获得检测装置插拔组合及电力线拓朴的方法及其电子装置技术领域
本发明是有关于一种获得检测装置插拔组合及电力线拓朴的方法及其电
子装置。
背景技术
传统电表/智能电表通常是一个信息封闭的系统，用于提供家庭或企业上
个月或是一段时间统计后的账单，而使用者只有在收到账单后才知道用了多
少电。智能电表虽然可以显示家庭或企业中较为即时的耗电信息，但却无法
告知使用者个别电器的耗电信息。在缺乏电器耗电信息的情形下，智能电表
无法有效确认、知晓耗电的电器与告知使用者耗电原因，使得使用者无法改
善与管理其用电情形。
非侵入式电力负载监控(NonintrusiveLoadMonitoring，简称NILM)的
技术则使用单一电表来监测回路中的总电压与总电流等电力信号特征
(Signature)的变化，进而判别正在使用的电器与其状态。相较于在每一个
插座上加装智能电表的耗电监测装置，NILM可大幅节省建置成本，让使用
者更能接受此技术。
NILM技术可用于了解电器的使用情形，而过去的做法多半使用事前所
搜集的各种电器负载特征做为训练数据，再经由许多研究者提出的不同检测
方法来辨识电器使用状态。然而，由于在实际环境中，电器使用状态可能因
为供电品质不一致而可能发生改变，造成检测到的电器使用状态可能与原本
所搜集与训练的电器负载特征不同。此情形将造成辨识上的误差，因而使得
NILM技术实现目前仍存在一些挑战。
举例而言，上述的供电品质除了与电源供应源有关系外也与空间中各个
插座的位置及其间供电线距离有相当大的关联。当插座与电表之间的距离较
近时，此插座可能较不会因例如电力传输线所产生的衰减过大而导致输出电
压过于偏离电力公司所提供的电压。然而，当插座与电表之间的距离较远时，
可能会因为插座输出的电压过于偏离电力公司所提供的电压，造成电表所量
测到插座上电器所产生的电力特征信号可能因为电力传输线因长度较长而出
现较大的衰减。因此，若能准确地掌握电表与各个插座之间的电力线拓扑
(powerlinetopology)结构的话，NILM技术将能够更进一步地提升电器辨
识上的准确度。
虽然使用者可通过将一或多个检测装置逐个与各个插座连接的方式来测
量各个插座的电力信息，进而藉由整合这些电力信息来推得电力线拓扑结构，
但此方式的效率较低，因而将导致成本的上升。具体而言，若欲推得电力线
拓扑结构，除了需要量测插座与总电源(例如是电力公司的配电线)之间的
阻抗之外，还需量测插座与插座之间的插座关系(例如插座的电压值之间的
差异与前后顺序关系)，方能正确的判别对应至同一个电力线拓扑结构的插
座之间的电力传输线是呈现串接(cascade)或是并接(branch)的结构。
举例而言，当只有一个检测装置时，使用者需逐个将此检测装置与插座
进行连接，方能测量各个插座的电力信息。但若需测量插座与插座之间的话，
单一个检测装置将较难用以进行此测量行为。
此外，即便具有多个检测装置，若仅是随意尝试所有在检测装置与插座
之间的插拔组合(即，检测装置与插座之间的配对结果)，而未适当地安排
这些检测装置与插座之间的插拔组合次序的话，将可能导致整个测量过程的
效率降低。此外，若对应至同一个电力线拓扑结构插座的数量很多，则由于
可能的插拔组合次序也将对应增加，因而使得整个测量过程的效率进一步降
低。
发明内容
有鉴于此，本发明提供一种获得检测装置插拔组合及电力线拓朴的方法
及其电子装置，其可适当地安排这些检测装置与插座之间的插拔组合次序，
进而提升整个测量过程的效率。并且，本发明提供一种获得电力线拓朴节点
关系的方法，其可基于所测量到的电力信息而推得这些插座之间的电力拓朴
关系。
本发明提供一种获得检测装置插拔组合的方法，适于电子装置。所述方
法包括下列步骤：取得至少一检测装置的第一数量以及至少一插座的第二数
量；产生至少一检测装置以及至少一插座之间的多个插拔组合，其中各插拔
组合对应于至少一检测装置与至少一插座的配对结果，且所述多个插拔组合
包括特定插拔组合以及多个参考插拔组合；依据第二数量计算总插座关系值；
依据第一数量设定特定插拔组合的特定插拔次数以及特定插座关系值；以及
依据特定插座关系值、总插座关系值以及各参考插拔组合与特定插拔组合之
间的距离从所述多个参考插拔组合找出候选插拔组合。
在本发明的一实施例中，依据第二数量计算总插座关系值的步骤包括：
以计算总插座关系值，其中N为第二数量。
在本发明的一实施例中，依据第一数量设定特定插拔组合的特定插拔次
数以及特定插座关系值的步骤包括：设定特定插拔次数为第一数量；以及以
计算特定插座关系值，其中M为第一数量(M为正整数)。
在本发明的一实施例中，依据特定插座关系值、总插座关系值以及各参
考插拔组合与特定插拔组合之间的距离从所述多个参考插拔组合找出候选插
拔组合的步骤包括：计算所述多个参考插拔组合对应的多个分数；找出所述
多个分数中的最高分数；以及定义对应于最高分数的参考插拔组合为候选插
拔组合。
在本发明的一实施例中，距离为汉明距离，且所述多个参考插拔组合中
的第k个参考插拔组合对应于所述多个分数中的第k个分数，且计算所述多
个参考插拔组合对应的所述多个分数的步骤包括：表征所述第k个分数为：
Score k = R k R total + 1 NumBit ( x n ⊕ x k ) ]]>
，其中Scorek为所述第k个分数，Rk为特定插拔组合与所述第k个参考插
拔组合之间的插座关系值，Rtotal为总插座关系值，xn为特定插拔组合，xk为所
述第k个参考插拔组合，为xn与xk之间的汉明距离，为互斥
或运算子。
在本发明的一实施例中，在依据特定插座关系值、总插座关系值以及各
参考插拔组合与特定插拔组合之间的距离从所述多个参考插拔组合找出候选
插拔组合的步骤之后，还包括：新增特定插拔组合至插拔组合次序清单；累
加特定插座关系值至计数值；当计数值小于总插座关系值时，从所述多个参
考插拔组合中排除候选插拔组合；依据候选插拔组合与特定插拔组合之间的
插座关系值来更新特定插座关系值，并设定候选插拔组合为特定插拔组合；
以及依据特定插座关系值、总插座关系值以及各参考插拔组合与特定插拔组
合之间的距离从所述多个参考插拔组合再次找出候选插拔组合。
在本发明的一实施例中，当计数值不小于总插座关系值时，输出插拔组
合次序清单。
本发明提供一种电子装置，包括储存单元以及处理单元。储存单元储存
多个模块。处理单元连接储存单元，存取并执行储存单元中记录的所述多个
模块。所述多个模块包括取得模块、产生模块、计算模块、设定模块以及第
一寻找模块。取得模块取得至少一检测装置的第一数量以及至少一插座的第
二数量。产生模块产生至少一检测装置以及至少一插座之间的多个插拔组合，
其中各插拔组合对应于至少一检测装置与至少一插座的配对结果，且所述多
个插拔组合包括特定插拔组合以及多个参考插拔组合。计算模块依据第二数
量计算总插座关系值。设定模块依据第一数量设定特定插拔组合的特定插拔
次数以及特定插座关系值。第一寻找模块依据特定插座关系值、总插座关系
值以及各参考插拔组合与特定插拔组合之间的距离从所述多个参考插拔组合
找出候选插拔组合。
在本发明的一实施例中，计算模块以计算总插座关系值，其中N为第
二数量。
在本发明的一实施例中，设定模块经配置以：设定特定插拔次数为第一
数量；以及以计算特定插座关系值，其中M为第一数量。
在本发明的一实施例中，第一寻找模块经配置以：计算所述多个参考插
拔组合对应的多个分数；找出所述多个分数中的最高分数；以及定义对应于
最高分数的参考插拔组合为候选插拔组合。
在本发明的一实施例中，距离为汉明距离，且第一寻找模块表征所述第
k个分数为：
Score k = R k R total + 1 NumBit ( x n ⊕ x k ) ]]>
，其中Scorek为所述第k个分数，Rk为特定插拔组合与所述第k个参考插
拔组合之间的插座关系值，Rtotal为总插座关系值，xn为特定插拔组合，xk为所
述第k个参考插拔组合，为xn与xk之间的汉明距离，为互斥
或运算子。
在本发明的一实施例中，所述多个模块还包括第二寻找模块，经配置以：
新增特定插拔组合至插拔组合次序清单；累加特定插座关系值至计数值；当
计数值小于总插座关系值时，从所述多个参考插拔组合中排除候选插拔组合；
依据候选插拔组合与特定插拔组合之间的插座关系值来更新特定插座关系
值，并设定候选插拔组合为特定插拔组合；以及依据特定插座关系值、总插
座关系值以及各参考插拔组合与特定插拔组合之间的距离从所述多个参考插
拔组合再次找出候选插拔组合。
在本发明的一实施例中，当计数值不小于总插座关系值时，第二寻找模
块输出插拔组合次序清单。
本发明提出一种获得电力线拓扑的方法，适于至少二检测装置，包括将
至少二检测装置中的第一检测装置以及第二检测装置个别连接至多个插座的
第一插座以及第二插座，其中所述多个插座属于同一空间；在致能第一检测
装置的第一负载并禁能第二检测装置的第二负载的第一情况下，第一检测装
置量测第一插座的第一电压，且第二检测装置量测第二插座的第二电压；在
禁能第一检测装置的第一负载并致能第二检测装置的第二负载的第二情况
下，第一检测装置量测第一插座的第三电压，且第二检测装置量测第二插座
的第四电压；以及依据第一电压、第二电压、第三电压以及第四电压判断第
一插座及第二插座之间的连接关系。
在本发明的一实施例中，依据第一电压、第二电压、第三电压以及第四
电压判断第一插座及第二插座之间的连接关系的步骤包括判断第一电压是否
高于第二电压。若第一电压不高于第二电压，判断第三电压是否高于第四电
压。若是，判断第一插座并接于第二插座；若否，判断第一插座串接于第二
插座。若第一电压高于第二电压，判断第三电压是否低于第四电压。若是，
判断第一插座并接于第二插座；若否，判断第一插座串接于第二插座。
在本发明的一实施例中，在依据第一电压、第二电压、第三电压以及第
四电压判断第一插座及第二插座之间的连接关系的步骤之后，还包括基于各
插座之间的串接关系建立测量矩阵，并化简测量矩阵以建立所述多个插座对
应的电力线拓扑。
在本发明的一实施例中，测量矩阵为：
其中，L为所述多个插座的数量。当所述多个插座中的第i个插座串接于
第j个插座时，pi,j为1。当所述多个插座中的第i个插座未串接于第j个插座
时，pi,j为0。
在本发明的一实施例中，化简测量矩阵以建立所述多个插座对应的电力
线拓扑的步骤包括执行三角循环消除法以化简测量矩阵。
基于上述，本发明提出的获得检测装置插拔组合的方法及其电子装置可
在决定特定插拔组合之后，从参考插拔组合中找出可最小化插拔次数以及最
大化插座关系的候选插拔组合。
此外，本发明提出的获得电力线拓扑方法可基于检测装置插拔组合次序
清单所量测到的插座电力信息而对应地找出各个插座之间的串接关系，并据
以推得对应于这些插座的电力线拓扑。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合
附图作详细说明如下。
附图说明
图1是本发明的一实施例示出的电子装置功能方块图；
图2是本发明的一实施例示出的获得检测装置插拔组合的方法；
图3是本发明的一实施例示出的多个插拔组合的示意图；
图4是图2实施例示出的获得检测装置插拔组合的方法；
图5是图3实施例示出的插拔组合次序清单示意图；
图6是本发明的一实施例示出的获得电力线拓扑方法的流程图；
图7是图6实施例示出的依据第一电压、第二电压、第三电压以及第四
电压判断第一插座及第二插座之间的连接关系的细节流程图；
图8是本发明的一实施例示出的对应于化简后测量矩阵的电力线拓扑。
附图标记说明：
100：电子装置；
110：储存单元；
110_1：取得模块110_1；
110_2：产生模块；
110_3：计算模块；
110_4：设定模块；
110_5：第一寻找模块；
110_6：第二寻找模块；
120：处理单元；
C1～C20：插拔组合；
P1～P6：插座；
500：插拔组合次序清单；
510、520：数值；
800：电力线拓扑；
810～880：插座；
S210～S250、S410～S470、S610～S640、S710～S750：步骤。
具体实施方式
图1是本发明的一实施例示出的电子装置功能方块图。在本实施例中，
电子装置100包括储存单元110以及处理单元120。电子装置100例如是智
能手机、平板电脑、个人数字助理(personaldigitalassistant，简称PDA)、
个人电脑(PersonalComputer，简称PC)、笔记本电脑(NotebookPC)、工
作站或其他类似的装置。电子装置100包括储存单元110以及处理单元120。
储存单元110例如是存储器、硬盘或是其他任何可用于储存数据的元件，而
可用以记录多个模块。
处理单元120耦接储存单元110。处理单元120可为一般用途处理器、
特殊用途处理器、传统的处理器、数字信号处理器、多个微处理器
(microprocessor)、一个或多个结合数字信号处理器核心的微处理器、控制
器、微控制器、特殊应用集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit，简
称ASIC)、现场可编程门阵列(FieldProgrammableGateArray，简称FPGA)、
任何其他种类的积体电路、状态机、基于进阶精简指令集机器(AdvancedRISC
Machine，简称ARM)的处理器以及类似品。
在本实施例中，处理单元120可存取储存单元110所储存的取得模块
110_1、产生模块110_2、计算模块110_3、设定模块110_4以及第一寻找模
块110_5以执行本发明提出的获得检测装置插拔组合的方法的各个步骤。
图2是本发明的一实施例示出的获得检测装置插拔组合的方法。本实施
例提出的方法可由图1的电子装置100执行，以下即搭配图1的各个元件来
说明本方法的详细步骤。
在步骤S210中，取得模块110_1可取得检测装置的第一数量以及插座的
第二数量。在一实施例中，所述第一数量以及第二数量可由使用者通过电子
装置100的键盘或触控萤幕等使用者界面(未示出)输入至电子装置100。
应了解的是，本实施例考虑的各个插座指的是在同一空间中属于同一个
电力线拓扑结构的插座。举例而言，各个插座可以是在同一个空间内(例如
住家、公司、办公室及/或房间)的插座。进一步而言，本实施例所考虑的各
个插座是由同一个电表(其应用NILM技术)所监控的插座，但本发明的可
实施方式不限于此。
检测装置例如是具有开关、电压传感器、负载以及插头等元件的装置。
当使用者将检测装置连接至插座时，检测装置可用于找出此插座与电源(例
如是电力公司的配电线)之间的电力线阻抗值。
接着，在步骤S220中，产生模块110_2可产生检测装置以及插座之间的
多个插拔组合。在本实施例中，各插拔组合对应于检测装置与插座的配对结
果。并且，所述多个插拔组合包括特定插拔组合以及多个参考插拔组合。特
定插拔组合例如是所述多个插拔组合中的任一插拔组合，而参考插拔组合则
例如是除了特定插拔组合中的其他插拔组合。
以图3为例，图3是本发明的一实施例示出的多个插拔组合的示意图。
在本实施例中，检测装置的第一数量假设为3；插座的第二数量假设为6，且
以插座P1～P6来区别这6个插座。
在一实施例中，产生模块110_2可基于简易的排列组合概念来产生3个
检测装置以及6个插座的20个(即，)可能的插拔组合C1～C20(即，配
对结果)。
如先前所提及的，各插拔组合C1～C20皆对应至一个检测装置与插座的
配对结果。在各个插拔组合C1～C20中，数字「1」代表检测装置的其中之一
有连接至对应的插座；数字「0」则代表没有检测装置连接至对应的插座。
以插拔组合C1为例，其即代表3个检测装置分别连接至插座P1～P3，而
未连接至插座P4～P6的配对结果。再以插拔组合C2为例，其即代表3个检
测装置分别连接至插座P1、P2以及P4，而未连接至插座P3、P5及P6的配
对结果。
在一实施例中，产生模块110_2可任意选取插拔组合C1～C20的其中之
一作为所述特定插拔组合，并将其他的插拔组合视为参考插拔组合。举例而
言，当产生模块110_2选取插拔组合C1作为所述特定插拔组合时，产生模块
110_2可将插拔组合C2～C20视为参考插拔组合。举另一例而言，当产生模块
110_2选取插拔组合C20作为所述特定插拔组合时，产生模块110_2可将插
拔组合C1～C19视为参考插拔组合，但本发明的可实施方式不限于此。为了
便于说明本发明的概念，以下皆假设插拔组合C1为所述特定插拔组合。
所述特定插拔组合可视为是一个初始的插拔组合，而处理单元120可基
于此初始的插拔组合从所述多个参考插拔组合中找出可最小化插拔次数以及
最大化插座关系的候选插拔组合，进而让使用者能够以最佳的效率完成测量
所需的插座电力信息的行为。以下将进行更详细的说明。
请再次参照图2，在步骤S230中，计算模块110_3可依据所述第二数量
计算总插座关系值。所述总插座关系值例如是插座两两之间所有可能的组合
数量。
在一实施例中，计算模块110_3可采用计算所述总插座关系值，其中
N为第二数量(N为正整数)。以图3为例，在插座P1～P6的第二数量为6
的情形下，其对应的总插座关系值例如是15(即，)。
在步骤S240中，设定模块110_4可依据所述第一数量设定所述特定插拔
组合的特定插拔次数以及特定插座关系值。具体而言，设定模块110_4可设
定特定插拔次数为第一数量，以及采用计算所述特定插座关系值(M为第
一数量)。
请再次参照图3，假设插拔组合C1被选定为特定插拔组合，则设定模块
110_4可设定所述特定插拔次数为3(即，检测装置的第一数量)。详细而言，
所述特定插拔次数代表若欲将检测装置以及插座之间的配对关系配置为所述
特定插拔组合的话，使用者需执行的插拔行为次数。以插拔组合C1为例，对
于使用者而言，若欲将检测装置以及插座之间的配对关系配置为插拔组合C1
的话，则使用者需将3个检测装置分别连接至插座P1～P3上。也即，使用者
需执行3次的插拔行为方能完成插拔组合C1的配置。从另一观点而言，由于
所述特定插拔组合可视为初始的插拔组合，因而使得其对应的插拔行为次数
势必等于检测装置的第一数量。
所述特定插座关系值例如是在特定插拔组合的配置之下，可得到的插座
与插座之间的插座关系数量。再以插拔组合C1为例，在此种配对结果的情形
下，设定模块110_4可得到组插座关系，也即插座P1与P2之间的插座关
系、插座P1与P3之间的插座关系以及插座P2与P3之间的插座关系。
接着，在步骤S250中，第一寻找模块110_5可依据所述特定插座关系值、
所述总插座关系值以及各所述参考插拔组合与所述特定插拔组合之间的距离
从所述多个参考插拔组合找出候选插拔组合。所述距离例如是汉明距离
(Hammingdistance)。
在一实施例中，第一寻找模块110_5可计算所述多个参考插拔组合对应
的多个分数。假设所述多个参考插拔组合中的第k个(k为正整数)参考插
拔组合对应于所述多个分数中的第k个分数，而第一寻找模块110_5可表征
所述第k个分数为：
Score k = R k R total + 1 NumBit ( x n ⊕ x k ) ]]>
，其中Scorek为所述第k个分数，Rk为所述特定插拔组合与所述第k个参
考插拔组合之间的插座关系值，Rtotal为所述总插座关系值，xn为所述特定插拔
组合，xk为所述第k个参考插拔组合，为xn与xk之间的汉明距
离，为互斥或(exclusiveOR)运算子。
值得注意的是，Rk代表从所述特定插拔组合改变至所述第k个参考插拔
组合之后可得到的新的插座关系数量。
以插拔组合C2为例，在假设插拔组合C1为所述特定插拔组合的前提之
下，插拔组合C2对应的Rk为2。具体而言，虽然在插拔组合C2的配置之下
可得到插座P1与P2之间的插座关系、插座P1与P4之间的插座关系以及插
座P2与P4之间的插座关系，但由于插座P1与P2之间的插座关系已可在插
拔组合C1中得到，因此，从插拔组合C1改变至插拔组合C2时所能得到的
新的插座关系数量应为2组(也即，插座P1与P4之间的插座关系以及插座
P2与P4之间的插座关系)。如先前所提及的，在图3的配置之下，其对应
的总插座关系值(Rtotal)为15(即，)。
此外，插拔组合C1与C2之间的汉明距离应为2(即，)。
从另一观点而言，所述汉明距离可视为是从插拔组合C1改变至插拔组合C2
时所需的插拔行为次数(即，2次)。具体而言，从插拔组合C1改变至插拔
组合C2时，使用者需将检测装置从插座P3拔起(即，第1次插拔行为)，
再将此检测装置连接至插座P4(即，第2次插拔行为)。如此一来，第一寻
找模块110_5可表征对应于插拔组合C2的分数为：
( 2 15 + 1 2 ) . ]]>
再以插拔组合C3为例，在假设插拔组合C1为所述特定插拔组合的前提
之下，插拔组合C3对应的Rk为2。具体而言，虽然在插拔组合C3的配置之
下可得到插座P1与P2之间的插座关系、插座P1与P5之间的插座关系以及
插座P2与P5之间的插座关系，但由于插座P1与P2之间的插座关系已可在
插拔组合C1中得到，因此，从插拔组合C1改变至插拔组合C3时所能得到
的新的插座关系数量应为2组(也即，插座P1与P5之间的插座关系以及插
座P2与P5之间的插座关系)。如先前所提及的，在图3的配置之下，其对
应的总插座关系值(Rtotal)为15(即，)。
此外，插拔组合C1与C3之间的汉明距离应为2(即，)。
从另一观点而言，所述汉明距离可视为是从插拔组合C1改变至插拔组合C3
时所需的插拔行为次数(即，2次)。具体而言，从插拔组合C1改变至插拔
组合C3时，使用者需将检测装置从插座P3拔起(即，第1次插拔行为)，
再将此检测装置连接至插座P5(即，第2次插拔行为)。如此一来，第一寻
找模块110_5可表征对应于插拔组合C2的分数为：
( 2 15 + 1 2 ) . ]]>
基于前述教示，第一寻找模块110_5可对应计算插拔组合C4～C20的分
数。接着，第一寻找模块110_5可找出这些分数中的最高分数，并定义对应
于此最高分数的参考插拔组合为候选插拔组合。
再以图3为例，插拔组合C13例如是对应于最高分数的插拔组合，则第
一寻找模块110_5可定义插拔组合C13为候选插拔组合。
如此一来，使用者即可简易地得知将特定插拔组合改变为候选插拔组合
即可能够最小化插拔次数以及最大化插座关系。也即，在第一寻找模块110_5
找出候选插拔组合之后，使用者即能以最少的插拔次数取得最多的插座关系。
在其他实施例中，储存单元110可还包括第二寻找模块110_6，其可在
将候选插拔组合视为特定插拔组合的情况下，进一步以递回的方式找出其他
的多个候选插拔组合。接着，第二寻找模块110_6可将找到的候选插拔组合
整合为一插拔组合次序清单，以让使用者得知应如何安排这些检测装置与插
座之间的插拔组合次序，方能以最高的效率取得足以推得电力线拓扑结构的
电力信息。
请参照图4，图4是图2实施例示出的获得检测装置插拔组合的方法。
本实施例提出的方法可由图1的电子装置100执行，以下即搭配图1的各个
元件来说明本方法的详细步骤。
在本实施例中，在步骤S250之后，第二寻找模块110_6可执行步骤S410
以新增所述特定插拔组合至插拔组合次序清单。依据先前实施例中的假设，
第二寻找模块110_6可将插拔组合C1(即，特定插拔组合)记录至插拔组合
次序清单中。
接着，在步骤S420中，第二寻找模块110_6可累加所述特定插座关系值
至计数值。所述计数值例如可初始为0。依据先前实施例中的假设，所述特
定插座关系值为3，因此第二寻找模块110_6可求得所述计数值为3。
在步骤S430中，第二寻找模块110_6可判断所述计数值是否小于所述总
插座关系值。若是，则接续进行步骤S470；若否，则接续进行步骤S440。
在步骤S470中，第二寻找模块110_6可输出所述插拔组合次序清单。详
细而言，当所述计数值不小于所述总插座关系值时，即代表插拔组合次序清
单目前所包括的插拔组合已可用于取得足以推得电力线拓扑结构的电力信
息。因此，第二寻找模块110_6可将插拔组合次序清单提供给使用者，以让
使用者能够据以调整检测装置与插座之间的配对方式。
另一方面，当所述计数值小于所述总插座关系值时，即代表插拔组合次
序清单目前所包括的插拔组合无法用于取得足够电力信息。因此，第二寻找
模块110_6可接续进行其他的步骤。
在步骤S440中，第二寻找模块110_6可从所述多个参考插拔组合中排除
所述候选插拔组合。依据先前实施例中的假设，第二寻找模块110_6可将插
拔组合C13(即，候选插拔组合)从插拔组合C2～C20中排除。
接着，在步骤S450中，第二寻找模块110_6可依据所述候选插拔组合与
所述特定插拔组合之间的插座关系值来更新所述特定插座关系值，并设定所
述候选插拔组合为所述特定插拔组合。在一实施例中，第二寻找模块110_6
可将所述特定插座关系值(即，3)设定为所述候选插拔组合与所述特定插拔
组合之间的插座关系值(即，2)。并且，第二寻找模块110_6可将所述特定
插拔组合从插拔组合C1更改为插拔组合C13。
之后，在步骤S460中，第二寻找模块110_6可依据所述特定插座关系值、
所述总插座关系值以及各所述参考插拔组合与所述特定插拔组合之间的所述
距离从所述些参考插拔组合再次找出所述候选插拔组合。也即，第二寻找模
块110_6可在所述特定插拔组合为插拔组合C13的前提之下，从插拔组合
C2～C12以及C14～C20中找出另一个候选插拔组合。步骤S460的实施细节可
参考步骤S250的相关说明，在此不再赘述。
在步骤S460之后，第二寻找模块110_6可返回步骤S410并重复地执行
步骤S410～S430，一直到所述计数值不小于所述总插座关系值为止。
请参照图5，图5是图3实施例示出的插拔组合次序清单示意图。本实
施例的插拔组合次序清单500例如是在将插拔组合C1视为初始插拔组合的情
况下，基于图2及图4的方法所产生的插拔组合次序清单。
在插拔组合次序清单500中，数值510例如是在找出插拔组合C9之后，
对应求得的计数值(即，3+2+3+2+3+2)。由于数值510已不小于所述总插
座关系值(即，15)，因而使得第二寻找模块110_6得知插拔组合次序清单
500中包括得插拔组合C1、C13、C17、C14、C10以及C9已可用于取得足
以推得电力线拓扑结构的电力信息。因此，第二寻找模块110_6可将插拔组
合次序清单500提供给使用者参考。
如此一来，使用者即可参考插拔组合次序清单500而将检测装置以及插
座之间的配对结果依序调整为插拔组合C1、C13、C17、C14、C10以及C9
的态样，进而以最佳的效率取得足以推得电力线拓扑结构的电力信息。
此外，插拔组合次序清单500也可记录插拔组合C1、C13、C17、C14、
C10以及C9个别对应的插拔行为次数(即，3、2、4、2、4及2)，并将这
些插拔行为次数加总为数值520(即，17)。如此一来，使用者即可得知只
需进行17次的插拔行为即可取得足以推得电力线拓扑结构的电力信息。
本领域具通常知识者应可了解，本发明各个实施例中所使用的数值仅用
以举例，并非用以限定本发明可能的实施方式。
在其他实施例中，可通过量测属于同一空间的多个插座的电力信息来推
得此空间中的电力线拓扑。
请参照图6，图6是本发明的一实施例示出的获得电力线拓扑方法的流
程图。本实施例提出的方法适于先前所提及的检测装置。
在步骤S610中，将至少二检测装置中的第一检测装置以及第二检测装置
个别连接至多个插座的第一插座以及第二插座。在步骤S620中，在致能第一
检测装置的第一负载并禁能第二检测装置的第二负载的第一情况下，第一检
测装置量测第一插座的第一电压，且第二检测装置量测第二插座的第二电压。
接着，在步骤S630中，在禁能第一检测装置的第一负载并致能第二检测
装置的第二负载的第二情况下，第一检测装置量测第一插座的第三电压，且
第二检测装置量测第二插座的第四电压。
简言之，在将第一检测装置以及第二检测装置连接至对应的第一插座以
及第二插座之后，可轮流致能第一检测装置及第二检测装置上的负载，并测
量在所述第一情况以及第二情况下时，第一插座以及第二插座个别的电压值。
应了解的是，在其他实施例中，步骤S620的执行顺序也可先于步骤S610。
之后，在步骤S640中，可依据第一电压、第二电压、第三电压以及第四
电压判断第一插座及第二插座之间的连接关系。
请参照图7，图7是图6实施例示出的依据第一电压、第二电压、第三
电压以及第四电压判断第一插座及第二插座之间的连接关系的细节流程图。
在步骤S710中，可判断第一电压是否高于第二电压。若是，则接续进行
步骤S720；若否，则接续进行步骤S730。
在步骤S720中，可判断第三电压是否低于第四电压。若是，则在步骤
S740中判断第一插座并接于第二插座；若否，则在步骤S750中判断第一插
座并接于第二插座。
在步骤S730中，可判断第三电压是否高于第四电压。若是，则在步骤
S740中判断第一插座并接于第二插座；若否，则在步骤S750中判断第一插
座并接于第二插座。
简言之，当第一插座在第一情况以及第二情况中所测量到的电压皆高于
第二插座在第一情况以及第二情况中所测量到的电压时，即代表第一插座在
电力线拓扑中是串接于第二插座。此外，当第二插座在第一情况以及第二情
况中所测量到的电压皆高于第一插座在第一情况以及第二情况中所测量到的
电压时，也代表第一插座在电力线拓扑中是串接于第二插座。
另一方面，当第一电压高于第二电压，但第三电压低于第四电压时，即
代表第一插座在电力线拓扑中是并接于第二插座。此外，当第一电压低于第
二电压，但第三电压高于第四电压时，也代表第一插座在电力线拓扑中是并
接于第二插座。
如此一来，即可通过检测装置对各个插座所量测到的电力信息来推得各
个插座之间的串接关系以及并接关系。
应了解的是，各个检测装置也可基于先前实施例中提及的插拔组合来以
更有效率的方式完成整体的测量过程。
在其他实施例中，在取得各个插座之间的串接关系之后，可基于各插座
之间的串接关系建立测量矩阵，并化简测量矩阵以建立所述多个插座对应的
电力线拓扑。
在一实施例中，所述测量矩阵例如是：
，其中，L为所述多个插座的数量。在此测量矩阵中，当所述多个插座
中的第i个插座串接于第j个插座时，pi,j为1；而当所述多个插座中的第i个
插座未串接于第j个插座时，pi,j为0。
在将各个插座之间的串接关系表示为上述测量矩阵之后，在一实施例中，
可执行三角循环消除法以化简此测量矩阵，进而找出所述多个插座对应的电
力线拓扑。
举例而言，假设在某个空间中的插座数量为8，且依据先前教示的方式
所推得的对应于这些插座的测量矩阵为：
0 1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 1 0 0 0 0 1 1 0 1 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0 0 1 0 1 1 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 1 1 0 0 1 0 0 1 0 . ]]>
基于上述的测量矩阵，其对应的化简后测量矩阵例如是：
0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 0 0 1 0 1 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 0 0 1 0 1 0 1 0 0 0 0 0 0 1 0 . ]]>
接着，即可基于化简后测量矩阵推得对应于所述8个插座的电力线拓扑。
以化简后测量矩阵的第1列为例，由于其中的p1,4为1，因而可推得第1
个插座串接于第4个插座。再以化简后测量矩阵的第3列为例，由于其中的p3,2
以及p3,4为1，因而可推得第3个插座串接于第2及第4个插座。其余插座之
间的串接关系应可依据先前教示而推得，在此不再赘述。
在推得各个插座之间的串接关系之后，可据以推得对应于化简后测量矩
阵的电力线拓扑。
请参照图8，图8是本发明的一实施例示出的对应于化简后测量矩阵的
电力线拓扑。在本实施例中，电力线拓扑包括插座810～880，其分别可对应
于前述8个插座中的第1个至第8个插座。从图8中可看出，各个插座之间
的串接关系皆是依据化简后矩阵而示出。
综上所述，本发明提出的获得检测装置插拔组合的方法及其电子装置可
在决定特定插拔组合之后，从参考插拔组合中找出可最小化插拔次数以及最
大化插座关系的候选插拔组合。并且，所述方法可更将找到的多个候选插拔
组合整合为插拔组合次序清单，并将此插拔组合次序清单提供给使用者，进
而让使用者能够以最佳的效率完成测量所需的插座电力信息的行为。
并且，基于检测装置插拔组合次序清单所量测到的插座电力信息，本发
明提出的获得电力线拓扑方法可对应地找出各个插座之间的串接关系，并据
以推得对应于这些插座的电力线拓扑。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对
其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通
技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，
或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并
不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。