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1、(10)申请公布号 CN 102479520 A (43)申请公布日 2012.05.30 CN 102479520 A *CN102479520A* (21)申请号 201010553068.4 (22)申请日 2010.11.22 G11B 7/0065(2006.01) G11B 7/125(2012.01) (71)申请人 大连兆阳软件科技有限公司 地址 116011 辽宁省大连市西岗区25号202 室 (72)发明人 栾晓健 (54) 发明名称 一种具有滤波功能的光电检测全息存储系统 (57) 摘要 一种具有滤波功能的光电检测全息存储系统 包括一个用于产生具有一定波长的参考光束的光 。
2、源 ; 以及一个用于有选择地检测与参考光束相应 的重构信号光束的光电检测器件。该光电检测器 件包括一个用于透射某波段内光线的带通滤波 器, 该波段包括重构信号光束的波长, 而且阻碍偏 离于此波段波长的光线 ; 以及一个用于检测透过 带通滤波器的光线的光电检测单元。 (51)Int.Cl. 权利要求书 1 页 说明书 3 页 附图 2 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书 1 页 说明书 3 页 附图 2 页 1/1 页 2 1. 一种具有滤波功能的光电检测全息存储系统, 其特征在于 : 包括一个用于产生具有某波长的参考光束的光源以及一个用于检测对应于参考光。
3、束 的重构信号光束的光电检测器件 ; 其中 (1) 该光电检测器件有选择地检测一个波段内的光线, 该波段包括重构信号光束的波 长, 光电检测器件包括一个用于透射某波段光线的带通滤波器, 该波段包括重构信号光束 的波长, 而且阻碍波长偏离于该波段的光线传输 ; 以及, 一个用于检测可以透射通过该带通 滤波器的光线的光电检测单元 ; (2) 带通滤波器是一个激光线型 (laser line) 带通滤波器 ; (3) 激光线型带通滤波器可透射波长在 532nm 左右的光线。 2. 根据权利要求 1 所述的一种具有滤波功能的光电检测全息存储系统, 其特征在于其 光电检测器件包括 : 一个用于透射某波段。
4、内光线的带通滤波器, 而且阻碍偏离于该波段波 长的光线以及一个用于检测透过该带通滤波器的光线的光电检测单元。 权 利 要 求 书 CN 102479520 A 2 1/3 页 3 一种具有滤波功能的光电检测全息存储系统 技术领域 0001 本发明涉及一种全息存储器系统, 尤其涉及一种具有滤波功能的光电检测全息存 储系统, 其中的带通滤波器可以充分地阻碍诸如太阳或照明器件发出的白光的噪声光束。 背景技术 0002 传统的全息存储系统通常使用页向 (page-oriented) 的存储方法。诸如空间光调 制器( SLM)的输入器件, 以二维阵列 (称为一页) 的形式显示所要记录的数据, 而在读出时。
5、, 使用诸如电荷耦合器件(CCD)相机或者CMOS检测器的光电检测器来恢复所记录的数据页。 此外, 还提出了其他的结构, 其中可用逐位 (bit by bit) 方法来替代页向方法。 0003 参考图 1, 图 1 示出了一种传统的页向全息存储系统。该传统页向全息存储系统 包括 : 光源100 ; 分光棱镜102 ; 反射镜104 ; 第一个快门105和第二个快门106 ; 空间光调制 器 (SLM)107 ; 第一透镜 108 和第二透镜 110; 光电检测器 112; 主轴马达 (spindle motor) 120 ; 和全息存储介质 130。光电检测器 112 是电荷耦合器件 (CCD。
6、) 相机或者 CMOS 检测器。 0004 图 1 所示的传统页向全息存储系统依照如下方法记录或恢复数据。光源 100 发射 出激光光束, 分光棱镜 102 将发射出的激光光束分成参考光束和信号光束。信号光束透射 通过分光棱镜102, 被引导至全息存储介质130, 而参考光束由分光棱镜102反射, 被引导至 反射镜104。 然后反射镜104反射参考光束, 使之以预先设定的入射角度照射到全息存储介 质 130 上。 0005 当在全息存储介质 130 中记录数据时, 第一快门 105 和第二快门 106 都打开, 以使 得信号光束可以传递到空间光调制器107上, 而参考光束可以传递到全息存储介质。
7、130上。 空间光调制器 107 将信号光束调制成基于页面的二进制像素数据。该调制后的信号光束经 由第一个透镜 108 传递到全息存储介质 130。全息存储介质 130 通过存储由反射的参考光 束和调制的信号光束之间发生干涉现象后得到的干涉图案来存储数据。 0006 另一方面, 在恢复记录于全息存储介质130上的数据时, 只有第一个快门105是打 开的, 所以被反射的参考光束就可以传递到全息存储介质 130, 而第二个快门 106 关闭。为 了重构记录于介质 130 上的数据, 当参考光束辐射到介质 130 时, 介质 130 中记录的干涉图 案对参考光束进行衍射, 从而重构出信号光束。光电检。
8、测器 112 经由第二个透镜 110 检测 到重构的信号光束, 然后光电检测器 1 12 将重构的信号光束转换成电信号。 0007 但是, 当恢复过程不是在完全黑暗的条件下进行时, 来自太阳或是照明器件的白 光则有可能在恢复过程中入射到光电检测器内。由于白光是主要的噪声成因, 所以恢复数 据的信噪比 (S/N) 就会下降。因此, 全息存储系统要求光电检测器件在检测重构的信号光 束时能够充分地阻止白光入射其中。 发明内容 0008 本发明的目的是提供一种全息存储系统, 其中包括为了提高恢复数据信噪比 (S/ N) 而有选择地检测预定波长的重构信号光束的光电检测器件。 说 明 书 CN 10247。
9、9520 A 3 2/3 页 4 0009 依照本发明的一个方面, 所提供的全息存储系统包括 : 用于产生具有某个波长的 参考光束的光源 ; 用于检测和参考光束相应的重构信号光束的光电检测器件, 该光电检测 器件有选择地检测一个波段的光信号, 该波段包括重构信号光束的波长。 0010 光电检测器件可以包括一个带通滤波器, 该滤波器用于透射包括重构信号光束波 长在内的波段的光线, 而且可以阻挡偏离于此波段波长的光线传输 ; 以及一个用于检测透 射通过带通滤波器的光线的光电检测单元。 0011 根据本发明的另一方面, 提供了一个用于全息存储系统的光电检测器件, 该光电 检测器件包括 : 一个带通滤。
10、波器, 用于透射某个波段光线, 而阻挡偏离此波段波长的光线传 输 ; 和一个用于检测透射通过该带通滤波器的光线的光电检测单元。 附图说明 0012 图 1 显示了传统的页向全息存储系统 ; 图 2 阐明了根据本发明的页向全息存储系统 ; 图 3 显示了根据本发明的选择性光电检测器件 ; 以及, 图 4 是一幅显示了带通滤波器的归一化透射光强和光线波长之间关系的曲线图。 具体实施方式 0013 下面, 参考图 2 至图 4 描述本发明的优选实施例。在附图中同样的标号代表同样 的部件。 0014 参考图 2, 图 2 显示了根据本发明的优选实施例的页向全息存储系统, 除改进的光 电检测器件 200。
11、 以外, 此系统和图 1 中传统全息存储系统类似。因此, 略去和传统全息存储 系统中相同部件的详细描述。 0015 参考图 3, 图 3 显示了本发明的光电检测器件 200。该光电检测器件 200 包括一个 带通滤波器 210 和一个光电检测单元 220。带通滤波器 210 有选择地透射预定波段中的光 线, 阻挡其它波长的光线。带通滤波器 2 1 0 最好是激光线型 (laser line) 带通滤波器。 0016 光电检测单元 220, 比如, 可以是 CCD 摄像机或者 CMOS 检测器, 检测透过带通滤波 器 210 的预定波长的光线, 然后将其转换成电信号。 0017 当恢复记录在全息。
12、存储介质130上的数据时, 第二个快门106关闭, 只有第一个快 门 105 打开, 以使得参考光束可辐射到介质 130 上从而重构出记录在其上的数据。该参考 光束被介质 130 上的干涉图案衍射, 所以就生成了预定波长的重构信号光束。重构信号光 束经由第二个透镜 110 引导到光电检测器件 200。光电检测器件 200 的带通滤波器 210 将 该预定波长的信号光束透射至光电检测单元 220, 比如该预定波长为 532nm, 而且阻挡周围 偏离预定波段波长的光线。该光电检测单元 220 把重构信号光束转换成电信号。 0018 该带通滤波器 210 最好对于 532nm 波长的光线具有最高的透。
13、射强度。 0019 参考图 4, 图 4 提供了一张显示带通滤波器 210 的归一化透射强度和光线波长之 间关系的曲线图。 由图 4 可知, 光电检测器件 200 的带通滤波器 210 具有有选择地透过 以 532nm 为中心的特定波段光线的特性。也就是说, 在全息存储系统中, 带通滤波器 210 透 射 532nm 波长的信号光束, 而抑制周围波长偏离于上述波段的光线。结果, 光电检测单元 220 可以检测 532nm 波长的重构信号光束, 但是波长偏离于上述波段的光线就被带通滤波 说 明 书 CN 102479520 A 4 3/3 页 5 器 210 阻挡住。因此, 光电检测单元 220。
14、 检测到的白光数量就会显著减少, 所以可以降低重 构信号光束的噪声, 从而提高恢复数据的信噪比 (S/N)。 0020 尽管在上述实施例中已经描述过页向的全息存储系统, 但仍然可以想见, 本发明 还可以施加到应用逐位方法的全息存储系统中。 0021 尽管本发明是参照其优选实施例来描述的, 但本领域的技术人员应该可以理解, 在不脱离由所附权利要求限定的本发明的精神和范围的情况下, 可以对其进行变形和修 改。 说 明 书 CN 102479520 A 5 1/2 页 6 图 1 图 2 说 明 书 附 图 CN 102479520 A 6 2/2 页 7 图 3 图 4 说 明 书 附 图 CN 102479520 A 7 。