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具有非均匀线宽加热电阻丝的矩形微型加热器及方法.pdf

  • 上传人:zhu****69
  • 文档编号:4998204
  • 上传时间:2018-12-05
  • 格式:PDF
  • 页数:11
  • 大小:2.30MB
  • 摘要
    申请专利号:

    CN201110132577.4

    申请日:

    2011.05.20

    公开号:

    CN102256387A

    公开日:

    2011.11.23

    当前法律状态:

    驳回

    有效性:

    无权

    法律详情:

    登录超时

    IPC分类号:

    H05B3/02; B81C1/00

    主分类号:

    H05B3/02

    申请人:

    中国科学院上海微系统与信息技术研究所

    发明人:

    许磊; 李铁; 王跃林

    地址:

    200050 上海市长宁区长宁路865号

    优先权:

    专利代理机构:

    上海智信专利代理有限公司 31002

    代理人:

    潘振甦

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    内容摘要

    本发明涉及一种具有非均匀线宽加热电阻丝的矩形微型加热器及方法,所述的微型加热器包括:衬底框架,矩形加热膜区,支撑悬梁,梯形过渡区,折线形加热电阻丝,引线,接触电极,和隔热腔体。其特征在于矩形加热膜区通过过渡区和支撑悬梁与衬底框架相连,折线形加热电阻丝按照在加热膜区中心处线宽较宽、在加热膜区两端处线宽较窄的方式排布在矩形加热膜区上,并通过支撑悬梁上的引线与衬底框架上的接触电极相连,在矩形加热膜区和支撑悬梁的下方是隔热腔体。

    权利要求书

    1.一种具有非均匀线宽加热电阻丝的矩形微型加热器,包括衬底框架,
    矩形加热膜区,支撑悬梁,梯形过渡区,折线形加热电阻丝,引线,接触电
    极和隔热腔体;其特征在于:
    1)矩形加热膜区的两端分别通过一个梯形过渡区与支撑悬梁的一端相
    连,支撑悬梁的另一端连接衬底框架起到支撑的作用;
    2)折线形加热电阻丝通过支撑悬梁上的引线与衬底框架上的接触电极相
    连;
    3)折线形加热电阻丝以中心对称或左右对称的方式排布在矩形加热膜区
    上,电阻丝的线宽按照在加热膜区中心处较宽、在加热膜区两端处较窄的方
    式分布;
    4)在矩形加热膜区和支撑悬梁的下方是隔热腔体。
    2.按权利要求1所述的微型加热器,其特征在于所述的梯形过渡区的上
    底与支撑悬梁相连,下底则与矩形加热区相连。
    3.按权利要求1所述的微型加热器,其特征在于加热电阻丝的线宽的宽
    度按照从加热膜区的中心向左右两端逐渐递减,单次递减的幅度的范围在5%
    到60%之间。
    4.按权利要求1所述的微型加热器,其特征在于加热电阻丝的线宽在加
    热膜区中心处最宽,在加热膜区两端处最窄,线宽最宽为100微米,最窄为1
    微米。
    5.按权利要求3所述的微型加热器,其特征在于加热电阻丝的线宽在加
    热膜区中心处最宽,在加热膜区两端处最窄,线宽最宽为100微米,最窄为1
    微米。
    6.按权利要求1所述的微型加热器,其特征在于隔热腔体有两种形状,
    一种是通过正面硅各向异性湿法腐蚀形成的横截面呈倒梯形或“V”字形的结
    构,另一种是通过各向同性释放腐蚀或各向同性干法刻蚀形成的横截面呈圆
    弧形的结构。
    7.按权利要求1所述的微型加热器,其特征在于支撑悬梁的方向与<100>
    晶向的夹角保持在±30度以内,或与<110>晶向的夹角保持在±15度以内。
    8.制备如权利要求1-7中任一项所述的微型加热器的方法,其特征在于
    具体步骤是:
    1)选取(100)面硅片作为衬底,双面抛光或单面抛光;
    2)在步骤1选取的硅片上制作复合膜用于形成加热膜区,梯形过渡区和
    支撑悬梁,复合膜由氧化硅和氮化硅复合而成,采用氧化、等离子增强化学
    气相沉积、或低压化学气相沉积方法制备;
    3)接着制作折线形加热电阻丝,引线和电极,对于铂或金金属材料,利
    用lift-off工艺或者湿法腐蚀工艺制作;对于多晶硅半导体材料,则采用先
    沉积再干法刻蚀的方法制作;
    4)开薄膜释放窗口,如果支撑悬梁的方向与<100>晶向的夹角保持在±
    30度以内,直接利用反应离子刻蚀或离子束刻蚀刻蚀暴露的氧化硅和氮化硅
    复合膜,形成薄膜释放窗口;如果支撑悬梁的方向与<110>晶向的夹角保持在
    ±15度以内,先利用反应离子刻蚀或离子束刻蚀刻蚀暴露的氧化硅和氮化硅
    复合膜,再利用深反应离子刻蚀刻蚀衬底硅,最后形成薄膜释放窗口;
    5)释放薄膜,一种方法是使用四甲基氢氧化铵或氢氧化钾各向异性湿法
    腐蚀液;另一种方法是使用各向同性湿法腐蚀液或者各向同性干法气体刻蚀,
    通过这两种方法掏空复合膜下面的衬底硅释放出薄膜结构,从而形成微型加
    热器。
    9.按权利要求8所述的方法,其特征在于:
    1)步骤1中所述的(100)面硅衬底为N型或P型;
    2)步骤2中所述的复合膜为单层或多层;
    3)步骤4中所述的刻蚀衬底硅的刻蚀深度大于支撑梁宽度的0.7倍;
    4)步骤5中所述的各向同性腐蚀的腐蚀液为HF+HNO3+H2O,所述各向
    同性干法刻蚀的气体为XeF2。

    说明书

    具有非均匀线宽加热电阻丝的矩形微型加热器及方法

    技术领域

    本发明涉及一种具有非均匀线宽加热电阻丝的矩形微型加热器及其制作
    方法,属于微电子机械系统(MEMS)领域。

    背景技术

    随着微加工技术的不断发展,基于MEMS工艺的微型加热器已开始在气
    体探测,环境监控和红外光源等领域广泛应用。由于应用的不断推广和深入,
    对微型加热器的低功耗、低成本、高性能、高可靠的要求也日益强烈。如何
    制作出低功耗高性能的加热器一直是本领域内技术人员追求的目标。

    在应用于气体传感领域时,为了达到更好的性能,加热器的加热膜区需要
    有较好的温度均匀性。比如在金属氧化物半导体式气体传感器中,传感器在
    某一温度下对不同气体有不同的灵敏度,因此稳定且均匀的温度必将有利于
    提高传感器对特定气体的选择性。在催化燃烧式气体传感器中,为了实现低
    功耗和高灵敏度,良好的温度均匀性也是必要的。

    然而,基于硅衬底的微型加热器通常只采用两种方式来提高加热膜区的温
    度均匀性。一种是在加热区下方增加一块硅岛,通过导热的方式分散热量。
    例如:Markus Graf,Diego Barrettino,Kay-Uwe Kirstein,Andreas hierlemann,
    “COMS microhotplate sensor system for operating temperatures up to 500℃,”
    Sensors and Actuators B,vol.117,2006,pp.346-352。另一种方法是在加热膜区
    上方增加一层金属层,如铝,金等,利用金属良好的导热性来提高温度均匀
    性。例如:Tekin A.Kunt,Thomas J.McAvoy,Richard E.Cavicchi,Steve 
    Semancik,“Optimization of temperature programmed sensing for gas 
    identification using micro-hotplate sensors,”Sensors and Actuators B,vol.53,
    1998,pp.24-43。这两种方法都能够在一定程度上提高温度均匀性,但是工艺
    复杂,增加成本,而且还会增加加热器的功耗,影响机械强度。

    本发明拟提供一种采用非均匀线宽加热电阻丝的矩形加热器,它是通过增
    加折线形加热电阻丝中心的线宽从而有效减小加热膜区中心的发热功耗,以
    实现良好的温度均匀性。该结构只需改变折线形加热电阻丝的版图设计,不
    会增加任何工艺或成本,而且对功耗和机械强度几乎没有影响。

    发明内容

    本发明的目的在于提供一种具有非均匀线宽加热电阻丝的矩形微型加热
    器及其制作方法,从而提高微型加热器的温度均匀性,进而提高其在气体传
    感应用中的性能。

    所提供的微型加热器的结构如图1所示,包括:衬底框架,矩形加热膜
    区,支撑悬梁,梯形过渡区,折线形加热电阻丝,引线,接触电极,和隔热
    腔体。本发明所提供的具有良好温度均匀性的微型加热器的结构特征在于:

    1.矩形加热膜区的两端分别通过一个梯形过渡区与支撑悬梁的一端相连,
    支撑悬梁的另一端连接衬底框架起到支撑的作用;

    2.折线形加热电阻丝通过支撑悬梁上的引线与衬底框架上的接触电极相
    连;

    3.折线形加热电阻丝以中心对称或左右对称的方式排布在矩形加热膜区
    上,电阻丝的线宽按照在加热膜区中心处较宽、在加热膜区两端处较窄
    的方式分布;

    4.线宽在加热膜区中心处最宽,在加热膜区两端处最窄,线宽最宽为100
    微米,最窄为1微米。

    5.线宽的宽度按照从加热膜区的中心向左右两端逐渐递减,单次递减的幅
    度的范围在5%到60%之间。

    6.支撑悬梁的方向与<100>晶向的夹角保持在±30度以内,或与<110>晶
    向的夹角保持在±15度以内。

    7.折线形加热电阻丝的线间距是可以变化的,实际应用中可以通过增加调
    整电阻丝的线间距来进一步提高加热膜区处的温度均匀性。

    8.在矩形加热膜区和支撑悬梁的下方是是隔热腔体,隔热腔体可以有两种
    形状,一种是通过正面硅各向异性湿法腐蚀形成的横截面呈倒梯形或
    “V”字形的结构,另一种是通过各向同性释放腐蚀或各向同性干法刻
    蚀形成的横截面呈圆弧形的结构。

    本发明的制作方法如图2所示,具体如下:

    1.选择衬底。选取(100)面的硅片作为衬底,双面抛光或单面抛光的硅
    片均可,N型或P型的都可以。

    2.制作复合膜。复合膜用于形成加热膜区,梯形过渡区和支撑悬梁。复合
    膜由单层或多层的氧化硅和氮化硅复合而成。可以采用氧化、等离子增
    强化学气相沉积(PECVD)、或低压化学气相沉积(LPCVD)等方法制备。

    3.制作折线形加热电阻丝,引线和电极。对于金属材料,如铂、金等,利
    用lift-off工艺或者湿法腐蚀工艺制作;对于半导体材料,如多晶硅
    等,采用先沉积再干法刻蚀的方法制作。

    4.开薄膜释放窗口。如果支撑悬梁的方向与<100>晶向的夹角保持在±30
    度以内,直接利用反应离子刻蚀(RIE)或离子束刻蚀(Ion-beam)彻
    底刻蚀暴露的氧化硅和氮化硅复合膜,形成薄膜释放窗口。如果支撑悬
    梁的方向与<110>晶向的夹角保持在±15度以内,先利用反应离子刻蚀
    (RIE)或离子束刻蚀(Ion-beam)彻底刻蚀暴露的氧化硅和氮化硅复
    合膜,再利用深反应离子刻蚀(DRIE)刻蚀衬底硅,刻蚀深度要大于支
    撑悬梁宽度的0.7倍,最后形成薄膜释放窗口。

    5.释放薄膜。一种方法是使用各向异性湿法腐蚀液,如四甲基氢氧化铵
    (TMAH)或氢氧化钾(KOH)等;另一种方法是使用各向同性湿法腐,
    如氢氟酸(HF)+硝酸(HNO3)+水(H2O)等或者各向同性干法刻蚀气体,如
    XeF2等。通过这两种方法掏空复合膜下面的衬底硅释放出薄膜结构即形
    成微型加热器。

    本发明提供的一种具有非均匀线宽加热电阻丝的矩形微型加热器的结构
    和制造方法,与以往的微型加热器相比,其优点在于:

    1.这个器件只需要两块光刻版就能完成,制造工艺相对简单。

    2.采用线宽中心较宽两端较窄的折线形加热电阻丝,只需要改变版图的设
    计,不增加额外工艺,降低了成本。

    3.加热膜区温度分布均匀,利于提高加热器在气体传感应用中的性能(图
    5)。

    4.两支撑悬梁的结构减小了中心加热膜区向衬底的热传导,进而降低了功
    耗。

    综上所述,本发明提供了一种具有非均匀线宽的加热电阻丝的矩形微型
    加热器,加热电阻丝也可以为非均匀线间距(已另案申请),甚至可以将非均
    匀线宽与非均匀线间距相结合提出新的申请,则显然仍属于本申请构思范畴
    之列,两者相结合的结果可能会使加热膜区的温度分布更均匀,发热功耗更
    小。

    附图说明

    图1为本发明提供的一种具有非均匀线宽加热电阻丝的矩形微型加热器的
    结构示意图,其中(a)为矩形微型加热器的立体结构示意图,支撑悬梁沿着
    <100>晶向,(b)为图1(a)所示的加热器的加热膜区的放大图,折线形加热电阻
    丝的线宽保持中心较宽两端较窄。

    图2为本发明提供的一种具有非均匀线宽加热电阻丝的矩形微型加热器的
    制作流程图,其中(a)选择衬底,(b)制作复合膜,(c)制作折线形加热电阻丝,
    引线和电极,(d)开薄膜释放窗口,(e)释放薄膜。

    图3为实施例2中微型加热器的立体结构示意图,支撑悬梁沿着<110>晶
    向。

    图4为实施例3中微型加热器的结构示意图,其中(a)为俯视图,(b)为截面
    图,薄膜释放采用的干法刻蚀工艺。

    图5为两个加热器在相同功耗下工作时的红外照片对比图,其中(a)为具有
    均匀线宽和均匀线间距折线形加热电阻丝的加热器的红外照片,加热膜区中
    心处的颜色要明显比两端红,可见中心处的温度要比两端高出很多,(b)为具
    有非均匀线宽和均匀线间距折线形加热电阻丝的加热器的红外照片,加热膜
    区中心处的颜色和两端处的颜色度是红色,说明中心处的温度和两端差不多。
    对比可见这种采用非均匀线宽加热电阻丝的结构设计能够显著提高加热膜区
    的温度均匀性。

    图中1为衬底框架,2为矩形加热膜区,3为支撑悬梁,4为梯形过渡区,
    5为折线形加热电阻丝,6为引线,7为接触电极,8为隔热腔体。

    具体实施方式

    实施例1:

    该实施例的结构示意图参见图1(a)所示,具体制作方法如下:

    1.选择衬底。选取N型(100)面的4英寸双面抛光的硅片作为衬底,电阻
    率3-8Ω·cm,硅片厚度为350±10微米,切边的角度误差<1%。

    2.制作复合膜。采用单层复合膜,利用低压化学气相沉积(LPCVD)的方
    法依次生长一层厚度为0.5微米的氧化硅和一层厚度为0.3微米的氮化
    硅。

    3.制作折线形加热电阻丝,引线和电极。采用剥离工艺(lift-off)制作。
    薄胶光刻(光刻胶厚度为2.0微米)定义出折线形加热电阻丝,引线和
    电极的图形,然后溅射一层0.2微米厚的钛铂,最后丙酮去胶后形成了
    折线形加热电阻丝,引线和电极。

    4.开薄膜释放窗口。正面光刻定义出用于释放加热膜区和支撑悬梁的腐蚀
    窗口图形,在光刻胶的保护下利用离子束刻蚀(Ion-beam)彻底刻蚀暴
    露的氧化硅和氮化硅复合膜。

    5.释放薄膜。利用TMAH腐蚀液通过薄膜释放窗口腐蚀衬底硅,并在中心
    膜区和支撑悬梁的下方形成倒梯形的隔热腔体。

    施例2:

    该实施例的结构示意图参见图3所示,具体制作方法如下:

    1.衬底选择。选择P型(100)面的4英寸单面抛光的硅片作为衬底,电阻
    率3-8Ω·cm,硅片厚度为350±10微米,切边的角度误差<1%。

    2.制作复合膜。采用单层复合膜,利用等离子增强化学气相沉积(PECVD)
    的方法依次生长一层厚度为0.4微米的氧化硅和一层厚度为0.6微米的
    氮化硅。

    3.制作折线形加热电阻丝,引线和电极。采用湿法腐蚀工艺制作。先溅射
    一层0.2微米厚的钛铂,再进行薄胶光刻(光刻胶厚度为1.8微米)定
    义出折线形加热电阻丝,引线和电极的图形,最后湿法腐蚀形成折线形
    加热电阻丝,引线和电极。

    4.开薄膜释放窗口。第一步,正面光刻定义出用于释放加热膜区和支撑悬
    梁的腐蚀窗口图形,在光刻胶的保护下利用离子束刻蚀(Ion-beam)彻
    底刻蚀暴露的氧化硅和氮化硅复合膜;第二步,利用深反应离子刻蚀
    (DRIE)刻蚀衬底硅,刻蚀深度要大于支撑悬梁宽度的0.7倍;最后去
    胶后就形成薄膜释放窗口。

    5.释放薄膜。利用KOH腐蚀液通过薄膜释放窗口腐蚀衬底硅,并在中心膜
    区和支撑悬梁的下方形成倒梯形的隔热腔体。

    实施例3:

    该实施例的结构示意图参见图4所示,具体制作方法如下:

    1.衬底选择。选择P型(100)面的4英寸双面抛光的硅片作为衬底,电阻
    率3-8Ω·cm,硅片厚度为350±10微米,切边的角度误差<1%。

    2.制作复合膜。采用多层复合膜,先利用低压化学气相沉积(LPCVD)的
    方法依次沉积一层厚度为0.2微米的氧化硅和一层厚度为0.2微米的氮
    化硅,再利用等离子增强化学气相沉积(PECVD)的方法依次沉积一层
    厚度为0.2微米的氧化硅和一层厚度为0.2微米的氮化硅。

    3.制作折线形加热电阻丝,引线和电极。采用剥离工艺(1ift-off)制作。
    薄胶光刻(光刻胶厚度为1.4微米)定义出折线形加热电阻丝,引线和
    电极的图形,然后溅射一层0.2微米厚的钛铂,最后丙酮去胶后形成了
    折线形加热电阻丝,引线和电极。

    4.开薄膜释放窗口。正面光刻定义出用于释放加热膜区和支撑悬梁的腐蚀
    窗口图形,在光刻胶的保护下利用离子束刻蚀(Ion-beam)彻底刻蚀暴
    露的氧化硅和氮化硅复合膜。

    5.释放薄膜。利用XeF2刻蚀通过薄膜释放窗口腐蚀衬底硅,并在中心膜区
    和支撑悬梁的下方形成弧形的隔热腔体。

    关 键  词:
    具有 均匀 加热 电阻丝 矩形 微型 加热器 方法
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