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纳米TIOSUB2/SUB涂膜厚度的测量方法.pdf

  • 上传人:Y948****062
  • 文档编号:6236491
  • 上传时间:2019-05-24
  • 格式:PDF
  • 页数:5
  • 大小:188.47KB
  • 摘要
    申请专利号:

    CN200510031491.7

    申请日:

    2005.04.28

    公开号:

    CN1673674A

    公开日:

    2005.09.28

    当前法律状态:

    撤回

    有效性:

    无权

    法律详情:

    发明专利申请公布后的视为撤回|||实质审查的生效|||公开

    IPC分类号:

    G01B21/08

    主分类号:

    G01B21/08

    申请人:

    湖南泰鑫瓷业有限公司;

    发明人:

    潘俊明

    地址:

    412200湖南省醴陵市玉屏山

    优先权:

    专利代理机构:

    株洲市长江专利事务所

    代理人:

    肖美哲;张继纲

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    内容摘要

    本发明涉及的是两种纳米TiO2涂膜厚度的测量方法。第一种是担载量法,它是将试样清洗、烘干后称重得Wo(g),待试样涂膜后再清洗、烘干、称重得W1 (g),测量涂膜试样表面积得s(cm2),用公式h=W1-Wo/s·p·d计算膜厚,式中d为已知,p可视膜密度在0.50~0.70中酌情选取。第二种是卸载量法,它是将涂膜试样清洗、烘干后称重得W1 (g),待试样溶膜后再烘干、称重得Wo(g),同时测其表面积得s(cm2),用公式h=W1-Wo/s·p·d计算膜厚,式中s与d值之选取已如上述。本发明第一种方法用于生产过程控制,第二种方法则用于涂膜产品检测。

    权利要求书

    权利要求书
    1、  纳米TiO2涂膜厚度的测量方法,其特征在于采用的是担载量法,具体步骤如下:
    A、试样清洗并于100℃下烘干10分钟,在1/10000天平上称重;
    B、对试样涂膜,80~100℃下干燥20分钟,400~600℃下煅烧2小时;
    C、清洗、烘干后称重并测量试样表面积,按下列公式计算涂膜厚度h
                      h=W1-Wo/s·p·d
    式中W1为试样涂膜后重量,Wo为试样涂膜前重量,s为试样涂膜面积,d为TiO2真密度4.0g/cm3,p为纳米TiO2的堆积致密系数,重量单位g,面积单位cm2,p取值0.50~0.70,其中致密膜取值0.70,小孔膜取值0.60,粗孔膜取值0.50。

    2、  根据权利要求1所述的纳米TiO2涂膜厚度的测量方法,其特征在于,它用于未涂膜试样涂膜后的测量即生产过程控制。

    3、  纳米TiO2涂膜厚度的测量方法,其特征在于采用的是卸载量法,具体步骤如下:
    A、将涂膜试样清洗、烘干后称重得W1;
    B、在每100ml浓硫酸中含20g过硫酸铵的溶膜液中对涂膜试样作溶膜处理。注意让溶膜液浸没烧杯中的试样,置通风橱内加热至冒烟约5分钟,冷却至室温后小心加入蒸馏水稀释,摇匀后注入100ml容量瓶中并稀释至刻度,备以过氧化氢比色法测定TiO2量时用;
    C、将试样烘干、称重并测量表面积,按下列公式计算膜层厚度h
                h=W1-Wo/s·p·d
    式中Wo为溶膜后试样重量,s为试样涂膜面积,d为TiO2的真密度4.0g/cm3,p为纳米TiO2堆集致密系数,重量单位g,面积单位cm2,p取值0.50~0.70,其中致密膜取值0.70,小孔膜取值0.60,粗孔膜取值0.50。

    4、  根据权利要求3所述的纳米TiO2涂膜厚度的测量方法,其特征在于,它用于已涂膜试样的膜厚测量即产品检验。

    说明书

    说明书纳米TiO2涂膜厚度的测量方法
    技术领域
    本发明涉及纳米TiO2涂膜厚度的测量方法。
    背景技术
    纳米TiO2涂膜厚度一般小于1μ,常见者为50~500纳米,故无法用通常的测厚方法如金相法、电阻法、超声法以及阶梯法测量,而是要用能放大20000~50000倍的扫描电子显微镜来测量,成本高不说,还颇为费时,不便作为薄膜生产中的常规控制手段。
    发明内容
    本发明的目的,是要提供全新的方法,它可方便地作为纳米TiO2涂膜生产过程的常规控制手段。
    本发明采用的第一种测量方法是担载量法,具体步骤如下:A.试样清洗置于100℃下烘干10分钟,然后在1/10000天平上称重得Wo(g);B.对试样涂膜,80~100℃下干燥20分钟,400~600℃下煅烧2小时;C.将涂膜试样清洗、烘干后称重得W1(g),测量试样表面积得s(cm2),按公式h=W1-Wo/s·p·d计算涂膜厚度(cm),式中d为TiO2真实密度4.0g/cm3,p为纳米TiO2的堆集致密系数,致密膜取值0.70,小孔(小于纳米TiO2平均粒径)膜取值0.60,粗孔(大于纳米TiO2平均粒径)取值0.50。
    此法用于未涂膜试样涂膜后地测量即生产过程控制。
    本发明采用的另一种测量方法是卸载量法。具体步骤如下:A.将涂膜试样清洗、烘干后称重得W1(g);B.溶膜,溶膜液为每100ml浓硫酸中含20g过硫酸铵,注意让溶膜液浸没烧杯中的试样,置通风橱内加热至冒烟约5分钟,冷却至室温后小心加入蒸馏水稀释,摇匀后注入100ml容量瓶并稀释至刻度,备以过氧化氢比色法测定TiO2含量时用;C.将试样烘干、称重得Wo(g)并测量其表面积s(cm2),按公式h=W1-Wo/s·p·d计算膜厚,其中p的取值范围有如第一种测量方法,即致密膜取值0.70,小孔膜-0.60,粗孔膜-0.50。
    此法用于已涂膜试样的膜厚测量即产品检验。
    具体实施方式
    一、用担载量法控制生产过程。指定线上一试样,于清洗、烘干后用万分之一天平称重得Wo(g),然后在线上涂膜(例如用提拉法)、干燥、煅烧后再清洗、烘干,第二次称重得W1(g)。用上述公式计算膜厚,若符合要求,则表明生产过程包括相关参数均可。
    二、用卸载量法检验产品。从下线产品中选取一件,清洗烘干后进行称重得W1(g),将产品在每100ml含过硫酸铵20g的溶膜液中溶膜(在通风橱中加热至冒烟再水洗)后烘干,称重得Wo(g),测量试件表面积得s(cm2),用公式h=W1-Wo/s·p·d求得膜厚h(cm),若符合要求则表明生产正常。式中d=4.0g/cm3,p取值方法已如前所述。

    关 键  词:
    纳米 TIOSUB2 SUB 厚度 测量方法
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