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1、(10)申请公布号 CN 103018203 A (43)申请公布日 2013.04.03 CN 103018203 A *CN103018203A* (21)申请号 201210526631.8 (22)申请日 2012.12.07 G01N 21/45(2006.01) G01B 11/22(2006.01) (71)申请人 北京工业大学 地址 100124 北京市朝阳区平乐园 100 号 (72)发明人 江竹青 黄昊翀 蔡文苑 王羽佳 (74)专利代理机构 北京思海天达知识产权代理 有限公司 11203 代理人 吴荫芳 (54) 发明名称 一种移位复用复频域光学相干层析扫描探测 方法和系。
2、统 (57) 摘要 本发明涉及移位复用复频域光学相干层析扫 描探测方法和系统, 包括发射光路系统、 接收光路 系统、 分光棱镜反射光路系统、 以及分光棱镜透射 光路系统, 通过移动载物平移台, 依次改变探测主 点位置, 针对每个探测主点位置, 用压电陶瓷平移 台产生相移, 获取一组定步长相移干涉图, 直到达 到要求的探测深度, 对于获得的多组定步长相移 干涉图, 分别进行相移去镜像和直流项处理, 得到 m 幅与探测主点位置对应的无镜像和直流项样品 层析图 ; 分别截取每幅样品层析图中心位置横向 前后各 N/2 个像素, 得到 m 幅截取图像, 将按探测 方向排列的 m 幅截取图像合成为一张层析。
3、图。 (51)Int.Cl. 权利要求书 2 页 说明书 4 页 附图 2 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书 2 页 说明书 4 页 附图 2 页 1/2 页 2 1. 一种移位复用复频域光学相干层析扫描探测方法, 其特征在于包括以下步骤 : 1) 改变探测主点位置, 分别获取每一个探测主点位置对应的一组定步长相移干涉图, 直到达到要求的探测深度 ; 2)对于获得的m组定步长相移干涉图, 分别进行相移去镜像和直流项处理, 得到m幅与 探测主点位置对应的无镜像和直流项样品层析图 ; 3) 分别截取每幅无镜像和直流项样品层析图中心位置横向前后各 N/2 个。
4、像素, 样品层 析图横向像素数 N 为截取参数, 得到 m 幅截取图像, 其中 式中, N 为截取参数, d 为有效探测范围, A 为相移干涉图上干涉条纹所包含的横向像素 值, 步骤 1 中所述的相移干涉图上干涉条纹所包含的横向像素值均相等, B 为无镜像和直流 项样品层析图图像的横向像素值, 0是光源的中心波长, min是最小波长, max是最大波 长, n1是样品折射率 ; 4) 将 m 幅截取图像按探测方向排列, 相邻两幅截取图像中心位置的像素间距为合成参 数 M, 再将相距距离为合成参数 M、 按探测方向排列的 m 幅截取图像合成为一张层析图, 其 中, 式中, M 为合成参数, d 。
5、为移位间隔距离, A 为相移干涉图上 干涉条纹所包含的横向 像素值, 步骤 1 中所述的相移干涉图上干涉条纹所包含的横向像素值均相等, B 为无镜像和 直流项样品层析图图像的横向像素值, 0是光源的中心波长, min是最小波长, max是最 大波长, n2是空气折射率。 2. 根据权利要求 1 所述的探测主点位置为反射镜虚像在样品臂的位置。 3. 根据权利要求 1 所述的有效探测范围为无镜像和直流项样品层析图中所取的探测 主点前后深度范围, 其取值小于等于最大探测深度范围。 4. 根据权利要求 3 所述的最大探测深度范围 Dimax的计算公式如下, 式中, A 为相移干涉图上干涉条纹所包含的横。
6、向像素值, 步骤 1 中所述的相移干涉图上 干涉条纹所包含的横向像素值均相等, 0是光源的中心波长, min是最小波长, max是最 大波长, n1是样品折射率。 5. 根据权利要求 1 所述的移位间隔距离 d 表示探测主点每次移动的间隔距离。 6. 一种移位复用复频域光学相干层析扫描探测系统, 其特征在于包括以下部分 : 发射 光路系统, 接收光路系统, 分光棱镜反射光路系统, 即样品臂, 分光棱镜透射光路系统, 即参 考臂 ; 其中, 发射光路系统包括超辐射发光二极管红外光源 1、 扩束准直系统 2、 衰减装置 3、 以及分光棱镜 4 ; 接收光路系统包括光栅 5、 透镜 6、 图像采集器。
7、 7 ; 分光棱镜反射光路系统 包括载物平移台 8, 用于放置样品 9 ; 分光棱镜透射光路系统包括压 电陶瓷平移台 10、 以及 权 利 要 求 书 CN 103018203 A 2 2/2 页 3 反射镜 11 ; 通过移动载物平移台 8, 将探测主点位置移动移位间隔距离 d, 针对该探测主点位 置, 用电陶瓷平移台 10 产生相移, 获取一组定步长相移干涉图, 获取定步长相移干涉图过 程为超辐射发光二极管红外光源 1 产生的短相干红外光, 经过扩束准直系统 2 变为扩束平 行光, 通过衰减装置 3 进行光强的衰减, 到达分光棱镜 4, 分光棱镜 4 分出透射光和反射光, 反射光到达样品9。
8、并由样品9反射回反射光回到分光棱镜4, 分光棱镜4分出的透射光到达 反射镜11并由反射镜反射回反射光回到分光棱镜4, 两反射光汇聚到光栅5上发生衍射, 经 过透镜 6 将干涉图聚焦到图像采集器 7 上, 并由图像采集器 7 接收相移干涉图传入电脑存 储。依照上述方法按移位间隔距离 d 依次移动到 m 个探测主点位置, 直至达到要求的探 测深度, 分别得到对应每个探测主点位置的定步长相移干涉图。 7. 根据权利要求 6 所述载物平移台用于实现探测主点位置的移动, 所述压电陶瓷平移 台用于实现相移。 8. 根据权利要求 6 所述的探测主点位置为反射镜虚像在样品臂的位置。 权 利 要 求 书 CN 。
9、103018203 A 3 1/4 页 4 一种移位复用复频域光学相干层析扫描探测方法和系统 技术领域 0001 本发明涉及一种光学相干成像探测的方法和系统, 特别是涉及一种移位复用复频 域光学相干层析扫描探测方法和系统。 背景技术 0002 光 学 相 干 层 析 扫 描 技 术 又 称 为 光 学 相 干 层 析 技 术 (Optical Coherence Tomography, 简称 OCT) , 主要利用干涉原理来实现对样品的深度信息采集。根据是否进行 深度方向上的扫描, 可以将其分为时域 OCT 和频域 OCT。时域 OCT 是典型的 OCT 系统, 通过 改变参考臂和样品臂的光程。
10、差, 探测获得不同深度的样品信息。由于时域 OCT 基于逐点扫 描探测, 每点测量都需要移动参考臂来改变参考臂和样品臂的光程差, 耗费大量时间。 频域 OCT 是在光路系统加入光栅, 利用光栅的分光性能, 不需要改变光程差, 一次成像即可得到 一定深度内的样品深度图像信息 ; 复频域 OCT 探测方法是通过相移法去除镜像, 可以使频 域 OCT 最大探测范围扩大一倍。频域 OCT 和复频域 OCT 受到系统中的光栅分辨本领、 图像 采集器像元尺寸等因素的限制, 其最大成像探测深度有限。 0003 现有的复频域光学相干层析扫描探测技术主要包括以下两个步骤 : 0004 1. 图像采集过程 : 基。
11、于迈克尔逊干涉仪为核心结构的频域光学相干层析扫描系 统, 调整参考臂和样品臂的光程差满足干涉条件, 采用平移台完成相移, 并通过图像采集器 记录下多幅相移干涉图。 0005 2. 图像处理过程 : 对得到干涉图像进行相移去镜像处理, 并对去镜像处理后的干 涉图做傅里叶逆变换, 可以得到所需要的样品层析信息。 0006 现有复频域 OCT 探测存在的缺陷是, 如果样品的深度大于复频域 OCT 探测系统的 最大探测深度, 则无法实现对整个样品深度的探测。 发明内容 0007 本发明目的在于提供一种扩大频域OCT和复频域OCT系统最大探测深度的方法和 系统, 即移位复用复频域光学相干层析扫描探测方法。
12、和系统。 0008 本发明的移位复用复频域光学相干层析扫描探测方法和系统, 将反射镜虚像位置 确定为探测主点位置, 在以探测主点为中心的有效探测范围, 获得有效探测范围内的样品 深度信息 ; 以确定的移位间隔距离进行探测主点移动, 实现探测深度扩展。 具体技术方案如 下 : 0009 一种移位复用复频域光学相干层析扫描探测方法, 其特征在于包括以下步骤 : 0010 1) 改变探测主点位置, 分别获取每一个探测主点位置对应的一组定步长相移干涉 图, 直到达到要求的探测深度 ; 0011 2)对于获得的m组定步长相移干涉图, 分别进行相移去镜像和直流项处理, 得到m 幅与探测主点位置对应的无镜像。
13、和直流项样品层析图 ; 0012 3) 分别截取每幅无镜像和直流项样品层析图中心位置横向前后各 N/2 个像素, 样 说 明 书 CN 103018203 A 4 2/4 页 5 品层析图横向像素数 N 为截取参数, 得到 m 幅截取图像, 其中 0013 0014 式中, N 为截取参数, d 为有效探测范围, A 为相移干涉图上干涉条纹所包含的横向 像素值, 步骤 1 中所述的相移干涉图上干涉条纹所包含的横向像素值均相等, B 为无镜像和 直流项样品层析图图像的横向像素值, 0是光源的中心波长, min是最小波长, max是最 大波长, n1是样品折射率 ; 0015 4) 将 m 幅截取。
14、图像按探测方向排列, 相邻两幅截取图像中心位置的像素间距为合 成参数M, 再将相距距离为合成参数M、 按探测方向排列的m幅截取图像合成为一张层析图, 其中, 0016 0017 式中, M 为合成参数, d 为移位间隔距离, A 为相移干涉图上干涉条纹所包含的横 向像素值, 步骤 1 中所述的相移干涉图上干涉条纹所包含的横向像素值均相等, B 为无镜像 和直流项样品层析图图像的横向像素值, 0是光源的中心波长, min是最小波长, max是 最大波长, n2是空气折射率。 0018 所述的截取参数 N 和合成参数 M 相等时, 合成的层析图完整呈现样品沿探测方向 的图像, 适用于探测要求层析图。
15、呈现完整图像的样品 ; 当截取参数 N 小于合成参数 M 时, 合 成的层析图是间隔呈现样品沿探测方向的图像, 适用于探测要求层析图呈现部分图像的样 品 ; 当截取参数 N 大于合成参数 M 时, 相邻探测主点得到的探测结果有重叠, 合成的层析图 部分重叠地呈现样品沿探测方向的图像, 不属于最优选择。 0019 所述的探测主点位置为反射镜虚像在样品臂的位置。所述的移位间隔距离 d 表 示探测主点每次移动的间隔距离。 所述的有效探测范围为无镜像和直流项样品层析图中所 取的探测主点前后深度范围, 其取值小于等于最大探测深度范围。 0020 所述的最大探测深度范围 Dimax的计算公式如下, 002。
16、1 0022 式中, A 为相移干涉图上干涉条纹所包含的横向像素值, 步骤 1 中所述的相移干涉 图上干涉条纹所包含的横向像素值均相等, 0是光源的中心波长, min是最小波长, max 是最大波长, n1是样品折射率。 0023 一种移位复用复频域光学相干层析扫描探测系统, 其特征在于包括以下部分 : 发 射光路系统, 接收光路系统, 分光棱镜反射光路系统, 即样品臂, 分光棱镜透射光路系统, 即 参考臂。发射光路系统包括超辐射发光二极管红外光源、 扩束准直系统、 衰减装置、 以及分 光棱镜 ; 接收光路系统包括光栅、 透镜、 图像采集器 ; 分光棱镜反射光路系统包括载物平移 台, 用于放置。
17、样品 ; 分光棱镜透射光路系统包括压电陶瓷平移台、 以及反射镜。 0024 所述系统的工作过程 : 通过移动载物平移台, 将探测主点位置移动移位间隔距离 d, 针对该探测主点位置, 用电陶瓷平移台产生相移, 获取一组定步长相移干涉图, 获取定 步长相移干涉图过程为, 超辐射发光二极管红外光源产生的短相干红外光, 经过扩束准直 说 明 书 CN 103018203 A 5 3/4 页 6 系统变为扩束平行光, 通过衰减装置进行光强的衰减, 到达分光棱镜, 分光棱镜分出透射光 和反射光, 反射光到达样品并由样品反射回反射光回到分光棱镜, 分光棱镜分出的透射光 到达反射镜并由反射镜反射回反射光回到分。
18、光棱镜, 两反射光汇聚到光栅上发生衍射, 经 过透镜将干涉图聚焦到图像采集器上, 并由图像采集器接收相移干涉图传入电脑存储。依 照上述方法按移位间隔距离d依次移动到m个探测主点位置, 直到达到要求的探测深度, 分别得到对应每个探测主点位置的定步长相移干涉图。 0025 所述载物平移台和压电陶瓷平移台在系统中的位置有四种组合 :(1) 样品臂端安 置载物平移台, 在所述载物平移台上放置样品 ; 参考臂端安置压电陶瓷平移台, 在所述压电 陶瓷平移台上放置反射镜 ;(2) 样品臂端安置压电陶瓷平移台, 在所述压电陶瓷平移台上 放置样品 ; 参考臂端安置载物平移台, 在所述载物平移台上放置反射镜 ;(。
19、3) 样品臂端安置 载物平移台, 其上安置压电陶瓷平移台, 在所述压电陶瓷平移台上放置样品, 参考臂端安置 反射镜 ;(4) 样品臂端安置样品, 参考臂端安置载物平移台, 其上安置压电陶瓷平移台, 在 所述压电陶瓷平移台上放置反射镜。 0026 所述探测主点位置为反射镜虚像在样品臂的位置, 所述载物平移台用于实现所述 探测主点位置的移动。所述压电陶瓷平移台用于实现相移。 0027 有益效果 0028 本发明的移位复用复频域光学相干层析扫描探测方法和系统的有益效果是, 大大 扩展了原有技术的探测深度范围 ; 可探测要求多个分离部分层析图的样品 ; 提高了原有技 术的探测成像灵敏度, 能有效利用中。
20、心灵敏度较高区域探测 ; 提高了对样品探测的灵活性, 可设置合理的有效探测范围和移位间隔距离。 附图说明 0029 图 1 是移位复用复频域光学相干层析扫描探测方法流程图 ; 0030 图 2 是移位复用复频域光学相干层析扫描探测系统组成示意图 ; 0031 图 3 是探测主点位置改变示意图。 0032 1、 超辐射发光二极管红外光源, 2、 扩束准直系统, 3、 衰减装置, 4、 分光棱镜, 5、 光 栅, 6、 透镜, 7、 图像采集器, 8、 载物平移台, 9、 样品, 10、 压电陶瓷平移台, 11、 反射镜。 具体实施方式 0033 下面参照附图详细说明本发明的典型实施例及其特征。 。
21、0034 本发明的移位复用复频域光学相干层析扫描探测方法, 按照如图 1 所示流程, 完 成以下步骤 : 1) 根据样品探测需要确定探测主点开始位置、 移位间隔距离、 有效探测范围以 及探测主点移动次数 ; 2) 改变探测主点位置, 分别获取每一个探测主点位置对应的一组定 步长相移干涉图, 直到达到要求的探测深度 ; 3) 对于获得的所有组定步长相移干涉图, 分别 进行相移去镜像和直流项处理 ; 4) 截取每幅无镜像和直流项样品层析图中心位置横向前后 各 N/2 个像素, 得到截取图像 ; 5) 将相距距离为合成参数 M、 按探测方向排列的 m 幅截取图 像合成为一张层析图, 得到样品探测结果。
22、。 0035 本发明的系统组成如图 2 所示, 包括发射光路系统, 接收光路系统, 分光棱镜反射 光路 (样品臂) 系统, 分光棱镜透射光路 (参考臂) 系统 ; 其中发射光路系统包括超辐射发光 说 明 书 CN 103018203 A 6 4/4 页 7 二极管红外光源 1、 扩束准直系统 2、 衰减装置 3、 分光棱镜 4 ; 接收光路系统包括光栅 5、 透 镜 6、 图像采集器 7 ; 分光棱镜反射光路 (样品臂) 系统包括载物平移台 8, 所述载物平移台 8 用于放置样品9 ; 分光棱镜透射光路 (参考臂) 系统包括压电陶瓷平移台10、 反射镜11。 所述 超辐射发光二极管红外光源1的。
23、中心波长为840 nm, 其最大波长和最小波长之差为80 nm ; 所述光栅5分辨率为每毫米1200线对 ; 所述图像采集器7的像素尺寸大小为1600*1200 ; 所 述样品 9 为三片载玻片, 载玻片具有简单的前后表面两层结构, 其折射率约为 1.5, 单片厚 度约为 1200um, 三片厚度约为 3600um。干涉图上干涉条纹所包含的横向像素为 1080, 根据 公式计算可知最大探测范围为 3170um, 复频域相干层析探测方法的探测范围也为 3170um 小于样品总厚度 3600um。 0036 本发明的实施例中的移位间隔距离 d 取值 500.00um ; 以探测主点为中心的有效 探。
24、测范围 d 取值 333.33um, 有效探测范围 d 小于复频域最大探测深度范围 ; 根据样品探测 要求, 探测主点移动次数为 10 次, 采集 11 组图像, 移位复用复频域光学相干层析扫描探测 法探测的有效探测范围总和为 333.33*11=3666.63um, 大于样品总厚度 3600um, 已经覆盖 整个样品深度 ; 采用四步定步长相移法去除镜像和直流项, 相移角为 /2。 0037 按图 2 所示光路建立移位复用复频域光学相干层析扫描探测系统, 调整载物平移 台 8 将探测主点位置置于样品前层表面 12, 如图 3 所示, 13 即为探测主点位置初始值, 对于 第一探测主点位置 1。
25、3, 用压电陶瓷平移台产生相移, 记录第一组四幅定步长相移干涉图, 然 后, 纵向深度方向移动载物平移台 8, 移位间隔距离 d 为 500um, 定位第二主点位置 14, 用 压电陶瓷平移台产生相移, 记录第二组四幅定步长相移干涉图 ; 依次定位第三主点位置 15 至第十一主点位置 16, 分别用压电陶瓷平移台产生相移, 记录 11 组对应的四幅定步长相移 干涉图。 用计算机程序对每组图像做四步相移算法处理, 进行去镜像和直流项处理, 然后完 成傅里叶逆变换, 得到每组的层析图像。根据所述有效探测范围 d, 计算得到层析图上截取 参数 N 为 168 像素, 进一步依照计算得到的截取参数 N。
26、 完成层析图像所述有效探测范围的 截取, 得到 11 组截取图像。根据所述移位间隔距离 d, 计算得到合成参数 M 为 168 像素, 并依照计算得到的合成参数M进行11组层析图像的合成, 完成对样品的移位复用复频域光 学相干层析扫描探测法成像。 0038 本发明的典型实施例的实验结果证明, 移位复用复频域光学相干层析扫描探测方 法和系统能有效完成对样品的层析探测, 并且可以将探测深度扩展到任意所需探测范围。 0039 尽管参考特定优选实施例详细描述了本发明, 在此描述的本发明实施例没有打算 是详尽的或者局限于所公开的具体形式。相反, 所选的用于说明问题的实施例是为了使本 技术领域内的技术人员实施本发明而选择的。 尽管本公开是结合采用压电陶瓷平移台进行 相移和四步相移去镜像处理描述的, 但是应当明白, 可以采用其他类型装置进行相移和其 他相移法去镜像处理。 在不脱离下面的权利要求所描述和限定的本发明的实质范围的情况 下, 存在变型例和修改例。 说 明 书 CN 103018203 A 7 1/2 页 8 图 1 说 明 书 附 图 CN 103018203 A 8 2/2 页 9 图 2 图 3 说 明 书 附 图 CN 103018203 A 9 。