一种检测设备及方法.pdf

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1、(10)申请公布号 CN 103558699 A (43)申请公布日 2014.02.05 CN 103558699 A (21)申请号 201310559747.6 (22)申请日 2013.11.12 G02F 1/13(2006.01) (71)申请人 合肥京东方光电科技有限公司 地址 230012 安徽省合肥市新站区铜陵北路 2177 号 申请人 京东方科技集团股份有限公司 (72)发明人 凌杰 陈霖东 金用燮 刘晓涛 (74)专利代理机构 北京路浩知识产权代理有限 公司 11002 代理人 李迪 (54) 发明名称 一种检测设备及方法 (57) 摘要 本发明公开了一种检测设备及方法，。

2、 其中检 测设备包括 ： 下固定单元、 上固定单元和检测机 台， 下固定单元用于固定下偏光片， 上固定单元用 于固定上偏光片， 下固定单元和上固定单元安装 在检测机台上， 待检测面板置于上偏光片和下偏 光片之间， 压合之后上偏光片和 / 或下偏光片与 待检测面板之间全接触。通过下固定单元和上 固定单元分别固定下偏光片和上偏光片， 压合后 实现全接触， 对上下偏光片中间的待检测面板， 在 通入信号前检查出待检测表面上存在的异物类不 良， 通入信号后再检查出其它不良， 如亮度不均匀 的问题。利用该检测设备检测过程中不会浪费大 量的偏光片， 可以节省成本， 同时将存在异物类不 良或者是存在亮度不均匀。

3、的面板及时检测出来。 (51)Int.Cl. 权利要求书 2 页 说明书 6 页 附图 3 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书2页 说明书6页 附图3页 (10)申请公布号 CN 103558699 A CN 103558699 A 1/2 页 2 1. 一种检测设备， 其特征在于， 包括 ： 下固定单元、 上固定单元和检测机台， 所述下固 定单元用于固定下偏光片， 所述上固定单元用于固定上偏光片， 所述下固定单元和所述上 固定单元安装在所述检测机台上， 待检测面板置于上偏光片和下偏光片之间， 压合之后所 述上偏光片和 / 或所述下偏光片与所述待检测面板。

4、之间全接触。 2. 如权利要求 1 所述的检测设备， 其特征在于， 所述下固定单元包括固定板和第一压 合板， 所述固定板上设置有第一固定槽， 用于安装所述下偏光片， 且所述第一压合板上设置 有观察窗， 所述观察窗的位置与所述第一固定槽的位置相对应。 3. 如权利要求 2 所述的检测设备， 其特征在于， 所述固定板和所述第一压合板之间通 过铰链方式连接。 4. 如权利要求 2 所述的检测设备， 其特征在于， 所述上固定单元包括第二压合板， 所述 第二压合板上设置有第二固定槽， 用于安装所述上偏光片， 且所述第二固定槽的位置与所 述观察窗和 / 或所述第一固定槽的位置相对应。 5. 如权利要求 4。

5、 所述的检测设备， 其特征在于， 所述上固定单元还包括短接端子， 将所 述待检测面板置于所述第一压合板和所述第二压合板之间后， 所述短接端子与所述待检测 面板实现全接触。 6. 如权利要求 2 所述的检测设备， 其特征在于， 所述上偏光片和所述下偏光片的大小 不小于所述观察窗的大小， 且所述观察窗的大小不小于所述待检测面板的大小。 7. 如权利要求 1-6 中任一项所述的检测设备， 其特征在于， 还包括信号发生器和信号 控制器， 所述信号发生器用于产生并输入信号， 所述信号控制器用于控制所述信号发生器 产生不同的信号。 8. 如权利要求 7 所述的检测设备， 其特征在于， 还包括背光源和背光源。

6、控制器， 所述背 光源包括第一背光源和第二背光源， 所述第一背光源用于无信号输入时使用的背光源， 所 述第二背光源用于有信号输入时使用的背光源， 所述背光源控制器根据是否有信号输入控 制所述第一背光源和所述第二背光源之间的切换。 9. 一种基于权利要求 1-8 所述的检测设备的检测方法， 其特征在于， 包括 ： 将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间 ； 通过压合实现上偏光片和下偏光片与所述带检测面板之间全接触 ； 通入不同的信号对所述待检测面板进行检测， 根据检测结果检测出成盒不良的待检测 基板。 10. 如权利要求 9 所述的检测方法， 其特征在于， 所述将待检测面板放置在上固定单元。

7、 和下固定单元之间具体包括 ： 将下偏光片安装在下固定单元中固定板的第一固定槽中， 第一压合板折合到所述固定 板上进行压合 ； 将待检测面板放置在所述下偏光片上 ； 将上偏光片安装在上固定单元中第二压合板的第二固定槽中， 并进行压合。 11. 如权利要求 10 所述的检测方法， 其特征在于， 所述第一固定槽的位置对应于第一 压合板上观察窗的位置， 所述第一压合板折合到所述固定板上之后， 通过所述观察窗观察 到所述下偏光片。 12. 如权利要求 11 所述的检测方法， 其特征在于， 所述第二固定槽的位置与所述得到 权 利 要 求 书 CN 103558699 A 2 2/2 页 3 观察窗和所述。

8、第一固定槽的位置也相对应。 13. 如权利要求 9 所述的检测方法， 其特征在于， 所述上固定单元还包括短接端子， 将 所述待检测面板置于所述第一压合板和所述第二压合板之间后， 所述短接端子与所述待检 测面板实现全接触。 14. 如权利要求 9 所述的检测方法， 其特征在于， 所述上偏光片和所述下偏光片的大小 不小于所述观察窗的大小， 且所述观察窗的大小不小于所述待检测面板的大小。 15. 如权利要求 13 所述的检测方法， 其特征在于， 在所述信号控制器的控制下， 所述信 号发生器产生不同信号， 并通过通入不同的信号对待检测面板进行检测。 16. 如权利要求 11 所述的检测方法， 其特征在。

9、于， 在不输入信号的情况下， 打开背光 源， 通过所述观察窗检测出待检测面板表面的异物类不良 ； 输入信号后， 打开背光源， 通过 所述观察窗检测出待检测面板亮度不均匀的不良。 权 利 要 求 书 CN 103558699 A 3 1/6 页 4 一种检测设备及方法 技术领域 0001 本发明涉及显示技术领域， 特别涉及一种检测设备及方法。 背景技术 0002 在液晶显示器件的加工过程中， 由于 Pad 区域空间有限， 目前小尺寸产品的接线 间隔余量 （Pad Pitch Margin） 行业设计标准在 10 20um 之间， 而全接触 （Full Contact） 设计的垫片间距边缘的尺寸需。

10、要在 20um 以上， 可见 10 20um 垫片间距边缘无法满足全接 触设计的要求。目前行业内多普遍要求达到 FHD（Full High Definition， 全高清） 分辨率 标准即 1920*1080， 以 10.1 英寸与 32 英寸为例， 两者 Pad 区大小差距很大， 但所需要布线 的数量一致， 故两者相应的线粗细等存在较大差距。全接触主要使用 Blade 与 Pad 区走线 接触达到信号传递的目的， 其中 Blade 是一种高精度的刀片， Pad 是显示屏信号接入端子， 将信号发生器所产生的信号借由一系列的结构， 最终通过刀片与信号接入端子的接触， 导 入显示屏， 完成信号传递。

11、。全接触的对位方式为光学对位， 该对位方式本身存在一定量的 精度误差， 再加之 10.1 英寸的走线较细， 故容易出现 Blade 与线路缺失的状态， 无法正确 传递信号， 而 32 英寸则走线较粗， 可以包含此误差， 所以目前行业内对小尺寸产品均采用 shorting bar模式进行检测， 因此目前行业内普遍使用短接端子 （Shorting Bar） 设计进行 成盒检测。 但是对于短接端子设计方法中， 不可避免地存在线阻， 在成盒检测阶段无法避免 由于线阻带来的信号衰减， 给产品添加信号后出现灰度差异， 造成无法正确检出 Mura 类不 良 （即面板亮度不均匀） 。 0003 另一个方面， 。

12、对于小尺寸产品而言， 由于近几年行业内高 PPI（Pixels Per Inch， 每英寸的像素数目） 的发展趋势， 像素 （Pixel） 越做越小。 按照目前行业内的通常做法， 在成 盒阶段对于微粒等异物类不良无法有效将其检出， 而是需要在背光模组进行偏光片贴附后 才能将其检出， 这样对于存在异物类不良的面板就造成偏光片资源浪费， 加大了产业成本。 0004 综上所述， 对于小尺寸的液晶屏产品在对盒检测阶段无法将 Mura 类不良和异物 类不良及时检测出来， 并且检测过程中浪费大量偏光片。 发明内容 0005 （一） 要解决的技术问题 0006 本发明要解决的技术问题是如何在不浪费偏光片的情。

13、况下， 及时将液晶屏产品表 面存在的 Mura 类不良和异物类不良检测处来。 0007 （二） 技术方案 0008 为解决上述技术问题， 本发明提供了一种检测设备， 包括 ： 下固定单元、 上固定单 元和检测机台， 所述下固定单元用于固定下偏光片， 所述上固定单元用于固定上偏光片， 所 述下固定单元和所述上固定单元安装在所述检测机台上， 待检测面板置于上偏光片和下偏 光片之间， 压合之后所述上偏光片和 / 或所述下偏光片与所述待检测面板之间全接触。 0009 进一步地， 所述下固定单元包括固定板和第一压合板， 所述固定板上设置有第一 说 明 书 CN 103558699 A 4 2/6 页 5。

14、 固定槽， 用于安装所述下偏光片， 且所述第一压合板上设置有观察窗， 所述观察窗的位置与 所述第一固定槽的位置相对应。 0010 进一步地， 所述固定板和所述第一压合板之间通过铰链方式连接。 0011 进一步地， 所述上固定单元包括第二压合板， 所述第二压合板上设置有第二固定 槽， 用于安装所述上偏光片， 且所述第二固定槽的位置与所述观察窗和 / 或所述第一固定 槽的位置相对应。 0012 进一步地， 所述上固定单元还包括短接端子， 将所述待检测面板置于所述第一压 合板和所述第二压合板之间后， 所述短接端子与所述待检测面板实现全接触。 0013 进一步地， 所述上偏光片和所述下偏光片的大小不小。

15、于所述观察窗的大小， 且所 述观察窗的大小不小于所述待检测面板的大小。 0014 进一步地， 还包括信号发生器和信号控制器， 所述信号发生器用于产生并输入信 号， 所述信号控制器用于控制所述信号发生器产生不同的信号。 0015 进一步地， 还包括背光源和背光源控制器， 所述背光源包括第一背光源和第二背 光源， 所述第一背光源用于无信号输入时使用的背光源， 所述第二背光源用于有信号输入 时使用的背光源， 所述背光源控制器根据是否有信号输入控制所述第一背光源和所述第二 背光源之间的切换。 0016 为解决上述技术问题， 本发明还提供了一种基于上述检测设备的检测方法， 包 括 ： 0017 将待检测。

16、面板放置在上固定单元和下固定单元之间 ； 0018 通过压合实现上偏光片和下偏光片与所述带检测面板之间全接触 ； 0019 通入不同的信号对所述待检测面板进行检测， 根据检测结果检测出成盒不良的待 检测基板。 0020 进一步地， 所述将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间具体包括 ： 0021 将下偏光片安装在下固定单元中固定板的第一固定槽中， 第一压合板折合到所述 固定板上进行压合 ； 0022 将待检测面板放置在所述下偏光片上 ； 0023 将上偏光片安装在上固定单元中第二压合板的第二固定槽中， 并进行压合。 0024 进一步地， 所述第一固定槽的位置对应于第一压合板上观察窗的位置。

17、， 所述第一 压合板折合到所述固定板上之后， 通过所述观察窗观察到所述下偏光片。 0025 进一步地， 所述第二固定槽的位置与所述得到观察窗和所述第一固定槽的位置也 相对应。 0026 进一步地， 所述上固定单元还包括短接端子， 将所述待检测面板置于所述第一压 合板和所述第二压合板之间后， 所述短接端子与所述待检测面板实现全接触。 0027 进一步地， 所述上偏光片和所述下偏光片的大小不小于所述观察窗的大小， 且所 述观察窗的大小不小于所述待检测面板的大小。 0028 进一步地， 在所述信号控制器的控制下， 所述信号发生器产生不同信号， 并通过通 入不同的信号对待检测面板进行检测。 0029 。

18、进一步地， 在不输入信号的情况下， 打开背光源， 通过所述观察窗检测出待检测面 板表面的异物类不良 ； 输入信号后， 打开背光源， 通过所述观察窗检测出待检测面板亮度不 说 明 书 CN 103558699 A 5 3/6 页 6 均匀的不良。 0030 （三） 有益效果 0031 本发明实施例提供的一种检测设备及方法， 其中检测设备包括 ： 下固定单元、 上固 定单元和检测机台， 下固定单元用于固定下偏光片， 上固定单元用于固定上偏光片， 下固定 单元和上固定单元安装在检测机台上， 待检测面板置于上偏光片和下偏光片之间， 压合之 后上偏光片和 / 或下偏光片与待检测面板之间全接触。通过下固定。

19、单元和上固定单元分别 固定下偏光片和上偏光片， 压合后实现全接触， 对上下偏光片中间的待检测面板， 在通入信 号前检查出待检测表面上存在的异物类不良， 通入信号后再检查出其它不良， 如亮度不均 匀的问题。 利用该检测设备检测过程中不会浪费大量的偏光片， 可以节省成本， 同时将存在 异物类不良或者是存在亮度不均匀的面板及时检测出来。同时， 本发明还提供了一种基于 上述检测设备的检测方法， 实现对待检测面板成盒阶段存在的异物类不良以及亮度不均匀 的问题进行及时检测。 附图说明 0032 图 1 是本发明实施例一中提供的一种检测设备的结构示意图 ； 0033 图 2 是本发明实施例一中提供的下固定单。

20、元处于打开状态下的结构示意图 ； 0034 图 3 是本发明实施例一中提供的下固定单元处于压合状态下的结构示意图 ； 0035 图 4 是本发明实施例一中提供的上固定单元的结构示意图 ； 0036 图 5 是本发明实施例二中提供的一种检测方法的步骤流程图 ； 0037 图 6 是本发明实施例二中步骤 S1 的步骤流程图。 具体实施方式 0038 下面结合附图和实施例， 对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施 例用于说明本发明， 但不用来限制本发明的范围。 0039 在面板成盒阶段对其进行的检测， 主要是根据光的波动特性来实现的。对于已完 成贴附偏光片的面板， 通过在面板下方打开背光源。

21、进行检测， 由于下偏光片对入射光具有 起偏作用， 面板中的液晶分子在电压场作用下具有旋光性， 入射光经过面板中液晶的旋光 作用后改变传播方向从上偏光片传出， 在人眼中形成画面进行不良检出， 可能存在的异物 误判影响只有偏光片表面的异物， 所以能够将异物类不良检测出来， 并通过擦拭可以排除 其影响。 0040 但是在对盒测试阶段， 一般基于成本的考虑是不会在面板上贴附偏光片之后再进 行检测的， 因为一旦检测出面板不合格， 则已经贴附在面板上的偏光片就作废了， 造成偏光 片的浪费。 所以在对盒测试阶段的检测， 一般是手动将上下偏光片贴附在白玻璃上， 中间放 面板进行检测， 但是由于贴附了玻璃， 导。

22、致偏光片无法与面板接触， 存在一定量的间隙， 这 样在像素较小时加上白玻璃造成的透光率下降， 这几厘米的间隙会导致异物类不良和 Mura 类不良。另外， 贴附过程中存在的偏光片与玻璃中间的微小颗粒以及玻璃与面板之间的微 小颗粒， 在最终测试时与面板内部的异物类不良现象极为类似， 最终导致操作员无法分辨， 难以检出。 0041 实施例一 说 明 书 CN 103558699 A 6 4/6 页 7 0042 本发明实施例一中提供了一种检测设备， 组成示意图如图 1 所示， 具体包括 ： 下固 定单元10、 上固定单元20和检测机台， 下固定单元10用于固定下偏光片， 上固定单元20用 于固定上偏。

23、光片， 下固定单元10和上固定单元20安装在检测机台上， 待检测面板置于上偏 光片和下偏光片之间， 压合之后上偏光片和 / 或下偏光片与待检测面板之间全接触。 0043 通过上述检测设备， 实现偏光片与待检测面板之间的全接触， 在通入信号之前和 之后， 通过打开背光源实现被待检测面板存在的衣物类不良和 Mura 类不良的实时检测。 0044 优选地， 本实施例中的下固定单元 10 的结构示意图如图 2 所示， 具体包括固定板 11 和第一压合板 12， 固定板 11 上设置有第一固定槽 13， 用于安装下偏光片， 且第一压合板 12 上设置有观察窗 14， 观察窗 14 的位置与第一固定槽 1。

24、3 的位置相对应。通过观察窗可以 看到第一固定槽中安装的下偏光片。 0045 进一步地， 本实施中的固定板 11 和第一压合板 12 之间通过铰链方式连接。图 2 中示出的是第一压合板打开时的状态， 将其压合到固定板上时示意图如图 3 所示。压盒之 后只能看到第一压合板和通过观察窗看到的下偏光片。 0046 优选地， 本实施中的上固定单元20的结构示意图如图4所示， 包括第二压合板21， 第二压合板 21 上设置有第二固定槽 22， 用于安装上偏光片， 且第二固定槽 22 的位置与观 察窗 14 和 / 或第一固定槽 13 的位置相对应。另外， 上固定单元 20 还包括短接端子 （在图 4中未。

25、示出） ， 将待检测面板置于第一压合板12和第二压合板21之间后， 短接端子与待检测 面板实现全接触。 0047 需要说明的是， 本实施例中的上偏光片和下偏光片的大小不小于观察窗的大小， 且上述观察窗的大小不小于待检测面板的大小。另外， 上下偏光片的大小不能大于检测机 台的大小。 0048 进一步地， 本实施例中的检测设备还包括信号发生器和信号控制器 （图 1 中未示 出） ， 信号发生器用于产生并输入信号， 信号控制器用于控制信号发生器产生不同的信号。 0049 进一步地， 本实施例中的检测设备还包括背光源和背光源控制器 （图1中未示出） ， 背光源包括第一背光源和第二背光源， 第一背光源用。

26、于无信号输入时使用的背光源， 第二 背光源用于有信号输入时使用的背光源， 背光源控制器根据是否有信号输入控制第一背光 源和第二背光源之间的切换。 0050 本发明实施例检测设备中的信号控制器， 能够控制图形发生器输入信号， 在五信 号输入的状态下， 检测出 ADS 模式的异物类不良和 Mura 类不良。对于超级边缘场开关显示 技术 ADS 以及超高透过率超级长边缘开关显示技术 HADS 产品， 在已贴附偏光片的状态下， 如果将背光源打开且不加信号， 也就是打开第一背光源， 正常状态下由于未加信号， 液晶分 子不进行偏转， 则背光源的光源无法透过面板， 通过观察窗观察的状态为全黑。 此时如果面 。

27、板内部有微小颗粒等异物或者取向等工序异常， 会导致液晶的排布出现异常， 出现与正常 液晶排布不同的亚像素液晶， 在未加信号的状态下也会将背光源光方向发生改变， 观察窗 观察到的就是该像素有发亮的现象， 从而进行不良拦截。 需要说明的是， 因为液晶分子排布 异常有时并不明显， 一般将背光源的亮度调整至正常的两倍以上方明显可见， 所以需要使 用背光源控制器对有信号和无信号的两种状态下的背光源进行控制， 在未添加信号时背光 源亮度高， 而添加信号时将其亮度减少， 进行其他类不良的检查， 本实施例中是以检查 Mura 不良为例进行说明的。 说 明 书 CN 103558699 A 7 5/6 页 8 。

28、0051 综上所述， 通过使用实施例一提供的检测设备， 具有以下优点 ： 0052 1. 无需将偏光片贴附在玻璃上， 可排除偏光片与玻璃之间的微小颗粒影响 ； 0053 2. 偏光片更换容易且方便擦拭 ； 0054 3. 由于去除了白玻璃的影响， 更高的透光率可保障， 并且偏光片可以紧贴面板表 面， 实现全接触， 使得基本能够达到与偏光片贴附完成后相同的检测结果。 0055 实施例二 0056 本发明实施例二提供了一种检测方法， 步骤流程图如图 5 所示， 具体包括以下步 骤 ： 0057 步骤 S1、 将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间。 0058 步骤 S2、 通过压合实现上偏光。

29、片和下偏光片与带检测面板之间全接触。 0059 步骤 S3、 通入不同的信号对待检测面板进行检测， 根据检测结果检测出成盒不良 的待检测基板。 0060 基于上述方法， 将上偏光片和下偏光片与二者之间的面板进行距离为零的压盒， 达到全接触的效果， 即与偏光片贴附完成之后的效果相同。由于检测过程中并没有真正的 完成偏光片贴附， 因此没有造成偏光片的浪费， 还能及时检测出面板上存在的异物类不良 以及 Mura 类不良。 0061 优选地， 步骤 S1 中将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间的步骤流 程图如图 6 所示， 具体包括以下步骤 ： 0062 步骤 S11、 将下偏光片安装在下固定。

30、单元中固定板的第一固定槽中， 第一压合板折 合到固定板上进行压合。 0063 步骤 S12、 将待检测面板放置在下偏光片上。 0064 步骤 S13、 将上偏光片安装在上固定单元中第二压合板的第二固定槽中， 并进行压 合。 0065 其中， 第一固定槽的位置对应于第一压合板上观察窗的位置， 第一压合板折合到 固定板上之后， 通过观察窗观察到下偏光片。并且第二固定槽的位置与得到观察窗和第一 固定槽的位置也相对应。 0066 进一步地， 本实施例中的上固定单元除了第二压合板和第二固定槽之外， 还包括 短接端子， 将待检测面板置于第一压合板和第二压合板之间后， 短接端子与待检测面板实 现全接触。 0。

31、067 优选地， 本实施例中的上偏光片和下偏光片的大小不小于观察窗的大小， 且观察 窗的大小不小于待检测面板的大小。 0068 检测时， 需要在信号控制器的控制下， 信号发生器产生不同信号， 并通过通入不同 的信号对待检测面板进行检测。 在不输入信号的情况下， 打开背光源， 通过观察窗检测出待 检测面板表面的异物类不良 ； 输入信号后， 打开背光源， 通过观察窗检测出待检测面板亮度 不均匀的不良。 0069 对于上述过程的简单流程描述如下 ： 0070 将下偏光片设置在固定板上 ； 将第一压合板翻转， 压合下偏光片 ； 放置待检测面 板 ； 放置第二压合板以及上偏光片 ； 接入不同的信号进行检。

32、测 （包括任何信号都不接入的 情况） 。 说 明 书 CN 103558699 A 8 6/6 页 9 0071 综上所述， 采用本实施例提供的检测方法， 在不会浪费大量的偏光片的前提下， 对 上偏光片和下偏光片进行压合， 实现全接触， 模拟偏光片贴附完成之后的效果， 通过背光源 以及是否加入信号实现对面板的检测， 将存在异物类不良或者是存在亮度不均匀的面板及 时检测出来。 0072 以上实施方式仅用于说明本发明， 而并非对本发明的限制， 有关技术领域的普通 技术人员， 在不脱离本发明的精神和范围的情况下， 还可以做出各种变化和变型， 因此所有 等同的技术方案也属于本发明的范畴， 本发明的专利保护范围应由权利要求限定。 说 明 书 CN 103558699 A 9 1/3 页 10 图 1 图 2 说 明 书 附 图 CN 103558699 A 10 2/3 页 11 图 3 图 4 图 5 说 明 书 附 图 CN 103558699 A 11 3/3 页 12 图 6 说 明 书 附 图 CN 103558699 A 12 。