基于射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置.pdf

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1、(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201911120397.7 (22)申请日 2019.11.15 (71)申请人 江苏天瑞仪器股份有限公司 地址 215347 江苏省苏州市昆山市玉山镇 中华园西路1888号天瑞产业园 (72)发明人 应刚鲁晨阳栾旭东方华炳 张涛张苏伟 (51)Int.Cl. G01N 15/06(2006.01) (54)发明名称 一种基于射线法和光散射原理的颗粒物 实时测量装置 (57)摘要 本发明公开了一种基于射线法和光散射 原理的颗粒物实时测量装置， 包括光学散射模 块、 射线检测模块。

2、以及分析模块； 所述光学散 射模块具有与待测气体的气路相连通的进气口、 与该进气口相连通的散射腔、 与该散射腔相连通 的出气口； 所述射线检测模块的进气口与所述 光学散射模块的出气口相连接； 所述分析模块分 别与所述光学散射模块以及所述射线检测模 块连接； 本发明的测量装置， 能够准确的测得待 测气体中颗粒物的粒子质量浓度。 权利要求书2页 说明书7页 附图2页 CN 111141646 A 2020.05.12 CN 111141646 A 1.一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置， 其特征在于， 包括光学散射 模块、 射线检测模块以及分析模块； 所述光学散射模块具有与待测气体的。

3、气路相连通的进气口、 与该进气口相连通的散射 腔、 与该散射腔相连通的出气口； 所述 射线检测模块的进气口与所述光学散射模块的出气口相连接； 所述分析模块分别与所述光学散射模块以及所述 射线检测模块连接。 2.根据权利要求1所述的一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置， 其特 征在于， 所述光学散射模块还包括激光器,及设置在所述散射腔内的光陷阱和两个聚焦透 镜和前向光电探测镜和曲面镜和侧向光电探测镜； 所述激光器的激光束射向所述光陷阱中心且所述激光束的射出方向与所述光陷阱同 轴； 所述光陷阱中心、 两个所述聚焦透镜中心以及所述前向光电探测镜位于同一直线； 所述 光陷阱嵌设在远离所述前。

4、向光电探测镜的所述聚焦透镜的中心上； 所述侧向光电探测镜位 于所述激光束射出方向的垂直平面上， 且所述侧向光电探测镜与所述激光束射出方向之间 具有夹角 ， 60 120 ； 所述激光器射出的所述激光束射向经过所述光学散射模块的测量区的所述待测气体 的颗粒物形成前向散射光和侧向散射光； 所述前向散射光依次经过两个所述聚焦透镜收集 并进一步通过所述光阑进入所述前向光电探测镜形成直流信号， 所述侧向散射光经过所述 曲面镜收集进入所述侧向光电探测镜形成脉冲信号。 3.根据权利要求2所述的一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置， 其特 征在于， 所述 为90 。 4.根据权利要求2所述的一种基。

5、于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置， 其特 征在于， 所述光学散射模块还包括设置在所述散射腔内的光阑， 所述光阑设置在前向光电 探测镜与远离所述光陷阱的所述聚焦透镜之间， 且所述光阑的中心与两个所述聚焦透镜中 心位于同一直线； 所述前向散射光经过两个聚焦透镜收集并进一步通过所述光阑射入所述前向光电探 测镜形成脉冲信号。 5.根据权利要求2所述的一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置， 其特 征在于， 所述曲面镜为椭球镜。 6.根据权利要求2所述的一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置， 其特 征在于， 所述分析模块具有用于根据所述直流信号和拟合系数或所述脉冲信号和粒。

6、子平均 密度得到所述待测气体的颗粒物的实时质量浓度的实时浓度获得部、 用于根据所述实时质 量浓度控制所述 射线检测模块的富集时间的富集时间控制部、 用于根据所述 射线检测模 块的输出信号得到标准质量浓度的标准浓度获得部以及用于根据所述标准质量浓度调整 所述拟合系数和所述粒子平均密度的调整部。 7.根据权利要求6所述的一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置， 其特 征在于， 所述实时浓度获得部包括用于根据所述直流信号和所述拟合系数得到直流质量浓 度的直流计算单元、 用于根据所述脉冲信号得到粒子计数浓度并根据该粒子计数浓度和所 述粒子平均密度得到计数质量浓度的计数计算单元、 用于判断所述。

7、粒子计数浓度是否大于 粒子预设计数浓度的判断单元以及用于根据所述判断单元的判断结果将所述直流质量浓 权利要求书 1/2 页 2 CN 111141646 A 2 度或所述计数质量浓度作为实时质量浓度的判定单元。 8.根据权利要求7所述的一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置， 其特 征在于， 所述调整部包括用于计算所述 射线检测模块的检测周期内的所述计数质量浓度 的平均值和所述直流质量浓度的平均值的平均值计算单元、 用于根据所述计数质量浓度的 平均值和所述标准质量浓度调整所述粒子平均密度的密度调整单元以及用于根据所述直 流质量浓度和所述标准质量浓度调整所述拟合系数的拟合系数调整单元。。

8、 9.根据权利要求1所述的一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置， 其特 征在于， 所述颗粒物实时测量装置还包括除湿模块， 所述除湿模块的进气端与所述待测气 体的气路相连通， 所述除湿模块的出气端与所述光学散射模块的进气口相连接。 10.根据权利要求9所述的一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置， 其 特征在于， 所述除湿模块为加热除湿管。 权利要求书 2/2 页 3 CN 111141646 A 3 一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置 技术领域 0001 本发明涉及气溶胶检测领域技术领域， 尤其是基于 射线法和光散射原理的颗粒 物实时测量装置。 0002 背。

9、景技术 0003 随着我国经济的飞速增长和城市化进程不断加速， 大气颗粒物是目前我国多数 城市的首要污染物， 灰霾污染呈显著上升趋势， 近年来， 我国大气颗粒物监测技术取得了较 大的进步， 目前已有基于 射线法和光散射法相结合测量烟气颗粒物的方法应用， 具体方法 为： 先采集烟气， 再将烟气分成两路， 然后采用 射线法和光散射法分别检测两路的烟气颗 粒物， 并以 射线法为标准来校正光散射法的测量值。 0004 现有技术中， 基于 射线法和光散射法相结合测量烟气颗粒物的方法存在如下问 题： 1.在先技术使用的是分气路系统， 射线法和光散射法并不是测量同一气路的颗粒物， 此时以 射线法为标准会导致。

10、测量误差； 2.在先技术光学散射模块是测量颗粒物的散射光 脉冲信号包括光强及脉冲个数， 从而得到光学等效粒径及粒子个数浓度， 并且通过统计计 算得到的颗粒物浓度。 如果在颗粒物浓度较高时， 由于重叠误差的存在该光学散射模块不 能准确的测得颗粒物的粒子浓度； 3.在先技术的分析方法是一直以 射线法为标准来矫正 光散射法来实现对颗粒物的实时监测， 该分析方法过于单一， 并没有周全地考虑到两种方 法的优缺点优缺点， 在低浓度下， 射线法富集时间固定， 可能存在富集质量达不到检出质 量的情况， 使得 射线法测量结果存在着较大偶然误差； 因此需要寻找一种能够解决此类问 题的方法。 0005 发明内容 0。

11、006 有鉴于此， 需要克服现有技术中的上述缺陷中的至少一个， 本发明提供了一种基 于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置， 包括： 包括光学散射模块、 射线检测模块 以及分析模块； 所述光学散射模块具有与待测气体的气路相连通的进气口、 与该进气口相 连通的散射腔、 与该散射腔相连通的出气口； 所述 射线检测模块的进气口与所述光学散射 模块的出气口相连接； 所述分析模块分别与所述光学散射模块以及所述 射线检测模块连 接。 0007 根据本专利背景技术中对现有技术所述， 采用分气路系统， 射线法和光散射法并 不是测量同一气路的颗粒物， 此时以 射线法为标准会导致测量误差； 在颗粒物浓度较高 。

12、时， 由于重叠误差的存在光学散射模块不能准确的测得颗粒物的粒子浓度； 以 射线法为标 准矫正光散射法来实现对颗粒物的实时监测， 没有考虑到两种方法的优缺点； 而本发明公 开的基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置， 采用共气路系统， 光学散射模块和 射线检测模块测量同样的颗粒物样品， 使得矫正值更加准确； 而且， 采用共气路以后， 整体 说明书 1/7 页 4 CN 111141646 A 4 结构更加紧凑； 通过判断所述粒子计数浓度是否大于粒子预设计数浓度来判断此时颗粒物 浓度高低， 当大于时， 此时颗粒物浓度过高， 采用粒子直流质量浓度来作为颗粒物的实时质 量浓度， 否则采用粒子计数。

13、质量浓度来作为颗粒物的实时质量浓度， 提高了在不同环境下 实时测量的准确性； 而且， 本发明的测量装置， 先将实时质量浓度作为估计质量浓度， 通过 估计质量浓度计算出 射线检测模块的富集时间， 然后通过 射线检测模块测量出粒子标准 质量浓度， 通过粒子标准质量浓度调整拟合系数或粒子平均密度， 增加了光学散射模块和 射线检测模块互相反馈机制， 使得测量更加准确。 0008 另外， 根据本发明公开的一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置 还具有如下附加技术特征： 进一步地， 所述光学散射模块还包括激光器,及设置在所述散射腔内的光陷阱和两个 聚焦透镜和前向光电探测镜和曲面镜和侧向光电探测镜。

14、； 所述激光器的激光束射向所述光 陷阱中心且所述激光束的射出方向与所述光陷阱同轴； 所述光陷阱中心、 两个所述聚焦透 镜中心以及所述前向光电探测镜位于同一直线； 所述光陷阱嵌设在远离所述前向光电探测 镜的所述聚焦透镜的中心上； 所述侧向光电探测镜位于所述激光束射出方向的垂直平面 上， 且所述侧向光电探测镜与所述激光束射出方向之间具有夹角 ， 60 120 ； 所述激 光器射出的所述激光束射向经过所述光学散射模块的测量区的所述待测气体的颗粒物形 成前向散射光和侧向散射光； 所述前向散射光依次经过两个所述聚焦透镜收集并进一步通 过所述光阑进入所述前向光电探测镜形成直流信号， 所述侧向散射光经过所述。

15、曲面镜收集 进入所述侧向光电探测镜形成脉冲信号。 0009 进一步地， 所述 为90 。 0010 进一步地， 所述光学散射模块还包括设置在所述散射腔内的光阑， 所述光阑设置 在前向光电探测镜与远离所述光陷阱的所述聚焦透镜之间， 且所述光阑的中心与两个所述 聚焦透镜中心位于同一直线； 所述前向散射光经过两个聚焦透镜收集并进一步通过所述光 阑射入所述前向光电探测镜形成脉冲信号。 0011 进一步地， 所述曲面镜为椭球镜。 0012 进一步地， 所述分析模块具有用于根据所述直流信号和拟合系数或所述脉冲信号 和粒子平均密度得到所述待测气体的颗粒物的实时质量浓度的实时浓度获得部、 用于根据 所述实时质。

16、量浓度控制所述 射线检测模块的富集时间的富集时间控制部、 用于根据所述 射线检测模块的输出信号得到标准质量浓度的标准浓度获得部以及用于根据所述标准质 量浓度调整所述拟合系数和所述粒子平均密度的调整部。 0013 更进一步地， 所述实时浓度获得部包括用于根据所述直流信号和所述拟合系数得 到直流质量浓度的直流计算单元、 用于根据所述脉冲信号得到粒子计数浓度并根据该粒子 计数浓度和所述粒子平均密度得到计数质量浓度的计数计算单元、 用于判断所述粒子计数 浓度是否大于粒子预设计数浓度的判断单元以及用于根据所述判断单元的判断结果将所 述直流质量浓度或所述计数质量浓度作为实时质量浓度的判定单元。 0014 。

17、更进一步地， 所述调整部包括用于计算所述 射线检测模块的检测周期内的所述 计数质量浓度的平均值和所述直流质量浓度的平均值的平均值计算单元、 用于根据所述计 数质量浓度的平均值和所述标准质量浓度调整所述粒子平均密度的密度调整单元以及用 于根据所述直流质量浓度和所述标准质量浓度调整所述拟合系数的拟合系数调整单元。 说明书 2/7 页 5 CN 111141646 A 5 0015 更进一步地， 所述颗粒物实时测量装置还包括除湿模块， 所述除湿模块的进气端 与所述待测气体的气路相连通， 所述除湿模块的出气端与所述光学散射模块的进气口相连 接。 0016 更进一步地， 所述除湿模块为加热除湿管。 00。

18、17 根据本发明的另一方面， 还提供了一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时 测量方法， 包括以下步骤： 步骤一， 通过光学散射模块并根据粒子平均密度或拟合系数获得 待测气体中颗粒物的质量浓度作为实时质量浓度； 步骤二， 确定 射线检测模块的富集时 间； 步骤三， 让所述 射线检测模块富集所述颗粒物至所述富集时间后得到所述颗粒物的粒 子标准质量浓度； 步骤四， 根据所述粒子标准质量浓度调整所述粒子平均密度和所述拟合 系数； 步骤五， 通过所述光学散射模块并根据校准后的所述粒子平均密度或校准后的所述 拟合系数获得校准后质量浓度作为所述待测气体中颗粒物的所述实时质量浓度。 0018 另外， 根据。

19、本发明公开的一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量方法 还具有如下附加技术特征： 进一步地， 所述步骤一中， 所述质量浓度的获得方法如下： 通过所述光学散射模块获得 所述待测气体中颗粒物的粒子计数浓度； 通过所述光学散射模块根据所述粒子平均密度实 时获得粒子计数质量浓度， 并通过所述光学散射模块根据所述拟合系数实时获得粒子直流 质量浓度； 判断所述粒子计数浓度是否大于粒子预设计数浓度， 当判断为不大于时， 将所述 粒子计数质量浓度作为所述实时质量浓度； 当判断为大于时， 将所述粒子直流质量浓度作 为所述实时质量浓度。 0019 进一步地， 所述步骤四包括如下子步骤： 计算所述 射线检测模。

20、块的检测周期内的 所述粒子计数质量浓度的平均值作为平均粒子计数质量浓度， 并计算所述 射线检测模块 的检测周期内的所述粒子直流质量浓度的平均值作为平均粒子直流质量浓度； 根据所述粒 子标准质量浓度和所述平均粒子计数质量浓度调整所述粒子平均密度， 并根据所述粒子标 准质量浓度和所述平均粒子直流质量浓度调整所述拟合系数。 0020 进一步地， 所述步骤五包括如下子步骤： 通过所述光学散射模块实时获得所述待 测气体中颗粒物的粒子计数浓度； 通过所述光学散射模块根据调整后的所述粒子平均密度 实时获得调整后的粒子计数质量浓度， 并通过所述光学散射模块根据调整后的所述拟合系 数实时获得调整后的粒子直流质量。

21、浓度； 判断所述粒子计数浓度是否大于粒子预设计数浓 度， 当判断为不大于时， 将调整后的所述粒子计数质量浓度作为所述实时质量浓度； 当判断 为大于时， 将调整后的所述粒子直流质量浓度作为所述实时质量浓度。 0021 进一步地， 在所述步骤二中， 所述富集时间的确定方法如下： 将所述实时质量浓度 作为粒子估计质量浓度； 根据所述 射线检测模块的检出质量和所述粒子估计质量浓度计 算得到所述富集时间。 0022 射线检测模块先测量富集之前的值， 再富集所述颗粒物经过富集时间， 然后测量 富集之后的值， 由富集前后的差值计算得到粒子标准质量浓度。 0023 进一步地， 所述富集时间为预先设置的时间。 。

22、0024 进一步地， 同一气路的所述待测气体先通过所述光学散射模块再通过所述 射线 检测模块。 0025 更进一步地， 所述待测气体通过所述光学散射模块前先进行除湿处理。 说明书 3/7 页 6 CN 111141646 A 6 0026 本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出， 部分将从下面的描述中变 得明显， 或通过本发明的实践了解到。 0027 附图说明 0028 本发明的上述和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得 明显和容易理解， 其中： 图1为本发明提供的基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置的结构框图； 图2为本发明提供的光学散射模块的主视图； 以。

23、及 图3为本发明提供的光学散射模块的俯视图。 0029 具体实施方式 0030 下面详细描述本发明的实施例， 所述实施例的示例在附图中示出， 其中自始至终 相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件； 下面通过参考附 图描述的实施例是示例性的， 仅用于解释本发明， 而不能解释为对本发明的限制。 0031 在本发明的描述中， 需要理解的是， 术语“上” 、“下” 、“底” 、“顶” 、“前” 、“后” 、 “内” 、“外” 、“横” 、“竖” 等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系， 仅是 为了便于描述本发明和简化描述， 而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有。

24、特定的方 位、 以特定的方位构造和操作， 因此不能理解为对本发明的限制。 块和 射线检测模块测量 同样的颗粒物样品； 计数质量浓度检测模块测量 本发明的构思如下， 采用共气路系统， 光学散射模块和 射线检测模块测量同样的颗粒 物样品； 通过判断粒子计数浓度是否大于粒子预设计数浓度来判断此时颗粒物浓度高低， 当大于时， 此时颗粒物浓度过高， 采用粒子直流质量浓度来作为颗粒物的实时质量浓度， 否 则采用粒子计数质量浓度来作为颗粒物的实时质量浓度； 将实时质量浓度作为估计质量浓 度， 再通过估计质量浓度计算出 射线检测模块的富集时间， 然后通过 射线检测模块测量 出粒子标准质量浓度， 通过粒子标准质。

25、量浓度调整拟合系数或粒子平均密度得到更加准确 的实时质量浓度。 0032 图1为本发明提供的基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置的结构框 图； 图2为本发明提供的光学散射模块的主视图； 以及图3为本发明提供的光学散射模块的 俯视图。 0033 如图1和图2所示， 根据本发明的实施例， 基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时 测量装置包括： 光学散射模块2、 射线检测模块3以及分析模块4； 所述光学散射模块2具有 与待测气体的气路相连通的进气口201、 与该进气口201相连通的散射腔203、 与该散射腔 203相连通的出气口202； 所述 射线检测模块3的进气口201与所述光学散射模块2的。

26、出气口 202相连接； 所述分析模块4分别与所述光学散射模块2以及所述 射线检测模块3连接。 0034 根据本专利背景技术中对现有技术所述， 采用分气路系统， 射线法和光散射法并 不是测量同一气路的颗粒物， 此时以 射线法为标准会导致测量误差； 在颗粒物浓度较高 时， 由于重叠误差的存在光学散射模块2不能准确的测得颗粒物的粒子浓度； 以 射线法为 说明书 4/7 页 7 CN 111141646 A 7 标准矫正光散射法来实现对颗粒物的实时监测， 没有考虑到两种方法的优缺点； 而本发明 公开的基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置， 采用共气路系统， 光学散射模块 2和 射线检测模块3测。

27、量同样的颗粒物样品， 使得矫正值更加准确； 而且， 采用共气路以后， 整体结构更加紧凑； 通过判断所述粒子计数浓度是否大于粒子预设计数浓度来判断此时颗 粒物浓度高低， 当大于时， 此时颗粒物浓度过高， 采用粒子直流质量浓度来作为颗粒物的实 时质量浓度， 否则采用粒子计数质量浓度来作为颗粒物的实时质量浓度， 提高了在不同环 境下实时测量的准确性； 而且， 本发明的测量装置， 先将实时质量浓度作为估计质量浓度， 通过估计质量浓度计算出 射线检测模块3的富集时间， 然后通过 射线检测模块3测量出粒 子标准质量浓度， 通过粒子标准质量浓度调整拟合系数或粒子平均密度， 增加了光学散射 模块2和 射线检测。

28、模块3互相反馈机制， 使得测量更加准确。 0035 另外， 根据本发明公开的一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置 还具有如下附加技术特征： 根据本发明的一些实施例， 所述光学散射模块2还包括激光器204,及设置在所述散射 腔203内的光陷阱205和两个聚焦透镜206、 207和前向光电探测镜209和曲面镜211和侧向光 电探测镜208； 所述激光器204的激光束射向所述光陷阱205中心且所述激光束的射出方向 与所述光陷阱205同轴； 所述光陷阱205中心、 两个所述聚焦透镜206、 207中心以及所述前向 光电探测镜209位于同一直线； 所述光陷阱205嵌设在远离所述前向光电探测镜。

29、209的所述 聚焦透镜206的中心上； 所述侧向光电探测镜208位于所述激光束射出方向的垂直平面上， 且所述侧向光电探测镜208与所述激光束射出方向之间具有夹角 ， 60 120 ； 所述激 光器204射出的所述激光束射向经过光学散射模块2的测量区的所述待测气体的颗粒物形 成前向散射光和侧向散射光； 所述前向散射光依次经过两个所述聚焦透镜206、 207收集并 进一步通过所述光阑210进入所述前向光电探测镜209形成直流信号， 所述侧向散射光经过 所述曲面镜211收集进入所述侧向光电探测镜208形成脉冲信号， 如图2和图3所示。 0036 根据本发明的一个实施例， 所述 为90 。 0037 。

30、根据本发明的一些实施例， 所述光学散射模块2还包括设置在所述散射腔203内的 光阑210， 所述光阑210设置在前向光电探测镜209与远离所述光陷阱205的所述聚焦透镜 207之间， 且所述光阑210的中心与两个所述聚焦透镜206、 207中心位于同一直线； 所述前向 散射光经过两个聚焦透镜206、 207收集并进一步通过所述光阑210射入所述前向光电探测 镜208形成脉冲信号， 如图2和图3所示。 0038 根据本发明的一个实施例， 所述曲面镜211为椭球镜。 0039 根据本发明的一些实施例， 所述分析模块4具有用于根据所述直流信号和拟合系 数或所述脉冲信号和粒子平均密度得到所述待测气体的。

31、颗粒物的实时质量浓度的实时浓 度获得部、 用于根据所述实时质量浓度控制所述 射线检测模块3的富集时间的富集时间控 制部、 用于根据所述 射线检测模块3的输出信号得到标准质量浓度的标准浓度获得部以及 用于根据所述标准质量浓度调整所述拟合系数和所述粒子平均密度的调整部。 0040 根据本发明的一些实施例， 所述实时浓度获得部包括用于根据所述直流信号和所 述拟合系数得到直流质量浓度的直流计算单元、 用于根据所述脉冲信号得到粒子计数浓度 并根据该粒子计数浓度和所述粒子平均密度得到计数质量浓度的计数计算单元、 用于判断 所述粒子计数浓度是否大于粒子预设计数浓度的判断单元以及用于根据所述判断单元的 说明书。

32、 5/7 页 8 CN 111141646 A 8 判断结果将所述直流质量浓度或所述计数质量浓度作为实时质量浓度的判定单元。 0041 根据本发明的一些实施例， 所述调整部包括用于计算所述 射线检测模块3的检测 周期内的所述计数质量浓度的平均值和所述直流质量浓度的平均值的平均值计算单元、 用 于根据所述计数质量浓度的平均值和所述标准质量浓度调整所述粒子平均密度的密度调 整单元以及用于根据所述直流质量浓度和所述标准质量浓度调整所述拟合系数的拟合系 数调整单元。 0042 根据本发明的一些实施例， 所述颗粒物实时测量装置还包括除湿模块1， 所述除湿 模块1的进气端与所述待测气体的气路相连通， 所述。

33、除湿模块1的出气端与所述光学散射模 块2的进气口201相连接。 0043 根据本发明的一些实施例， 所述除湿模块1为加热除湿管。 0044 根据本发明的另一方面， 还提供了一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时 测量方法， 包括以下步骤： 步骤一， 通过光学散射模块2并根据粒子平均密度或拟合系数获 得待测气体中颗粒物的质量浓度作为实时质量浓度； 步骤二， 确定 射线检测模块3的富集 时间； 步骤三， 让所述 射线检测模块3富集所述颗粒物至所述富集时间后得到所述颗粒物 的粒子标准质量浓度； 步骤四， 根据所述粒子标准质量浓度调整所述粒子平均密度和所述 拟合系数； 步骤五， 通过所述光学散射模块。

34、2并根据校准后的所述粒子平均密度或校准后的 所述拟合系数获得校准后质量浓度作为所述待测气体中颗粒物的所述实时质量浓度。 0045 另外， 根据本发明公开的一种基于 射线法和光散射原理的颗粒物实时测量方法 还具有如下附加技术特征： 根据本发明的一些实施例， 所述步骤一中， 所述质量浓度的获得方法如下： 通过所述光 学散射模块2获得所述待测气体中颗粒物的粒子计数浓度； 通过所述光学散射模块2根据所 述粒子平均密度实时获得粒子计数质量浓度， 并通过所述光学散射模块2根据所述拟合系 数实时获得粒子直流质量浓度； 判断所述粒子计数浓度是否大于粒子预设计数浓度， 当判 断为不大于时， 将所述粒子计数质量浓。

35、度作为所述实时质量浓度； 当判断为大于时， 将所述 粒子直流质量浓度作为所述实时质量浓度。 0046 根据本发明的一些实施例， 所述步骤四包括如下子步骤： 计算所述 射线检测模块 3的检测周期内的所述粒子计数质量浓度的平均值作为平均粒子计数质量浓度， 并计算所 述 射线检测模块3的检测周期内的所述粒子直流质量浓度的平均值作为平均粒子直流质 量浓度； 根据所述粒子标准质量浓度和所述平均粒子计数质量浓度调整所述粒子平均密 度， 并根据所述粒子标准质量浓度和所述平均粒子直流质量浓度调整所述拟合系数。 0047 根据本发明的一些实施例， 所述步骤五包括如下子步骤： 通过所述光学散射模块2 实时获得所述。

36、待测气体中颗粒物的粒子计数浓度； 通过所述光学散射模块2根据调整后的 所述粒子平均密度实时获得调整后的粒子计数质量浓度， 并通过所述光学散射模块2根据 调整后的所述拟合系数实时获得调整后的粒子直流质量浓度； 判断所述粒子计数浓度是否 大于粒子预设计数浓度， 当判断为不大于时， 将调整后的所述粒子计数质量浓度作为所述 实时质量浓度； 当判断为大于时， 将调整后的所述粒子直流质量浓度作为所述实时质量浓 度。 0048 根据本发明的一些实施例， 在所述步骤二中， 所述富集时间的确定方法如下： 将所 述实时质量浓度作为粒子估计质量浓度； 根据所述 射线检测模块3的检出质量和所述粒子 说明书 6/7 页。

37、 9 CN 111141646 A 9 估计质量浓度计算得到所述富集时间。 0049 射线检测模块3先测量富集之前的值， 再富集所述颗粒物经过富集时间， 然后测 量富集之后的值， 由富集前后的差值计算得到粒子标准质量浓度。 0050 根据本发明的一些实施例， 所述富集时间为预先设置的时间。 0051 根据本发明的一些实施例， 同一气路的所述待测气体先通过所述光学散射模块2 再通过所述 射线检测模块3。 0052 根据本发明的一些实施例， 所述待测气体通过所述光学散射模块2前先进行除湿 处理。 0053 任何提及 “一个实施例” 、“实施例” 、“示意性实施例” 等意指结合该实施例描述的 具体构。

38、件、 结构或者特点包含于本发明的至少一个实施例中； 在本说明书各处的该示意性 表述不一定指的是相同的实施例； 而且， 当结合任何实施例描述具体构件、 结构或者特点 时， 所主张的是， 结合其他的实施例实现这样的构件、 结构或者特点均落在本领域技术人员 的范围之内。 0054 尽管参照本发明的多个示意性实施例对本发明的具体实施方式进行了详细的描 述， 但是必须理解， 本领域技术人员可以设计出多种其他的改进和实施例， 这些改进和实施 例将落在本发明原理的精神和范围之内； 具体而言， 在前述公开、 附图以及权利要求的范围 之内， 可以在零部件和/或者从属组合布局的布置方面作出合理的变型和改进， 而不会脱离 本发明的精神； 除了零部件和/或布局方面的变型和改进， 其范围由所附权利要求及其等同 物限定。 说明书 7/7 页 10 CN 111141646 A 10 图1 图2 说明书附图 1/2 页 11 CN 111141646 A 11 图3 说明书附图 2/2 页 12 CN 111141646 A 12 。