一种调试电路、调试装置、调制系统和一种电子设备技术领域
本发明涉及电路设计技术领域，具体涉及一种调试电路、调试装置、调制系统和一
种电子设备。
背景技术
目前，很多电子产品都趋向于小型化、防水等方向发展，会取消外露的USB接口、仅
保留SD卡槽，虽然产品的电路板上会预留测试点，但是在产品组成整机后，这些测试点通常
会包裹在整机内，不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作。
发明内容
本发明提供了一种调试电路、调试装置、调制系统和一种电子设备，以解决在电子
产品外部仅预留SD卡槽的情况下，由于电路板上预留的测试点被包裹在整机内，不便于进
行产品整机的研发调试、产线测试等工作的问题。
根据本发明的一个方面，本发明提供了一种调试电路，包括控制芯片、链路切换单
元和SD卡座；
所述控制芯片，用于监测所述SD卡座中是否插入SD卡；
所述链路切换单元，用于当所述控制芯片监测到所述SD卡座中未插入SD卡时，将
所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通，并将所述控制芯片上用于
与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开；当所述控制芯片监测到所述SD卡座
中插入了SD卡时，将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开，并将
所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通。
根据本发明的另一个方面，本发明提供了一种调试装置，包括用于插入SD卡座的
转接板，以及与所述转接板相连的USB连接器；
所述转接板上设置有DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚，当所述转接板插
入SD卡座时，所述DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚分别连接所述SD卡座的DATA0
引脚、DATA1引脚和DATA2引脚；
所述转接板与SD卡座接触的一端经过切角处理，使所述转接板插入SD卡座后，SD
卡座的CD引脚的信号为高电平；
所述USB连接器的VUBS引脚接所述转接板的DATA2_1引脚，所述USB连接器的D+引
脚接所述转接板的DATA0_1引脚，所述USB连接器的D-引脚接所述转接板的DATA1_1引脚。
根据本发明的又一个方面，本发明提供了一种电子设备，包括上述的调试电路。
根据本发明的再一个方面，本发明提供了一种调试系统，包括上述调试电路，以及
上述调试装置；
当所述单刀双掷开关的可动端连接第一不动端时，所述调试系统进入功能调试模
式/固件升级模式；
当所述单刀双掷开关的可动端连接第二不动端时，所述调试系统进入固件升级模
式/功能调试模式。
本发明的有益效果是：本发明实施例将控制芯片的SD卡信号与USB信号进行复用，
当控制芯片检测到SD卡座中插入SD卡时，链路切换单元将控制芯片上用于与SD卡进行数据
通信的引脚连接到SD卡座，此时控制芯片可以对SD卡进行正常的读写操作；当控制芯片检
测到SD卡座中未插入SD卡时，链路切换单元将控制芯片上用于调试的引脚连接到SD卡座，
此时可以通过SD卡座对产品整机进行调试，解决了在电子产品外部仅预留SD卡槽的情况
下，由于电路板上预留的测试点被包裹在整机内，因而不便于进行产品整机的研发调试、产
线测试等工作的问题。
附图说明
图1是本发明一个实施例提供的一种调试电路的电路原理图；
图2是本发明一个实施例提供的一种调试装置的电路原理图；
图3是本发明一个实施例提供的一种电子设备的功能框图；
图4是本发明一个实施例提供的一种调试系统的功能框图。
具体实施方式
本发明的设计构思是：很多电子产品向于小型化、防水等方向发展，外部仅预留SD
卡槽，电路板上预留的测试点都被包裹在整机内，不便于进行产品整机的研发调试、产线测
试等工作。针对这种情况，本发明将控制芯片的SD卡信号与USB信号进行复用，当SD卡座插
入SD卡时，将控制芯片上用于与SD卡进行数据通信的引脚连接到SD卡座，控制芯片可以对
SD卡进行正常的读写操作；当SD卡座未插入SD卡时，将控制芯片上用于调试的引脚连接到
SD卡座，此时将调试装置插入SD卡座就可以对产品整机进行调试，并且还可以通过调试装
置上的开关选择不同的模式。
实施例一
图1是本发明一个实施例提供的一种调试电路的电路原理图，如图1所示，本实施
例提供的调试电路包括控制芯片U1、链路切换单元和SD卡座J2。
控制芯片U1监测SD卡座J2中是否插入SD卡。当控制芯片U1监测到SD卡座J2中未插
入SD卡时，链路切换单元将控制芯片U1上用于调试的引脚与SD卡座J2的相应引脚接通，并
将控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的引脚与SD卡座J2的相应引脚断开，此时控制芯片U1
上用于调试的引脚通过SD卡座J2引到产品外部，上位机可以通过SD卡座J2与控制芯片U1建
立连接，进行产品整机的相关调试工作。
当控制芯片U1监测到SD卡座J2中插入了SD卡时，链路切换单元将控制芯片U1上用
于调试的引脚与SD卡座J2的相应引脚断开，并将控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的引脚
与SD卡座J2的相应引脚接通，此时控制芯片U1可以正常读写SD卡。
当SD卡插入SD卡座中时，SD卡的一个角顶在CD引脚的位置，使SD卡座的CD引脚拉
低为低电平，因此在优选实施例中，控制芯片U1通过检测SD卡座J2的CD引脚的信号判断SD
卡座J2中是否插入SD卡：当检测到SD卡座J2的CD引脚的信号为高电平时，控制芯片U1判断
SD卡座J2中未插入SD卡，并向链路切换单元发送高电平的控制信号；当检测到SD卡座J2的
CD引脚的信号为高电平时，控制芯片U1判断SD卡座J2中插入了SD卡，并通过SEL0脚向链路
切换单元发送低电平的控制信号。
优选地，链路切换单元包括两个双通道单刀双掷开关：第一开关U2和第二开关U3。
第一开关U2的第一输入通道CH1接控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的D0引脚和D1引脚，
第一开关U2的第二输入通道CH2接控制芯片U1上用于调试的USB_DP引脚和USB_DM引脚，第
一开关U2的输出通道OUTPUT接SD卡座J2的DATA0引脚和DATA1引脚。第二开关U3的第一输入
通道CH1接控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的D3引脚和D4引脚，第二开关U3的第二输入
通道CH2接控制芯片U1上用于调试的DETECT_VBUS引脚和Update引脚，第二开关U3的输出通
道OUTPUT接SD卡座J2的DATA2引脚和DATA3引脚。
当SD卡座J2未插入SD卡时，第一开关U2和第二开关U3的SEL1脚接地，控制端SEL0
通过电阻R3接VCC，被拉高，第一开关U2和第二开关U3的第一输入通道CH1关闭，第二输入通
道CH2开启，控制芯片U1上用于进行调试工作的Update、USB_DP、USB_DM、DETECT_VBUS四个
引脚被接通到SD卡座J2上。当SD卡座J2插入SD卡时，控制芯片U1检测到SD卡座的CD引脚的
电平被拉低后，将第一开关U2和第二开关U3的控制端SEL0拉低，控制芯片U1上用于与SD卡
进行数据通信的D0、D1、D2、D3四个引脚被接通到SD卡座J2上。
优选地，本实施例提供的调试电路还包括一个预留USB连接器J1，USB连接器J1的
VBUS引脚接控制芯片U1的DETECT_VBUS引脚，USB连接器的D+引脚和D-引脚分别接控制芯片
U1的USB_DP引脚和USB_DM引脚，USB连接器J1的GND引脚接地。在链路切换单元出现故障等
情况下，可以将产品整机拆开，通过USB连接器J1进行产品的调试。
本实施例中，控制芯片U1为Ambarella(安霸)DSP芯片，安霸是目前高端视频方案
解决供应商，很多高端视频设备都是使用安霸解决方案，特别是现在市场前景比较好的运
动相机、无人机等产品。这些产品大多数仅在设备外部保留唯一的输入输出接口，即SD卡
座，将本实施例提供的调试电路应用到这类产品中，即可方便地通过SD卡座对产品整机进
行调试工作。
实施例二
图2是本发明一个实施例提供的一种调试装置的电路原理图，如图2所示，本实施
例提供的调试装置包括用于插入SD卡座的转接板，以及与转接板相连的USB连接器J3。
转接板上设置有DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚，当转接板插入SD卡座
时，转接板的DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚分别连接SD卡座J2的DATA0引脚、
DATA1引脚和DATA2引脚。本实施例中，转接板与普通的SD卡外形相同，但是在与SD卡座J2接
触的一端(左下角)经过切角处理。当普通的SD卡插入SD卡座中时，SD卡的左下角顶在SD卡
座CD引脚的位置，使SD卡座的CD引脚拉低为低电平。本实施的转接板左下角做了切角处理，
使得转接板插入SD卡座后，SD卡座的CD引脚的信号为高电平，系统会判断SD卡座中未插入
SD卡。
USB连接器J3的VUBS引脚接转接板的DATA2_1引脚，USB连接器J3的D+引脚接转接
板的DATA0_1引脚，USB连接器的D-引脚接转接板的DATA1_1引脚。通过USB连接器J3可以对
产品整机进行调试工作。
优选地，本实施例提供的调试装置上还设置有一个单刀双掷开关SW1，转接板上还
设置有DATA3_1引脚和VDD_1引脚，当转接板插入SD卡座时，DATA3_1引脚和VDD_1引脚分别
连接SD卡座的DATA3引脚和VDD引脚。单刀双掷开关SW1的可动端接转接板的DATA3_1引脚，
第一不动端接转接板的VDD_1引脚，第二不动端接USB连接器J3的GND引脚。通过拨动单刀双
掷开关SW1可以选择将控制芯片U1的Update引脚拉高或者拉低，以控制产品开机上电后系
统进入不同的模式，例如选择进入固件升级模式或选择进入功能调试模式。
实施例三
图3是本发明一个实施例提供的一种电子设备的功能框图，本实施例提供的电子
设备300包括上述实施例一中的调试电路310。
实施例四
图4是本发明一个实施例提供的一种调试系统的功能框图，如图4所示，本实施例
提供的调试系统400包括上述实施例1中的调试电路410以及上述实施例2中的调试装置
420。单刀双掷开关SW1的可动端连接第一不动端或连接第二不动端时，会将控制芯片U1的
Update引脚拉高或者拉低，使调试系统400进入不同的工作模式，如进入固件升级模式或功
能调试模式。但是对于不同型号的芯片，系统进入固件升级模式或功能调试模式所需的电
平是不一样的。
例如，对于安霸S2L33m-A1-RH芯片，当单刀双掷开关SW1的可动端接第一不动端
时，转接板的DATA3_1引脚直接连接到VDD_1引脚，由于当转接板插入SD卡座J2时，转接板的
DATA3_1引脚通过SD卡座J2和第二开关U3最终连接到控制芯片U1的Update引脚，因此
Update引脚的电平被VDD拉高。控制芯片U1的Update引脚检测到高电平后，控制调试系统
400进入固件升级模式，此时可以对电子产品整机软体进行升级。
当单刀双掷开关SW1的可动端接第二不动端时，转接板的DATA3_1引脚直接连接到
地，使控制芯片U1的Update引脚的电平被拉低。控制芯片U1的Update引脚检测到低电平后，
控制调试系统400进入功能调试模式，PC机等上位机可以通过USB连接器向电子产品整机内
部的控制芯片U1发送指令，进行调试分析和测试。
但是对于安霸A9SE75芯片，当单刀双掷开关SW1的可动端接第一不动端，使控制芯
片U1的Update引脚被VDD拉高时，调试系统400进入功能调试模式；当单刀双掷开关SW1的可
动端接第二不动端，使控制芯片U1的Update引脚被GND拉低时，调试系统400进入固件升级
模式。因此在实际使用时，需要根据系统要求选择单刀双掷开关的连接方向。
本发明将控制芯片的SD卡信号与USB信号进行复用，当SD卡座插入SD卡时，可以对
SD卡进行正常的读写操作；当SD卡座插入调制装置时，可以对产品整机进行调试，并且还可
以通过调试装置上的开关选择不同的模式，解决了在电子产品外部仅预留SD卡槽的情况
下，由于电路板上预留的测试点被包裹在整机内，因而不便于进行产品整机的研发调试、产
线测试等工作的问题。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，在本发明的上述教导下，本领域技术人员
可以在上述实施例的基础上进行其他的改进或变形。本领域技术人员应该明白，上述的具
体描述只是更好的解释本发明的目的，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。