一种光模块的老化测试装置技术领域
本发明涉及测试领域，尤其涉及一种光模块的老化测试装置。
背景技术
在光模块的老化测试中，通常采用这样的老化测试装置，即，在该老化测试装置
中，采用的是集中供电的电源，所以对该集中供电电源的要求非常高，例如，要有很完善的
过流过压保护，可以任意设定限流值大小的功能。但是，由于集中供电电源只有这么一级保
护，倘若老化中的光模块中出现异常状态，比如突然短路等情况，使得集中供电电源工作在
限流的工作模式，从而导致电压被拉低，这样，就有可能导致这一批光模块的老化是在不正
常的工作电压下进行的，因此不符合老化测试的要求。再或者，多个光模块在老化测试的过
程中出现了短路的情况，使得集中供电电源工作在过流保护模式下，电源输出直接被关断，
都会影响到这一批光模块的老化测试。
还有一种更加严重的情况是，在这批老化测试的光模块中无法定位出具体是哪一
个光模块出了问题，还需要花大量的时间去排查有问题的光模块，费时费力，造成巨大的成
本支出。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种光模块的老
化测试装置，在电源出现问题时不影响整批产品的测试，而且，能定位出出现出问题的光模
块。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种光模块的老化测试装置，
包括多个测试板，每个测试板与至少一个光模块电连接，所述老化测试装置还包括上位机
及分布式电源，所述分布式电源包括至少两个电源模块，而且，每个电源模块与至少一个测
试板电连接，其中，
所述电源模块包括：
控制单元；
电压变换电路，用于将交流市电转换成3.3V的直流电压；
监控保护单元，用于对本电源模块进行一级保护，并将本电源模块的保护状态上
报给所述控制单元；
输出单元，用于在所述控制单元的控制下，输出电源模块的保护状态；
所述测试板包括：
MCU，与至少一个光模块连接，且用于对所述至少一个光模块的运行状态进行监
控；
与光模块一一对应的电子保险丝，连接在相应电源模块的相应输出端和相应光模
块之间，用于对相应电源模块进行二级保护，并将相应电源模块的保护状态上报给MCU；
接口单元，用于在所述MCU的控制下，将所述至少一个光模块的运行状态及相应电
源模块的保护状态发送至所述上位机，以在所述上位机上进行显示。
优选地，所述输出单元包括声光报警电路和/或显示屏。
优选地，所述接口单元为USB接口。
优选地，所述MCU与所述至少一个光模块通过I2C连接。
优选地，所述监控保护单元通过PMBUS与控制单元相连。
优选地，所述一级保护包括输入过压保护、输出过压保护、过流保护、过温保护、欠
压保护。
优选地，所述二级保护包括过压保护、过流保护、过温保护。
优选地，所述电压变换电路包括相连接的整流电路及DC/DC变换电路。
实施本发明的技术方案，由于采用低功率密度的分布式电源，且进行两级电源保
护，成本低且可靠性高。而且，能通过上位机及每个测试板中的MCU的联合作用可准确地找
出出现故障的电源模块的位置和出现异常的光模块的位置，节省大量的查找故障的时间，
同时也不会影响整批的产品老化，解决了现有技术中由于集中式电源故障导致出现整批老
化测试的光模块报废情况的问题，同时也解决了由于老化测试后的光模块还需要后续测试
以筛选出有异常的光模块所带来的工作量大的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现
有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本
发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以
根据这些附图获得其他的附图。附图中：
图1是本发明光模块的老化测试装置实施例一的逻辑结构图；
图2是图1中电源模块实施例一的逻辑结构图；
图3是图1中测试板实施例一的逻辑结构图。
具体实施方式
图1是本发明光模块的老化测试装置实施例一的逻辑结构图，该实施例的老化测
试装置包括分布式电源10、多个测试板(例如测试板20)、上位机40，而且，每个测试板与上
位机40及多个光模块(例如光模块30)连接，分布式电源10包括至少两个电源模块(例如电
源模块11)，每个电源模块与两个测试板连接。
结合图2所示的电源模块，该电源模块包括电压变换电路、监控保护单元113、控制
单元114和输出单元115，其中，电压变换电路用于交流市电转换成3.3V的直流电压，且其可
具体包括相连接的整流电路111及DC/DC变换电路112，整流电路111可将输入的交流市电转
换成直流电压，DC/DC变换电路112可将整流电路的输出电压转换成稳定的光模块供电需要
的电压，即，3.3V的直流电压。监控保护单元113用于对本电源模块进行一级保护，并将本电
源模块的保护状态上报给所述控制单元，优选地，监控保护单元113通过PMBUS与控制单元
114相连。输出单元115用于在所述控制单元的控制下，输出电源模块的保护状态，优选地，
该输出单元包括声光报警电路和/或显示屏。
在该实施例的电源模块中，监控保护单元113可对本电源模块的运行状态进行监
控，例如监控电压、电流、温度，并对本电源模块进行输入过压保护、输出过压保护、过流保
护、过温保护、欠压保护等的保护。其中，输入过压保护保证了电源模块本身不被损坏，输出
过压保护保证后级的电源不会因为过压而受到损坏。过流保护是在后级的电流因过载或者
是出现短路时，能切断后级电源的供给，保证电源模块本身的工作安全，也防止后级电路出
现不可控的情况。欠压保护目的就是保证后级电流有充足的能源供给，防止因输入欠压导
致输出的电压状态异常而影响到后级的电路正常工作。过温保护则是对电源模块长期满负
荷运行因芯片工作时自身损耗而产生的热量产生的过温时的一种自身的保护措施，保护电
源的安全运行。当电源模块出现任何一种保护状态时，都会通过PMBUS实时上报给控制单元
114，并通过显示屏显示和声音报警。
结合图3所示的测试板，该测试板包括MCU22、接口单元23及与光模块30、…、30'一
一对应的电子保险丝21、…、21'。其中，MCU22与30、…、30'连接，优选通过I2C连接，且用于
对光模块30、…、30'的运行状态进行监控。电子保险丝21、…、21'连接在相应电源模块的相
应输出端和相应光模块之间，且用于对相应电源模块进行二级保护，并将相应电源模块的
保护状态上报给MCU，所进行的二级保护包括过压保护、过流保护、过温保护。另外，接口单
元23用于在MCU22的控制下，将光模块30、…、30'的运行状态及相应电源模块的保护状态发
送至上位机，以在上位机上进行显示。优选地，接口单元23为USB接口，即，MCU22通过USB数
据线与上位机相连。
在该实施例的测试板中，当电源模块的输出给到测试板后，首先经过电子保险丝，
以电子保险丝21为例，由该电子保险丝21实现过压保护、过流保护以及过温保护。电子保险
丝21会自动判断输入电压是否过压，如果过压，则启动过压保护，切断电源模块的输出，如
果没有过压，则开始后级的电源输出，自动进入过流保护的实时监控中。电子保险丝21的过
流保护功能是通过外接的限流电阻来实现过流保护功能的，当检测到光模块的负载过大，
电子保险丝21就会自动切断后级电源的输出。当电子保险丝21的工作温度过高就会启动内
部的过温保护功能，保证电子保险丝21不会因为过温而遭到损坏。当电子保险丝21检测到
这些异常状态后上报给MCU22，MCU22就会通过USB通信在上位机的监控软件上显示出来，并
报警。MCU22能通过电子保险丝21内部的保护监控电路的状态上报引脚可以准确的知道是
哪一路的电子保险丝21所对应的电源回路出了问题，所以查找问题就会特别的方便，也节
省了查找故障的时间。同时MCU22能通过I2C通信能实时的监控正在老化测试中的光模块，
若光模块在老化中有异常，MCU22也能准确的查找出是哪个位置的光模块有异常出现，同时
在上位机的监控软件上实时的显示出来，及时把异常的光模块剔除掉，既方便也节省了大
量的查找故障的时间。
在此，需说明的是，以上实施例仅示出了一个电源模块及一个测试板的逻辑结构
图，应理解，其它电源模块及其它测试板的逻辑结构图与之类似，在此不再赘述。
另外，还需说明的是，分布式电源中的电源模块的数量可根据实际需求设置，例
如，设置两个、三个、五个等，这些电源模块可以彼此独立，也可将其输出并联设置。一个电
源模块所供电的测试板的数量也可根据实际需求设置，例如一个电源模块连接两个测试
板，也可连接一个测试板，或者连接其它数量个测试板。一个测试板上可测试光模块的数量
也可任意设置。
综上所述，本发明的光模块的老化测试装置由于采用低功率密度的分布式电源，
且进行两级电源保护，成本低且可靠性高。而且，能通过上位机及每个测试板中的MCU的联
合作用准确的找出出现故障的电源模块的位置和出现异常的光模块的位置，节省大量的查
找故障的时间，同时也不会影响整批的产品老化，解决了现有技术中因集中式电源故障导
致整批老化测试的光模块报废的情形，同时也解决了老化测试后的光模块还需要后续测试
筛选出有异常的问题光模块工作量大的问题。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技
术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何纂
改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的权利要求范围之内。