射频模块的自动测试系统.pdf

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1、(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 (45)授权公告日 (21)申请号 202021383175.2 (22)申请日 2020.07.15 (73)专利权人 成都泽耀科技有限公司 地址 610000 四川省成都市高新区西芯大 道3号5栋2层203-2、 203-4号 (72)发明人 李健 (74)专利代理机构 成都中络智合知识产权代理 有限公司 51300 代理人 嬴雨径李永生 (51)Int.Cl. H04B 17/00(2015.01) (54)实用新型名称 一种射频模块的自动测试系统 (57)摘要 本申请公开了一种射频模块的自动测试系 统， 包。

2、括： 电测试驱动模块， 与被测的多个射频模 块连接供电进行电参数测试， 并通过内置的反馈 组件进行故障反馈； 信号测试控制模块， 用于连 接多个信号测试仪器和多个射频模块， 并由内部 设有的多个开关矩阵来实现射频信号的传输通 断； 主控制模块， 连接有外部电源， 通过与电测试 驱动模块连接对每个被测的射频模块进行独立 供电并检测电参数， 通过与信号测试控制模块连 接控制信号测试仪器对被测的射频模块进行信 号测试； 并将电参数和信号测试结果发送至计算 机中进行汇总反馈。 权利要求书2页 说明书7页 附图8页 CN 212258965 U 2020.12.29 CN 212258965 U 1.一。

3、种射频模块的自动测试系统， 通过计算机连接现有仪器对多个射频模块同时进行 电参数和射频参数的自动测试， 其特征在于， 包括： 电测试驱动模块， 与被测的多个射频模块连接供电进行电参数测试， 并通过内置的反 馈组件进行故障反馈； 信号测试控制模块， 用于连接多个信号测试仪器和多个射频模块， 并由内部设有的多 个开关矩阵来实现射频信号的传输通断； 主控制模块(2)， 连接有外部电源， 通过与电测试驱动模块连接对每个被测的射频模块 进行独立供电并检测电参数， 通过与信号测试控制模块连接控制信号测试仪器对被测的射 频模块进行信号测试； 并将电参数和信号测试结果发送至计算机中进行汇总反馈。 2.根据权利。

4、要求1所述的一种射频模块的自动测试系统， 其特征在于： 所述主控制模块 (2)中设有控制板MCU， 通过设有的信号收发端口与计算机连接； 主控制模块(2)还设有供电检测电路和系统供电电路， 通过控制供电检测电路对被测 的射频模块进行供电和电参数测试， 将电参数测试后得到的电参数通过信号收发端口与计 算机连接。 3.根据权利要求2所述的一种射频模块的自动测试系统， 其特征在于： 所述供电检测电 路包括均由控制板MCU控制并为串联关系的负载开关和电流检测器； 所述负载开关为控制被测的射频模块的供电总开关， 所述电流检测器获取所述电参数 并由控制板MCU接收。 4.根据权利要求3所述的一种射频模块的。

5、自动测试系统， 其特征在于： 所述主控制模块 (2)还包括信号控制线路， 通过UART连接口结构以485串行总线标准进行信号传输。 5.根据权利要求4所述的一种射频模块的自动测试系统， 其特征在于： 所述系统中采用 子板集连接座集成系统供电线路、 供电检测电路和控制信号线路。 6.根据权利要求4所述的一种射频模块的自动测试系统， 其特征在于： 所述主控制模块 (2)中还设有与控制板MCU连接的按键接口。 7.根据权利要求2-6任一项所述的一种射频模块的自动测试系统， 其特征在于： 所述信 号测试模块设有连接信号测试仪器的仪器连接端， 还设有多个射频连接头， 每个所述射频 连接头单独连接被测的射。

6、频模块； 所述开关矩阵连接多个射频连接头， 并在信号测试模块中设有连接所有开关矩阵的开 关B； 在仪器连接端上设有开关A， 所述开关A与开关B匹配连接， 并通过设有的控制RF开关 MCU对开关A、 开关B和开关矩阵中设有的开关C进行控制。 8.根据权利要求2-6任一项所述的一种射频模块的自动测试系统， 其特征在于： 所述电 测试驱动模块设有多个并联的驱动电路， 所述驱动电路均由主控制模块控制和供电， 而每 个驱动电路对应一个被测的射频模块并供给测试用电。 9.根据权利要求8所述的一种射频模块的自动测试系统， 其特征在于： 所述驱动电路包 括射频模块驱动板MCU， 所述射频模块驱动板MCU由控制。

7、板MCU进行控制和供电， 并通过控制 设置在驱动电路的开关驱动来实现连接的射频模块供电； 所述的反馈组件为设置在驱动电路中的多个与射频模块对应的LED故障灯驱动， 通过 权利要求书 1/2 页 2 CN 212258965 U 2 对应每个射频模块设有的LED故障灯来进行故障反馈。 10.根据权利要求2-6任一项所述的一种射频模块的自动测试系统， 其特征在于： 所述 信号测试仪器包括信号源(5)、 频谱仪(4)和矢量网络分析仪(3)； 所有信号测试仪器均通过 同轴线与信号测试控制模块连接。 权利要求书 2/2 页 3 CN 212258965 U 3 一种射频模块的自动测试系统 技术领域 00。

8、01 本实用新型属于射频信号测试领域， 具体涉及一种射频模块的自动测试系统。 背景技术 0002 射频模块测试是利用现有的电子测量仪器， 如频谱分析仪、 信号发生源、 网络分析 仪、 噪声分析仪等对模块化产品(主要包括有源模块、 无源模块等)进行各项射频参数指标 的测试。 包括有源模块的功率、 增益、 增益调节范围、 自动电平控制范围(ALC)、 无源模块的 驻波比、 插入损耗、 带内波动、 帯外抑制、 三阶互调、 噪声系数、 杂散发射等指标的测试。 0003 自动测试系统是指在计算机控制下， 能自动进行测量仪器的校准、 参数配置、 测 量、 数据处理与显示或结果输出的系统。 通常是在标准的测。

9、控系统或仪表总线的基础上组 建而成的， 整个测试过程都是在预先编制好的测试程序统一控制下自动完成的， 具有高速 度、 高精度、 多功能、 多参数和较宽的测量范围等特点。 传统的射频模块测试方法及局限， 由 于射频产品的测试专业性较强， 射频生产厂商的设备测试自动化程度都不是很高， 不能形 成一个综合的生产线自动测试系统。 0004 射频模块测试通常需要在一定的条件下对设备的某几项性能参数进行大量重复 的测试。 而目前广泛应用的电子测量仪器， 如频谱分析仪、 网络分析仪等其本身并不具备智 能化的连续自动测试能力， 对该类型仪器的操作较多采用人工单次手动方式。 其局限性主 要有测试数据需要人工记录。

10、、 效率低且容易出错。 0005 另外随着通讯技术的高速发展， 各种无线通讯设备、 模块已经进入批量生产规模， 传统测试方式已经不能满足批量生产的要求。 生产线上的这种测试现状严重制约了生产的 发展壮大， 实现传统电子测量仪器和计算机软件的进一步结合， 利用计算机强大的数据处 理、 管理和发布能力来拓展传统电子测量仪器的测量功能具有现实意义。 实用新型内容 0006 为了解决现有技术中问题， 本申请提供一种射频模块的自动测试系统， 旨在提供 一种集成度高且能够同时对其射频信号与供电参数一同进行测试的系统。 0007 为了达到上述目的， 本申请所采用的技术方案为： 0008 一种射频模块的自动测。

11、试系统， 通过计算机连接现有仪器对多个射频模块同时进 行电参数和射频参数的自动测试， 包括： 0009 电测试驱动模块， 与被测的多个射频模块连接供电进行电参数测试， 并通过内置 的反馈组件进行故障反馈； 0010 信号测试控制模块， 用于连接多个信号测试仪器和多个射频模块， 并由内部设有 的多个开关矩阵来实现射频信号的传输通断； 0011 主控制模块， 连接有外部电源， 通过与电测试驱动模块连接对每个被测的射频模 块进行独立供电并检测电参数， 通过与信号测试控制模块连接控制信号测试仪器对被测的 射频模块进行信号测试； 说明书 1/7 页 4 CN 212258965 U 4 0012 并将电。

12、参数和信号测试结果发送至计算机中进行汇总反馈。 0013 进一步的， 所述主控制模块中设有控制板MCU， 通过设有的信号收发端口与计算机 连接； 0014 主控制模块还设有供电检测电路和系统供电电路， 通过控制供电检测电路对被测 的射频模块进行供电和电参数测试， 将电参数测试后得到的电参数通过信号收发端口与计 算机连接。 0015 进一步的， 所述供电检测电路包括均由控制板MCU控制并为串联关系的负载开关 和电流检测器； 0016 所述负载开关为控制被测的射频模块的供电总开关， 所述电流检测器获取所述电 参数并由控制板MCU接收。 0017 进一步的， 所述主控制模块还包括信号控制线路， 通过。

13、UART连接口结构以485串行 总线标准进行信号传输。 0018 射频模块自动测试系统主要有连接各测量仪表的接口总线、 实现测量切换的射频 开关、 以及实现自动测试的控制软件组成。 在自动测试系统中需要解决仪器、 设备间的接口 问题。 大规模集成电路技术发展， 提供了多种用于自动测试的芯片， 使接口电路的实现变得 简单， 则接口系统已从专用型逐渐发展成为通用型， 不同厂家生产的设备互连在一起， 构成 一个自动测试系统， 就需要各个产品具有相同的接口协议， 即对接口的电气性能、 机械尺 寸、 信号传输形式以及功能四个方面都需要有统一的规定， 实现标准化。 0019 串口是一个泛称， UART、 。

14、TTL、 RS232、 RS485都遵循类似的通信时序协议， 因此都被 通称为串口。 通用异步收发器UART是串口收发的逻辑电路， 这部分可以独立成芯片， 也可以 作为模块嵌入到其他芯片里， 单片机、 SOC、 PC 里都会有UART模块。 0020 通用串行总线， 和串口完全是两个概念。 虽然也是串行方式通信， 但由于 USB的通 信时序和信号电平都和串口完全不同， 因此和串口没有任何关系。 USB 是高速的通信接口， 用于PC连接各种外设， U盘、 键鼠、 移动硬盘、 当然也包括 “USB转串口” 的模块。 0021 而RS485是一种串口接口标准， 为了长距离传输采用差分方式传输， 传输。

15、的是差分 信号， 抗干扰能力比RS232强很多。 0022 进一步的， 所述系统中采用子板集连接座集成系统供电线路、 供电检测电路和控 制信号线路。 0023 进一步的， 所述主控制模块中还设有与控制板MCU连接的按键接口。 0024 进一步的， 所述信号测试模块设有连接信号测试仪器的仪器连接端， 还设有多个 射频连接头， 每个所述射频连接头单独连接被测的射频模块； 0025 所述开关矩阵连接多个射频连接头， 并在信号测试模块中设有连接所有开关矩阵 的开关B； 0026 在仪器连接端上设有开关A， 所述开关A与开关B匹配连接， 并通过设有的控制RF开 关MCU对开关A、 开关B和开关矩阵中设有。

16、的开关C进行控制。 0027 进一步的， 所述电测试驱动模块设有多个并联的驱动电路， 所述驱动电路均由主 控制模块控制和供电， 而每个驱动电路对应一个被测的射频模块并供给测试用电。 0028 进一步的， 所述驱动电路包括射频模块驱动板MCU， 所述射频模块驱动板 MCU由控 制板MCU进行控制和供电， 并通过控制设置在驱动电路的开关驱动来实现连接的射频模块 说明书 2/7 页 5 CN 212258965 U 5 供电； 0029 所述的反馈组件为设置在驱动电路中的多个与射频模块对应的LED故障灯驱动， 通过对应每个射频模块设有的LED故障灯来进行故障反馈。 0030 进一步的， 所述信号测试。

17、仪器包括信号源、 频谱仪和矢量网络分析仪； 所有信号测 试仪器均通过同轴线与信号测试控制模块连接。 0031 本实用新型基于一些较高精度和性能的器件， 结合现有的测试仪器， 设计一套射 频模块的自动化检测， 将以极低成本解决传统测试方法上的低效率问题。 由于非仪表用器 件的测量元器件性能和精度都达到了较高水平， 完全能满足普通射频模块的合格品检测。 0032 其中的主控制模块集成度较高， 且通过子板集连接座集成有供电线路和控制线 路， 从而完成对多个射频模块同时进行多项目测试。 而在每个测试模块中均设有单独的MCU 控制芯片， 来实现较为精确的测试控制。 附图说明 0033 为了更清楚地说明本。

18、申请实施例或现有技术中的技术方案， 下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍， 显而易见地， 下面描述中的附图仅仅是本 申请的一些实施例， 对于本领域技术人员来讲， 在不付出创造性劳动性的前提下， 还可以根 据这些附图获得其他的附图。 0034 图1是本实用新型整个系统的结构关系示意图； 0035 图2是本实用新型的主控制模块的架构图； 0036 图3是本实用新型的电测试驱动模块的架构图； 0037 图4是本实用新型的信号测试控制模块的架构图； 0038 图5是本实用新型配电控制模块的MCU及各引脚的连接示意图； 0039 图6是本实用新型中信号测试控制模块的射频链路控制电。

19、路图； 0040 图7是本实用新型中信号测试控制模块的一个开关矩阵电路图； 可以看到， 其中的 PE42512即为常用的高掷数射频开关， 图中是展示的单个开关矩阵的电路原理， 则该开关对 应图4中的SP12T微波单刀十二掷开关； 0041 且由于实施例3中总共包含有三个并联的开关矩阵， 所有开关矩阵均与同个图4中 展示的SP3T微波单刀三掷开关连接， 但由于整个框图较大， 无法在申请文件中清楚展示， 则 仅截取单个开关矩阵的示意图来表现具体实施方式； 0042 图8是本实用新型中电测试驱动模块中的单个模块驱动电路。 0043 图中： 1-测试工装， 2-主控制模块， 3-矢量网络分析仪， 4-。

20、频谱仪， 5-信号源。 具体实施方式 0044 为使本申请实施例的目的、 技术方案和优点更加清楚， 下面将结合本申请实施例 中的附图， 对本申请实施例中的技术方案进行清楚、 完整地描述， 显然， 所描述的实施例是 本申请一部分实施例， 而不是全部的实施例。 通常在此处附图中描述和示出的本申请实施 例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。 0045 因此， 以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护 的本申请的范围， 而是仅仅表示本申请的选定实施例。 基于本申请中的实施例， 本领域普通 说明书 3/7 页 6 CN 212258965 U 6 技术人员在没有做出创造性劳动。

21、前提下所获得的所有其他实施例， 都属于本申请保护的范 围。 0046 应注意到： 相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项， 因此， 一旦某一项在一 个附图中被定义， 则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。 0047 在本申请的描述中， 需要说明的是， 若出现术语 “中心” 、“上” 、“下” 、“左” 、“右” 、 “竖直” 、“水平” 、“内” 、“外” 等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系， 或者是该申请产品使用时惯常摆放的方位或位置关系， 仅是为了便于描述本申请和简化描 述， 而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、 以特定的方位构造和操作， 因此。

22、不能理解为对本申请的限制。 此外， 本申请的描述中若出现术语 “第一” 、“第二” 等仅用 于区分描述， 而不能理解为指示或暗示相对重要性。 0048 此外， 本申请的描述中若出现术语 “水平” 、“竖直” 等术语并不表示要求部件绝对 水平或悬垂， 而是可以稍微倾斜。 如 “水平” 仅仅是指其方向相对 “竖直” 而言更加水平， 并不 是表示该结构一定要完全水平， 而是可以稍微倾斜。 0049 在本申请的描述中， 还需要说明的是， 除非另有明确的规定和限定， 若出现术语 “设置” 、“安装” 、“相连” 、“连接” 应做广义理解， 例如， 可以是固定连接， 也可以是可拆卸连 接， 或一体地连接；。

23、 可以是机械连接， 也可以是电连接； 可以是直接相连， 也可以通过中间媒 介间接相连， 可以是两个元件内部的连通。 对于本领域的普通技术人员而言， 可以具体情况 理解上述术语在本申请中的具体含义。 0050 实施例1： 0051 射频模块(DUT)的生产测试包括电参数和射频参数： 电压特性、 电流特性、 发射机 性能、 接收机性能。 传统上将测量仪器接口连接测试工装1， 工装再压合到被测模块上， 运行 测试程序， 测试人员查看仪器数据， 根据标准判定是否合格。 由于射频参数测量需要分别连 接射频模拟接口， 不同链路的测试需要重新链接线缆。 所以需要多个工装分别连接信号源 5、 频谱仪4、 矢量。

24、网络分析仪3等测试仪器， 一个工装只能测试一个模块的一项参数。 0052 每次测试的模块只有一个， 工装频繁的上件、 下件， 工作量很大， 效率低； 模块的电 参数拆分了很多子项， 工装成本成倍增加， 需要的测试员成增加， 同时测试人员需要具有使 用仪器的素养， 劳动力质量要求高， 增加人力成本。 为了解决传统测试方法的低效率问题， 需要采用自动化测试系统， 市面上有很多基于仪器的自动化测试系统， 但无一例外的价格 高昂， 无法面向成本敏感的企业。 0053 自动测试系统是指在人很少参与的情形下， 自动进行量测、 处理数据信息， 并以合 适的方式输出结果的系统。 不同的领域会有不同的自动测试系。

25、统， 但一般都是使用计算机 代替人工劳动的活动。 射频模块的自动测试系统是取代传统测试系统， 用计算机远程控制 各种测试仪器进行大规模、 多数量测试的系统。 该系统的成功研制将极大地解决测试者繁 重的手工测试工作， 提高射频模块测试的效率和准确率。 0054 本实施例中公开一种射频模块的自动测试系统， 包括： 电测试驱动模块， 与被测的 多个射频模块连接供电进行电参数测试， 并通过内置的反馈组件进行故障反馈； 信号测试 控制模块， 用于连接多个信号测试仪器和多个射频模块， 并由内部设有的多个开关矩阵来 实现射频信号的传输通断； 主控制模块2， 连接有外部电源， 通过与电测试驱动模块连接对 每个。

26、被测的射频模块进行独立供电并检测电参数， 通过与信号测试控制模块连接控制信号 说明书 4/7 页 7 CN 212258965 U 7 测试仪器对被测的射频模块进行信号测试； 并将电参数和信号测试结果发送至计算机中进 行汇总反馈。 0055 其中， 如图2所示， 图2中展示了主控制模块的架构图， 而图5则是展示了主控制模 块中主要芯片的型号以及引脚连接关系。 主控制模块中设有控制板 MCU， 通过设有的信号 收发端口与计算机连接； 主控制模块还设有供电检测电路和系统供电电路， 通过控制供电 检测电路对被测的射频模块进行供电和电参数测试， 将电参数测试后得到的电参数通过信 号收发端口与计算机连接。

27、。 0056 实施例2： 0057 本实施例同样公开一种射频模块的自动测试系统， 包括： 电测试驱动模块， 与被测 的多个射频模块连接供电进行电参数测试， 并通过内置的反馈组件进行故障反馈； 信号测 试控制模块， 用于连接多个信号测试仪器和多个射频模块， 并由内部设有的多个开关矩阵 来实现射频信号的传输通断； 主控制模块2， 连接有外部电源， 通过与电测试驱动模块连接 对每个被测的射频模块进行独立供电并检测电参数， 通过与信号测试控制模块连接控制信 号测试仪器对被测的射频模块进行信号测试； 并将电参数和信号测试结果发送至计算机中 进行汇总反馈。 0058 供电检测电路包括均由控制板MCU控制并。

28、为串联关系的负载开关和电流检测器； 所述负载开关为控制被测的射频模块的供电总开关， 所述电流检测器获取所述电参数并由 控制板MCU接收。 0059 而主控制模块还包括信号控制线路， 通过UART连接口结构以485串行总线标准进 行信号传输。 0060 射频模块自动测试系统主要有连接各测量仪表的接口总线、 实现测量切换的射频 开关、 以及实现自动测试的控制软件组成。 在自动测试系统中需要解决仪器、 设备间的接口 问题。 大规模集成电路技术发展， 提供了多种用于自动测试的芯片， 使接口电路的实现变得 简单， 则接口系统已从专用型逐渐发展成为通用型， 不同厂家生产的设备互连在一起， 构成 一个自动测。

29、试系统， 就需要各个产品具有相同的接口协议， 即对接口的电气性能、 机械尺 寸、 信号传输形式以及功能四个方面都需要有统一的规定， 实现标准化。 0061 实施例3： 0062 本实施例同样公开一种射频模块的自动测试系统， 用于连接总共40组射频模块， 并对其电参数和信号进行测试。 0063 如图1所示， 图中展示了整个系统的逻辑框图， 其基于现有的ATS系统原理， 利用现 有仪器搭建了一个同时连接多个被测的射频模块的系统。 利用计算机将测试RF模块所需的 各种仪器组织成的整体系统， 并通过计算机的主控功能， 发送各仪器能识别的特定控制指 令， 自动设置仪器的参数， 并自动从仪器读取被测产品的。

30、测试数据。 获得的测试数据通过计 算后， 自动生成测试报表和测试图表， 整个过程完全模拟产品的人工测试。 0064 其中的计算机用于汇总所有测试数据， 并通过连接有外部设置的打印机来打印测 试图表。 图中上部展示了三个现有且带有API编程端口的测试仪器， 即为信号源5、 频谱仪4 和矢量网络分析仪3。 0065 结合图2-4的原理原理架构图， 对该系统的架构进行具体说明。 首先本系统中包括 电测试驱动模块， 该模块是与被测的多个射频模块连接供电进行电参数测试的结构， 并通 说明书 5/7 页 8 CN 212258965 U 8 过内置的反馈组件进行故障反馈。 0066 还包括信号测试控制模块。

31、， 用于连接多个信号测试仪器和多个射频模块， 并由内 部设有的多个开关矩阵来实现射频信号的传输通断。 0067 主控制模块2， 连接有外部电源， 通过与电测试驱动模块连接对每个被测的射频模 块进行独立供电并检测电参数， 通过与信号测试控制模块连接控制信号测试仪器对被测的 射频模块进行信号测试； 并将电参数和信号测试结果发送至计算机中进行汇总反馈。 0068 主控制模块2即为设有外壳的主控板结构， 主控板提供所有的供电。 图2 中展示了 主控制模块2的的架构， 而对应图1中的与计算机连接的一体式设备。 其具有USB收发端和有 线/无线网络收发端， 同时还具有连接外部电源的接口， 则从功能区分为两。

32、类电路： 供电电 路和控制电路。 0069 其中的供电电路包括给该系统中的控制模块供电的系统供电线路， 还包括给射频 模块供电测试其电参数的DUT供电线路。 图2中可以看到， 上部即为供电电路， 在对DUT供电 线路上设有串联的负载开关和电流检测器， 并在电流检测器上设有采样电阻。 电源包括5V 和3V， 并在给DUT供电线路上设有可选择的单刀双掷开关。 0070 DUT供电经过了电流检测器以获得DUT的电参数， 然后系统供电和DUT 供电被引 出， 通过连接排线将电源提供给驱动板的适配母板， 两类供电都转接到插接在适配母板的 驱动板； 射频链路的控制板通过排线只需要系统供电。 0071 在图。

33、2的下部则是控制电路， 以控制板MCU为核心， 其具体型号为 STM32F429VI， 在 图5中展示了该芯片的具体引脚关系(由于整个的控制电路图较为复杂， 包含有多个功能模 块， 则仅以主要的主控板MCU进行简单展示即可， 其具体的原理架构均在架构图中清楚表 示)。 可以看到， 本系统信号采用485 通信协议， 它可以同时并联多个设备并寻址， 通过它可 以统一时序， 让指定模块工作， 并让射频信号路由到指定仪器。 485信号类同样的通过排线 最终转接到驱动板和射频链路控制板上(每个通信的MCU均有一个UART485的电路)。 0072 同时， 本系统中还在主控制模块2上提供了按键接口， 这些。

34、接口可以按需接到工装 上的按键上， 满足特定的测试需求。 同时还设有预留接口， 从而提供扩展性。 0073 在图3中展示了电测试驱动模块， 在本实施例中即为一种驱动母板， 通过排线与主 控制模块2连接， 在图中则是以供电线路A进行表示。 在电测试驱动模块中， 包含有多个驱动 电路。 驱动板均由主控制模块2控制和供电， 而每个驱动电路对应一个被测的射频模块并供 给测试用电。 图中展示了三十六个驱动电路， 且将其中任一一个架构进行放大展示。 可以看 到， 驱动电路包括射频模块驱动板MCU， 射频模块驱动板MCU由控制板MCU进行控制和供电， 并通过控制设置在驱动电路的开关驱动来实现连接的射频模块供。

35、电； 反馈组件为设置在驱 动电路中的多个与射频模块对应的LED故障灯驱动， 在每个驱动电路中包括有LED驱动和 LED引脚， 通过对应每个射频模块设有的LED故障灯来进行故障反馈。 在整个电测试驱动模 块上设有四十组的DUT测试线和四十路的故障指示灯接口， 而DUT测试线即通过每个驱动电 路连接供电。 同时， 整个模块还设有供电线路B， 通过供电线路B给信号测试控制模块供电。 0074 也就是说， 系统单独为每一个模块提供一个独立的MCU控制其电源的通断和提供 控制接口来驱动射频模块， 整体来看就可以在基于一个统一时间线控制每个模块按序驱 动。 0075 如图4所示， 图中展示了信号测试模块的。

36、具体架构， 其设有连接信号测试仪器的仪 说明书 6/7 页 9 CN 212258965 U 9 器连接端， 还设有三个射频连接头(同轴接头)， 每个射频连接头单独连接被测的射频模块。 本实施例中的信号测试仪器包括信号源5、 频谱仪4和矢量网络分析仪3， 具体的连接关系如 图所示。 而开关矩阵还连接多个射频连接头， 并在信号测试模块中设有连接所有开关矩阵 的开关B； 在仪器连接端上设有开关A， 所述开关A与开关B匹配连接， 并通过设有的控制RF开 关MCU 对开关A、 开关B和开关矩阵中设有的开关C进行控制。 0076 开关矩阵使多个测量仪器和多个射频模块能够同时连接， 而有效的通路可通过 M。

37、CU控制， 这样就可以自动的按序连通每一个模块到指定仪器。 其中， 控制RF开关MCU由供电 线路B提供系统供电和控制信号传输， 而通过控制两个单刀三掷开关和三个单刀十二掷开 关来具体控制信号收发链路。 0077 其中， 图2-4中展示了每个模块之间的供电与信号发送关系。 系统中采用子板集连 接座集成系统供电线路、 供电检测电路和控制信号线路。 主控制模块 2中还设有与控制板 MCU连接的按键接口。 0078 而系统通过USB接口与计算机连接， 通过上位机控制自动化测试系统的运行。 同时 可以看到， 一些仪器可以通过网口控制， 主控制模块2可以直接控制仪器的配置和数据读 取。 0079 本实施。

38、例中的计算机连接有打印机， 可以在自动化测试程序检测出错误时， 打印 标签， 顺手就可以贴在不合格模块上测试仪器通过直接或间接连接到计算机， 测量仪器提 供有API， 通过编程就可以操作仪器和数据比对， 而无需人工操作和对比。 这样就简化了测 试人员查验方式， 最终在计算机上呈现的就是一个拼板种哪些模块不合格， 哪些合格。 0080 而本实施例中将信号测试控制模块与电测试驱动模块集成在同一设备中， 构成具 有多个接口的测试工装1， 而一体式结构设计便于内部走线和结构布置， 减少模块数量， 提 高稳定性。 但实际生产中还可以将主控制模块2一同集成形成具有多个不同接口的测试仪 器。 0081 以上。

39、所述仅为本申请的优选实施例而已， 并不用于限制本申请， 对于本领域的技 术人员来说， 本申请可以有各种更改和变化。 凡在本申请的精神和原则之内， 所作的任何修 改、 等同替换、 改进等， 均应包含在本申请的保护范围之内。 说明书 7/7 页 10 CN 212258965 U 10 图1 说明书附图 1/8 页 11 CN 212258965 U 11 图2 说明书附图 2/8 页 12 CN 212258965 U 12 图3 说明书附图 3/8 页 13 CN 212258965 U 13 图4 说明书附图 4/8 页 14 CN 212258965 U 14 图5 说明书附图 5/8 页 15 CN 212258965 U 15 图6 说明书附图 6/8 页 16 CN 212258965 U 16 图7 说明书附图 7/8 页 17 CN 212258965 U 17 图8 说明书附图 8/8 页 18 CN 212258965 U 18 。