集成电路测试方法.pdf

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1、(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201911294300.4 (22)申请日 2019.12.16 (71)申请人 无锡矽鹏半导体检测有限公司 地址 214000 江苏省无锡市锡山经济技术 开发区芙蓉中三路99号 (72)发明人 周国成 (74)专利代理机构 无锡市汇诚永信专利代理事 务所(普通合伙) 32260 代理人 朱晓林 (51)Int.Cl. G01R 31/28(2006.01) (54)发明名称 一种集成电路测试方法 (57)摘要 本发明涉及集成电路测试领域,公开了一种 集成电路测试方法， 在进行。

2、跳变测试时， 先确定 集成电路输出管脚出现状态跳变时信号源输出 信号值的区间， 即大步距调节信号源输入集成电 路的信号值， 直至集成电路的输出管脚出现状态 跳变， 然后将信号源的输出信号值后退两个大步 距， 接着小步距调节信号源的输出信号值， 直至 集成电路的输出管脚再次出现跳变， 此时信号源 的输出信号值便是测量结果。 本发明通过先确定 集成电路的输出管脚出现状态跳变时信号源输 出信号值的区间， 然后在区间内小步距调节信号 源的输出信号， 进而在保证测试精确度的同时减 少测试时间， 提高测试效率。 权利要求书1页 说明书3页 附图2页 CN 110927560 A 2020.03.27 CN。

3、 110927560 A 1.一种集成电路测试方法， 其特征在于： 包括以下步骤： S1： 集成电路的输入管脚接入信号源， 所述信号源向集成电路输入的信号可调； S2： 测试开始， 调节所述信号源的输出信号值至测量起始值， 然后大步距调节所述信号 源输出的信号值， 并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变， 如果发生状态跳变， 记录当 前所述信号源输出的信号值大小， 记为第一跳变值， 然后进入步骤S3； S3： 将所述信号源输出的信号值从第一跳变值后退两个大步距， 记为第二测量起始值； S4： 再次测试， 调节所述信号源的输出信号值至第二测量起始值， 然后小步距调节所述 信号源输出的信号值， 并。

4、观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变， 如果发生状态跳变， 记 录当前所述信号源输出的信号值大小， 停止测试； 上述步骤S2与S3中的大步距是将所述信号源输出信号的测量终值减去测量起始值后 再除以15到20中的任一整数得到， 上述步骤S4中的小步距是大步距的十分之一。 2.根据权利要求1所述的集成电路测试方法， 其特征在于： 所述信号源包括电压源或者 电流源。 3.根据权利要求1所述的集成电路测试方法， 其特征在于： 所述信号源输出信号的幅 度、 频率和占空比可调。 权利要求书 1/1 页 2 CN 110927560 A 2 一种集成电路测试方法 技术领域 0001 本发明涉及集成电路测试领。

5、域， 具体涉及一种集成电路测试方法。 背景技术 0002 在对集成电路特别是模拟量芯片进行跳变测试时， 会先给芯片一个连续变化的输 入值， 然后记录芯片输出管脚发生状态跳变时对应的输入值， 其中输入值可以是电压和电 流。 0003 现有测试方法在测试时输入值在规格下限和规格上限之间是小步距调节， 即输入 值从规格下限值开始， 每次微量变化， 直至芯片输出管脚发生状态跳变或者到达规格上限。 但此方法在实际测试时由于输入值每次变化量较小， 测试效率较低， 如果增加输入值的变 化量， 芯片输出管脚发生状态跳变时对应的输入值会不准确， 影响测试精确度。 发明内容 0004 鉴于背景技术的不足， 本发明。

6、是提供了一种集成电路测试方法， 所要解决的技术 问题是在不影响测量精确度的情况下， 提高集成电路跳变测试的测试效率。 0005 为解决以上技术问题， 本发明提供了如下技术方案： 一种集成电路测试方法， 包括 以下步骤： 0006 S1： 集成电路的输入管脚接入信号源， 信号源向集成电路输入的信号可调； 0007 S2： 测试开始， 调节信号源的输出信号值至测量起始值， 然后大步距调节信号源输 出的信号值， 并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变， 如果发生状态跳变， 记录当前信 号源输出的信号值大小， 记为第一跳变值， 然后进入步骤S3； 0008 S3： 将信号源输出的信号值从第一跳变值后退。

7、两个大步距， 记为第二测量起始值； 0009 S4： 再次测试， 调节信号源的输出信号值至第二测量起始值， 然后小步距调节信号 源输出的信号值， 并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变， 如果发生状态跳变， 记录当 前信号源输出的信号值大小， 停止测试。 0010 跳变测试有测量起始值和测量终值， 信号源输出的信号从测量起始值开始逐渐调 节到测量终值， 将测量终值减去测量起始值后再除以 15至20中任一整数得到大步距， 小步 距是大步距的十分之一。 0011 进一步， 信号源包括电压源或者电流源。 0012 进一步， 信号源输出信号的幅度、 频率和占空比可调。 0013 在测试时， 先确定集成。

8、电路的输出管脚出现状态跳变时信号源输出信号值的区 间， 即信号源的输出信号从规格下限开始， 然后每次增加一个大步距， 如果发生状态跳变， 记录当前信号源输出的信号值大小， 记为第一跳变值。 将第一跳变值后退两个大步距为信 号源输出信号的第二测试起始值， 然后每次增加一个小步距， 再次出现状态跳变时信号源 的输出信号值就是测量结果。 0014 本发明与现有技术相比所具有的有益效果是： 先确定集成电路的输出管脚出现状 说明书 1/3 页 3 CN 110927560 A 3 态跳变时信号源输出信号值的区间， 然后在区间内小步距调节信号源的输出信号， 直至集 成电路的输出管脚再次出现状态跳变， 进而。

9、在保证测试精确度的同时减少测试时间， 提高 测试效率。 附图说明 0015 本发明有如下附图： 0016 图1为本发明的信号源的大步距调节示意图； 0017 图2为本发明的信号源的小步距调节示意图。 具体实施方式 0018 现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。 这些附图均为简化的示意图， 仅以 示意方式说明本发明的基本结构， 因此其仅显示与本发明有关的构成。 0019 实施例一 0020 如图1-2所示， 一种集成电路测试方法， 包括以下步骤： 0021 S1： 集成电路的输入管脚接入信号源， 信号源用向集成电路输入的信号可调； 0022 S2： 测试开始， 调节信号源的输出信号值至测量起。

10、始值， 然后大步距调节信号源输 出的信号值， 并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变， 如果发生状态跳变， 记录当前信 号源输出的信号值大小， 记为第一跳变值， 然后进入步骤S3； 0023 S3： 将信号源输出的信号值从第一跳变值后退两个大步距， 记为第二测量起始值； 0024 S4： 再次测试， 调节信号源的输出信号值至第二测量起始值， 然后小步距调节信号 源输出的信号值， 并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变， 如果发生状态跳变， 记录当 前信号源输出的信号值大小， 停止测试。 0025 本实施例中， 信号源输出的是电压信号， 电压幅值是变化可调的， 具体变化过程如 图1所示， 信号源。

11、输出的电压信号每次增加一个大步距， 当电压信号增加到A处时， 集成电路 的输出管脚发生状态跳变， 此时将电压信号大小调节至B点， 即将电压幅值后退两个大步 距， 然后按照图2进行小步距调节。 图2中， 电压信号从B处开始调节， 每次增加一个小步距， 如果电压信号在增加到C处时， 集成电路的输出管脚发生状态跳变， 则C处便是测量结果。 0026 其中， 将A处的电压信号后退两个大步距到B处是为了避免退一个步距时， 电压信 号刚好处于临界状态。 0027 进一步， 小步距是大步距的十分之一； 信号源还可以是电流源， 集成电路的输入管 脚还可输入不同频率、 不同占空比的电压或者电流信号进行测试， 具。

12、体测试步骤如上。 0028 表格1为现有测试方法和本发明的测试数据表格， 其中， 规格下限为测量起始值， 规格上限为测量终值。 从表格1可以得到， 在测量结果相同时， 本发明所用的时间大约是现 有测试方法的四分之一， 降低了测试时间， 提高测试效率。 具体表格如下： 0029 表1 说明书 2/3 页 4 CN 110927560 A 4 0030 0031 实施例二 0032 本实施例中， 信号源是电压信号， 测量起始值为3.0V， 测量终值为5.0V， 将测量终 值减去测量起始值， 然后除以二十， 则大步距为0.1V,小步距为0.01V。 跳变测试时， 信号源 输出的电压从3.0V开始， 。

13、每次增加0.1V， 当信号源输出的电压为4.0V时， 集成电路的输出管 脚出现状态跳变， 则将信号源的输出电压调至3.8V， 然后每次增加0.01V， 直至集成电路的 输出管脚再次出现状态跳变。 相比较与从3.0V开始， 每次增加0.01V进行测试， 先大范围确 定出现状态跳变时信号源的数据区间， 然后区间内小范围测试出现状态跳变时信号源的具 体电压输出值， 能节约测试时间。 0033 上述依据本发明为启示， 通过上述的说明内容， 相关工作人员完全可以在不偏离 本项发明技术思想的范围内， 进行多样的变更以及修改。 本项发明的技术性范围并不局限 于说明书上的内容， 必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。 说明书 3/3 页 5 CN 110927560 A 5 图1 说明书附图 1/2 页 6 CN 110927560 A 6 图2 说明书附图 2/2 页 7 CN 110927560 A 7 。