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1、(10)申请公布号 CN 103011181 A (43)申请公布日 2013.04.03 CN 103011181 A *CN103011181A* (21)申请号 201210543709.7 (22)申请日 2012.12.14 C01B 33/16(2006.01) B82Y 40/00(2011.01) (71)申请人 中国科学院合肥物质科学研究院 地址 230031 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路 350 号 (72)发明人 吴摞 滕大勇 李淑鑫 何微微 叶长辉 (74)专利代理机构 北京凯特来知识产权代理有 限公司 11260 代理人 郑立明 赵镇勇 (54) 发明名称 二氧化硅纳米。
2、线阵列的剥离 - 移植方法 (57) 摘要 本发明公开了一种二氧化硅纳米线阵列的剥 离 - 移植方法, 使用溶液沉积法, 在硅片上制备一 层多孔银膜, 以此银膜作为催化金属, 放入氢氟 酸 / 双氧水溶液中进行金属催化化学蚀刻, 在硅 片上制备出硅纳米线阵列结构, 再放入加有氨水 的水溶液中, 通过金属银催化氨水氧化及蚀刻, 制 备出与硅衬底连接力小的二氧化硅纳米线阵列结 构, 取出样品后在其上涂覆一层硅胶, 凝固后揭下 即可实现二氧化硅纳米线阵列从硅衬底上剥离, 通过银胶即可把这层带有纳米线阵列的有机物薄 膜与任何衬底相粘接, 实现二氧化硅纳米线阵列 的转移。这种方法操作简单, 成本低, 可。
3、用于大规 模生产。 (51)Int.Cl. 权利要求书 1 页 说明书 5 页 附图 1 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书 1 页 说明书 5 页 附图 1 页 1/1 页 2 1. 一种二氧化硅纳米线阵列的剥离 - 移植方法, 其特征在于, 包括步骤 : A、 硅片预处理 : 清洗单晶硅片 ; B、 硅片上多孔银膜的制备 : 把0.085g硝酸银溶于去离子水中, 再加入20ml质量浓度为 40的氢氟酸中, 然后加入去离子水至 100ml, 搅拌均匀后, 放入步骤 A 中清洗过的硅片, 在 室温 25下静置沉积银膜 2min ; C、 硅片上硅纳米线阵。
4、列的制备 : 取 4.1ml 质量浓度为 30的双氧水和 20ml 质量浓度 为40的氢氟酸, 加入去离子水配制成100ml的蚀刻液, 把步骤B中制得的表面带有多孔银 膜的硅片放入蚀刻液中在室温 25下静置蚀刻 10min, 得到表面带有硅纳米线阵列结构的 硅片。 D、 金属银催化氨水氧化及蚀刻, 制备与衬底连接力小的二氧化硅纳米线阵列结构 : 取 质量浓度为2528的氨水按体积比1100加入到去离子水中制备刻蚀液, 把步骤C中 制备的表面带有纳米线阵列结构的硅片放入该蚀刻液中, 然后在 60水浴条件下静置蚀刻 5-10min, 制得与硅片连接力非常小的二氧化硅纳米线阵列结构 ; E、 二氧化。
5、硅纳米线阵列的剥离 : 在步骤 D 中的样品表面滴涂一层硅胶在室温 25条件 下静置 24h 或通过加热来加快硅胶凝固, 待硅胶凝固后, 将其揭下来, 得到表面带有二氧化 硅纳米线阵列的硅胶薄膜 ; F、 二氧化硅纳米线阵列的转移 : 取步骤 E 中的表面带有带有二氧化硅纳米线阵列的硅 胶, 通过银胶把硅胶的纳米线阵列面粘到柔性的沙林膜上。 2.根据权利要求1所述的二氧化硅纳米线阵列的剥离-移植方法, 其特征在于, 所述步 骤 C 中, 通过控制蚀刻时间来控制纳米线的长度。 3. 根据权利要求 1 所述的二氧化硅纳米线阵列的剥离 - 移植方法, 其特征在于, 所述 步骤 E 中, 制得的表面带。
6、有二氧化硅纳米线阵列的硅胶薄膜上的纳米线的顶端带有多孔银 膜, 如果不需要这层银膜, 则用硝酸去除。 4.根据权利要求1、 2或3所述的二氧化硅纳米线阵列的剥离-移植方法, 其特征在于, 所述步骤 A 包括 : 先用丙酮超声清洗单晶硅片, 再用质量浓度为 25 -28的氨水 : 质量浓度为 30的 双氧水 : 去离子水 =1 1 5 体积比的混合液超声清洗单晶硅片, 再用去离子水超声清洗 单晶硅片。 权 利 要 求 书 CN 103011181 A 2 1/5 页 3 二氧化硅纳米线阵列的剥离 - 移植方法 技术领域 0001 本发明涉及一种二氧化硅纳米线阵列的制作工艺, 尤其涉及一种二氧化硅。
7、纳米线 阵列的剥离 - 移植方法。 背景技术 0002 二氧化硅纳米线阵列以其独特的性质, 引起越来越多人的注意。二氧化硅纳米线 阵列在橡胶改性、 工程塑料、 生物医学、 光学、 新型传感器、 能量转换以及纳米电子学中都有 着重要的应用前景。 0003 但是, 由于生长有二氧化硅纳米线阵列的硅片本身是刚性材料, 所以严重限制了 其应用范围, 所以发展简单、 高效的二氧化硅纳米线阵列的剥离 - 转移技术是至关重要的。 现有技术中尚无较理想的方法来实现二氧化硅纳米线阵列易剥离 - 转移。 发明内容 0004 本发明的目的是提供一种低成本、 简单、 高效的二氧化硅纳米线阵列的剥离 - 移 植方法。 。
8、0005 本发明的目的是通过以下技术方案实现的 : 0006 本发明的二氧化硅纳米线阵列的剥离 - 移植方法, 包括步骤 : 0007 A、 硅片预处理 : 清洗单晶硅片 ; 0008 B、 硅片上多孔银膜的制备 : 把0.085g硝酸银溶于去离子水中, 再加入20ml质量浓 度为40的氢氟酸, 然后加入去离子水至100ml, 搅拌均匀后, 放入步骤A中清洗过的硅片, 在室温 25下静置沉积银膜 2min ; 0009 C、 硅片上硅纳米线阵列的制备 : 取 4.1ml 质量浓度为 30的双氧水和 20ml 质量 浓度为40的氢氟酸, 加入去离子水配制成100ml的蚀刻液, 把步骤B中制得的表。
9、面带有多 孔银膜的硅片放入蚀刻液中在室温 25下静置蚀刻 10min, 得到表面带有硅纳米线阵列结 构的硅片。 0010 D、 金属银催化氨水氧化及蚀刻, 制备与衬底连接力小的二氧化硅纳米线阵列结 构 : 取质量浓度为 25 28的氨水按体积比 1 100 加入到去离子水中制备刻蚀液, 把步 骤 C 中制备的表面带有纳米线阵列结构的硅片放入该蚀刻液中, 然后在 60水浴条件下静 置蚀刻 5-10min, 制得与硅片连接力非常小的二氧化硅纳米线阵列结构 ; 0011 E、 二氧化硅纳米线阵列的剥离 : 在步骤 D 中的样品表面滴涂一层硅胶在室温 25 条件下静置 24h 或通过加热来加快硅胶凝固。
10、, 待硅胶凝固后, 将其揭下来, 得到表面带有二 氧化硅纳米线阵列的硅胶薄膜 ; 0012 F、 二氧化硅纳米线阵列的转移 : 取步骤 E 中的表面带有带有二氧化硅纳米线阵列 的硅胶, 通过银胶把硅胶的纳米线阵列面粘到柔性的沙林膜上。 0013 由上述本发明提供的技术方案可以看出, 本发明实施例提供的二氧化硅纳米线阵 列的剥离 - 移植方法, 由使用溶液沉积法, 在硅片上制备一层多孔银膜, 以此银膜作为催化 说 明 书 CN 103011181 A 3 2/5 页 4 金属, 放入氢氟酸 / 双氧水溶液中进行金属催化化学蚀刻, 在硅片上制备出硅纳米线阵列 结构, 再放入加有氨水的水溶液中, 通。
11、过金属银催化氨水氧化及蚀刻, 制备出与硅衬底连接 力小的 (甚至脱附) 的二氧化硅纳米线阵列结构, 取出样品后在其上涂覆一层媒介有机物 (例如硅胶) , 凝固后揭下这层有机物薄膜, 即可实现二氧化硅纳米线阵列从硅衬底上剥离, 通过粘结剂 (例如银胶) 即可把这层带有纳米线阵列的有机物薄膜与任何衬底相粘接 (之 后, 也可把作为媒介的有机物去除掉) , 实现二氧化硅纳米线阵列的转移。这种方法操作简 单, 成本低, 可用于大规模生产。 附图说明 0014 图1为本发明实施例提供的二氧化硅纳米线阵列的剥离-移植方法的工艺流程示 意图。 具体实施方式 0015 下面将对本发明实施例作进一步地详细描述。。
12、 0016 本发明的二氧化硅纳米线阵列的剥离 - 移植方法, 其较佳的具体实施方式是 : 0017 包括步骤 : 0018 A、 硅片预处理 : 清洗单晶硅片 ; 0019 B、 硅片上多孔银膜的制备 : 把0.085g硝酸银溶于去离子水中, 再加入20ml质量浓 度为40的氢氟酸, 然后加入去离子水至100ml, 搅拌均匀后, 放入步骤A中清洗过的硅片, 在室温 25下静置沉积银膜 2min ; 0020 C、 硅片上硅纳米线阵列的制备 : 取 4.1ml 质量浓度为 30的双氧水和 20ml 质量 浓度为40的氢氟酸, 加入去离子水配制成100ml的蚀刻液, 把步骤B中制得的表面带有多 孔。
13、银膜的硅片放入蚀刻液中在室温 25下静置蚀刻 10min, 得到表面带有硅纳米线阵列结 构的硅片。 0021 D、 金属银催化氨水氧化及蚀刻, 制备与衬底连接力小的二氧化硅纳米线阵列结 构 : 取质量浓度为 25 28的氨水按体积比 1 100 加入到去离子水中制备刻蚀液, 把步 骤 C 中制备的表面带有纳米线阵列结构的硅片放入该蚀刻液中, 然后在 60水浴条件下静 置蚀刻 5-10min, 制得与硅片连接力非常小的二氧化硅纳米线阵列结构 ; 0022 E、 二氧化硅纳米线阵列的剥离 : 在步骤 D 中的样品表面滴涂一层硅胶在室温 25 条件下静置 24h 或通过加热来加快硅胶凝固, 待硅胶凝。
14、固后, 将其揭下来, 得到表面带有二 氧化硅纳米线阵列的硅胶薄膜 ; 0023 F、 二氧化硅纳米线阵列的转移 : 取步骤 E 中的表面带有带有二氧化硅纳米线阵列 的硅胶, 通过银胶把硅胶的纳米线阵列面粘到柔性的沙林膜上。 0024 所述步骤 C 中, 通过控制蚀刻时间来控制纳米线的长度。 0025 所述步骤 E 中, 制得的表面带有二氧化硅纳米线阵列的硅胶薄膜上的纳米线的顶 端带有多孔银膜, 如果不需要这层银膜, 则用硝酸去除。 0026 所述步骤 A 包括 : 0027 先用丙酮超声清洗单晶硅片, 再用质量浓度为 25 -28的氨水 : 质量浓度为 30的双氧水 : 去离子水 =1 1 5。
15、 体积比的混合液超声清洗单晶硅片, 再用去离子水超 说 明 书 CN 103011181 A 4 3/5 页 5 声清洗单晶硅片。 0028 本发明使用溶液沉积法, 在硅片上制备一层多孔银膜, 以此银膜作为催化金属, 放 入氢氟酸 / 双氧水溶液中进行金属催化化学蚀刻, 在硅片上制备出硅纳米线阵列结构, 再 放入加有氨水的水溶液中, 通过金属银催化氨水氧化及蚀刻, 制备出与硅衬底连接力小的 (甚至脱附) 的二氧化硅纳米线阵列结构, 取出样品后在其上涂覆一层媒介有机物 (例如硅 胶) , 凝固后揭下这层有机物薄膜, 即可实现二氧化硅纳米线阵列从硅衬底上剥离, 通过粘 结剂 (例如银胶) 即可把这。
16、层带有纳米线阵列的有机物薄膜与任何衬底相粘接 (之后, 也可 把作为媒介的有机物去除掉) , 实现二氧化硅纳米线阵列的转移。这种方法操作简单, 成本 低, 可用于大规模生产。 0029 本发明的金属银催化氨水氧化 - 蚀刻法使得二氧化硅纳米线阵列与硅衬底间的 连接力非常小 (甚至脱附) , 借助于有机粘结剂可以非常容易的实现大面积均匀纳米线阵列 的剥离与转移, 而且目标衬底基本不受限制 (柔性的或非柔性的) 。 0030 本发明的基于金属银催化氨水氧化-蚀刻法来制备易剥离-转移的二氧化硅纳米 线阵列结构, 低成本、 简单、 高效, 经过氨水蚀刻处理后, 原有的硅纳米线被氧化成二氧化硅 且与硅片。
17、间的连接力也变得非常弱, 可以很容易剥离下来。本方法只需要配制合适氨水蚀 刻液浓度以及合适的水浴温度, 就可以制得大面积均匀的易剥离 - 转移的二氧化硅纳米线 阵列结构。 0031 本发明制备易剥离 - 转移的二氧化硅纳米线阵列结构的方法是 : 通过在硝酸银 (AgNO3) / 氢氟酸 (HF) 水溶液中沉积一段时间, 在硅片上制备一层多孔银膜, 以此银膜作为 蚀刻催化金属, 放入氢氟酸 (HF) / 双氧水 (H2O2) 溶液中进行蚀刻, 制备出硅纳米线阵列结 构。在蚀刻的过程中, 多孔银膜在向下运动的过程中始终处在纳米线的根部。然后把样品 放入氨水 (NH4OH) 溶液中, 高温水浴中保温。
18、一段时间, 硅纳米线被氧化成二氧化硅纳米线, 同时纳米线根部在银膜的催化蚀刻下, 首先变细甚至与硅衬底脱离, 从而制备出与衬底硅 连接力非常弱的, 易剥离的二氧化硅纳米线阵列结构, 且多孔银膜仍粘连在纳米线的根部, 通过在硅片表面涂覆一层媒介有机物 (像硅胶, 聚氟树脂等) , 待有机物凝固后, 揭下来, 即 可实现二氧化硅纳米线阵列结构剥离 (此时原硅纳米线阵列结构的根部变成现在的二氧化 硅纳米线阵列结构的顶端, 并且覆盖了一层网状银膜) 。借用粘结剂, 可以很容易的把表面 带有纳米线阵列结构的有机薄膜转移的想要的衬底上去 (之后, 也可把剥离时所用媒介有 机物去除) , 实现硅纳米线阵列结。
19、构的转移。 0032 这种方法的特点有以下几点 : 0033 二氧化硅纳米线阵列结构由硅纳米线阵列结构氧化制得。 0034 硅纳米线阵列经过金属银催化氨水氧化 - 蚀刻处理后, 纳米线根部变得很细甚至 与硅衬底脱离, 这使得纳米线阵列结构与底部硅片间的连接力非常小, 很容易实现纳米线 阵列的剥离。 0035 剥离后的二氧化硅纳米线顶端 (原硅纳米线根部) 带有一层多孔银膜。 0036 转移的目标衬底广, 可以转移到绝大多数固体衬底 (柔性的或非柔性的) 上。 0037 作为剥离媒介的有机物选择广泛 (用后可去除的或是化学性质稳定的) 。 0038 纳米线的长度可通过在氢氟酸 / 双氧水溶液中蚀。
20、刻的时间来进行精确调控。 0039 此方法不受制备面积的限制, 而且非常均匀。 说 明 书 CN 103011181 A 5 4/5 页 6 0040 单晶硅片可以重复使用。 0041 成本低, 简单易操作。 0042 本发明利用清洁硅片上制备的多孔银膜作为催化金属, 通过在氢氟酸 / 双氧水中 蚀刻来制备硅纳米线阵列, 再放入氨水溶液中, 高温水浴下通过金属银催化氨水氧化及蚀 刻, 制备出与硅衬底连接力非常小的二氧化硅纳米线阵列结构, 再利用有机物媒介及粘结 剂来实现纳米线阵列的剥离 - 转移。 0043 具体实施例 : 0044 所用设备 : 超声仪, 恒温水箱。 0045 实验步骤, 如。
21、图 1 所示 : 0046 1、 硅片预处理 : 依次用丙酮, 氨水 (质量浓度25-28) : 双氧水 (质量浓度30) : 去离子水 =1 1 5(体积比) 和去离子水超声清洗单晶硅片。 0047 2、 硅片上多孔银膜的制备 : 把 0.5mmol(0.085g) 硝酸银 (AgNO3) 溶于一定量的 去离子水中, 再加入 0.46mol(20ml) 氢氟酸 (HF, 质量浓度为 40) , 然后加入去离子水至 100ml, 搅拌均匀后, 放入步骤 1 中清洗过的硅片, 静置沉积银膜 2min(室温 25) 。 0048 3、 硅片上硅纳米线阵列的制备 : 按一定配比配制蚀刻液, 取 40。
22、mmol(4.1ml) 双氧 水 (H2O2, 质量浓度为 30) 和 0.46mol(20ml) 氢氟酸 (HF, 质量浓度为 40) , 加入去离子 水配制成 100ml 的蚀刻液。把步骤 2 中表面带有多孔银膜的硅片放入蚀刻液中静置蚀刻 10min(蚀刻时间不同, 纳米线长度不同, 可精确调控) (室温 25) , 得到表面带有硅纳米线 阵列结构的硅片。 0049 4、 金属银催化氨水氧化及蚀刻, 制备与衬底连接力小的二氧化硅纳米线阵列结 构 : 把步骤 3 中制备的表面带有纳米线阵列结构的硅片放入氨水 (NH4HO)(质量浓度为 25 28) : 去离子水 =1 100(体积比) 蚀刻。
23、液中, 然后立刻放入恒温水箱中, 60条件下静置 蚀刻 5-10min, 就可以制得与衬底连接力非常小的二氧化硅纳米线阵列结构。 0050 5、 二氧化硅纳米线阵列的剥离 : 在步骤 4 中的样品表面滴涂一层硅胶 (硅胶粘度 可调) 室温 25条件下静置 24h(也可以通过加热来加快硅胶凝固) , 硅胶凝固后, 将其揭 下来, 就可得到表面带有二氧化硅纳米线阵列的硅胶薄膜, 并且纳米线顶端 (原硅纳米线根 部) 带有多孔银膜 (当然, 如果不需要这层银膜, 也可用硝酸去除) 。 0051 6、 二氧化硅纳米线阵列的转移 : 取步骤 5 中的表面带有带有二氧化硅纳米线阵列 的硅胶, 通过银胶把硅。
24、胶的纳米线阵列面粘到柔性的沙林膜上。 0052 具体实施例的效果 : 0053 扫描电子显微镜 (如图 1 所示) 分析证明了二氧化硅纳米线阵列的剥离 - 移植过 程。 0054 图 1 中,(a) 硅片上沉积的多孔银膜, 插图为银膜的切面图 ;(b) 硅纳米线阵列结 构 (切面图) ;(c) 与衬底连接力非常小 (甚至脱离) 的二氧化硅纳米线阵列结构 (45角斜视 图) , 插图为切面图 ;(d) 剥离 - 转移至硅胶上的二氧化硅纳米线阵列结构 (45角斜视图) ; (e) 通过银胶转移至沙林膜上的二氧化硅纳米线阵列结构 (切面图) , 图中从上至下依次是 硅胶层 - 二氧化硅纳米线阵列层 - 银胶层 - 沙林膜层。 0055 以上所述, 仅为本发明较佳的具体实施方式, 但本发明的保护范围并不局限于此, 任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明披露的技术范围内, 可轻易想到的变化或替换, 说 明 书 CN 103011181 A 6 5/5 页 7 都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此, 本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范 围为准。 说 明 书 CN 103011181 A 7 1/1 页 8 图 1 说 明 书 附 图 CN 103011181 A 8 。