式组合阶梯孔， 光孔位于螺孔下部， 且两段孔之间有关联性形位要求时， 常规 的标准通止规无法。

5、实现准确检测。 实用新型内容 0003 本实用新型是为了克服现有技术中存在的缺点而提出的， 其目的是提供一种孔类 尺寸及形位综合检具。 0004 本实用新型是通过以下技术方案实现的： 0005 一种孔类尺寸及形位综合检具， 包括检具主体， 其包括依次连接的光轴段、 外螺纹 段、 过渡段和手柄段， 光轴段与外螺纹段共轴线， 光轴段的外径小于外螺纹段的大径。 0006 在上述技术方案中， 所述过渡段、 手柄段和外螺纹段共轴线。 0007 在上述技术方案中， 所述过渡段的外径小于外螺纹段的小径。 0008 在上述技术方案中， 所述手柄段的外径大于于外螺纹段的外径。 0009 在上述技术方案中， 所述。

6、光轴段的外表面粗糙度小于1.6 m。 0010 在上述技术方案中， 所述外螺纹段的外表面粗糙度小于1.6 m。 0011 本实用新型的有益效果是： 0012 本实用新型提供了一种孔类尺寸及形位综合检具， 可实现连续阶梯孔的工件的尺 寸及形位误差同时检测， 解决传统检测方法无法实现有效检测的问题。 附图说明 0013 图1是本实用新型一种孔类尺寸及形位综合检具的主视图； 0014 图2是本实用新型实施例1中被测工件的剖视图； 0015 图3是本实用新型一种孔类尺寸及形位综合检具检测实施例1中被测工件时的使 用状态图。 0016 其中： 0017 1 检具主体 0018 11 光轴段 12 外螺纹。

7、段 0019 13 过渡段 14 手柄段 0020 2 被测工件。 0021 对于本领域普通技术人员来讲， 在不付出创造性劳动的前提下， 可以根据以上附 图获得其他的相关附图。 说明书 1/3 页 3 CN 211120939 U 3 具体实施方式 0022 为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型技术方案， 下面结合说明书附图 并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型一种孔类尺寸及形位综合检具的技术方案。 0023 实施例1 0024 如图1、 3所示， 一种孔类尺寸及形位综合检具， 包括检具主体1， 其包括依次连接的 光轴段11、 外螺纹段12、 过渡段13和手柄段14， 光轴段11与外。

8、螺纹段12共轴线， 光轴段11的 外径小于外螺纹段12的大径。 0025 所述过渡段13、 手柄段14和外螺纹段12共轴线。 0026 所述过渡段13的外径小于外螺纹段12的小径。 0027 所述手柄段14的外径大于于外螺纹段12的外径。 0028 所述光轴段11用于检测被测工件2的阶梯孔的通孔段。 光轴段11采用磨削加工的 方式成型， 并经过热处理提高耐磨性， 其外径尺寸依据光滑极限量规国家标准通过计算得 到。 外表面粗糙度要求小于1.6 m， 避免测量时划伤工件2； 与基准的同轴度要求， 根据被检 孔的设计尺寸和形位公差要求确定， 一般小于设计精度的1/10。 0029 所述外螺纹段12用。

9、于检测被测工件2的阶梯孔的螺孔段。 外螺纹段12采用精密车 削或磨削加工， 为检具的设计基准， 并经过热处理提高耐磨性， 其几何尺寸依据螺纹塞规国 家标准通过计算得到。 外表面粗糙度要求小于1.6 m， 避免测量时划伤工件2； 为了保证螺纹 检测时顺利旋入被检螺孔， 其圆度设计根据被检螺孔的设计尺寸和形位公差要求确定， 一 般小于设计精度的1/5。 0030 由于光轴段11和外螺纹段12严格的同轴度要求， 可在检测内径尺寸的同时， 实现 对同轴度的检测。 0031 所述光轴段11和螺纹段12之间进行清根处理， 避免加工留存的毛刺划伤工件。 0032 所述过渡段13便于检具主体1进出被测工件2。。

10、 0033 所述手柄段14用于使用者握持检具主体1， 便于使用。 0034 本实施例中的被测工件2的结构如图2所示， 所述被测工件2为圆柱型结构， 中间形 成阶梯孔， 阶梯孔的上段为螺纹孔， 下段为光孔， 且螺纹孔孔径大于光孔孔径。 0035 本实用新型的使用方法为： 0036 将综合检具1沿轴向方向插入被测工件2螺孔内， 当检具1螺纹段与被测工件2内螺 孔接触式， 开始旋入检具1。 若检具1可顺利旋入并旋出， 表明工件2的阶梯孔的尺寸及形位 公差合格； 若在检具1外螺纹未接触工件2螺孔时， 即出现配合困难， 表明被测工件2光孔不 符合要求， 此时， 不再检测螺孔； 若光孔段可顺利配合， 旋入。

11、螺孔时出现配合困难， 表明螺孔 不符合设计要求。 0037 本实用新型可满足设计有连续光孔和螺孔的工件尺寸及形位误差检验使用， 检具 在准确检测连续阶梯孔尺寸的同时， 检验了孔间的同轴度和圆度， 实现了几何尺寸和形位 误差的同步检测。 0038 需要说明的是， 在不冲突的情况下， 本实用新型中的实施例及实施例中的特征可 以相互组合。 0039 在本实用新型的描述中， 需要理解的是， 术语 “中心” 、“纵向” 、“横向” 、“上” 、“下” 、 “前” 、“后” 、“左” 、“右” 、“竖直” 、“水平” 、“顶” 、“底” 、“内” 、“外” 等指示的方位或位置关系为 说明书 2/3 页 4。

12、 CN 211120939 U 4 基于附图所示的方位或位置关系， 仅是为了便于描述本实用新型和简化描述， 而不是指示 或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、 以特定的方位构造和操作， 因此不能理解 为对本实用新型的限制。 此外， 术语 “第一” 、“第二” 等仅用于描述目的， 而不能理解为指示 或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。 由此， 限定有 “第一” 、“第二” 等 的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。 在本实用新型的描述中， 除非另 有说明，“多个” 的含义是两个或两个以上。 0040 在本实用新型的描述中， 需要说明的是， 除非另有明确的规定和限定。

13、， 术语 “安 装” 、“相连” 、“连接” 应做广义理解， 例如， 可以是固定连接， 也可以是可拆卸连接， 或一体地 连接； 可以是机械连接， 也可以是电连接； 可以是直接相连， 也可以通过中间媒介间接相连， 可以是两个元件内部的连通。 对于本领域的普通技术人员而言， 可以通过具体情况理解上 述术语在本实用新型中的具体含义。 0041 申请人声明， 以上所述仅为本实用新型的具体实施方式， 但本实用新型的保护范 围并不局限于此， 所属技术领域的技术人员应该明了， 任何属于本技术领域的技术人员在 本实用新型揭露的技术范围内， 可轻易想到的变化或替换， 均落在本实用新型的保护范围 和公开范围之内。 说明书 3/3 页 5 CN 211120939 U 5 图1 图2 说明书附图 1/2 页 6 CN 211120939 U 6 图3 说明书附图 2/2 页 7 CN 211120939 U 7 。