衍射光栅、光拾取器装置及光盘装置.pdf

本发明涉及衍射光栅、光拾取器装置及光盘装置，其中本发明的光拾取器装置，对从光盘反射的光束，利用衍射光栅对其进行分割并检测。在衍射光栅中具有第一～第六区域，第一区域与第二区域、第三区域与第五区域、第四区域与第六区域，相对于上述衍射光栅的中心呈中心对称。另外，第一区域夹在第四区域与第五区域之间；第二区域夹在第三区域与第六区域之间。进而，第一区域与第二区域的中心，在垂直于上述驱动方向的方向上以距离d的间隔而进行配置。即使物镜在光拾取器装置驱动方向直线上不具有盘旋转中心的情况下，也能够得到稳定的伺服信号。

1.  一种光拾取器装置，其特征在于：
具有：
一个以上半导体激光器，其射出激光；
第一物镜，其对从所述半导体激光器射出的光束聚光并聚光于第一光盘；
第二物镜，其对从所述半导体激光器射出的光束聚光并聚光于第二光盘；
衍射光栅，其对从第二光盘反射的光束进行分支；
光检测器，其具有接受由所述衍射光栅分支后的光束的多个受光面；和
驱动机构，其在所述第一光盘及第二光盘的半径方向上进行驱动，
所述第一物镜和所述第二物镜被排列搭载在与所述驱动方向大致垂直的方向上，
且，所述第一物镜的透镜中心配置在从所述第一光盘的中心在驱动方向延伸的轴上，
所述衍射光栅具有第一区域、第二区域、第三区域、第四区域、第五区域、第六区域这六个区域，
所述衍射光栅的第一区域、第二区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第三区域、第五区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第四区域、第六区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第一区域夹在第四区域和第五区域之间；
所述衍射光栅的第二区域夹在第三区域和第六区域之间；
所述衍射光栅的第一区域和第二区域的中心部在与所述驱动方向垂直的方向上以距离d的间隔而配置。

2.  根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于：
使用有效径D，在最内周处的所述光盘上的轨道角度θ1，在最外周处的所述光盘上的轨道角度θ2时，所述距离d满足式|D×sinθ1|≥d≥|D×sinθ2|。

3.  根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于：
所述衍射光栅的第一区域和第二区域，被通过所述衍射光栅的中心并在所述驱动方向上延伸的直线分割。

4.  一种光拾取器装置，其特征在于：
具有：
一个以上半导体激光器，其射出激光；
第一物镜，其对从所述半导体激光器射出的光束聚光并聚光于第一光盘；
第二物镜，其对从所述半导体激光器射出的光束聚光并聚光于第二光盘；
衍射光栅，其对从第二光盘反射的光束进行分支；
光检测器，其具有接受由所述衍射光栅分支后的光束的多个受光面；和
驱动机构，其在所述第一光盘及第二光盘的半径方向上进行驱动，
所述第一物镜和所述第二物镜被排列搭载在与所述驱动方向大致垂直的方向上，
且，所述第一物镜的透镜中心配置在从所述第一光盘的中心在驱动方向延伸的轴上，
所述衍射光栅具有第一区域、第二区域、第三区域、第四区域、第五区域、第六区域、第七区域这七个区域，
所述衍射光栅的第一区域、第二区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第三区域、第五区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第四区域、第六区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第一区域夹在第四区域和第五区域之间；
所述衍射光栅的第二区域夹在第三区域和第六区域之间；
所述衍射光栅的第一区域和第二区域的中心部在与所述驱动方向垂直的方向上以距离d的间隔而配置。

5.  根据权利要求4所述的光拾取器装置，其特征在于：
使用有效径D，在最内周处的所述光盘上的轨道角度θ1，在最外周处的所述光盘上的轨道角度θ2时，所述距离d满足式|D×sinθ1|≥d≥|D×sinθ2|。

6.  根据权利要求4所述的光拾取器装置，其特征在于：
所述衍射光栅的第一区域和第二区域，被通过所述衍射光栅的中心并在所述驱动方向上延伸的直线分割。

7.  一种光盘装置，其特征在于：
具有：如权利要求4所述的光拾取器装置；和
使用从所述光拾取器装置输出的信号生成跟踪误差信号的伺服信号生成电路，
利用入射到所述衍射光栅的第一区域并由所述检测器检测的信号D1，
入射到所述衍射光栅的第二区域并由所述检测器检测的信号D2，
入射到所述衍射光栅的第三区域并由所述检测器检测的信号D3，
入射到所述衍射光栅的第四区域并由所述检测器检测的信号D4，
入射到所述衍射光栅的第五区域并由所述检测器检测的信号D5，
入射到所述衍射光栅的第六区域并由所述检测器检测的信号D6，和
对由所述D1、D2、D3、D4、D5、D6检测的信号强度进行修正的系数k，
通过式(D1-D2)-k×((D4-D3)+(D5-D6))生成跟踪误差信号。

8.  一种光盘装置，其特征在于，搭载有：
光拾取器装置，其具有：
一个以上半导体激光器，其射出激光；
第一物镜，其对从所述半导体激光器射出的光束聚光并聚光于第一光盘；
第二物镜，其对从所述半导体激光器射出的光束聚光并聚光于第二光盘；
衍射光栅，其对从第二光盘反射的光束进行分支；
光检测器，其具有接受由所述衍射光栅分支后的光束的多个受光面；和
驱动机构，其在所述第一光盘及第二光盘的半径方向上进行驱动，
所述第一物镜和所述第二物镜被排列搭载在与所述驱动方向大致垂直的方向上，
且，所述第一物镜的透镜中心配置在从所述第一光盘的中心在驱动方向延伸的轴上，
所述衍射光栅具有第一区域、第二区域、第三区域、第四区域、第五区域、第六区域这六个区域，
所述衍射光栅的第一区域、第二区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第三区域、第五区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第四区域、第六区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第一区域夹在第四区域和第五区域之间；
所述衍射光栅的第二区域夹在第三区域和第六区域之间；
在与所述驱动方向垂直的方向上，所述衍射光栅的第一区域和第二区域的中心部以距离d的间隔而配置；
激光器点亮电路，其对配置在所述光拾取器装置中的所述半导体激光器进行驱动；
伺服信号生成电路，其使用由所述光拾取器装置内的所述光检测器检测的信号，生成聚焦误差信号和跟踪误差信号；以及
信息信号生成电路，其对记录在光盘中的信息信号进行再现。

9.  一种衍射光栅，其使光束分支为多束，其特征在于：
所述衍射光栅具有第一区域、第二区域、第三区域、第四区域、第五区域、第六区域这六个区域，
所述衍射光栅的第一区域、第二区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第三区域、第五区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第四区域、第六区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第一区域夹在第四区域和第五区域之间；
所述衍射光栅的第二区域夹在第三区域和第六区域之间；
所述衍射光栅的第一区域和第二区域的中心部在与第一区域和第三区域相接的轴垂直的方向上以距离d的间隔而配置。

10.  根据权利要求9所述的衍射光栅，其特征在于：
所述衍射光栅的第一区域和第二区域，被通过所述中心并与在第一区域和第三区域相接的轴平行的方向上延伸的直线分割。

11.  根据权利要求9所述的衍射光栅，其特征在于：
使用有效径D，在最内周处的所述光盘上的轨道角度θ1，在最外周处的所述光盘上的轨道角度θ2时，所述距离d满足式|D×sinθ1|≥d≥|D×sinθ2|。

12.  一种衍射光栅，其使光束分支为多束，其特征在于：
所述衍射光栅具有第一区域、第二区域、第三区域、第四区域、第五区域、第六区域、第七区域这七个区域，
所述衍射光栅的第一区域、第二区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第三区域、第五区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第四区域、第六区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；
所述衍射光栅的第一区域夹在第四区域和第五区域之间；
所述衍射光栅的第二区域夹在第三区域和第六区域之间；
所述衍射光栅的第一区域和第二区域的中心部在与第一区域和第三区域相接的轴垂直的方向上以距离d的间隔而配置。

13.  根据权利要求12所述的衍射光栅，其特征在于：
所述衍射光栅的第一区域和第二区域，被通过所述中心并与在第一区域和第三区域相接的轴平行的方向上延伸的直线分割。

14.  根据权利要求12所述的衍射光栅，其特征在于：
使用有效径D，在最内周处的所述光盘上的轨道角度θ1，在最外周处的所述光盘上的轨道角度θ2时，所述距离d满足式|D×sinθ1|≥d≥|D×sinθ2|。

衍射光栅、光拾取器装置及光盘装置
技术领域
本发明是涉及衍射光栅、光拾取器装置及光盘装置。
背景技术
作为本技术领域的背景技术，例如有专利文献1(日本专利特开2004-281026号公报)和专利文献2(日本专利特开2006-31913号公报)。
在专利文献1(日本专利特开2004-281026号公报)中，作为课题记载如下，即，“将TE信号振幅的变动量定义为ΔPP＝(振幅a-振幅b)/(振幅a+振幅b)，在由上述以往的结构检测TE信号的情况下，变动量ΔPP为0.69，偏差oft1为+33nm，偏差oft2为-33nm，表现出大的值。这样，在如上所述TE信号振幅的变动量ΔPP进行大变动时，在轨道Tn-1与Tn中，存在有跟踪控制的利得下降，跟踪控制不稳定，不能对信息进行高可靠性的记录与再现的问题”。作为解决手段，记载有，“本发明中进而另一光信息装置具有如下特征，设置有光源、聚光装置、分歧装置、分割装置、检测装置、多个变换装置、以及跟踪误差信号生成装置。光源射出光束；聚光装置将从上述光源射出的光束聚光于具有轨道(磁道)的光存储介质；分歧装置将上述光存储介质反射/衍射的光束进行分歧；分割装置由多个领域对上述分歧的光束进行分割；检测装置具有检测出上述分割装置所分割的光束，对应于检测的光量而输出电流信号的多个检测区域；变换装置将从上述光检测装置输出的电流信号变换为电压信号；跟踪误差信号生成装置。将配置于上述分割装置的上述多个区域中，主要包含跟踪误差信号的区域称为第一区域，主要包含跟踪误差信号的偏移量成分的区域称为第二区域，从上述第一区域得到的电压信号，减去从上述第二区域得到的电压信号乘以系数，由此生成跟踪误差信号。与通过上述第一区域的光束多大上述检测装置的效率相比，通过上述第二区域的光束多大上述检测装置的效率较高”。
光拾取器装置，一般地，为了对光盘内规定的记录轨道上正确地照射光点，除了通过聚焦误差信号的检测而使物镜在聚焦方向上移动，调整聚焦方向之外，还检测跟踪误差信号，使物镜在盘状存储介质的半径方向上移动，进行跟踪调整。由这些信号对物镜的位置进行控制。
作为其中跟踪误差信号的检测方法，已知的有推挽方式，但是存在有物镜在光拾取器装置驱动方向上的移动而产生大的直流变动(以下称为DC偏移量)的问题。因此，在专利文献1中，使用分割装置分割检测出包含以跟踪成分为主的光束与不包含跟踪成分的光束，通过二者的差值计算而检测抑制了DC偏移量的跟踪误差信号。然而，在从由盘的扫描半径位置而改变相对轨道角度而看的情况下，由于在为了修正本来跟踪成分的区域内检测了跟踪成分，计算差值是能够减少跟踪成分的一部分。因此，存在有跟踪控制室的增益地下，不能进行稳定的跟踪控制的问题。
发明内容
本发明是鉴于上述问题而提出，其目的在于提供能够得到稳定伺服信号的光拾取器装置及搭载有光拾取器装置的光盘装置。
上述目的，可以通过权利要求范围内记载的发明而实现。
对本说明书中公开的发明的具有代表性的内容，简单的说明如下。
本发明的光拾取器装置，具有：一个以上半导体激光器，其射出激光；第一物镜，其对从所述半导体激光器射出的光束聚光并聚光于第一光盘；第二物镜，其对从所述半导体激光器射出的光束聚光并聚光于第二光盘；衍射光栅，其对从第二光盘反射的光束进行分支；光检测器，其具有接受由所述衍射光栅分支后的光束的多个受光面；和驱动机构，其在所述第一光盘及第二光盘的半径方向上进行驱动，所述第一物镜和所述第二物镜被排列搭载在与所述驱动方向大致垂直的方向上，且，所述第一物镜的透镜中心配置在从所述第一光盘的中心在驱动方向延伸的轴上，所述衍射光栅具有第一区域、第二区域、第三区域、第四区域、第五区域、第六区域这六个区域，所述衍射光栅的第一区域、第二区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；所述衍射光栅的第三区域、第五区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；所述衍射光栅的第四区域、第六区域相对于所述衍射光栅的中心呈中心对称；所述衍射光栅的第一区域夹在第四区域和第五区域之间；所述衍射光栅的第二区域夹在第三区域和第六区域之间；所述衍射光栅的第一区域和第二区域的中心部在与所述驱动方向垂直的方向上以距离d的间隔而配置。
根据本发明，即使是物镜在光拾取器装置驱动方向直线上不是盘旋转中心的情况下，也能够提供可以得到稳定伺服信号的光拾取器装置及搭载有光拾取器装置的光盘装置。
本发明的上述及其他特征、目的与优点，能够通过以下的附图与说明而得到更好的理解。
附图说明
图1是说明实施例1中的光拾取器装置与光盘的配置的图。
图2是说明实施例1中本发明的光学系统的图。
图3是说明表示实施例1中本发明的光检测器的图。
图4是说明专利文献1的跟踪误差信号检测方式的图。
图5是表示内外周位置的轨道角度变化的图。
图6是表示专利文献1的结构中，在盘内外周上的跟踪误差信号振幅变动的图。
图7是说明专利文献1的结构的问题的图。
图8是说明专利文献2的跟踪误差信号检测方式的图。
图9是表示专利文献2的结构盘内外周中跟踪误差信号振幅变动的图。
图10是说明专利文献1的结构的问题的图。
图11是说明实施例1中本发明的衍射光栅的图。
图12是说明实施例1中本发明的效果的图。
图13是说明实施例1中本发明的效果的图。
图14是说明图11以外的衍射光栅的图。
图15是说明实施例2中本发明的光学系统的图。
图16是说明表示实施例2中本发明的衍射光栅的图。
图17是说明表示实施例2中本发明的光检测器的图。
图18是说明实施例3中光学的再现装置的图。
图19是说明实施例4中光学的再现装置的图。
具体实施方式
以下说明本发明的实施方式。
(实施例1)
图1是说明实施例1中的光拾取器装置与光盘的配置的图。
如图1所示，光拾取器装置1构成为，可利用驱动机构7在光盘100的半径方向上进行驱动。而且，在光拾取器装置的致动器5上，搭载有物镜2与物镜3，在物镜3的光拾取器装置驱动方向的直线上，有盘旋转中心，但是在物镜2的光拾取器装置驱动方向的直线上，没有盘旋转中心。
这里，例如设物镜3为DVD/CD，物镜2为BD物镜，而进行说明。
在上述光拾取器装置中，图2表示光学系统。首先，对DVD/CD光学系统进行说明。从二波长激光器40，射出波长约为650nm的光束与波长约为785nm的光束。从二波长激光器40射出的光束，经过辅助透镜41，衍射光栅42，由分束器43所反射。分束器43所反射的光束，透过分束器53，由准直透镜51变换为大致平行的光束。透过准直透镜51的光束，透过光束扩展器54、竖起反射镜45、1/4波长板46之后，利用搭载在致动器5上的物镜3聚光于光盘100。
由光盘100所反射的光束透过物镜3、1/4波长板46、竖起反射镜45、光束扩展器54、准直透镜51、分束器53、分束器43之后，经过检测透镜47，由光检测器48进行检测。由于对CD也是同样，所以其说明予以省略。
接着对BD光学系统进行说明。从半导体激光器50作为发散光射出波长约为405nm的光束。从半导体激光器50射出的光束，透过分束器52及偏光衍射光栅11(以下称为衍射光栅)，由分束器53反射。
由分束器53所反射的光束利用准直透镜51变换为大致平行的光。透过准直透镜51的光束入射到光束扩展器54。光束扩展器54通过改变光束的发散/收敛状态，能够用于补偿由光盘100的覆盖层的厚度误差所引起的球面像散。从光束扩展器54射出的光束透过竖起反射镜45，由竖起反射镜55所反射，透过1/4波长板56，之后利用搭载在致动器5上的物镜3，聚光于光盘100。
由光盘100所反射的光束，经过物镜2、1/4波长板56、竖起反射镜55、竖起反射镜45、光束扩展器54、准直透镜51、分束器53，入射到衍射光栅11。由衍射光栅11将光束分割为多个区域的光束，向各自不同的方向行进，入射到检测透镜12。由检测透镜12给予像散，通过入射到光检测器10而检测由像散方式形成的聚焦误差信号。在光检测器10上，形成例如如图3所示的多个受光部，对各个受光部照射由衍射光栅11所分割的光束。而且，对应于照射到受光部的光量，从光检测器10输出电信号，对这些输出进行计算，生成再现信号的RF信号、聚焦误差信号及跟踪误差信号。
在这样的结构中，例如在衍射光栅11是如专利文献1的衍射光栅的模式的情况下，会发生以下的问题。
首先，对专利文献1的跟踪误差信号的检测方法进行说明。通过检测由光盘上的轨道反射时的0次衍射光与±1次衍射光的干涉区域(以下称为跟踪区域)，并进行差值计算而生成跟踪成分。图4表示专利文献1中衍射光栅与光束的关系。图4的(a)表示物镜未发生移动的情况，(b)表示物镜发生了移位的情况。图中的实线表示衍射光栅的分割线，二点连线表示衍射光栅上的光束，斜线部表示跟踪区域。
这里，由衍射光栅区域d1、d2、d3、d4、d5、d6所衍射的光束，分别入射到图3所示的光检测器的受光面k1、k2、k3、k4、k5、k6。另外，透过衍射光栅的光束，入射到受光面M1、M2、M3、M4。如果从该受光面k1、k2、k3、k4、k5、k6、M1、M2、M3、M4所得到的电信号为D1、D2、D3、D4、D5、D6、A、B、C、D，则聚焦误差信号、跟踪误差信号、RF信号可由下式表示。
式1
FES＝(M1+M3)-(M2+M4)
TES＝(D1-D2)-kt×((D4-D3)+(D5-D6))
RF＝M1+M2+M3+M4
式中，kt是物镜发生移位时不会在跟踪误差信号中发生DC成分的系数。
跟踪成分是从跟踪区域生成的D1、D2的差动信号成为跟踪信号。但是，在为了使盘上的光点追从轨道而使物镜在光拾取器装置的驱动方向上移动的情况下，如图4(b)所示，为了使衍射光栅上光束移动，在D1、D2的差动信号中发生DC偏移量。为了抑制该DC偏移量，使用D3、D4、D5、D6的信号。主要由于D3、D4、D5、D6的信号不包含跟踪成分，所以仅通过(D3-D4)+(D5-D6)的计算就能够检测出DC偏移量。因此，通过进行上述计算，就能够得到不发生DC偏移量的稳定跟踪误差信号。
在图2所示的本发明的结构中，由于物镜2在光拾取器装置方向的直线上没有盘旋转的中心，所以光盘100上的轨道角度如图5所示，在内位置、外周位置上变化。因此，原封不动得使用专利文献1的结构，会因盘半径位置使跟踪误差信号振幅如图6所示而变动。对该变动进行以下的说明。
如上所述，跟踪区域是由光盘上的轨道反射时的0次衍射光与±1次衍射光的干涉区域。因此，伴随着盘上轨道的旋转，跟踪区域也旋转。图7是表示内周位置、外周位置上的衍射光栅的模式与光束的关系的图，因此(a)是表示内周位置，(b)是表示外周位置的情况。图中的实线表示衍射光栅的分割线，二点连线表示衍射光栅上的光束，斜线部表示跟踪区域。这样，跟踪区域旋转时，电信号D4、D6中会发生跟踪成分。因此，在进行跟踪误差计算时会使振幅恶化。由此，如图6所示，跟踪误差信号会在内周位置、外周位置上变动。该变动是导致跟踪控制的增益恶化，使跟踪控制不稳定的主要原因。
对于此，日本专利特开2006-31913号公报(专利文献2)中，如图8所示，对专利文献1的衍射光栅的分割进行旋转，如图9所示，由此对从内周位置到外周位置的跟踪误差信号的变动进行控制。但是，在衍射光栅倾斜的情况下也会发生同样的问题，以下对此进行说明。
图10是表示专利文献2的结构中，内周、中部、外周位置的光束与衍射光栅的关系。图10(a)、(b)、(c)分别表示图9的a点、b点、c点的情况下的光点与衍射光栅的关系。这里，图10(a)、(c)中，由于对衍射光栅区域d3、d4、d5、d6入射跟踪区域，所以，对于图9的b点通过向a点、c点移动，跟踪误差信号振幅变动。但是，与专利文献1相比，由于带有角度，所以跟踪误差信号振幅的变动量降低。然而，为了使盘上的光点追从轨道，物镜2在光拾取器装置驱动方向(图10箭头)上移位时，对衍射光栅区域d3、d4、d5、d6入射跟踪区域(图10中o100部分)。结果是，电信号的D3、D4、D5、D6进一步发生跟踪成分，跟踪误差信号的振幅会发生变动。由此，成为导致跟踪控制的增益恶化，使跟踪控制不稳定的主要原因。
对于这一课题，在本实施方式中，作为一例采用图11所示的衍射光栅。在这里所示的衍射光栅中，由衍射光栅区域d1(第一区域)、d2(第二区域)、d3(第三区域)、d4(第四区域)、d5(第五区域)、d6(第六区域)等6个区域构成。对于衍射光栅中心600，d1与d2呈中心对称，d3与d5呈中心对称，d4与d6呈中心对称。而且，该衍射光栅，并非如专利文献2所示单纯地旋转衍射光栅的区域，其特征在于，使衍射光栅区域d1与d2的中心相对于光拾取器装置驱动方向，在垂直方向上偏离距离d。通过使衍射光栅形成如上构成，在盘内周位置到外周位置上，如图12所示，能够抑制跟踪误差信号振幅的变动。进而，本发明的衍射光栅与专利文献2相比，特征之一在于应对透镜的移位的性能强。
图13表示本发明的结构中内周、中部、外周位置上的光束与衍射光栅的关系。图13(a)、(b)、(c)分别表示图12的a点、b点、c点的情况下的光点与衍射光栅的关系。这里，在图13(a)、(c)中，由于是对衍射光栅区域d3、d4、d5、d6入射跟踪区域，所以，对于图12的的b点，通过向a点、c点移动，使跟踪误差信号振幅变动。但是，与专利文献1相比，衍射光栅区域d1、d2的位置相对于光拾取器装置驱动方向在垂直方向上偏差，由此可降低跟踪误差振幅的变动量。
这里，在专利文献2中，相当于图13的o200的部分伴随着物镜的移动而入射到衍射光栅d3、d4、d5、d6。与此相比，在本发明的情况下，盘上的光点为了追随轨道，即使是物镜在光拾取器驱动方向(图11箭头)移动，入射到衍射光栅d3、d4、d5、d6的跟踪区域也不发生变化。这是由于衍射光栅的区域是平行于物镜移动方向而配置的。由此，即使是在物镜移位的情况下，也能够检测出稳定的跟踪误差信号。这里对于衍射光栅的距离d，可以由图5所示的θ1、θ2及衍射光栅上的光束有效径D，按下式所表示。
式2
D×sinθ1≥d≥D×sinθ2
如果该距离d处于与基于θ1倾斜的跟踪区域的物镜移位方向相垂直的方向上的变化量(D×sinθ1)，和与基于θ2倾斜的跟踪区域物镜移位方向相垂直的方向上的变化量(D×sinθ2)之间，则能够得到效果。
如上所述，通过使衍射光栅区域d1与d2在与光拾取器装置驱动方向垂直的方向上偏离距离d，就能够将内周、外周位置处的跟踪误差信号的振幅变化及由物镜的移动所引起的跟踪误差信号的振幅变化抑制到最小限。还有，这里利用如图11的形状进行的说明，但是，如果用于对跟踪区域进行衍射、检测的衍射光栅区域在跟踪区域方向上偏差，也能够得到同样的效果，所以，例如衍射光栅的形状也可以是如图14所示，具有衍射光栅区域d7(第七区域)的形状。
而且，虽然在本实施方式中是对像散方式的聚焦误差信号进行的说明，但是，即使是使用刀口(knife edge)方式及光点尺寸(spot size)方式等其他的方式，当然也能够取得同样的效果，与检测方式及检测器无关。进而，虽然在本实施方式中衍射光栅11是偏光衍射光栅，但是，例如，即使是在分束器52与检测透镜12之间配置普通的衍射光栅，当然也能够得到同样的效果。
(实施例2)
图15是表示本发明的实施例2中光拾取器装置的光学系统。还有，由于DVD/CD光学系统与实施例1同样，所以其说明予以省略，仅对结构不同的BD光学系统进行说明。
从半导体激光器50作为发散光射出波长约为405nm的光束。从半导体激光器50射出的光束，透过分束器52及偏光衍射光栅11(以下称为衍射光栅)，由分束器53反射。
由分束器53所反射的光束由准直透镜51变换为大致平行的光。透过准直透镜51的光束入射到光束扩展器54。光束扩展器54通过改变光束的发散/收敛状态，用于补偿由光盘100的覆盖层的厚度误差所引起的球面像散。从光束扩展器54射出的光束透过竖起反射镜45，由竖起反射镜55反射并透过1/4波长板56后，搭载在致动器5上的物镜3，聚光于光盘100。
由光盘100所反射的光束，经过物镜2、1/4波长板56、竖起反射镜55、竖起反射镜45、光束扩展器54、准直透镜51、分束器53，入射到衍射光栅11。由衍射光栅11将光束分割为多个区域的光束，向各自不同的方向行进，入射到光检测器10。在光检测器10上，形成多个受光部，对各个受光部照射由衍射光栅11分割的光束，根据照射到受光部的光量，从光检测器10输出电信号，对这些输出进行计算，生成再现信号的RF信号、聚焦误差信号及跟踪误差信号。
在这样的光学系统结构中，图16表示衍射光栅11，图17表示光检测器10。衍射光栅10是由da与db(第一区域)、dc与dd(第二区域)、de(第四区域)、df(第五区域)、dg(第六区域)、dh(第三区域)、di与dj与dk与dl(第七区域)等7个区域构成，相对于衍射光栅中心600，da、db与dc、dd呈中心对称，de与dg呈中心对称，df与dh呈中心对称。其中衍射光栅区域da、db、dc、dd、de、df、dg、dh所衍射的+1次光分别入射到图17的受光面a1、b1、c1、d1、e1、f1、g1、h1。而且，由衍射光栅区域di、dk衍射的+1次光入射到图17中的受光面ik1，由dj、dl衍射的+1次光入射到图17中的受光面jl1。而且，衍射光栅区域da、db、dc、dd的-1次光入射到r、s、t、u，衍射光栅区域de、df、dg、dh的-1次光分别入射到受光面e2、f2、g2、h2。而且，衍射光栅区域i1、j1、k1、l1激发化，仅发生+1次光。
这里，设从受光面a1、b1、c1、d1、e1、f1、g1、h1、ik1、jl1、r、s、t、u、e2、f2、g2、h2得到的电信号为A1、B1、C1、D1、E1、F1、G1、H1、IK1、JL1、R、S、T、U、E2、F2、G2、H2，聚焦误差信号、跟踪误差信号、RF信号可由下式表示。
式3
FES＝(R+U)-(S+T)
TES＝[(A1+B1+E1+F1)-(C1+D1+G1+H1)]
     -kt×[(E2+F2)-(G2+H2)]
RF＝A1+B1+C1+D1+E1+F1+G1+H1+i1
式中，kt是物镜发生移位时不会由跟踪误差信号发生DC成分的系数。
可知，该式的跟踪误差信号的检测方法仅是分割实施例1所示的图11的衍射光栅而检测，是同样的检测方法。就是说，即使物镜2在光拾取器装置驱动方向的直线上不具有盘旋转中心，通过使用图16的衍射光栅，也可以对内周位置、外周位置检测出稳定的跟踪误差信号。此时对于距离d，如图16的粗线所示，利用衍射光栅上包含跟踪区域的衍射光栅区域所判断。而且，衍射光栅也可以是图14所示的形状。
(实施例3)
在实施例3中，对搭载了光拾取器装置1的光学再现装置进行说明。图18是光学再现装置的概略图。光拾取器装置1设置有能够沿着光盘100的半径方向驱动的驱动结构，根据来自访问(access)控制电路172的访问控制信号而进行位置控制。
从激光器点亮电路177向光拾取器装置1内的半导体激光器供给规定的激光驱动电流，从半导体激光器对应于再现而射出规定光量的激光。而且，激光器点亮电路177也可以组装于光拾取器装置1内。
从光拾取器装置1内的光检测器输出的信号，发送到伺服信号生成电路174及信息信号再现电路175。由伺服信号生成电路174，基于来自上述光检测器的信号，生成聚焦误差信号、跟踪误差信号及倾斜(tilt)控制信号等伺服信号，基于此，经由致动器驱动电路173驱动光拾取器装置1内的致动器，进行物镜的位置控制。
在上述信息信号再现电路175中，基于来自上述光检测器的信号再现记录于光盘100的信息信号。
由上述伺服信号生成电路174及信息信号再现电路175得到的信号的一部分发送到控制电路176。该控制电路176连接有主轴马达控制电路171、访问控制电路172、伺服信号生成电路174、激光器点亮电路177、球面像散修正元件驱动电路179等，进行旋转光盘100的主轴马达180的旋转控制，访问方向及位置的控制，物镜的伺服控制，光拾取器装置1内半导体激光器发光光量的控制，因盘衬底厚度不同引起的球面像散的修正等。
(实施例4)
在实施例4中，对搭载了光拾取器装置1的光学记录再现装置进行说明。图19是光学记录再现装置的概略图。该装置与上述图19中说明的光学记录再现装置的不同点在于，附加有在控制电路176与激光器点亮电路177之间设置有信息信号记录装置178，基于来自信息信号记录装置178的记录控制信号，进行激光器点亮电路177的点亮控制，对光盘100写入所希望的信息的功能。
以上，对本发明的光拾取器及光盘装置的实施方式进行了说明，但本实施方式并不限于此，在不脱离本发明的要旨的范围内，能够进行各种改良与变形。