滤波芯片引脚极性的检测方法.pdf

《滤波芯片引脚极性的检测方法.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《滤波芯片引脚极性的检测方法.pdf（7页完成版）》请在专利查询网上搜索。

1、(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910590565.2 (22)申请日 2019.07.02 (71)申请人 何应辉 地址 523294 广东省东莞市石碣镇同富东 路台达商住楼2栋803 (72)发明人 何应辉 (74)专利代理机构 北京科亿知识产权代理事务 所(普通合伙) 11350 代理人 汤东凤 (51)Int.Cl. G01N 21/84(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)发明名称 一种滤波芯片引脚极性的检测方法 (57)摘要 本发明涉及滤波芯片技术领域， 具体为一。

2、种 滤波芯片引脚极性的检测方法， 包括如下步骤： S1、 提供一光学检测设备和运输滤波芯片的输送 机构， 提供一控制光学检测设备和输送机构所用 的上位机； S2、 根据上位机触发信号， 经过灰度化 和去噪处理得到待处理的灰度化图像信息； S3、 利用图像处理技术， 提取相关数据及信息； S4、 根 据设定的尺寸及标准参数公差值判断该区域是 否合格。 利用图像处理技术对实时采集到的图像 进行模板定位匹配， 从而实现对芯片引脚极性的 视觉检测， 具有突出的实质性特点和显著的进 步。 权利要求书1页 说明书3页 附图2页 CN 110174403 A 2019.08.27 CN 110174403 。

3、A 1.一种滤波芯片引脚极性的检测方法， 其特征在于， 包括如下步骤： S1、 提供一光学检测设备和运输滤波芯片的输送机构， 光学检测设备上设有一相机以 及提供相机光源的立方体光源， 立方体光源位于输送机构的正上方， 提供一控制光学检测 设备和输送机构所用的上位机； S2、 根据上位机触发信号， 相机扫描采集输送机构上滤波芯片上表面的图像信息， 经过 灰度化和去噪处理得到待处理的灰度化图像信息； S3、 利用图像处理技术对实时采集到的图像进行模板匹配对比， 对区域内的图像作进 一步的分析， 提取相关数据及信息； S4、 根据设定的尺寸及标准参数公差值判断该区域是否合格， 从而达到对滤波芯片引 。

4、脚极性的快速检测。 2.根据权利要求1所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法， 其特征在于： 所述步骤S2 中， 设定相机的第一焦距值， 采用相机的第一焦距值对滤波芯片进行第一次扫描， 得到第一 扫描结果， 即得到完整扫描结果。 3.根据权利要求1所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法， 其特征在于： 所述步骤S1 中相机选用灵敏度高的CCD或CMOS相机。 4.根据权利要求1所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法， 其特征在于： 所述相机与 水平面所成夹角为90 。 5.根据权利要求1所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法， 其特征在于： 所述立方体 光源射出的光源的颜色为白色。 6.根据权利要求1。

5、-5任意一项所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法， 其特征在于： 所述滤波芯片的上表面一侧设置有增大反光发射率且由多面组成的斜切面。 7.根据权利要求1-5任意一项所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法， 其特征在于： 所述滤波芯片的上表面一侧设置成用于提升识别度的锥形凹面结构。 8.根据权利要求1-5任意一项所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法， 其特征在于： 所述滤波芯片的上表面一侧设置成用于提升识别度的双圆点或者多圆点凹面结构。 权利要求书 1/1 页 2 CN 110174403 A 2 一种滤波芯片引脚极性的检测方法 技术领域 0001 本发明涉及滤波芯片技术领域， 具体为一种滤波芯片。

6、引脚极性的检测方法。 背景技术 0002 滤波芯片， 也叫做变压器， 或者数据泵， 主要是用来进行电路隔离和保护的， 主要 是用来防止雷击、 静电等对以太网芯片造成损坏， 内部实际上就是由若干个电磁线圈组合 而成的变压器。 在生产网络滤波芯片过程中， 芯片内部的电磁线圈的线头端需要焊接到内 PIN脚上； 但是， 在生产过程中， 人工作业会导致有些产品摆放方向不一致， 导致编带后产品 极性不一致， 从而影响滤波芯片的生产效率以及生产质量， 采用传统抽检的方法， 会受到人 为因素影响导致检测结果不准确， 检测工作量大， 且人为检查无法杜绝不良品流出。 为此， 我们提出一种滤波芯片引脚极性的检测方法。

7、。 发明内容 0003 本发明的目的在于提供一种滤波芯片引脚极性的检测方法， 以解决上述背景技术 中提出的问题。 0004 为实现上述目的， 本发明提供如下技术方案： 0005 一种滤波芯片引脚极性的检测方法， 包括如下步骤： 0006 S1、 提供一光学检测设备和运输滤波芯片的输送机构， 光学检测设备上设有一相 机以及提供相机光源的立方体光源， 立方体光源位于输送机构的正上方， 提供一控制光学 检测设备和输送机构所用的上位机； 0007 S2、 根据上位机触发信号， 相机扫描采集输送机构上滤波芯片上表面的图像信息， 经过灰度化和去噪处理得到待处理的灰度化图像信息； 0008 S3、 利用图像。

8、处理技术对实时采集到的图像进行模板匹配对比， 对区域内的图像 作进一步的分析， 提取相关数据及信息； 0009 S4、 根据设定的尺寸及标准参数公差值判断该区域是否合格， 从而达到对滤波芯 片引脚极性的快速检测。 0010 优选的， 所述步骤S2中， 设定相机的第一焦距值， 采用相机的第一焦距值对滤波芯 片进行第一次扫描， 得到第一扫描结果， 即得到完整扫描结果。 0011 优选的， 所述步骤S1中相机选用灵敏度高的CCD或CMOS相机。 0012 优选的， 所述相机与水平面所成夹角为90 。 0013 优选的， 所述立方体光源射出的光源的颜色为白色。 0014 优选的， 所述滤波芯片的上表面。

9、一侧设置有增大反光发射率且由多面组成的斜切 面。 0015 优选的， 所述滤波芯片的上表面一侧设置成用于提升识别度的锥形凹面结构。 0016 优选的， 所述滤波芯片的上表面一侧设置成用于提升识别度的双圆点或者多圆点 凹面结构。 说明书 1/3 页 3 CN 110174403 A 3 0017 与现有技术相比， 本发明的有益效果是： 本发明通过光学检测设备上的立方体光 源与相机配合光照方式， 采集有效的图像， 利用图像处理技术对实时采集到的图像进行模 板定位匹配， 根据不同的检测类别选择具体的检测区域， 对区域内的图像作进一步的分析， 提取相关数据及信息， 再根据设定的尺寸及标准参数公差值判断。

10、该区域是否合格， 从而实 现对芯片引脚极性的视觉检测， 具有突出的实质性特点和显著的进步。 附图说明 0018 图1为本发明滤波芯片结构示意图； 0019 图2为图1侧视结构示意图； 0020 图3为本发明图像处理系统软件工作原理框图。 具体实施方式 0021 下面将结合本发明实施例中的附图， 对本发明实施例中的技术方案进行清楚、 完 整地描述， 显然， 所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例， 而不是全部的实施例。 基于 本发明中的实施例， 本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他 实施例， 都属于本发明保护的范围。 0022 请参阅图1-3， 本发明提供如下技术方案： 。

11、0023 实施例1 0024 一种滤波芯片引脚极性的检测方法， 包括如下步骤： 0025 S1、 提供一光学检测设备和运输滤波芯片的输送机构， 光学检测设备上设有一相 机以及提供相机光源的立方体光源， 立方体光源位于输送机构的正上方， 提供一控制光学 检测设备和输送机构所用的上位机； 0026 S2、 根据上位机触发信号， 相机扫描采集输送机构上滤波芯片上表面的图像信息， 经过灰度化和去噪处理得到待处理的灰度化图像信息； 0027 S3、 利用图像处理技术对实时采集到的图像进行模板匹配对比， 对区域内的图像 作进一步的分析， 提取相关数据及信息； 0028 S4、 根据设定的尺寸及标准参数公差。

12、值判断该区域是否合格， 从而达到对滤波芯 片引脚极性的快速检测。 0029 步骤S2中， 设定相机的第一焦距值， 采用相机的第一焦距值对滤波芯片进行第一 次扫描， 得到第一扫描结果， 即得到完整扫描结果， 步骤S1中相机选用灵敏度高的CCD或 CMOS相机， 相机与水平面所成夹角为90 ， 立方体光源射出的光源的颜色为白色， 滤波芯片 的上表面一侧设置有增大反光发射率且由多面组成的斜切面， 如图1和图2所示。 0030 实施例2 0031 本实施例与实施例1的区别在于： 滤波芯片的上表面一侧设置成锥形凹面结构， 用 于提升识别度后有利于光学检测设备的检测。 0032 实施例3 0033 本实施。

13、例与实施例1和实施例2的区别在于： 滤波芯片的上表面一侧设置成双圆点 结构或多圆点凹面结构， 用于提升圆点的识别度， 有利于光学检测设备的检测。 0034 图像处理系统是整个视觉系统的大脑， 最终的决策和控制都由其完成， 利用图像 说明书 2/3 页 4 CN 110174403 A 4 处理技术对实时采集到的图像进行模板定位匹配， 根据不同的检测类别选择具体的检测区 域， 对区域内的图像作进一步的分析， 提取相关数据及信息， 再根据设定的尺寸及标准参数 公差值判断该区域是否合格， 从而实现对芯片引脚的视觉检测， 滤波芯片的上表面一侧设 置有增大反光发射率且由多面组成的斜切面， 斜切面较为突出。

14、， 使反光反射率加大， 在检测 时， 容易做特征提取， 检测明显， 光学检测效果佳， 滤波芯片设置成锥形凹面结构或双圆点 凹面结构， 用于提升识别度后有利于光学检测设备的检测。 0035 尽管已经示出和描述了本发明的实施例， 对于本领域的普通技术人员而言， 可以 理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、 修改、 替换 和变型， 本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。 说明书 3/3 页 5 CN 110174403 A 5 图1 图2 说明书附图 1/2 页 6 CN 110174403 A 6 图3 说明书附图 2/2 页 7 CN 110174403 A 7 。