触摸面板和使用触摸面板的坐标检测方法 【技术领域】
本发明涉及触摸面板以及使用触摸面板的坐标检测方法。
背景技术
触摸面板是使得用户能够对显示装置直接输入数据的输入装置。触摸面板被放置于显示装置的正面并用于输入数据。触摸面板允许用户基于显示装置上的可视信息直接输入数据，并且广泛用于各种应用。
在现有技术中，公知的是电阻膜触摸面板。在电阻膜触摸面板中，在上面形成了透明导电膜的上电极衬底与在上面形成了透明导电膜的下电极衬底被放置为使这些透明导电膜彼此相对。当在触摸面板的上电极衬底的一点上施加外力时，这些透明导电膜在所述点处相互接触，并且外力作用点的位置可以被触摸面板检测。
大致说来，根据现有技术所述的电阻膜触摸面板可以被分类为四线型和五线型。在四线型触摸面板中，一对X轴电极被配备于上电极衬底和下电极衬底中的一个上，并且一对Y轴电极被配备于所述两个电极衬底中的另一个上。另一方面，在五线型触摸面板中，一对X轴电极和一对Y轴电极都被配备于下电极衬底上，而上电极衬底用作用于检测电压的探测装置(probe)。例如，日本特开第2004‑272722号和日本特开第2008‑293129号分别公开了现有技术中的五线型电阻膜触摸面板。
具体地，结合图1和2对现有技术中的五线型触摸面板进行说明。图1为示意图，表示了现有技术中的五线型触摸面板的结构。图2为现有技术中的五线型触摸面板的截面图。
如图1和2所示，五线型触摸面板200包括膜210(上电极衬底)和玻璃板220(下电极衬底)，在膜210上形成了透明导电膜230，在玻璃板220上形成了透明导电膜240。膜210和玻璃板220被放置于间隔件250的相对的两侧上，使得透明导电膜230和透明导电膜240彼此相对并被间隔件250分隔。该五线型触摸面板200和主机(未图示)由电缆260彼此电连接。
在现有技术的五线型触摸面板200中，如图3A所示，电极241、242、243和244被放置于透明导电膜240的四个边的边缘部分中，并且使用电极241、242、243和244交替地供给X方向电压和Y方向电压。当使透明导电膜230和透明导电膜240在接触点A处相互接触时，如图3B所示，利用透明导电膜230检测接触点A的电位Va，而能够检测接触点A在X轴方向和Y轴方向上的坐标。
在上述五线型触摸面板的情况中，能够检测单个接触点的位置。然而，当透明导电膜230和透明导电膜240同时在多个接触点处相互接触时，难以精确地检测多个接触点的位置。困难的原因如下。
如图4A所示，通过使用被放置于透明导电膜240的四个边的边缘部分中的电极241、242、243和244而交替地供给X向电压和Y向电压。如果透明导电膜230和透明导电膜240在两个接触点A和B处相互接触，检测到的将是A点和B点之间的中途点的坐标。
上述使用现有技术的触摸面板的方法检测透明导电膜230和透明导电膜240之间的接触点处的电位以检测接触点的坐标。如图4B所示，即使在透明导电膜230和240同时在所述两个接触点A和B处相互接触时，也只能通过透明导电膜230和240来检测A点和B点之间的中途点处的电位Vc。因此，上述方法根据检测到的电位Vc不准确地判断出透明导电膜230和240只在所述中途点处接触。
【发明内容】
在本发明的一个方面中，本发明提供一种触摸面板和使用触摸面板的坐标检测方法，其中，即使当触摸面板在多个接触点处被同时按压时，也能够检测各个接触点的位置。
在本发明的一个方面中，本发明提供一种触摸面板和使用触摸面板的坐标检测方法，其中，即使当接触点在触摸面板上移动时，也能够检测移动之后的接触点的位置。
在解决或减少一个或多个上述问题的本发明的实施方案中，本发明提供一种触摸面板，包括：形成于绝缘材料的衬底上的透明导电材料的下导电膜；放置于下导电膜的四个边的边缘部分中以在下导电膜中产生电位分布的四个电极；以及放置于下导电膜之上的透明导电材料的上导电膜，使得上导电膜和下导电膜彼此相对以在上导电膜与下导电膜相接触时检测下导电膜中的电位，其中，上导电膜包括不包含透明导电材料的多个分割部分(split portions)和被多个分割部分划分并且包含透明导电材料的多个分割导电部分(split conductiveportions)，并且触摸面板被配置为在上导电膜和下导电膜在接触点处相互接触时检测多个分割导电部分中的每个接触点的电位，从而基于所检测的电位来检测各个接触点的坐标。
在解决或减少一个或多个上述问题的本发明的实施方案中，本发明提供一种坐标检测方法，包括以下步骤：提供触摸面板，触摸面板包括形成于绝缘材料的衬底上的透明导电材料的下导电膜、放置于下导电膜的四个边的边缘部分中以在下导电膜中产生电位分布的四个电极、以及放置于下导电膜之上的透明导电材料的上导电膜，使得上导电膜和下导电膜彼此相对，上导电膜包括不包含透明导电材料的分割部分和被分割部分划分并且包含透明导电材料的分割导电部分；当上导电膜和下导电膜在接触点处相互接触时检测分割导电部分中的每个接触点的电位；以及基于所检测的电位来检测各个接触点的坐标。
【附图说明】
图1为现有技术的五线型触摸面板的结构的示意图。
图2为现有技术的五线型触摸面板的截面图。
图3A和图3B为用于解释使用现有技术的五线型触摸面板的坐标检测方法的示意图。
图4A和图4B为用于解释使用现有技术的五线型触摸面板的坐标检测方法的问题的示意图。
图5为本发明的第一实施方案的触摸面板的截面图。
图6为第一实施方案的触摸面板的上电极衬底的结构的示意图。
图7为用于解释使用第一实施方案的触摸面板的坐标检测方法的示意图。
图8为沿图6中的虚线6A‑6B截取的上电极衬底的截面图。
图9为第一实施方案的触摸面板的上电极衬底的修改例的结构的示意图。
图10为第一实施方案的触摸面板的上电极衬底的修改例的结构的示意图。
图11为本发明的第二实施方案的触摸面板的上电极衬底的结构的示意图。
图12为本发明的第三实施方案的触摸面板的上电极衬底的结构的示意图。
图13为沿图12中的虚线12A‑12B截取的上电极衬底的截面图。
图14为本发明的第四实施方案的触摸面板的上电极衬底的结构的示意图。
图15为沿图14中的虚线14A‑14B截取的上电极衬底的截面图。
图16为本发明的第五实施方案的触摸面板的上电极衬底的结构的示意图。
图17为第五实施方案的触摸面板的上电极衬底的分割导电部分的结构的示意图。
图18为第五实施方案的触摸面板中的另一个分割导电部分的结构的示意图。
图19为第五实施方案的触摸面板中的另一个分割导电部分的结构的示意图。
图20为图19中的分割导电部分的修改例的结构的示意图。
图21为用于说明本发明的第六实施方案的坐标检测方法的流程图。
图22为用于说明第六实施方案的坐标检测方法的流程图。
图23为用于说明第六实施方案的坐标检测方法的流程图。
图24为用于说明第六实施方案的坐标检测方法的流程图。
图25为用于说明第六实施方案的坐标检测方法的示意图。
图26为用于说明第六实施方案的坐标检测方法的示意图。
【具体实施方式】
下面结合附图说明本发明的实施方案。
图5为本发明的第一实施方案的触摸面板的截面图。图6为该实施方案的触摸面板的上电极衬底的结构的示意图。
如图5和6所示，本实施方案的触摸面板总体上包括在一个表面上形成了透明导电膜30的膜10(上电极衬底)和在一个表面上形成了透明导电膜40的玻璃板20(下电极衬底)。在本实施方案的触摸面板中，透明导电膜30(上导电膜)和透明导电膜40(下导电膜)被放置为使得这两个透明导电膜彼此相对并被间隔件50所分隔开。本实施方案的触摸面板和主机(未图示)通过电缆60彼此电连接。
在本实施方案中，透明导电膜30和透明导电膜40都由透明导电材料制成。替代地，透明导电膜30可以由光无法穿过的不透明导电材料制成，而非透明导电材料。替代地，透明导电膜40可以由光无法穿过的不透明导电材料制成，而非透明导电材料。替代地，透明导电膜30和透明导电膜40都可以由光无法穿过的不透明导电材料制成，而非透明导电材料。
在本实施方案中，配备于膜10(上电极衬底)上的透明导电膜30由通过去除透明导电膜30而形成的分割部分71a和71b划分成导电部分31a、31b、31c和31d。电极81a、81b、81c和81d分别被连接到分割导电部分31a、31b、31c和31d。当分割导电部分31a、31b、31c和31d与透明导电膜40接触时，能够检测分割导电部分31a、31b、31c和31d中的各个接触点的坐标。因此，即使当透明导电膜30与透明导电膜40在多个接触点处相互接触时(或者当多个导电部分同时与透明导电膜40接触时)，可以检测与透明导电膜40接触的各个导电部分的位置。另外，通过检测透明导电膜40中的电位分布，能够以良好的精度检测接触点的坐标。
当透明导电膜40与透明导电膜30之间的接触点沿图6中任意的箭头所示的方向在透明导电膜30上移动时，接触点的移动也可以被检测。通过检测透明导电膜40中的电位分布，能够检测移动后的接触点的坐标。
优选地，所形成的每个分割部分的宽度等于或小于1mm。如果触摸面板中所形成的每个分割部分的宽度大，则不可检测部分的面积会增大，这会妨碍触摸面板的正常功能。假设与触摸面板接触的物体是手指或者触笔，并且触笔在半径上的尺寸为约0.8mm。因此，如果每个分割部分的宽度等于或小于1mm，可以认为分割部分不会妨碍触摸面板的正常功能。
图7表示了在本实施方案的触摸面板中，透明导电膜30和透明导电膜40在两个接触点A和B处相互接触。使用在作为下电极衬底的玻璃板20上的透明导电膜40的四个边的边缘部分中放置的电极41、42、43和44交替地供给X方向电压和Y方向电压。
如图7中所示，透明导电膜30与透明导电膜40之间的接触点A位于导电部分31c中，而透明导电膜30与透明导电膜40之间的接触点B位于导电部分31a中。因此，接触点A和接触点B分别从导电部分31c和导电部分31a独立地检测。因此，在本实施方案的触摸面板中，即使当透明导电膜30和透明导电膜40在多个接触点处相互接触时，也能够同时检测各个接触点的位置。
图8为沿图6所示的虚线6A‑6B截取的上电极衬底的截面图。如图8所示，透明导电膜30由通过去除透明导电膜30形成的分割部分71a划分成导电部分31c和31d。
分割部分71a和71b可以通过使用下列已知的形成方法中的一种来形成。一种形成方法是用激光束照射透明导电膜30的一部分并利用加热将被照射的部分从透明导电膜30中去除。另一个形成方法是将光致抗蚀剂涂敷于透明导电膜30的表面，使用曝光装置对光致抗蚀剂进行曝光和显影，只在导电部分31a、31b、31c和31d中形成抗蚀剂图案，而通过干法蚀刻或者湿法蚀刻去除没有形成抗蚀剂图案的透明导电膜30的一部分。又一个形成方法是在透明导电膜30的与分割部分71a和71b对应的部分印刷蚀刻膏，并去除透明导电膜30的印刷部分以形成分割部分71a和71b。
在本实施方案的触摸面板的上电极衬底中，如图8所示，在膜10的与形成有透明导电膜30的表面相对的表面上形成了硬涂层11。
替代地，本实施方案的触摸面板可以被设置为使得在膜10(上电极衬底)的对角线上形成分割部分72a和72b，如图9所示。利用这些分割部分72a和72b，在透明导电层30中形成分割导电部分32a、32b、32c和32d。电极82a、82b、82c和82d分别被连接到导电部分32a、32b、32c和32d。当如图9中的箭头所示那样移动接触点时，移动后的接触点的坐标可以被图9所示的触摸面板30检测。对于触摸面板的特定应用，优选地在如图9所示的结构中形成导电部分。
替代地，本实施方案的触摸面板可以被设置为使得分别在膜10(上电极衬底)的对角线上和沿着膜10的边来形成分割部分73a和73b以及分割部分73c和73d，如图10所示。利用分割部分73a、73b、73c和73d，在透明导电层30中形成分割导电部分33a、33b、33c、33d、33e、33f、33g和33h。电极83a、83b、83c、83d、83e、83f、83g和83h分别被连接到导电部分33a、33b、33c、33d、33e、33f、33g和33h。当如图10中任意的箭头所示那样移动接触点时，移动后的接触点的坐标可以被检测。通过增加的分割导电部分的数量，能够以更高的精度检测接触点的坐标。
接下来，说明本发明的第二实施方案。
图11为本发明的第二实施方案的触摸面板的上电极衬底的结构的示意图。
如图11所示，本实施方案的触摸面板的上电极衬底中的透明导电膜30包括通过去除透明导电膜30而以直线形状形成的分割部分74a、74b、74c和74d，并且包括位于透明导电膜30的中心并形成为圆形形状的透明导电膜去除部分91。在分割部分74a、74b、74c和74d彼此相交的中心位置的附近，分割导电部分的密度较大，而难以检测在那里的接触点的坐标。通过使用形成于中心位置处的透明导电膜去除部分91，能够防止中心位置处的位置检测的波动。
在本实施方案的触摸面板中，利用分割部分74a、74b、74c和74d，在透明导电层30中形成了分割导电部分34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g和34h，并且电极84a、84b、84c、84d、84e、84f、84g和84h被分别连接到分割导电部分34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g和34h。当如图11中任意的箭头所示那样移动接触点时，可以利用本实施方案的触摸面板检测移动后的接触点的坐标。除了上述之外，本实施方案的触摸面板结构与第一实施方案基本相同。
接下来，说明本发明的第三实施方案。
图12为本实施方案的触摸面板的上电极衬底的结构的示意图。
如图12所示，本实施方案的触摸面板的上电极衬底中的透明导电膜30包括通过去除透明导电膜30而以直线形状形成的分割部分75a、75b、75c和75d，并且包括具有在透明导电膜30中心的圆形导电部分35k和从圆形导电部分35k延伸到透明导电膜30的端部的引线导电部分35j的分割部分75e。在分割部分75a、75b、75c和75d彼此相交的中心位置的附近，分割导电部分的密度较大，而难以检测接触点的坐标。通过使用分割部分75e的圆形导电部分35k，能够防止位置检测的波动。
图13为沿图12所示的虚线12A‑12B截取的上电极衬底的截面图。如图13所示，利用去除了透明导电膜30的分割部分75e，透明导电膜30被划分成分割导电部分35b、35c和引线导电部分35j。
在本实施方案的触摸面板的上电极衬底中，在膜10的与形成有透明导电膜30的表面相对的表面上形成了硬涂层11，如图13所示。
在本实施方案的触摸面板的上电极衬底中，利用通过去除透明导电膜30而形成的分割部分75a、75b、75c、75d和75e，形成了分割导电部分35a、35b、35c、35d、35e、35f、35g、35h、35k和35j。电极85a、85b、85c、85d、85e、85f、85g、85h和85k分别被连接到分割导电部分35a、35b、35c、35d、35e、35f、35g、35h和35k(或35j)。当分割导电部分35a～35k与透明导电膜40接触时，分割导电部分35a～35k中的各个接触点的电位可以被独立地检测。因此，当沿图12中任意的箭头所示的方向移动接触点时，可以检测移动后的接触点的坐标。除了上述之外，本实施方案的触摸面板结构与第一实施方案基本相同。
接下来，说明本发明的第四实施方案。
图14为本实施方案的触摸面板的上电极衬底的结构的示意图。图15为沿图14所示的虚线14A‑14B截取的上电极衬底的截面图。
如图14和15所示，本实施方案的触摸面板的上电极衬底中的透明导电膜30包括通过去除透明导电膜30而在X轴方向和Y轴方向上形成为格子图案的分割部分76。利用分割部分76，透明导电膜30被划分成分割导电部分36a、36b、36c、36d、36e、36f、36g、36h、36i、36j、36k和36l。电极86a、86b、86c、86d、86e、86f、86g、86h、86i、86j、86k和86l分别被连接到分割导电部分36a、36b、36c、36d、36e、36f、36g、36h、36i、36j、36k和36l。当分割导电部分36a～36l与透明导电膜40接触时，分割导电部分36a～36l中的各个接触点的电位可以被独立地检测。
在本实施方案中，分割导电部分36f和36g位于上电极衬底10的中心位置，并且形成了从分割导电部分36f延伸到分割导电部分36j的引线导电部分36m以及从分割导电部分36g延伸到分割导电部分36k的引线导电部分36n。引线导电部分36m和36n分别被连接到分割导电部分36f和36g。另外，绝缘层92a和92b分别被形成于引线导电部分36m和36n上，以防止引线导电部分36m和36n与对面的透明导电膜40相接触。当移动接触点时，可以检测移动后的接触点的坐标。除了上述之外，本实施方案的触摸面板结构与第一实施方案基本相同。
接下来，说明本发明的第五实施方案。
图16为第五实施方案的触摸面板的上电极衬底的结构的示意图。图17为第五实施方案的触摸面板的上电极衬底的分割导电部分的结构的示意图。本实施方案的触摸面板被设置为使得透明导电膜30的每个分割导电部分按独特方式被进一步划分。
具体地，如图16和17所示，本实施方案的触摸面板的上电极衬底中的透明导电膜30包括通过去除透明导电膜30而形成的分割部分77a和77b。利用分割部分77a和77b，透明导电膜30被划分成分割导电部分37a、37b、37c和37d。分割导电部分37a、37b、37c和37d中的每一个由通过去除透明导电膜30而形成的分割部分177进一步划分成梳状的导电部分137a和137b。电极187a和187b分别被连接到梳状的导电部分137a和137b。即使当彼此相对的透明导电膜30与透明导电膜40之间的接触点沿图17中箭头所示的方向移动微小位移时，也能够检测移动后的接触点的坐标。
图18为第五实施方案的触摸面板的另一个分割导电部分的结构的示意图。在本示例中，图16所示的每个分割导电部分37a、37b、37c和37d被进一步划分。具体地，每个分割导电部分37a、37b、37c和37d中的透明导电膜30由通过去除透明导电膜30所形成的分割部分178a和178b划分成三角形的导电部分138a、138b、138c和138d。电极188a、188b、188c和188d分别被连接到三角形的导电部分138a、138b、138c和138d。即使当彼此相对的透明导电膜30和透明导电膜40之间的接触点沿图18中任意箭头所示的方向移动微小位移时，也能够检测移动后的接触点的坐标。
图19为第五实施方案的触摸面板的另一个分割导电部分的结构的示意图。在本示例中，图16所示的每个分割导电部分37a、37b、37c和37d被进一步划分。具体地，每个分割导电部分37a、37b、37c和37d中的透明导电膜30由通过去除透明导电膜30而形成的锯齿状的分割部分179a、179b、179c和179d划分成导电部分139a、139b、139c、139d和139e。电极189a、189b、189c、189d和189e分别连接至导电部分139a、139b、139c、139d和139e。即使当透明导电膜30和透明导电膜40之间的接触点沿图19中箭头所示的方向移动微小位移时，也能够检测移动后的接触点的坐标。
用于位置检测的最优的结构可以通过调整分割部分179a、179b、179c和179d的结构中的每个锯齿的深度获得。例如，通过使分割部分的结构中的每个锯齿的深度增加，能够在接触点移动非常小的位移后精确地检测接触点的坐标。
具体地，如图20所示，分割部分179a、179b、179c和179d可以被形成为使得导电部分139a的C点，在导电部分139a与139b在横向上相互重叠的区域中，位于导电部分139b的D点的左侧。利用本示例的触摸面板，能够在接触点移动非常小的位移之后以良好的精度检测接触点的坐标。除了上述之外，本实施方案的触摸面板结构与第一实施方案基本相同。
接下来，说明本发明的第六实施方案。本实施方案提供一种使用本发明所述的触摸面板的坐标检测方法。
图21和图22为用于解释本实施方案的坐标检测方法的流程图。本过程可应用于上述第一到第五实施方案中的任意触摸面板。
在过程开始后，在步骤S102中，判断触摸面板是否被开启。具体地，判断触摸面板的上电极衬底中的透明导电膜30与下电极衬底中的透明导电膜40是否相互接触。
当判断出触摸面板被开启时，控制过程前进到步骤S104。另一方面，当判断出触摸面板未被开启时，控制过程再次前进到步骤S102。即，只有当触摸面板被开启时才开始后续过程。
随后，在步骤S104中，判断是否检测到触摸面板中的多个接触点。具体地，当检测到透明导电膜30的多个分割部分中的多个接触点时，判断为检测到了触摸面板中的多个接触点，并且控制过程前进到步骤S116。
另一方面，当未检测到多个接触点时，判断为只检测到触摸面板中的一个接触点，并且控制过程前进到步骤S106。在接下来的步骤S106～S114中，一个接触点的坐标的检测可以类似于现有技术的模拟电阻膜触摸面板来执行。
随后，在步骤S106中，供给X轴电极之间的X方向电压。具体地，供给如图7所示的电极41和43(其将是X轴电极)之间的X方向电压。X轴电极41和43被连接到下电极衬底中的透明导电膜40，并且通过供给X方向电压在透明导电膜40中产生X轴方向上的电位分布。
随后，在步骤S108中，检测接触点的X坐标的电位。具体地，从与透明导电膜40接触的上电极衬底的透明导电膜30中的分割部分中的一个读出接触点的X坐标的电位。
随后，在步骤S110中，供给Y轴电极之间的Y方向电压。具体地，供给如图7所示的电极42和44(其将是Y轴电极)之间的Y方向电压。Y轴电极42和44被连接到下电极衬底中的透明导电膜40，并且通过供给Y方向电压在透明导电膜40中产生Y轴方向的电位分布。
随后，在步骤S112中，检测接触点的Y坐标的电位。具体地，从与透明导电膜40接触的上电极衬底的透明导电膜30中的分割部分中的一个读出接触点的Y坐标的电位。
随后，在步骤S114中，输出X和Y坐标信息。具体地，基于在步骤S108和步骤S112中检测的X坐标的电位和Y坐标的电位来获得接触点的X和Y坐标，并输出X和Y坐标信息。如果需要的话，在主机(未图示)的显示装置的屏幕上显示该信息。
随后，在步骤S116中，判断接触点是否指示在上电极衬底中的移动。具体地，当在步骤S116中判断出下电极衬底中的透明导电膜40和上电极衬底中的透明导电膜30之间的接触点指示跨过上电极衬底中的透明导电膜30的任何分割部分的移动时，控制过程前进到步骤S118。
另一方面，当在步骤S116中判断接触点未指示跨过上电极衬底中的透明导电膜30的分割部分的移动时，控制过程前进到步骤S122。
随后，在步骤S118中，检测接触点的移动的方向。具体地，检测上电极衬底中的透明导电膜30和下电极衬底中的透明导电膜40之间的接触点的移动方向。该检测将在下文中详细说明。
随后，在步骤S120中，基于在步骤S118获得的信息将移动信息输出到主机(未图示)的显示装置。控制过程前进到步骤S102。
随后，在步骤S122中，判断接触点之间的间隔是否被增大或减小。具体地，当在步骤S122中判断出下电极衬底中的透明导电膜40和上电极衬底中的透明导电膜30之间的接触点之间的间隔被增大或减小并跨过上电极衬底中的透明导电膜30的任何分割部分时，控制过程前进到步骤S124。
另一方面，当在步骤S122中判断出接触点之间的间隔并未跨过上电极衬底中的透明导电膜30的分割部分地而增大或减小时，控制过程前进到步骤S128。
随后，在步骤S124中，检测接触点的移动的方向。具体地，检测上电极衬底中的透明导电膜30和下电极衬底中的透明导电膜40之间的接触点的移动方向。该检测将在下文中说明。
随后，在步骤S126中，基于在步骤S124中获得的信息将移动信息输出到主机(未图示)的显示装置。控制过程前进到步骤S102。
随后，在步骤S128中，检测接触点的位置信息。具体地，检测上电极衬底中的透明导电膜30和下电极衬底中的透明导电膜40之间的接触点的位置信息。该检测将在下文中说明。
随后，在步骤S130中，基于在步骤S128中获得的信息将移动信息输出到主机(未图示)的显示装置。控制过程前进到步骤S102。
在本实施方案中，步骤S104中的判断如上所述那样执行。替代地，该判断可以基于通过接收通信命令、切换拨码开关(dip switch)等进行的控制来执行。
接下来，参考图23，说明在步骤S128中执行的检测接触点的位置信息的过程。在图23中，步骤S202中检测接触点的位置信息的过程与图22中的步骤S128对应。
作为例子，下面对上电极衬底的透明导电膜30被划分成四个分割导电部分(被称为区域1、2、3和4)的情况进行说明。然而，即使分割导电部分的数量增加，也可以应用同样的过程。
在图23的过程开始后，在步骤S204中，判断在作为透明导电膜30的分割导电部分之一的区域1中是否有接触点。当在区域1中有接触点时，控制过程前进到步骤S206。当在区域1中没有接触点时，控制过程前进到步骤S208。
随后，在步骤S206中，检测区域1中的接触点的X和Y坐标信息。具体地，检测透明导电膜30和透明导电膜40在其中相互接触的透明导电膜30的区域1，并且基于在透明导电膜40中所产生的电位分布检测在区域1中接触点的X和Y坐标信息。
随后，在步骤S208中，判断在作为透明导电膜30的分割导电部分之一的区域2中是否有接触点。当在区域2中有接触点时，控制过程前进到步骤S210。当在区域2中没有接触点时，控制过程前进到步骤S212。
随后，在步骤S210中，检测区域2中的接触点的X和Y坐标信息。具体地，检测透明导电膜30和透明导电膜40在其中相互接触的透明导电膜30的区域2，并基于在透明导电膜40中所产生的电位分布在检测区域2中的接触点的X和Y坐标信息。
随后，在步骤S212中，判断在作为透明导电膜30的分割导电部分之一的区域3中是否有接触点。当在区域3中有接触点时，控制过程前进到步骤S214。当在区域3中没有接触点时，控制过程前进到步骤S216。
随后，在步骤S214中，检测区域3中的接触点的X和Y坐标信息。具体地，检测透明导电膜30和透明导电膜40在其中相互接触的透明导电膜30的区域3，并基于在透明导电膜40中产生的电位分布检测区域3中的接触点的X和Y坐标信息。
随后，在步骤S216中，判断在作为透明导电膜30的分割导电部分之一的区域4中是否有接触点。当在区域4中有接触点时，控制过程前进到步骤S218。当在区域4中没有接触点时，控制过程前进到步骤S220。
随后，在步骤S218中，检测区域4中的接触点的X和Y坐标信息。具体地，检测透明导电膜30和透明导电膜40在其中相互接触的透明导电膜30的区域4，并基于在透明导电膜40中所产生的电位分布检测区域4中的接触点的X和Y坐标信息。
随后，在步骤S220中，检测区域1到4中所有接触点的X和Y坐标信息。然后，控制过程返回到图22的过程中的步骤S130。
下面，参考图24，说明图21中的步骤S118和图22中的步骤S124中的检测接触点的移动方向的过程。图24中的步骤S302中检测接触点的移动方向的过程与步骤S118和步骤S124对应。
作为例子，以下对透明导电膜30被划分成五个分割导电部分(称为区域A、B、C、D和E)的情况进行说明。
在图24的过程开始后，在步骤S304中，执行检测1以检测触摸面板中的接触点的区域。
在经过了预定的时间段之后，在步骤S306中，执行检测2以检测触摸面板中的接触点的区域。
随后，在步骤S308中，执行区域检测信息的分析。例如，如果用户用两根手指按压触摸面板的上电极衬底并在上电极衬底上滑动手指，步骤S304中的区域检测1和步骤S306中的区域检测2之间的检测结果就会发生改变。在步骤S308中，该改变被检测出并基于在检测1和检测2之间的检测结果中检测到的改变来分析区域检测信息。
随后，在步骤S310中，分析的结果被输出到主机(未图示)。然后，控制过程返回到图21的过程中的步骤S120或者图22的过程中的步骤S130。
下面，结合图25说明如图24所示的检测接触点的移动方向的过程的示例。
如图25所示，步骤S304中的区域检测1的结果表示用户用手指在透明导电膜30的导电部分C和D处按压了上电极衬底。
第一，设步骤S306中的区域检测2的结果表示用户已经用手指在透明导电膜30的导电部分B和C处按压了上电极衬底，如图25的检测2的(1)所示。在此情况下，步骤S308中的分析结果表明两根手指之间的间隔保持不变并且手指在上电极衬底上向左移动。在步骤S310中，分析的结果被报告给主机(未图示)，并且主机基于分析结果执行滚屏处理，以将当前在显示装置上显示的图像向左移动。
第二，设步骤S306中的区域检测2的结果表示用户用手指在透明导电膜30的导电部分A和C处按压了上电极衬底，如图25的检测2的(2)所示。在此情况下，步骤S308中的分析结果表明两根手指之间间隔增大并且手指在上电极衬底上向左移动。在步骤S310中，分析结果被报告给主机(未图示)，并且主机基于分析结果扩大当前在显示装置上显示的图像的尺寸，并执行滚屏处理以将图像向左移动。
第三，设步骤S306中的区域检测2的结果表示用户用手指在透明导电膜30的导电部分C和E处按压了上电极衬底，如图25的检测2的(3)所示。在此情况下，步骤S308中的分析结果表明两根手指之间间隔增大并且手指在上电极衬底上向右移动。在步骤S310中，分析结果被报告给主机(未图示)，并且主机基于分析结果扩大当前在显示装置上显示的图像的尺寸，并执行滚屏处理以将图像向右移动。
下面结合图26说明图24的检测接触点的移动方向的过程的另一个示例。
如图26所示，在步骤S304中的区域检测1的结果表示用户用手指在透明导电膜30的导电部分B和D处按压了上电极衬底。
第一，设步骤S306中的区域检测2的结果表示用户用手指在透明导电膜30的导电部分C和E处按压了上电极衬底，如图26的检测2的(1)所示。在此情况下，在步骤S308中的分析结果表明两根手指之间的间隔保持不变并且手指在上电极衬底上向右移动。在步骤S310中，分析结果被报告给主机(未图示)，并且主机基于分析结果执行滚屏处理，以将当前在显示装置上显示的图像向右移动。
第二，设步骤S306中的区域检测2的结果表示用户用手指在透明导电膜30的导电部分B和C处按压了上电极衬底，如图26的检测2的(2)所示。在此情况下，在步骤S308中的分析结果表明两根手指之间的间隔减小并且手指在上电极衬底上向左移动。在步骤S310中，分析结果被报告给主机(未图示)，并且主机基于分析结果缩小当前在显示装置上显示的图像的尺寸，并执行滚屏处理以将图像向左移动。
第三，设步骤S306中的区域检测2的结果表示用户用手指在透明导电膜30的导电部分D和E处按压了上电极衬底，如图26的检测2的(3)所示。在此情况下，在步骤S308中的分析结果表明两根手指之间的间隔减小并且手指在上电极衬底上向右移动。在步骤S310中，分析结果被报告给主机(未图示)，并且主机基于分析结果缩小当前在显示装置上显示的图像的尺寸，并执行滚屏处理以将图像向右移动。
本发明可以应用于五线型电阻膜触摸面板，尤其在利用五线型电阻膜触摸面板制造信息处理装置的显示装置时是有用的。在该情况中，信息处理装置的示例可以包括移动电话、信息个人数字助理(PDA)、便携式音乐播放器、便携式图像播放器、便携式浏览器、one‑segment调谐器、电子词典、车用导航系统、计算机、POS终端、存货控制端(stock control end)、ATM、用于多媒体服务的各种计算机终端等。
根据本发明的至少一种前述实施方案，即使当在多个接触点处同时按压触摸面板时，触摸面板和使用所述触摸面板的坐标检测方法也能够检测各个接触点的位置。根据本发明的至少一种前述实施方案，即使当接触点在触摸面板上移动时，触摸面板和使用所述触摸面板的坐标检测方法也能够检测移动后的接触点的位置。
本发明并不限于具体公开的实施方案，并且可以在不脱离本发明的范围的前提下作出变化和修改。
本申请基于在2009年1月19日提交的第2009‑009367号日本专利申请，其整体内容通过引用被并入本文中。