连接器接口的测试治具及设备.pdf

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1、(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 202010346341.X (22)申请日 2020.04.27 (71)申请人 苏州浪潮智能科技有限公司 地址 215100 江苏省苏州市吴中区吴中经 济开发区郭巷街道官浦路1号9幢 (72)发明人 杨茁 (74)专利代理机构 北京集佳知识产权代理有限 公司 11227 代理人 侯珊 (51)Int.Cl. G01R 31/28(2006.01) G01R 1/04(2006.01) (54)发明名称 一种连接器接口的测试治具及设备 (57)摘要 本发明公开了一种连接器接口的。

2、测试治具 及测试设备， 包括连接器匹配插头、 电路板、 混合 测试接口。 连接器匹配插头上设有探针， 通过探 针可与连接器接口插接。 电路板上铺设有与连接 器接口的待测引脚对应的探针一一连接的信号 走线， 通过信号走线可引出待测引脚的测试信 号。 电路板上还设有与信号走线一一连接的混合 测试接口， 混合测试接口可通过自身不同测试接 口与不同测试装置一一匹配连接， 各测试装置便 可直接侦测到测试信号进行检测， 测试过程较为 简单， 尤其对于pin与pin之间的间距很小的连接 器接口来说， 测试难度较低， 且不存在短路风险； 而且， 本申请的测试治具可适用于不同测试装置 进行测试， 应用较广泛。 。

3、权利要求书2页 说明书8页 附图3页 CN 111505483 A 2020.08.07 CN 111505483 A 1.一种连接器接口的测试治具， 其特征在于， 包括： 设有探针、 通过所述探针与连接器接口插接的连接器匹配插头， 用于引出所述连接器 接口的引脚信号； 铺设有与所述连接器接口的待测引脚对应的探针一一连接的信号走线的电路板， 用于 引出所述待测引脚的测试信号； 设于所述电路板上、 与所述信号走线一一连接的混合测试接口， 用于通过自身不同测 试接口与不同测试装置一一匹配连接， 以分别通过不同所述测试装置侦测到所述测试信号 进行测试。 2.如权利要求1所述的连接器接口的测试治具， 。

4、其特征在于， 所述测试信号包括N个通 道的PCIE信号和Clock信号； 任一通道的PCIE信号均包括一路Tx信号和一路Rx信号； N为正 整数； 其中： 引出所述Tx信号的Tx混合测试接口分布于所述电路板的正面， 引出所述Rx信号的Rx混 合测试接口分布于所述电路板的背面。 3.如权利要求2所述的连接器接口的测试治具， 其特征在于， N1； 相应的， 所述测试治具还包括： 多路信号输入端与所述电路板上的多路Tx信号走线一一连接、 单路信号输出端与所述 Tx混合测试接口对应连接的Tx信号选通电路； 多路信号输入端与所述电路板上的多路Rx信号走线一一连接、 单路信号输出端与所述 Rx混合测试接口。

5、对应连接的Rx信号选通电路； 分别与所述Tx信号选通电路和所述Rx信号选通电路连接的控制器， 用于在接收到包含 目标通道号的测试指令时， 控制所述Tx信号选通电路选通所述目标通道号对应的Tx信号传 输线路， 并控制所述Rx信号选通电路选通所述目标通道号对应的Rx信号传输线路。 4.如权利要求3所述的连接器接口的测试治具， 其特征在于， 所述测试治具还包括： 设于所述电路板上、 与所述控制器连接的操作按键； 相应的， 所述控制器具体用于检测所述操作按键的当前按键状态， 并根据预设状态通 道号对应关系确定与所述当前按键状态对应的目标通道号， 且控制所述Tx信号选通电路选 通所述目标通道号对应的Tx。

6、信号传输线路、 控制所述Rx信号选通电路选通所述目标通道号 对应的Rx信号传输线路。 5.如权利要求4所述的连接器接口的测试治具， 其特征在于， 所述操作按键包括复位按 键和lane选择按键； 相应的， 所述控制器具体用于在检测到所述复位按键按下或者没有按键按下时， 确定 第一通道的通道号为目标通道号； 在检测到所述lane选择按键的按键次数加1时， 判断上一 次确定的目标通道号是否为最大通道号， 若否， 则确定本次的目标通道号上一次的目标 通道号+1； 若是， 确定本次的目标通道号最大通道号。 6.如权利要求1-5任一项所述的连接器接口的测试治具， 其特征在于， 所述混合测试接 口包括： S。

7、MA公头壳体； 套嵌于所述SMA公头壳体内的SMP母头壳体； 贯穿于所述SMP母头壳体底部的测试探针； 权利要求书 1/2 页 2 CN 111505483 A 2 设于所述SMA公头壳体和所述SMP母头壳体之间的第一推拉装置， 用于将所述SMP母头 壳体从所述SMA公头壳体内推出或将所述SMP母头壳体收回所述SMA公头壳体内； 设于所述SMA公头壳体和所述测试探针之间的第二推拉装置， 用于将所述测试探针从 壳体内部推出或将所述测试探针收回壳体内部。 7.如权利要求6所述的连接器接口的测试治具， 其特征在于， 所述第一推拉装置包括： 贯穿于所述SMA公头壳体侧面、 可水平移动的第一拉杆； 设于。

8、所述SMA公头壳体内、 与所述第一拉杆固定连接且斜坡表面设有第一滑轨的第一 直三棱柱结构件； 固定于所述SMP母头壳体底部、 与所述第一滑轨滑动式连接的第一固定结构件， 用于通 过所述第一直三棱柱结构件的水平移动带动自身在所述第一滑轨上滑动， 以将所述SMP母 头壳体推出或收回。 8.如权利要求7所述的连接器接口的测试治具， 其特征在于， 所述第二推拉装置包括： 贯穿于所述SMA公头壳体侧面、 可水平移动的第二拉杆； 设于所述SMA公头壳体内、 与所述第二拉杆固定连接且斜坡表面设有第二滑轨的第二 直三棱柱结构件； 固定于所述测试探针底部、 与所述第二滑轨滑动式连接的第二固定结构件， 用于通过 。

9、所述第二直三棱柱结构件的水平移动带动自身在所述第二滑轨上滑动， 以将所述测试探针 推出或收回。 9.一种连接器接口的测试设备， 其特征在于， 包括测试装置， 还包括如权利要求1-8任 一项所述的连接器接口的测试治具。 10.如权利要求9所述的连接器接口的测试设备， 其特征在于， 所述连接器接口为 SlimSas 8i连接器接口。 权利要求书 2/2 页 3 CN 111505483 A 3 一种连接器接口的测试治具及设备 技术领域 0001 本发明涉及信号检测领域， 特别是涉及一种连接器接口的测试治具及设备。 背景技术 0002 为保证服务器的安全性及可靠性， 对于服务器的各信号完整性的监测至。

10、关重要。 目前， 通常采用示波器的探棒在服务器主板上对信号pin进行点测， 以在示波器上显示信号 波形并量测出信号的幅值、 时序等， 从而确保信号的完整性。 如对于SlimSas 8i连接器的 PCIE(peripheral component interconnect express， 高速串行计算机扩展总线标准)信 号测量， 首先需要在主板上找到SlimSas 8i连接器的接口对应的传输PCIE信号的pin针， 然 后通过探棒进行手动点测， 再通过示波器进行测试分析， 测试过程较为繁琐； 而且， SlimSas 8i连接器的接口体积较小， pin与pin之间的间距很小， 导致探棒很难精准点。

11、到相应的pin 针， 测试难度较高， 且容易同时点测到两个pin针， 存在短路风险。 0003 因此， 如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域的技术人员目前需要解决 的问题。 发明内容 0004 本发明的目的是提供一种连接器接口的测试治具及设备， 测试过程较为简单， 尤 其对于pin与pin之间的间距很小的连接器接口来说， 测试难度较低， 且不存在短路风险； 而 且， 本申请的测试治具可适用于不同测试装置进行测试， 应用较广泛。 0005 为解决上述技术问题， 本发明提供了一种连接器接口的测试治具， 包括： 0006 设有探针、 通过所述探针与连接器接口插接的连接器匹配插头， 用于引出所述。

12、连 接器接口的引脚信号； 0007 铺设有与所述连接器接口的待测引脚对应的探针一一连接的信号走线的电路板， 用于引出所述待测引脚的测试信号； 0008 设于所述电路板上、 与所述信号走线一一连接的混合测试接口， 用于通过自身不 同测试接口与不同测试装置一一匹配连接， 以分别通过不同所述测试装置侦测到所述测试 信号进行测试。 0009 优选地， 所述测试信号包括N个通道的PCIE信号和Clock信号； 任一通道的PCIE信 号均包括一路Tx信号和一路Rx信号； N为正整数； 其中： 0010 引出所述Tx信号的Tx混合测试接口分布于所述电路板的正面， 引出所述Rx信号的 Rx混合测试接口分布于所。

13、述电路板的背面。 0011 优选地， N1； 0012 相应的， 所述测试治具还包括： 0013 多路信号输入端与所述电路板上的多路Tx信号走线一一连接、 单路信号输出端与 所述Tx混合测试接口对应连接的Tx信号选通电路； 0014 多路信号输入端与所述电路板上的多路Rx信号走线一一连接、 单路信号输出端与 说明书 1/8 页 4 CN 111505483 A 4 所述Rx混合测试接口对应连接的Rx信号选通电路； 0015 分别与所述Tx信号选通电路和所述Rx信号选通电路连接的控制器， 用于在接收到 包含目标通道号的测试指令时， 控制所述Tx信号选通电路选通所述目标通道号对应的Tx信 号传输线。

14、路， 并控制所述Rx信号选通电路选通所述目标通道号对应的Rx信号传输线路。 0016 优选地， 所述测试治具还包括： 0017 设于所述电路板上、 与所述控制器连接的操作按键； 0018 相应的， 所述控制器具体用于检测所述操作按键的当前按键状态， 并根据预设状 态通道号对应关系确定与所述当前按键状态对应的目标通道号， 且控制所述Tx信号选通电 路选通所述目标通道号对应的Tx信号传输线路、 控制所述Rx信号选通电路选通所述目标通 道号对应的Rx信号传输线路。 0019 优选地， 所述操作按键包括复位按键和lane选择按键； 0020 相应的， 所述控制器具体用于在检测到所述复位按键按下或者没有。

15、按键按下时， 确定第一通道的通道号为目标通道号； 在检测到所述lane选择按键的按键次数加1时， 判断 上一次确定的目标通道号是否为最大通道号， 若否， 则确定本次的目标通道号上一次的 目标通道号+1； 若是， 确定本次的目标通道号最大通道号。 0021 优选地， 所述混合测试接口包括： 0022 SMA公头壳体； 0023 套嵌于所述SMA公头壳体内的SMP母头壳体； 0024 贯穿于所述SMP母头壳体底部的测试探针； 0025 设于所述SMA公头壳体和所述SMP母头壳体之间的第一推拉装置， 用于将所述SMP 母头壳体从所述SMA公头壳体内推出或将所述SMP母头壳体收回所述SMA公头壳体内；。

16、 0026 设于所述SMA公头壳体和所述测试探针之间的第二推拉装置， 用于将所述测试探 针从壳体内部推出或将所述测试探针收回壳体内部。 0027 优选地， 所述第一推拉装置包括： 0028 贯穿于所述SMA公头壳体侧面、 可水平移动的第一拉杆； 0029 设于所述SMA公头壳体内、 与所述第一拉杆固定连接且斜坡表面设有第一滑轨的 第一直三棱柱结构件； 0030 固定于所述SMP母头壳体底部、 与所述第一滑轨滑动式连接的第一固定结构件， 用 于通过所述第一直三棱柱结构件的水平移动带动自身在所述第一滑轨上滑动， 以将所述 SMP母头壳体推出或收回。 0031 优选地， 所述第二推拉装置包括： 00。

17、32 贯穿于所述SMA公头壳体侧面、 可水平移动的第二拉杆； 0033 设于所述SMA公头壳体内、 与所述第二拉杆固定连接且斜坡表面设有第二滑轨的 第二直三棱柱结构件； 0034 固定于所述测试探针底部、 与所述第二滑轨滑动式连接的第二固定结构件， 用于 通过所述第二直三棱柱结构件的水平移动带动自身在所述第二滑轨上滑动， 以将所述测试 探针推出或收回。 0035 为解决上述技术问题， 本发明还提供了一种连接器接口的测试设备， 包括测试装 置， 还包括上述任一种连接器接口的测试治具。 说明书 2/8 页 5 CN 111505483 A 5 0036 优选地， 所述连接器接口为SlimSas 8。

18、i连接器接口。 0037 本发明提供了一种连接器接口的测试治具， 包括连接器匹配插头、 电路板、 混合测 试接口。 连接器匹配插头上设有探针， 通过探针可与连接器接口插接。 电路板上铺设有与连 接器接口的待测引脚对应的探针一一连接的信号走线， 通过信号走线可引出待测引脚的测 试信号。 电路板上还设有与信号走线一一连接的混合测试接口， 混合测试接口可通过自身 不同测试接口与不同测试装置一一匹配连接， 各测试装置便可直接侦测到测试信号进行检 测， 测试过程较为简单， 尤其对于pin与pin之间的间距很小的连接器接口来说， 测试难度较 低， 且不存在短路风险； 而且， 本申请的测试治具可适用于不同测。

19、试装置进行测试， 应用较 广泛。 0038 本发明还提供了一种连接器接口的测试设备， 与上述测试治具具有相同的有益效 果。 附图说明 0039 为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案， 下面将对现有技术和实施例中所 需要使用的附图作简单地介绍， 显而易见地， 下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施 例， 对于本领域普通技术人员来讲， 在不付出创造性劳动的前提下， 还可以根据这些附图获 得其他的附图。 0040 图1为本发明实施例提供的一种连接器接口的测试治具的结构示意图； 0041 图2为本发明实施例提供的一种SlimSas 8i连接器接口母头的结构示意图一； 0042 图3为本发明实施例提。

20、供的一种SlimSas 8i连接器接口母头的结构示意图二； 0043 图4为本发明实施例提供的一种SlimSas 8i连接器结构的连接示意图； 0044 图5为本发明实施例提供的一种连接器接口的测试治具的具体结构示意图； 0045 图6为本发明实施例提供的另一种连接器接口的测试治具的具体结构示意图； 0046 图7为本发明实施例提供的一种SMA公头的结构示意图； 0047 图8为本发明实施例提供的一种SMP母头的结构示意图； 0048 图9为本发明实施例提供的一种第一直三棱柱结构件的俯视图； 0049 图10为本发明实施例提供的一种第一直三棱柱结构件的侧视图； 0050 图11为本发明实施例提。

21、供的一种SMP母头底部及第一固定结构件的结构示意图。 具体实施方式 0051 本发明的核心是提供一种连接器接口的测试治具及设备， 测试过程较为简单， 尤 其对于pin与pin之间的间距很小的连接器接口来说， 测试难度较低， 且不存在短路风险； 而 且， 本申请的测试治具可适用于不同测试装置进行测试， 应用较广泛。 0052 为使本发明实施例的目的、 技术方案和优点更加清楚， 下面将结合本发明实施例 中的附图， 对本发明实施例中的技术方案进行清楚、 完整地描述， 显然， 所描述的实施例是 本发明一部分实施例， 而不是全部的实施例。 基于本发明中的实施例， 本领域普通技术人员 在没有做出创造性劳动。

22、前提下所获得的所有其他实施例， 都属于本发明保护的范围。 0053 请参照图1， 图1为本发明实施例提供的一种连接器接口的测试治具的结构示意 图。 说明书 3/8 页 6 CN 111505483 A 6 0054 该连接器接口的测试治具包括： 0055 设有探针、 通过探针与连接器接口插接的连接器匹配插头1， 用于引出连接器接口 的引脚信号； 0056 铺设有与连接器接口的待测引脚对应的探针一一连接的信号走线的电路板2， 用 于引出待测引脚的测试信号； 0057 设于电路板2上、 与信号走线一一连接的混合测试接口3， 用于用于通过自身不同 测试接口与不同测试装置一一匹配连接， 以分别通过不同。

23、测试装置侦测到测试信号进行测 试。 0058 具体地， 本申请的连接器接口的测试治具包括连接器匹配插头1、 电路板2及混合 测试接口3， 工作原理为： 0059 连接器匹配插头1与连接器接口插入式连接， 连接器匹配插头1上设有探针， 在连 接器匹配插头1插入连接器接口后， 探针可引出连接器接口的引脚信号。 其中， 连接器接口 的引脚数量等于连接器匹配插头1上的探针数量， 且探针排布位置与引脚排布位置相对应， 二者可匹配连接。 比如， 连接器为SlimSas8i连接器， 则连接器接口如图2及图3所示， 为母头 结构。 则连接器匹配插头1为公头结构， 其与连接器接口的连接如图4所示。 在连接器匹配。

24、插 头1插入连接器接口后， 连接器接口的引脚信号可通过连接器匹配插头1上的探针引出。 0060 电路板2(如PCB(Printed Circuit Board， 印制电路板)上铺设有与连接器接口 的待测引脚对应的探针一一连接的信号走线， 则在连接器匹配插头1插入连接器接口后， 连 接器接口的待测引脚的测试信号可依次通过连接器匹配插头1上的探针、 与探针连接的信 号走线引出。 如连接器接口的待测引脚包括引脚 “1” ， 引脚 “1” 的测试信号可依次通过连接 器匹配插头1上与引脚 “1” 连接的探针 “1” 、 与探针 “1” 连接的信号走线引出。 0061 混合测试接口3设于电路板2上， 混合。

25、测试接口3与引出连接器接口的待测引脚的 测试信号的信号走线一一连接。 混合测试接口3包含不同测试接口(即多合一测试接口)， 不 同测试接口与不同测试装置一一匹配连接， 则在连接器匹配插头1插入连接器接口后， 连接 器接口的待测引脚的测试信号可依次通过连接器匹配插头1上的探针、 与探针连接的信号 走线、 与信号走线连接的混合测试接口3传输至与混合测试接口3中一测试接口连接的测试 装置。 基于此， 各测试装置均可直接侦测到测试信号进行检测， 测试过程较为简单。 0062 本发明提供了一种连接器接口的测试治具， 包括连接器匹配插头、 电路板、 混合测 试接口。 连接器匹配插头上设有探针， 通过探针可。

26、与连接器接口插接。 电路板上铺设有与连 接器接口的待测引脚对应的探针一一连接的信号走线， 通过信号走线可引出待测引脚的测 试信号。 电路板上还设有与信号走线一一连接的混合测试接口， 混合测试接口可通过自身 不同测试接口与不同测试装置一一匹配连接， 各测试装置便可直接侦测到测试信号进行检 测， 测试过程较为简单， 尤其对于pin与pin之间的间距很小的连接器接口来说， 测试难度较 低， 且不存在短路风险； 而且， 本申请的测试治具可适用于不同测试装置进行测试， 应用较 广泛。 0063 在上述实施例的基础上： 0064 请参照图5， 图5为本发明实施例提供的一种连接器接口的测试治具的具体结构示 。

27、意图。 0065 作为一种可选的实施例， 测试信号包括N个通道的PCIE信号和Clock信号； 任一通 说明书 4/8 页 7 CN 111505483 A 7 道的PCIE信号均包括一路Tx信号和一路Rx信号； N为正整数； 其中： 0066 引出Tx信号的Tx混合测试接口分布于电路板2的正面， 引出Rx信号的Rx混合测试 接口分布于电路板2的背面。 0067 具体地， PCIe可以实现点对点的双通道高速高带宽的数据传输， 具有数据传输速 率高、 抗干扰能力强、 传输距离远、 低功耗等优点， 本申请的连接器采用PCIe信号通讯。 0068 本申请的连接器接口的测试信号包括若干个通道的PCIE。

28、信号和Clock(时钟)信 号。 其中， 同一PCIe lane(通道)对应一对PCIe信号， 包括一路Tx(发送)信号和一路Rx(接 收)信号。 0069 基于此， 在电路板2上设置引出Tx信号的Tx混合测试接口和引出Rx信号的Rx混合 测试接口的位置时， Tx混合测试接口均分布于电路板2的正面， Rx混合测试接口均分布于电 路板2的背面。 0070 此外， PCIe信号和Clock信号均为差分信号， 如图5所示， PCIE差分信号由Lane0至 Lane7共8组Tx信号以及同样的8组Rx信号组成。 0071 请参照图6， 图6为本发明实施例提供的另一种连接器接口的测试治具的具体结构 示意图。

29、。 0072 作为一种可选的实施例， N1； 0073 相应的， 测试治具还包括： 0074 多路信号输入端与电路板2上的多路Tx信号走线一一连接、 单路信号输出端与Tx 混合测试接口对应连接的Tx信号选通电路4； 0075 多路信号输入端与电路板2上的多路Rx信号走线一一连接、 单路信号输出端与Rx 混合测试接口对应连接的Rx信号选通电路5； 0076 分别与Tx信号选通电路4和Rx信号选通电路5连接的控制器6， 用于在接收到包含 目标通道号的测试指令时， 控制Tx信号选通电路4选通目标通道号对应的Tx信号传输线路， 并控制Rx信号选通电路5选通目标通道号对应的Rx信号传输线路。 0077 。

30、进一步地， 本申请的连接器接口的测试信号包括多个通道的PCIE信号， 且本申请 的测试治具还包括Tx信号选通电路4、 Rx信号选通电路5及控制器6， 其工作原理为： 0078 在电路板2上设置多路信号输入单路信号输出的Tx信号选通电路4， Tx信号选通电 路4的多路信号输入端与电路板2上的多路Tx信号通过PCB走线一一连接， Tx信号选通电路4 的单路信号输出端与Tx混合测试接口通过PCB走线连接， Tx信号选通电路4的作用是选择一 路Tx信号传输至Tx混合测试接口， 供测试装置通过线缆接入。 0079 同样地， 在电路板2上设置多路信号输入单路信号输出的Rx信号选通电路5， Rx信 号选通电。

31、路5的多路信号输入端与电路板2上的多路Rx信号通过PCB走线一一连接， Rx信号 选通电路5的单路信号输出端与Rx混合测试接口通过PCB走线连接， Rx信号选通电路5的作 用是选择一路Rx信号传输至Rx混合测试接口， 供测试装置通过线缆接入。 0080 基于此， 本申请提前为电路板2上的多个PCIe lane设置可区分不同PCIe lane的 通道号， 且在电路板2上设置用于控制Tx信号选通电路4和Rx信号选通电路5的控制器6。 控 制器6在接收到包含目标通道号(不同PCIe lane的通道号中任一通道号)的测试指令时， 控 制Tx信号选通电路4选通目标通道号对应的Tx信号传输线路， 即选择目。

32、标通道号对应的Tx 信号传输至Tx混合测试接口； 且控制Rx信号选通电路5选通目标通道号对应的Rx信号传输 说明书 5/8 页 8 CN 111505483 A 8 线路， 即选择目标通道号对应的Rx信号传输至Rx混合测试接口。 则测试装置可通过线缆接 入Tx混合测试接口和Rx混合测试接口， 检测目标通道号对应的由Tx信号和Rx信号组成的一 对PCIe信号。 0081 作为一种可选的实施例， 测试治具还包括： 0082 设于电路板2上、 与控制器6连接的操作按键7； 0083 相应的， 控制器6具体用于检测操作按键7的当前按键状态， 并根据预设状态通道 号对应关系确定与当前按键状态对应的目标通。

33、道号， 且控制Tx信号选通电路4选通目标通 道号对应的Tx信号传输线路、 控制Rx信号选通电路5选通目标通道号对应的Rx信号传输线 路。 0084 进一步地， 本申请的测试治具还包括操作按键7， 其工作原理为： 0085 本申请提前设置操作按键7的按键状态与不同PCIe lane的通道号之间的一一对 应关系(简称状态通道号对应关系)， 以为后续确定目标通道号打下基础。 0086 操作按键7供测试人员操作， 以改变操作按键7的按键状态。 控制器6可检测操作按 键7的当前按键状态， 并根据预设状态通道号对应关系确定与当前按键状态对应的目标通 道号， 然后控制Tx信号选通电路4选通目标通道号对应的T。

34、x信号传输线路， 控制Rx信号选通 电路5选通目标通道号对应的Rx信号传输线路。 0087 作为一种可选的实施例， 操作按键7包括复位按键和lane选择按键； 0088 相应的， 控制器6具体用于在检测到复位按键按下或者没有按键按下时， 确定第一 通道的通道号为目标通道号； 在检测到lane选择按键的按键次数加1时， 判断上一次确定的 目标通道号是否为最大通道号， 若否， 则确定本次的目标通道号上一次的目标通道号+1； 若是， 确定本次的目标通道号最大通道号。 0089 需要说明的是， 本申请的复位按键和lane选择按键均为自复位按键， 即在按下后 会自动弹起的按键。 0090 具体地， 本申。

35、请的操作按键7包括复位按键和lane选择按键， 其工作原理为： 0091 控制器6在检测到复位按键按下或者没有按键按下时， 确定第一通道的通道号0为 目标通道号， 则控制Tx信号选通电路4选通第一通道对应的Tx信号传输线路， 控制Rx信号选 通电路5选通第一通道对应的Rx信号传输线路； 控制器6在检测到lane选择按键的按键次数 加1时， 判断上一次确定的目标通道号是否为最大通道号， 若不为最大通道号， 则确定本次 的目标通道号上一次的目标通道号+1； 若为最大通道号， 确定本次的目标通道号最大 通道号。 0092 作为一种可选的实施例， 混合测试接口3包括： 0093 SMA公头壳体； 00。

36、94 套嵌于SMA公头壳体内的SMP母头壳体； 0095 贯穿于SMP母头壳体底部的测试探针； 0096 设于SMA公头壳体和SMP母头壳体之间的第一推拉装置， 用于将SMP母头壳体从SMA 公头壳体内推出或将SMP母头壳体收回SMA公头壳体内； 0097 设于SMA公头壳体和测试探针之间的第二推拉装置， 用于将测试探针从壳体内部 推出或将测试探针收回壳体内部。 0098 具体地， 本申请的混合测试接口3包括SMA公头壳体、 SMP母头壳体、 测试探针、 第一 说明书 6/8 页 9 CN 111505483 A 9 推拉装置及第二推拉装置， 其工作原理为： 0099 如图7所示为SMA公头，。

37、 如图8所示为SMP母头， SMA公头和SMP母头均为示波器常用 的测试接头。 由于SMP母头口径比SMA公头小一些， 且信号都是从壳体内部的测试探针出发， 外壳只起到固定作用， 因此本申请将SMP母头壳体套嵌于SMA公头壳体内且二者共用一测试 探针。 0100 为了实现三种测试方式的效果(SMA公头测试方式、 SMP母头测试方式、 探针点测方 式)， 本申请将SMP母头壳体和测试探针均设计为可伸缩方式， 具体是在SMA公头壳体和SMP 母头壳体之间设置第一推拉装置， 第一推拉装置可将SMP母头壳体从SMA公头壳体内推出， 且可将SMP母头壳体收回SMA公头壳体内； 同理在SMA公头壳体和测试。

38、探针之间设置第二推 拉装置， 第二推拉装置可将测试探针从壳体内部推出， 且可将测试探针收回壳体内部。 0101 基于此， 当SMP母头壳体收回SMA公头壳体内， 且测试探针收回壳体内部时， 混合测 试接口3体现为SMA公头， 供示波器接入； 当SMP母头壳体从SMA公头壳体内推出， 且测试探针 处于合适位置时， 混合测试接口3体现为SMP母头， 供示波器经SMA-SMP线缆接入； 当SMP母头 壳体收回SMA公头壳体内， 且测试探针从壳体内部推出时， 混合测试接口3体现为测试探针， 供探棒点测连接。 0102 作为一种可选的实施例， 第一推拉装置包括： 0103 贯穿于SMA公头壳体侧面、 可。

39、水平移动的第一拉杆； 0104 设于SMA公头壳体内、 与第一拉杆固定连接且斜坡表面设有第一滑轨的第一直三 棱柱结构件； 0105 固定于SMP母头壳体底部、 与第一滑轨滑动式连接的第一固定结构件， 用于通过第 一直三棱柱结构件的水平移动带动自身在第一滑轨上滑动， 以将SMP母头壳体推出或收回。 0106 具体地， 本申请的第一推拉装置包括第一拉杆、 第一直三棱柱结构件及第一固定 结构件， 其工作原理为： 0107 当第一拉杆水平推入SMA公头壳体侧面时， 带动设于SMA公头壳体内的第一直三棱 柱结构件(如图9和图10所示)水平移动， 固定于SMP母头壳体底部的第一固定结构件在第一 滑轨斜边上。

40、会随着第一滑轨移动而向上推动， 即可实现SMP母头壳体的推出。 反之， 当第一 拉杆从SMA公头壳体侧面水平拉出时， 带动设于SMA公头壳体内的第一直三棱柱结构件水平 移动， 固定于SMP母头壳体底部的第一固定结构件在第一滑轨斜边上会随着第一滑轨移动 而向下推动， 即可实现SMP母头壳体的收回。 0108 需要说明的是， 固定于SMP母头壳体底部的第一固定结构件的数量可为多个， 则第 一直三棱柱结构件的斜坡表面设置的第一滑轨的数量需相应设置多个， 供多个第一固定结 构件一一与多个第一滑轨滑动式连接， 结构比较稳定。 如图11所示， 固定于SMP母头壳体底 部的第一固定结构件为两个， 第一直三棱。

41、柱结构件的斜坡表面设置的第一滑轨的数量需相 应设置两个， 供两个第一固定结构件接入。 0109 作为一种可选的实施例， 第二推拉装置包括： 0110 贯穿于SMA公头壳体侧面、 可水平移动的第二拉杆； 0111 设于SMA公头壳体内、 与第二拉杆固定连接且斜坡表面设有第二滑轨的第二直三 棱柱结构件； 0112 固定于测试探针底部、 与第二滑轨滑动式连接的第二固定结构件， 用于通过第二 说明书 7/8 页 10 CN 111505483 A 10 直三棱柱结构件的水平移动带动自身在第二滑轨上滑动， 以将测试探针推出或收回。 0113 具体地， 本申请的第二推拉装置包括第二拉杆、 第二直三棱柱结构。

42、件及第二固定 结构件， 其工作原理为： 0114 当第二拉杆水平推入SMA公头壳体侧面时， 带动设于SMA公头壳体内的第二直三棱 柱结构件水平移动， 固定于测试探针底部的第二固定结构件在第二滑轨斜边上会随着第二 滑轨移动而向上推动， 即可实现测试探针的推出。 反之， 当第二拉杆从SMA公头壳体侧面水 平拉出时， 带动设于SMA公头壳体内的第二直三棱柱结构件水平移动， 固定于测试探针底部 的第二固定结构件在第二滑轨斜边上会随着第二滑轨移动而向下推动， 即可实现测试探针 的收回。 基于此， 测试治具的制作及使用流程为： 1)首先通过SI仿真设计好电路板上信号线 的走线、 线宽、 线距、 叠层等， 。

43、然后通过layout(布局)画板设计并制作出测试治具， 最后测试 治具通过阻抗、 Loss(损耗)等测试后便可投入使用。 2)将待测主板的SlimSas 8i连接器接 口与测试治具的连接器匹配插头相连接。 3)测试装置与测试治具的混合测试接口上与自身 匹配的测试接口相连接， 将相应pin的信号引出。 4)接通待测主板的电源并开机， 测试装置 即可测试PCIe信号及Clock信号。 则通过以上步骤， 即可完成对服务器SlimSas 8i连接器接 口的PCIe信号及Clock信号的完整性检验。 0115 本申请还提供了一种连接器接口的测试设备， 包括测试装置， 还包括上述任一种 连接器接口的测试治。

44、具。 0116 作为一种可选的实施例， 连接器接口为SlimSas 8i连接器接口。 0117 本申请提供的测试设备的介绍请参考上述测试治具的实施例， 本申请在此不再赘 述。 0118 还需要说明的是， 在本说明书中， 诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将 一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来， 而不一定要求或者暗示这些实体或操作 之间存在任何这种实际的关系或者顺序。 而且， 术语 “包括” 、“包含” 或者其任何其他变体意 在涵盖非排他性的包含， 从而使得包括一系列要素的过程、 方法、 物品或者设备不仅包括那 些要素， 而且还包括没有明确列出的其他要素， 或者是还包括为这种过程、 。

45、方法、 物品或者 设备所固有的要素。 在没有更多限制的情况下， 由语句 “包括一个” 限定的要素， 并不排 除在包括所述要素的过程、 方法、 物品或者设备中还存在另外的相同要素。 0119 对所公开的实施例的上述说明， 使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。 对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的， 本文中所定义的 一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下， 在其他实施例中实现。 因此， 本发明 将不会被限制于本文所示的这些实施例， 而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一 致的最宽的范围。 说明书 8/8 页 11 CN 111505483 A 11 图1 图2 图3 图4 说明书附图 1/3 页 12 CN 111505483 A 12 图5 图6 图7 说明书附图 2/3 页 13 CN 111505483 A 13 图8 图9 图10 图11 说明书附图 3/3 页 14 CN 111505483 A 14 。