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光雕片信号偏移校正方法.pdf

  • 上传人:111****112
  • 文档编号:804459
  • 上传时间:2018-03-12
  • 格式:PDF
  • 页数:11
  • 大小:487.95KB
  • 摘要
    申请专利号:

    CN200910174047.9

    申请日:

    2009.10.20

    公开号:

    CN102044269A

    公开日:

    2011.05.04

    当前法律状态:

    撤回

    有效性:

    无权

    法律详情:

    发明专利申请公布后的视为撤回IPC(主分类):G11B 7/09申请公布日:20110504|||实质审查的生效IPC(主分类):G11B 7/09申请日:20091020|||公开

    IPC分类号:

    G11B7/09

    主分类号:

    G11B7/09

    申请人:

    广明光电股份有限公司

    发明人:

    赖俊文; 蔡家怡; 郭起祥

    地址:

    中国台湾桃园县

    优先权:

    专利代理机构:

    北京市柳沈律师事务所 11105

    代理人:

    史新宏

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    内容摘要

    一种光雕片信号偏移校正方法,利用内环幅丝(spoke)信号计数,至预定记号部读取外环信息图案,测量信息图案信号偏移量。检查已经过预定个的内环幅丝信号,未达到则续测量信号偏移量,达到则计算平均信号偏移量。利用平均信号偏移量,在光雕片径向校正或解码校正时,校正外环信息图案的信号偏移。

    权利要求书

    1: 一种光雕片信号偏移校正方法, 其步骤包含 : (1) 利用内环幅丝信号计数, 至预定记号部读取外环信息图案 ; (2) 测量信号偏移量 ; (3) 检查是否已经过预定个的内环幅丝信号?若未达到则回到步骤 (2), 如果达到则 进入步骤 (4) ; (4) 计算平均信号偏移量 ; 及 (5) 利用平均信号偏移量校正外环信息图案的信号偏移。
    2: 如权利要求 1 所述的光雕片信号偏移校正方法, 其中该预定记号部为锯齿型记号 部。
    3: 如权利要求 2 所述的光雕片信号偏移校正方法, 其中该预定记号部为锯齿型记号部 第一部或第二部。
    4: 如权利要求 3 所述的光雕片信号偏移校正方法, 其中该锯齿型记号部的每一部包含 预定 8 个锯齿信息图案, 作为计算平均信号偏移量。
    5: 如权利要求 1 所述的光雕片信号偏移校正方法, 其中该预定记号部为媒体 ID 记号 部。
    6: 如权利要求 1 所述的光雕片信号偏移校正方法, 其中该预定记号部为锯齿型记号部 及媒体 ID 记号部。
    7: 如权利要求 1 所述的光雕片信号偏移校正方法, 其中该步骤 (2) 测量信号偏移量包 含步骤 : (2a) 计时 ; (2b) 当产生外环信息图案信号时开始计时 ; (2c) 当产生内环幅丝信号时停止计时 ; 及 (2d) 利用开始计时及停止计时时间差, 计算信号偏移量。
    8: 如权利要求 7 所述的光雕片信号偏移校正方法, 其中该计时为归零后开始计时。
    9: 如权利要求 7 所述的光雕片信号偏移校正方法, 其中该计时为计数单位脉冲数计 时。
    10: 如权利要求 7 所述的光雕片信号偏移校正方法, 其中该步骤 (2d) 计算信号偏移量 包含步骤 : (2e) 测量一个内环幅丝信号的单位时间 ; (2f) 比较时间差是否小于 1/2 单位时间?如是, 该时间差即为超前信号偏移量, 如否, 则以单位时间减去该时间差作为延迟信号偏移量。
    11: 如权利要求 1 所述的光雕片信号偏移校正方法, 其中该平均信号偏移量是在光雕 片径向校正或解码校正时, 进行校正外环信息图案的信号偏移。

    说明书


    光雕片信号偏移校正方法

        技术领域 本发明有关一种光碟机, 尤其是关于光碟机对光雕片标签面的操作特征区中, 内 外环信号偏移的校正方法。
         背景技术 一般的光盘有两面, 一面为数据面, 一面为标签面, 已知制作标签的方法为利用笔 或标签贴纸在标签面上做记号以为识别。近来发展出光雕 (Light Scribe) 标签的技术, 利 用光碟机的光学读取头 (Pick-up Head) 发射一雷射光, 将使用者所需的图形文字刻划在光 雕片的标签面上, 制作美观且个人化的光盘。
         如图 1(a) 及 (b) 所示, 为先前技术光碟机读取光雕片操作特征区信号的示意图。 图 1(a) 中光雕片 10 的操作特征区 (Control Feature Zone)11 包含了外环 (Outer Ring)12 以及设置有 400 个幅丝 (Spoke) 的内环 (Inner Ring)13, 前述幅丝以等角度的方式平均分 布在操作特征区 11 内环 13。光检测器 (Optical Encoder)14 固定于光碟机 15 中, 发出光 束照射于内环 13 用以产生一如图 1(b) 所示的幅丝信号, 并提供光学读取头 16 在标签面 17 进行描绘时相对位置的角度定位。外环 12 则提供了光雕片 10 的相关信息图案, 例如 : 媒体 ID(Media ID Field)、 锯齿型 (saw-tooth) 以及索引标记 (index mark) 等记号部, 由光学 读取头 16 读取外环 12 信息图案形成如图 1(b) 所示的信息图案信号。
         由于光雕片 10 的规格将起始幅丝的位置设定接续在外环 12 的索引标记终点。当 光雕片 10 置入光碟机 15 进行标签面 17 的描绘时, 光碟机 15 必须同时利用内环 13 与外环 12 二个部分的图案来找出起始幅丝的位置。 当起始幅丝的位置确定之后, 光碟机 15 只要持 续计数经过内环 13 幅丝信号的数目即可得知光雕片 10 的旋转角度, 及光学读取头 16 正读 取何种外环 12 信息图案信号。
         然而, 光检测器 14 与光学读取头 16 为二个分离的元件, 各元件电气处理信号的快 慢不同有所延迟或超前。因此, 如图 1(b) 所示, 产生的外环信息图案信号及内环幅丝信号 不可能同步, 存在偏移 d。 此外, 工厂制造光雕片的误差及品质, 也使得外环信息图案不能全 然与规格所定的内环幅丝一一对齐, 或盘片出现翘曲或不平整, 亦会造成内环幅丝信号与 外环信息图案信号的偏移更加明显, 导致读取的外环信息图案信号无法顺利解码, 或让光 学读取头无法精确达到径向校正, 进而影响后续的标签绘制正确性。 因此, 光碟机在读取内 外环信号偏移的校正上, 仍有问题亟待解决。
         发明内容
         本发明的目的在于提供一种光雕片信号偏移的校正方法, 通过分别测量一记号部 中, 各信息图案与内环幅丝的信号偏移量, 利用平均信号偏移量, 以校正内外环信号的偏 移。
         本发明另一目的在于提供一种光雕片信号偏移的校正方法, 通过多记号部中各信 息图案与内环幅丝的平均信号偏移量, 以减少整体的信号偏移。为了达到前述发明的目的, 本发明的光雕片信号偏移的校正方法, 利用内环幅丝 信号计数, 至预定记号部读取外环信息图案 ; 测量信号偏移量 ; 检查已经过预定个的内环 幅丝信号, 未达到则继续测量信号偏移量, 达到则计算平均信号偏移量 ; 利用平均信号偏移 量, 在光雕片径向校正或解码校正时校正外环信息图案的信号偏移。
         本发明计算平均信号偏移量的预定记号部, 可为锯齿型记号部及媒体 ID 记号部, 或单一的媒体 ID 记号部或锯齿型记号部第一部或第二部。而测量信号偏移量的方法, 是归 零计时 ; 当产生外环信息图案信号时开始计时 ; 当产生内环幅丝信号时停止计时 ; 计算信 号偏移量则为利用开始计时及停止计时时间差, 测量一个内环幅丝信号的单位时间, 比较 时间差小于 1/2 单位时间, 该时间差即为超前信号偏移量, 如否, 则以单位时间减去该时间 差作为延迟信号偏移量。 附图说明
         图 1(a)-(b) 为先前技术光碟机读取光雕片操作特征区信号的示意图。
         图 2 为光雕片操作特征区的局部放大的示意图。
         图 3 为本发明读取锯齿型信息图案延迟信号的示意图。
         图 4 为本发明读取锯齿型信息图案超前信号的示意图。 图 5 为本发明记号部信息图案与幅丝的信号偏移量的示意图。 图 6(a)-(b) 为本发明测量信息图案信号偏移量的示意图。 图 7 为本发明光雕片信号偏移校正方法的流程图。 【主要元件符号说明】 20 操作特征区 21 外环 22 内环 23 信息图案 24 幅丝 25 读取头光束 26 内环幅丝信号具体实施方式
         有关本发明为达成上述目的, 所采用的技术手段及其效果, 现在举优选实施例, 并 配合附图加以说明如下。
         请参考图 2, 为光雕片操作特征区的局部放大。操作特征区 20 包含外环 21 与内 环 22, 外环 21 具有光雕片的多个记号部的信息图案 23, 内环 22 则为并排的幅丝 24。光雕 片规格设定每一外环 21 的信息图案 23 起头, 各自对齐第特定根的幅丝 24, 并含盖特定数根 幅丝 24, 作为信号判读区。以锯齿型记号部为例, 锯齿型记号部相隔分为第一部及第二部, 每一部包含 8 个锯齿图案, 第一部锯齿图案自第 64 根幅丝 24 起, 每一锯齿图案含盖 8 根幅 丝 24, 而第二部锯齿图案则自第 264 根幅丝 24 起, 每一锯齿图案含盖 8 根幅丝 24。因此, 随着工厂制造误差及品质, 造成外环 21 信息图案 23 与内环 22 的幅丝 24 无法对齐产生偏 移量 D, 将影响信号判读区的精确性。如图 3 所示, 为读取一锯齿型信息图案 23 的延迟信号。 读取锯齿型信息图案 23 的 信号时, 光雕片以转动方向 R 旋转, 读取头光束 25 投射在线 L 上。当内环幅丝的信号 26, 计 数至特定第 64+8n 或 264+8n 根幅丝信号出现时, 读取头光束 25 即触及锯齿型信息图案 23, 出现读取的高信号 (Level High), 直到离开锯齿型信息图案 23 为止, 并利用光碟机的单位 脉冲计时其高信号长度 x。读取头光束 25 一离开锯齿型信息图案 23, 就出现读取的低信号 (Level Low), 并于含盖的 8 根幅丝信号终止, 结束读取信号, 并利用光碟机的单位脉冲计时 其低信号长度 y。由高信号长度 x 与低信号长度 y 的比值, 即可计算出读取头光束 25 径向 移动位置 h, 作为读取头径向移动校正的依据。 然而, 信息图案 23 与幅丝无法对齐产生的偏 移量 D, 延迟出现的信息图案 23 信号, 将在 8 根幅丝信号终止, 结束读取低信号, 使未完的低 信号被截断, 而减少低信号的长度 y, 造成高信号长度 x 与低信号长度 y 的比值的错误, 影响 径向校正精确度。
         如图 4 所示, 为读取一锯齿型信息图案 23 的超前信号。在信息图案 23 与幅丝无 法对齐产生的超前偏移量 D, 超前出现的信息图案 23 信号, 在信息图案 23 经过后, 仍未到达 8 根幅丝信号终点, 继续读取低信号, 而增加低信号的长度 y, 造成高信号长度 x 与低信号长 度 y 的比值的错误。同样造成读取高信号长度 x 与低信号长度 y 的变动, 高信号长度 x 与 低信号长度 y 的比值一改变, 径向移动位置 h 就会跟着改变, 而无法精确径向校正。
         此外, 如图 5 所示, 为记号部中每一信息图案与幅丝的信号偏移量。记号部每一信 息图案与其相对应幅丝不对齐的信号偏移量 D 各有不同, 校正的信息图案一改变, 精确性 也会改变, 将导致前后绘制的标签无法对正。 因此, 本发明针对锯齿型记号部的第一部或第 二部或两部, 测量其中每一信息图案与幅丝的信号偏移量 D1、 D2、 D3...Dn, 计算平均信号偏 移量 DA = (D1+D2+D3+...+Dn)/n, 作为校正每一信息图案与幅丝的信号偏移量, 让高信号 长度 x 与低信号长度 y 维持一定的关系, 以提高校正的精确性。
         请参考图 6(a) 及 (b), 为测量信息图案信号超前或是延迟偏移。 测量时, 首先测量 一个内环幅丝信号的单位时间 ts, 归零计时, 遇到外环信息图案信号时开始计时, 遇到内环 幅丝信号时停止计时。如图 4(a) 所示, 为信息图案信号超前偏移的情形, 首先归零计时, 遇 到外环信息图案信号时开始计时, 遇到内环幅丝信号时停止计时, 测量开始计时与停止计 时的时间差, 比较时间差小于 1/2 单位时间 ts, 即为超前信号偏移量 ta。如图 4(b) 所示, 为信息图案信号延迟偏移的情形, 归零计时, 遇到外环信息图案信号开始计时, 遇到内环幅 丝信号停止计时, 测量时间差 tb, 比较时间差 tb 不小于 1/2 单位时间 ts 时, 将单位时间 ts 减去偏移时间差 tb, 即为延迟信号偏移量 td。
         前述虽以读取锯齿型记号部的信息图案作为说明, 但在读取媒体 ID 记号部的信 息图案时, 媒体 ID 记号部的每一方块型的信息图案含盖 2 根幅丝, 信息图案读取的高信号, 视为数字信号 1, 离开者为低信号则视为数字信号 0。高信号长度低于预定长度时, 不能撷 取作为信号。因此, 信息图案与幅丝无法对齐产生的信号偏移量, 所产生高信号长度变化, 同样会影响媒体 ID 的正确解码。锯齿型记号部的信号偏移量校正也可适用于媒体 ID 记号 部。
         请参考图 7, 为本发明的光雕片信号偏移校正方法的流程图。本发明利用平均信 号偏移量, 进行校正外环信号的详细步骤说明如下 : 首先进入步骤 S1 开始对光雕片进行信 号偏移校正 ; 在步骤 S2, 利用内环幅丝信号计数, 至预定的记号部读取外环信息图案, 预定的记号部包含锯齿型记号部的第一部或第二部或媒体 ID 记号部等 ; 进入步骤 S3 开始计时 器, 计时的方式可为归零后开始计时, 或计数单位脉冲数计时 ; 步骤 S4, 当产生外环信息图 案信号时开始计时 ; 进入步骤 S5, 当产生内环幅丝信号时停止计时 ; 进入步骤 S6, 计算信号 偏移量 ; 进入步骤 S7, 检查是否已经过预定个的内环幅丝信号?若未达到预定个幅丝信号 则回到步骤 S3 ; 若达到预定个幅丝信号则进入步骤 S8, 计算取得平均信号偏移量 ; 最后进 入步骤 S9, 利用平均偏移量在光雕片, 例如径向校正或是解码校正时, 校正外环信息图案的 信号偏移。
         因此, 本发明光雕片信号偏移校正方法, 即可通过分别测量外环记号部中, 各信息 图案与内环幅丝的信号偏移量, 利用单一记号部或多记号部的平均信号偏移量, 校正内外 环信号的偏移, 达到减少整体的信号偏移, 改善外环数字信号与内环幅丝信号的同步性, 降 低径向校正的失败机会, 正确移动光学读取头, 以利光雕片描绘标签。
         以上所述者, 仅用以方便说明本发明的优选实施例, 本发明的范围不限于这些优 选实施例, 凡依本发明所做的任何变更, 在不脱离本发明的精神下, 皆属本发明权利要求书 要求保护的范围。

    关 键  词:
    光雕片 信号 偏移 校正 方法
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