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一种使用ICP光谱法测定精锂中钙含量的方法.pdf

  • 上传人:li****8
  • 文档编号:4617225
  • 上传时间:2018-10-22
  • 格式:PDF
  • 页数:6
  • 大小:340.42KB
  • 摘要
    申请专利号:

    CN201110288326.5

    申请日:

    2011.09.26

    公开号:

    CN102507537A

    公开日:

    2012.06.20

    当前法律状态:

    驳回

    有效性:

    无权

    法律详情:

    发明专利申请公布后的驳回IPC(主分类):G01N 21/73申请公布日:20120620|||实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/73申请日:20110926|||公开

    IPC分类号:

    G01N21/73

    主分类号:

    G01N21/73

    申请人:

    西南铝业(集团)有限责任公司

    发明人:

    陈雄立

    地址:

    401326 重庆市九龙坡区西彭镇

    优先权:

    专利代理机构:

    北京集佳知识产权代理有限公司 11227

    代理人:

    逯长明

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    内容摘要

    本发明实施例提供一种使用ICP光谱法测定精锂中钙含量的方法,以提高作业过程的安全性和降低生产成本。所述方法包括以下步骤:(1)使用待测精锂制备锂元素含量为100毫克的待测试液;(2)确定测定所述待测精锂中钙含量所需的标准工作曲线;(3)将所述待测试液引入电感耦合等离子体ICP发射光谱仪,根据所述标准工作曲线确定所述待测精锂中的钙含量。本发明实施例提供的使用ICP光谱法测定精锂中钙含量的方法可以消除了作业过程的安全隐患,作业过程安全度得到很大提高;另一方面,测量过程无需专门的备件,降低生产成本并且灵敏度比使用原子吸收光谱法高。

    权利要求书

    1: 一种使用 ICP 光谱法测定精锂中钙含量的方法, 其特征在于, 所述方法包括以下步 骤: (1) 使用待测精锂制备锂元素含量为 100 毫克的待测试液 ; (2) 确定测定所述待测精锂中钙含量所需的标准工作曲线 ; (3) 将所述待测试液引入电感耦合等离子体 ICP 发射光谱仪, 根据所述标准工作曲线 确定所述待测精锂中的钙含量。
    2: 如权利要求 1 所述的方法, 其特征在于, 所述确定测定所述待测精锂中钙含量所需 的标准工作曲线包括 : 移取一组 0 毫升, 1.00 毫升, 2.00 毫升,
    3: 00 毫升,
    4: 00 毫升钙标准溶液分别置于一组 25 毫升容量瓶中, 加水稀释至 25 毫升刻度处, 混匀, 所述钙标准溶液浓度为 0.002 毫克每毫 升; 将所述混匀的一组钙标准溶液引入电感耦合等离子体 ICP 发射光谱仪中, 绘制测定所 述待测精锂中钙含量所需的标准工作曲线。 3. 如权利要求 2 所述的方法, 其特征在于, 所述绘制测定所述待测精锂中钙含量所需 的标准工作曲线包括 : 测量所述混匀的一组钙标准溶液的光强度 ; 以所述混匀的一组钙标准溶液中的钙含量为横坐标, 以所述混匀的一组钙标准溶液所 得的光强度为纵坐标, 绘制所述标准工作曲线。 4. 如权利要求 3 所述的方法, 其特征在于, 所述将所述待测试液引入电感耦合等离子 体 ICP 发射光谱仪, 根据所述标准工作曲线确定所述待测精锂中的钙含量包括 : 将所述待测试液引入电感耦合等离子体 ICP 发射光谱仪, 测量所述待测试液的光强 度; 从所述标准工作曲线中查找到所述待测精锂中的钙含量。

    说明书


    一种使用 ICP 光谱法测定精锂中钙含量的方法

        【技术领域】
         本发明涉及合金含量检测领域, 尤其涉及一种使用 ICP 光谱法测定精锂中钙含量 的方法。背景技术
         原子吸收光谱法是利用气态原子可以吸收一定波长的光辐射, 使原子中外层的电 子从基态跃迁到激发态的现象而建立的。由于各种原子中电子的能级不同, 将有选择性地 共振吸收一定波长的辐射光, 这个共振吸收波长恰好等于该原子受激发后发射光谱的波 长, 由此可作为元素定性的依据, 而吸收辐射的强度可作为定量的依据。 由于具有检出限低 准确度高、 选择性好 ( 即干扰少 ) 和分析速度快等优点, 因此, 原子吸收光谱法已成为无机 元素定量分析应用最广泛的一种分析方法。
         原子吸收光谱法大体又可分为非火焰原子化法和火焰原子化法, 其中, 后者是原 子吸收光谱分析中最早使用的原子化方法, 至今仍在广泛地被应用。由于在火焰及石墨炉 原子化过程中, 化学干扰的机理很复杂, 消除或抑制其化学干扰可根据具体情况提高火焰 温度, 以使难挥发、 难解离的化合物较完全基态原子化。
         现有的一种测定精锂中钙含量的方法也是原子吸收光谱法。如前所述, 原子吸收 光谱法的火焰原子化过程中有提高火焰温度这一措施, 而这可能需要用到一氧化氮气体。 由于一氧化氮为有毒危险品, 与空气、 乙炔气混合要发生爆炸, 存在安全隐患 ; 另一方面, 这 种方法还需要专门的燃烧头, 增加了测量的生产成本。 发明内容
         本发明实施例提供一种使用 ICP 光谱法测定精锂中钙含量的方法, 以提高作业过 程的安全性和降低生产成本。
         本发明实施例提供一种使用 ICP 光谱法测定精锂中钙含量的方法, 所述方法包括 以下步骤 : (1) 使用待测精锂制备锂元素含量为 100 毫克的待测试液 ; (2) 确定测定所述待 测精锂中钙含量所需的标准工作曲线 ; (3) 将所述待测试液引入电感耦合等离子体 ICP 发 射光谱仪, 根据所述标准工作曲线确定所述待测精锂中的钙含量。
         可选地, 所述确定测定所述待测精锂中钙含量所需的标准工作曲线包括 : (1) 移 取一组 0 毫升, 1.00 毫升, 2.00 毫升, 3.00 毫升, 4.00 毫升钙标准溶液分别置于一组 25 毫 升容量瓶中, 加水稀释至 25 毫升刻度, 混匀, 所述钙标准溶液浓度为 0.002 毫克每毫升 ; (2) 将所述一组混匀钙标准溶液引入电感耦合等离子体 ICP 发射光谱仪中, 绘制测定所述待测 精锂中钙含量所需的标准工作曲线。
         可选地, 所述绘制测定所述待测精锂中钙含量所需的标准工作曲线包括 : 测量所 述混匀的一组钙标准溶液的光强度 ; 以所述混匀的一组钙标准溶液中的钙含量为横坐标, 以所述混匀的一组钙标准溶液所得的光强度为纵坐标, 绘制所述标准工作曲线。
         可选地, 所述将所述待测试液引入电感耦合等离子体 ICP 发射光谱仪, 根据所述标准工作曲线确定所述待测精锂中的钙含量包括 : 将所述待测试液引入电感耦合等离子体 ICP 发射光谱仪, 测量所述待测试液的光强度 ; 从所述标准工作曲线中查找到所述待测精 锂中的钙含量。
         从上述本发明实施例提供的使用 ICP 光谱法测定精锂中钙含量的方法可知, 由于 上述方法并没有使用一氧化氮等有毒危险品, 在确定测定待测精锂中钙含量所需的标准工 作曲线后, 将锂元素含量为 100 毫克的待测试液引入 ICP 发射光谱仪, 根据所述标准工作曲 线即可确定所述待测精锂中的钙含量。因此, 与现有技术使用原子吸收光谱法测定精锂中 钙含量的方法相比, 本发明实施例提供的使用 ICP 光谱法测定精锂中钙含量的方法可以消 除了作业过程的安全隐患, 作业过程安全度得到很大提高 ; 另一方面, 测量过程无需专门的 备件, 降低生产成本并且灵敏度比使用原子吸收光谱法高。 附图说明 为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案, 下面将对现有技术或实施例描述中 所需要使用的附图作简单地介绍, 显而易见地, 下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实 施例, 对于本领域技术人员来讲, 还可以如这些附图获得其他的附图。
         图 1 是本发明实施例提供的一种使用 ICP 光谱法测定精锂中钙含量的方法流程示 意图。
         具体实施方式
         下面将结合本发明实施例中的附图, 对本发明实施例中的技术方案进行清楚、 完 整地描述, 显然, 所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例, 而不是全部的实施例。基于 本发明中的实施例, 本领域技术人员所获得的所有其他实施例, 都属于本发明保护的范围。
         请参阅附图 1, 是本发明实施例提供的一种使用 ICP 光谱法测定精锂中钙含量的方法。 在本发明实施例提供的使用 ICP 光谱法测定精锂中钙含量的方法中, 所使用到的 电感耦合等离子体 (Inductively Coupled Plasma, ICP) 发射光谱仪的工作参数为 : 输出功 率为 1100 瓦特 (W), 等离子气流量为 12 升每分钟 (L/min), 雾化器压力 1.0bar, 蠕动泵转速 为 20 转每分钟 (rates/min) ; 波长为 393.366 纳米 (nm)。附图 1 示例的使用 ICP 光谱法测 定精锂中钙含量的方法主要包括以下步骤 :
         S101, 使用待测精锂制备锂元素含量为 100 毫克的待测试液。
         在本发明实施例中, 可以从待测精锂中取少量精锂, 例如, 1 克作为试样, 制备锂元 素含量为 100 毫克的待测试液。将所述含 100mg 锂的待测试液放入容量瓶中并加水至 25 毫升后混匀。
         S102, 确定测定所述待测精锂中钙含量所需的标准工作曲线。
         ICP 发射光谱仪的检测原理为 : 利用激发光源使试样溶液蒸发汽化, 离解或分解 为原子状态, 原子可能进一步电离成离子状态, 原子或离子在光源中受到激发而发光 ; 利用 光谱仪器将光源发射的光分解为按波长排列的光谱 ; 利用光电器件检测光谱, 按测定得到 的光谱波长对试样进行定性分析, 按照发射光强度进行定量分析。
         在本发明实施例中, 可以移取一组 0 毫升, 1.00 毫升, 2.00 毫升, 3.00 毫升, 4.00
         毫升钙标准溶液分别置于一组 25 毫升容量瓶中, 稀释至 25 毫升刻度处, 混匀, 所述钙标准 溶液浓度为 0.002mg/ml。 然后, 将所述混匀的一组钙标准溶液引入 ICP 发射光谱仪中, 绘制 测定所述待测精锂中钙含量所需的标准工作曲线。具体地, 选择 ICP 发射光谱仪的最佳测 定条件, 在 393.366nm 波长处, 测量所述混匀的一组钙标准溶液的光强度。然后, 以所述混 匀的一组钙标准溶液中的钙含量为横坐标, 以所述混匀的一组钙标准溶液所得的光强度为 纵坐标, 绘制所述标准工作曲线。在所述标准工作曲线的相关系数大于或等于 0.999 时, 即 可进行待测精锂中钙含量的测定。
         S103, 将所述待测试液引入 ICP 发射光谱仪, 根据所述标准工作曲线确定所述待 测精锂中的钙含量。
         具体地, 将步骤 S101 中含 100mg 锂元素的混匀的待测试液引入 ICP 发射光谱仪, 再从步骤 S102 绘制的标准工作曲线上查找待测精锂中相应的钙量。可以按下式计算待测 精锂中钙的质量分数 : 上述公式中, ω(Ca) 为钙的质量分数, 按照百分比 (% ) 计, m1 为从绘制的标准工作曲线上查得的钙量, 单位为 g ; 数字 0.1 为待测试 液中所锂元素, 单位为毫克 (mg)。 从上述本发明实施例提供的使用 ICP 光谱法测定精锂中钙含量的方法可知, 由于 上述方法并没有使用一氧化氮等有毒危险品, 在确定测定待测精锂中钙含量所需的标准工 作曲线后, 将锂元素含量为 100 毫克的待测试液引入 ICP 发射光谱仪, 根据所述标准工作曲 线即可确定所述待测精锂中的钙含量。因此, 与现有技术使用原子吸收光谱法测定精锂中 钙含量的方法相比, 本发明实施例提供的使用 ICP 光谱法测定精锂中钙含量的方法可以消 除了作业过程的安全隐患, 作业过程安全度得到很大提高 ; 另一方面, 测量过程无需专门的 备件, 降低生产成本并且灵敏度比使用原子吸收光谱法高。
         以上对本发明实施例提供的使用 ICP 光谱法测定精锂中钙含量的方法进行了详 细介绍, 本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述, 以上实施例的说 明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想 ; 同时, 对于本领域的一般技术人员, 依据 本发明的思想, 在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处, 综上所述, 本说明书内容不 应理解为对本发明的限制。
        

    关 键  词:
    一种 使用 ICP 光谱 测定 精锂中钙 含量 方法
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