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1、10申请公布号CN102044277A43申请公布日20110504CN102044277ACN102044277A21申请号200910174048322申请日20091020G11B20/1820060171申请人广明光电股份有限公司地址中国台湾桃园县72发明人赖俊文郭起祥74专利代理机构北京市柳沈律师事务所11105代理人史新宏54发明名称光碟机测试方法57摘要一种光碟机测试方法，归零计数及设定测试成功次数上限，以预定功率的雷射光束，进行虚拟烧录；检测输出功率；检查输出功率对预定功率的变化，产生变化判断光碟机测试失败，未产生变化，在完成虚拟烧录将测试成功次数加一，在测试次数达上限，判断通。
2、过光碟机测试，以节省测试时间。51INTCL19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书1页说明书3页附图3页CN102044281A1/1页21一种光碟机测试方法，其步骤包含1归零测试成功次数计数及设定测试成功次数上限；2雷射光束以预定功率，进行虚拟烧录光盘；3检测雷射光束的输出功率；4检查雷射光束输出功率对预定功率是否有变化若产生变化，则判断光碟机测试失败，然后进入步骤7，如果未产生变化，则进入步骤5；5检查是否完成虚拟烧录若未完成，则进入步骤3，如果完成则将测试成功次数加一，并进入步骤6；6检查测试次数是否已达上限若未达到上限则回至步骤2，如果达到上限则判断通过光碟机测试再。
3、进入步骤7；及7结束测试。2如权利要求1所述的光碟机测试方法，其中该虚拟烧录是将雷射光束聚焦在预定聚焦电平。3如权利要求2所述的光碟机测试方法，其中该预定聚焦电平使雷射光束的焦点偏移离光盘数据层。4如权利要求3所述的光碟机测试方法，其中该预定聚焦电平使雷射光束的焦点向下偏移离光盘数据层。5如权利要求3所述的光碟机测试方法，其中该预定聚焦电平使雷射光束的焦点向上偏移离光盘数据层。6如权利要求3所述的光碟机测试方法，其中该预定聚焦电平位在该数据层附近。7如权利要求1所述的光碟机测试方法，其中该预定聚焦电平使雷射光束的焦点偏移离光盘标签面。8如权利要求1所述的光碟机测试方法，其中该步骤4以输出功率与。
4、预定功率的差值，超出一定的门槛作为判断变化的根据。9如权利要求1所述的光碟机测试方法，其中该测试的光碟机为非烧录型的光碟机。权利要求书CN102044277ACN102044281A1/3页3光碟机测试方法技术领域0001本发明涉及一种光碟机的测试方法，尤其是涉及光碟机利用对光盘烧录次数，检查光碟机使用寿命的测试方法。背景技术0002为了确保光碟机出厂的品质及稳定度，出厂前光碟机必需经过测试，将数据重复多次实际烧录在光盘上，并经由检查烧录后的结果，判断光碟机性能是否正常，以测试光碟机耐久性的使用寿命。0003如图1所示，台湾第095146141号专利申请案所公开的先前技术，为一光碟机测试功能方。
5、块图，是对可重复读写的光碟机1进行测试。其测试过程首先针对CD、DVD或是BD等可覆写的光盘2，设定光碟机测试光盘1模式。利用微处理器3归零计数器4并设定测试成功次数上限。由微处理器3移动光学读取头5至光盘2内圈的起始点，并控制聚焦伺服单元6将雷射驱动单元7驱动光学读取头5发射烧录功率的雷射光束，聚焦在光盘2的数据层8。再由微处理器3控制循轨伺服单元9移动光学读取头5，沿着光盘2的数据轨，由内圈至外圈开始烧录数据。烧录完成后，由微处理器3控制光学读取头5，重头沿着光盘2的数据轨读取烧录至光盘的数据记号，解码成数据信号。0004接着，由读取数据与原烧录数据比对，判断是否成功将数据烧录至光盘若未成。
6、功将数据烧录至光盘，光碟机未通过使用寿命检验，判定为测试失败，并结束测试；若成功将数据烧录至光盘上，则由微处理器3控制计数器4将测试成功次数加一。然后检查测试成功次数是否达到上限若未达到上限，则由微处理器3控制雷射驱动单元7驱动光学读取头5发射擦除功率的雷射光束擦除烧录至光盘上的数据，回至光盘2内圈的起始点重新测试；若已达到测试成功次数的上限，则判定光碟机1通过使用寿命检验测试，并结束测试。0005然而，先前技术利用可覆写的光盘进行光碟机的测试，虽可以节省光盘的消耗，但先前技术在每次测试过程皆需聚焦在光盘2的数据层8，进行烧录、读取数据、判断烧录成功以及擦除光盘数据等程序，在光碟机的测试过程中。
7、，耗费大量的测试时间，使得测试效率变低，增长光碟机制造时间，且先前技术仅能对可烧录的光碟机进行测试，无法适用测试其他光碟机。因此先前技术光碟机在测试的方法上，仍有问题亟待解决。发明内容0006本发明的目的在于提供一种光碟机测试方法，通过检测光学读取头的雷射光束输出功率的变化，直接判断光碟机是否正常通过测试，简化测试程序，以节省测试时间。0007本发明另一目的在于提供一种光碟机测试方法，利用光学读取头的雷射光束聚焦偏移离光盘数据层或标签面，避免烧录光盘，以节省光盘的损耗。0008本发明再一目的在于提供一种光碟机测试方法，通过虚拟烧录光盘，而可测试各种光碟机，以增加测试的适用范围。0009为了达到。
8、前述发明的目的，本发明的光碟机测试方法，归零测试成功次数计数及说明书CN102044277ACN102044281A2/3页4设定测试成功次数上限；以预定功率的雷射光束，聚焦偏移离光盘数据层或标签面进行虚拟烧录；检测输出功率；检查输出功率的变化，产生变化判断光碟机测试失败，未产生变化，完成虚拟烧录将测试成功次数加一，测试次数达上限，判断通过光碟机测试。附图说明0010图1为先前技术光碟机测试的功能方块图。0011图2为本发明测试光碟机的功能方块图。0012图3为本发明测试的预定聚焦电平的示意图。0013图4为本发明光碟机测试方法的流程图。0014【主要元件符号说明】001510光碟机00161。
9、1微处理器001712雷射驱动单元001813光学读取头001914聚焦伺服单元002015循轨伺服单元002116功率检测单元002217计数器002318光盘002419数据层002520上偏移聚焦电平002620下偏移聚焦电平具体实施方式0027有关本发明为达成上述目的，所采用的技术手段及其效果，现在举优选实施例，并配合附图加以说明如下。0028请参考图2，为本发明测试的光碟机10。光碟机10主要包含微处理器11、雷射驱动单元12、光学读取头13、聚焦伺服单元14、循轨伺服单元15、功率检测单元16及计数器17等。在测试过程中，光碟机10的微处理器11控制雷射驱动单元12发出驱动控制信号。
10、，使光学读取头13依据驱动控制信号输出预定功率的雷射光束。微处理器11再控制聚焦伺服单元14，驱动光学读取头13将雷射光束聚焦，照射在光盘18的数据层19附近的预定聚焦电平。微处理器11还控制循轨伺服单元15，驱动光学读取头13沿着光盘18径向移动，进行测试。由于本发明测试中雷射光束未聚焦在光盘18的数据层19，数据并未烧录至光盘18，仅进行虚拟烧录。测试中经由功率检测单元16检测光学读取头13雷射光束实际的输出功率，传回微处理器11。微处理器11根据功率检测单元16所传回的雷射光束实际的输出功率，与雷射驱动单元12输出雷射光束的预定功率进行比较，以判断雷射光束输出功率是否产生变化。对于完成虚。
11、拟烧录测试，则由微处理器11控制计数器17累计虚拟烧录测试的次数。0029由于光盘18上的数据记号，烧录后是否可正确读取，取决于雷射驱动单元12驱动说明书CN102044277ACN102044281A3/3页5光学读取头13所发出的雷射光束，是否维持在一定强度的功率。一定强度功率的雷射光束，才能在高速转动的光盘18数据轨上，形成清晰稳定的数据记号。反之，雷射光束的输出功率一衰减，将造成数据记号模糊，而无法正确读取。因此，本发明直接利用检测虚拟烧录测试中，光学读取头13雷射光束实际的输出功率变化，作为判断光碟机是否通过测试的依据。因而可免除读取数据、判断烧录成功及擦除数据等烦琐的程序，达到简化。
12、测试过程及节省测试时间。此外，为避免检测输出功率的误差，影响判断的正确性，本发明也可利用输出功率与预定功率的变化差值超出预定的门槛值，作为产生变化的根据。0030如图3所示，为本发明测试中的预定聚焦电平。由于本发明利用检测雷射光束实际输出的功率变化，作为判断光碟机通过测试的依据，并未以正确读取烧录后数据进行判断。因此在本发明光碟机测试方法中，可将光学读取头13投射的雷射光束聚焦在预定聚焦电平上，预定聚焦电平可向上或向下偏移离光盘18的数据层19，形成上偏移聚焦电平20或下偏移聚焦电平20，进行虚拟烧录测试。在测试过程中，光盘的数据层19就不会因为光学读取头13所发出预定功率的雷射光束，而被烧录。
13、数据记号，使得光盘18在测试时保持原有状态，不受虚拟烧录的影响，而能重复使用，达到节省光盘损耗的目的。再者，本发明测试光碟机，在虚拟烧录时仅持续发射及检测预定功率的雷射光束，并未实际烧录数据在光盘数据层。对于非烧录型的光碟机，本发明的测试方法，也可适用。尤其对于可在标签面绘制标签图案的光雕机，本发明的测试方法可以绘制标签的雷射光束功率，将聚焦偏移离标签面，进行虚拟绘制标签的测试，也可达到本发明节省测试时间及光盘损耗的目的。0031请参考图4，为本发明光碟机测试方法的流程图。本发明利用虚拟烧录测试光碟机的详细步骤说明如下首先进入步骤S1，开始进行光碟机测试，将光盘置入光碟机中。在步骤S2，归零计。
14、数器并设定测试成功次数的上限进入步骤S3移动光学读取头至起始烧录位置，并以上偏移聚焦电平或下偏移聚焦电平，以预定功率的雷射光束偏移焦点虚拟烧录光盘。0032接着再进入步骤S4检测光学读取头雷射光束实际的输出功率。进入步骤S5根据雷射光束预定功率，检查检测光学读取头实际输出的雷射光功率相对预定功率是否有改变若光学读取头输出的雷射光功率产生变化，代表光学读取头无法正常烧录光盘，则进入步骤S6，判断光碟机测试失败，然后进入步骤S11结束光碟机测试；若光学读取头输出的雷射光功率未产生变化，则进入步骤S7继续虚拟烧录测试，并检查是否完成虚拟烧录若未完成，则回至步骤S4继续检测雷射光束输出功率，如果完成虚。
15、拟烧录，则进入步骤S8将测试成功次数加一。接着进入步骤S9，检查测试成功次数是否达到上限M若未达到测试成功次数上限M则回至步骤S3重复测试；若已达到测试成功次数上限M则进入步骤S10通过光碟机测试，接着进入步骤S11结束光碟机测试。0033因此，本发明光碟机测试方法，即可通过光学读取头的雷射光束聚焦偏移离光盘数据层或标签面，进行虚拟烧录光盘，避免烧录到光盘经由检测光学读取头的雷射光输出功率的变化，直接判断光碟机是否正常通过测试，达到简化测试程序节省测试时间及光盘的损耗的目的。0034以上所述者，仅用以方便说明本发明的优选实施例，本发明的范围不限于这些优选实施例，凡依本发明所做的任何变更，在不脱离本发明的精神下，皆属本发明申请专利的范围。说明书CN102044277ACN102044281A1/3页6图1图2说明书附图CN102044277ACN102044281A2/3页7图3说明书附图CN102044277ACN102044281A3/3页8图4说明书附图CN102044277A。