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绝缘层的制造方法、阵列的制造方法及阵列基板.pdf

  • 上传人:三**
  • 文档编号:6202199
  • 上传时间:2019-05-20
  • 格式:PDF
  • 页数:7
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  • 摘要
    申请专利号:

    CN201610519435.6

    申请日:

    2016.07.01

    公开号:

    CN105977148A

    公开日:

    2016.09.28

    当前法律状态:

    实审

    有效性:

    审中

    法律详情:

    实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/3105申请日:20160701|||公开

    IPC分类号:

    H01L21/3105; H01L21/768; H01L27/12; H01L21/77; G02F1/1362

    主分类号:

    H01L21/3105

    申请人:

    深圳市华星光电技术有限公司

    发明人:

    范德勇

    地址:

    518006 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号

    优先权:

    专利代理机构:

    深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280

    代理人:

    何青瓦

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    内容摘要

    本发明公开了一种绝缘层的制造方法、阵列基板的制造方法及阵列基板,其中绝缘层的制造方法包括步骤:在基板上沉积一绝缘层,对绝缘层进行曝光显影处理,得到具有开口的绝缘层;对具有开口的绝缘层进行光固化处理;对完成光固化处理的具有开口的绝缘层进行高温退火处理。采用本发明的绝缘层制造方法能够减少绝缘层开口发生变形的情况。

    权利要求书

    1.一种绝缘层的制造方法,其特征在于,所述制造方法包括以下步
    骤:
    在基板上沉积一绝缘层;
    对所述绝缘层进行曝光显影处理,得到具有开口的绝缘层;
    对具有开口的绝缘层进行光固化处理;
    对完成光固化处理的具有开口的绝缘层进行高温退火处理。
    2.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述对具有开口
    的绝缘层进行光固化处理的步骤包括:
    对具有开口的绝缘层进行紫外线固化处理。
    3.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述在基板上沉
    积一绝缘层的步骤之后包括:
    将具有绝缘层的基板在真空中放置一段时间。
    4.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述沉积一绝缘
    层后的步骤包括:
    对所述绝缘层进行烘烤处理。
    5.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述沉积一绝缘
    层的步骤包括:
    使用化学气相沉积得到一绝缘层。
    6.一种阵列基板的制造方法,其特征在于,在形成数据线和形成公
    共电极线的步骤之间包括形成绝缘层的步骤,
    所述形成绝缘层的步骤包括:
    沉积一绝缘层;
    对所述绝缘层进行曝光显影处理,得到具有开口的绝缘层;
    对具有开口的绝缘层进行光固化处理;
    对完成光固化处理的具有开口的绝缘层进行高温退火处理。
    7.根据权利要求6所述的制造方法,其特征在于,所述对具有开口
    的绝缘层进行光固化处理的步骤包括:
    对具有开口的绝缘层进行紫外线固化处理。
    8.根据权利要求6所述的制造方法,其特征在于,所述沉积一绝缘
    层的步骤之后包括:
    将沉积一绝缘层后的阵列基板在真空中放置一段时间。
    9.根据权利要求6所述的制造方法,其特征在于,所述沉积一绝缘
    层后的步骤包括:
    对所述绝缘层进行烘烤处理。
    10.一种阵列基板,其特征在于,所述阵列基板由权利要求6-9中
    任一项制造方法制得。

    说明书

    绝缘层的制造方法、阵列的制造方法及阵列基板

    技术领域

    本发明涉及面板制造领域,特别是涉及一种绝缘层的制造方法、阵
    列基板的制造方法及阵列基板。

    背景技术

    液晶面板作为主流显示面板已广泛应用到人们日常生活和工作中,
    液晶面板通常由阵列基板进行电路控制,以实现显示。阵列基板中通常
    会使用到有机绝缘层,其能够降低金属电极之间的寄生电容,以降低面
    板的功耗,还可用于使各个膜层更为平坦化,从而改善面板显示的暗态,
    提高显示的对比度。

    有机绝缘层的制造基本算是阵列基板中必不可少的工艺,而现有的
    制造工艺中,绝缘层上所形成的开口通常会出现的严重的变形,容易导
    致开口被堵住,绝缘层解析度下降的问题。

    发明内容

    本发明的目的在于提供一种绝缘层的制造方法、阵列基板的制造方
    法及阵列基板,以解决现有的制造工艺中绝缘层开口容易出现变形的情
    况。

    为解决上述问题,本发明提出一种绝缘层的制造方法,其特征在于,
    所述制造方法包括以下步骤:在基板上沉积一绝缘层;对所述绝缘层进
    行曝光显影处理,得到具有开口的绝缘层;对具有开口的绝缘层进行光
    固化处理;对完成光固化处理的具有开口的绝缘层进行高温退火处理。

    其中,所述对具有开口的绝缘层进行光固化处理的步骤包括:对具
    有开口的绝缘层进行紫外线固化处理。

    其中,所述在基板上沉积一绝缘层的步骤之后包括:将具有绝缘层
    的基板在真空中放置一段时间。

    其中,所述沉积一绝缘层后的步骤包括:对所述绝缘层进行烘烤处
    理。

    其中,所述沉积一绝缘层的步骤包括:使用化学气相沉积得到一绝
    缘层。

    为解决上述问题,本发明还提供一种阵列基板的制造方法,其中,
    在形成数据线和形成公共电极线的步骤之间包括形成绝缘层的步骤,所
    述形成绝缘层的步骤包括:沉积一绝缘层;对所述绝缘层进行曝光显影
    处理,得到具有开口的绝缘层;对具有开口的绝缘层进行光固化处理;
    对完成光固化处理的具有开口的绝缘层进行高温退火处理。

    其中,所述对具有开口的绝缘层进行光固化处理的步骤包括:对具
    有开口的绝缘层进行紫外线固化处理。

    其中,所述沉积一绝缘层的步骤之后包括:将沉积一绝缘层后的阵
    列基板在真空中放置一段时间。

    其中,所述沉积一绝缘层后的步骤包括:对所述绝缘层进行烘烤处
    理。

    为解决上述问题,本发明还提供一种阵列基板,该阵列基板由上述
    制造方法制得。

    本发明绝缘层的制造方法包括步骤:在基板上沉积一绝缘层,对绝
    缘层进行曝光显影处理,得到具有开口的绝缘层;对具有开口的绝缘层
    进行光固化处理;对完成光固化处理的具有开口的绝缘层进行高温退火
    处理。绝缘层在曝光显影得到开口后,对绝缘层进行进一步的光固化处
    理,使绝缘层发生交联反应,绝缘层的交联程度越高,在高温退火时就
    越不容易出现流动变形,因此避免了高温退火时出现流动而导致开口堵
    塞的问题。

    附图说明

    图1是本发明绝缘层的制造方法一实施方式的流程示意图;

    图2是图1所示绝缘层的制造方法一实施方式中绝缘层的结构示意
    图;

    图3是本发明阵列基板的制造方法一实施方式的流程示意图;

    图4是图3所示阵列基板的制造方法一实施方式中阵列基板的结构
    示意图;

    图5是本发明阵列基板一实施方式的结构示意图。

    具体实施方式

    为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案,下面结合附
    图和具体实施方式对发明所提供的一种绝缘层的制造方法、阵列基板的
    制造方法及阵列基板做进一步详细描述。

    参阅图1和图2,图1是本发明绝缘层的制造方法一实施方式的流
    程示意图,图2是图1所示绝缘层的制造方法一实施方式中绝缘层的结
    构示意图。

    本实施方式绝缘层的制造方法包括以下步骤。

    S101:在基板上沉积一绝缘层。

    本实施方式绝缘层20的制造是阵列基板制造中的一个工艺,本步
    骤中基板10不是指阵列基板中单一的某一层,而是指包括玻璃基板、
    金属层等的广义概念。本步骤中绝缘层20由化学气相沉积形成在基板
    10上。

    化学气相沉积中一般有溶剂的挥发步骤,本实施方式中将沉积了绝
    缘层20的基板10于真空中放置一段时间,以加快溶剂的挥发。还可进
    一步的对绝缘层20进行烘烤处理。

    S102:对绝缘层进行曝光显影处理,得到具有开口的绝缘层。

    利用光罩对绝缘层20进行曝光显影处理,得到具有开口21的绝缘
    层20。本实施方式中绝缘层20为负型,即采用遮住开口21的光罩实现
    曝光显影,未被光照到的开口21被刻蚀,而被光照到的其他部分能够
    发生轻微的交联反应。

    S103:对具有开口的绝缘层进行光固化处理。

    本步骤S103中采用紫外线对绝缘层20进行光固化处理,即使得具
    有开口21的绝缘层20进一步的发生交联反应,绝缘层20能够进一步
    的被固化,而不容易发生变形流动。

    S104:对完成光固化处理的具有开口的绝缘层进行高温退火处理。

    本步骤S104中的高温退火处理能够使绝缘层20充分交联,并且由
    于步骤S103中已经对绝缘层20做了一定的固化,因此本步骤S104中
    的高温对绝缘层20的影响较小,使开口21处的绝缘层材料变形回流变
    得轻微,从而减少开口21堵塞等问题。

    本发明绝缘层的制造方法包括步骤:在基板上沉积一绝缘层,对绝
    缘层进行曝光显影处理,得到具有开口的绝缘层;对具有开口的绝缘层
    进行光固化处理;对完成光固化处理的具有开口的绝缘层进行高温退火
    处理。绝缘层在曝光显影得到开口后,对绝缘层进行进一步的光固化处
    理,使绝缘层发生交联反应,绝缘层的交联程度越高,在高温退火时就
    越不容易出现流动变形,因此避免了高温退火时出现流动而导致开口堵
    塞的问题。

    请参阅图3和图4,图3是本发明阵列基板的制造方法一实施方式
    的流程示意图,图4是图3所示阵列基板的制造方法一实施方式中阵列
    基板的结构示意图。

    本实施方式阵列基板的制造方法包括以下步骤。

    S301:在一基板上形成数据线。

    S302:在数据线上形成绝缘层。

    S303:在绝缘层上形成公共电极线。

    本实施方式得到的阵列基板400中绝缘层42形成在数据线41与公
    共电极线43之间,而数据线41即公共电极线43的形成的先后顺序并
    不做限定,即本实施方式中步骤S301及S303可以对换,先形成公共电
    极线43,然后形成绝缘层42,最后形成数据线41,具体采用哪种方式
    需根据阵列基板的结构确定。

    本实施方式中数据线与绝缘层之间还形成有材料为氮化硅(SiNx)
    的钝化层44。步骤S301形成数据线之前进一步包括步骤:在玻璃基板
    45上形成栅极层46以及栅极绝缘层47。

    其中步骤S302为形成绝缘层42,具体包括步骤:1)沉积一绝缘层,
    并将沉积一绝缘层后的阵列基板在真空中放置一段时间,且对绝缘层进
    行烘烤处理;2)对绝缘层进行曝光显影处理,得到具有开口421的绝
    缘层42;3)对具有开口421的绝缘层42进行紫外线光固化处理;4)
    对完成光固化处理的具有开口421的绝缘层42进行高温退火处理。本
    步骤S302与上述实施方式绝缘层的制造方法类似,具体不再赘述。

    通过本发明阵列基板的制造方法所得到的阵列基板中绝缘层在曝
    光显影得到开口后,进行高温退火之前对其实施光固化处理,使其在高
    温退火时受到高温作用发生变形的程度变小。阵列基板中开口的质量较
    高,相应的阵列基板的质量也较高。

    请参阅图5,图5是本发明阵列基板一实施方式的结构示意图。

    本实施方式阵列基板500由上述实施方式阵列基板的制造方法制
    得。

    具体来说,本实施方式阵列基板500包括玻璃基板51,在玻璃基板
    51上依次形成的栅极层52、栅极绝缘层53、数据线54、钝化层55、绝
    缘层56以及公共电极57。其中绝缘层56在曝光显影得到开口561后,
    进一步进行光固化处理,然后进行高温退火。

    在其他实施方式中,栅极层52、数据线54以及公共电极57的位置
    关系可以根据阵列基板500的类型确定,例如在某些阵列基板中,栅极
    层52与公共电极57同层设置,因此本发明中对于栅极层52、数据线
    54以及公共电极57的位置关系不做限制。

    以上所述仅为本发明的实施方式,并非因此限制本发明的专利范
    围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变
    换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的
    专利保护范围内。

    关 键  词:
    绝缘 制造 方法 阵列
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