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测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置.pdf

  • 上传人:1****2
  • 文档编号:4597850
  • 上传时间:2018-10-21
  • 格式:PDF
  • 页数:5
  • 大小:207.09KB
  • 摘要
    申请专利号:

    CN201410784900.X

    申请日:

    2014.12.17

    公开号:

    CN104568381A

    公开日:

    2015.04.29

    当前法律状态:

    撤回

    有效性:

    无权

    法律详情:

    发明专利申请公布后的视为撤回IPC(主分类):G01M 11/00申请公布日:20150429|||实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/00申请日:20141217|||公开

    IPC分类号:

    G01M11/00

    主分类号:

    G01M11/00

    申请人:

    中国科学院半导体研究所

    发明人:

    王玮钰; 于丽娟; 孙文惠; 刘建国; 祝宁华

    地址:

    100083北京市海淀区清华东路甲35号

    优先权:

    专利代理机构:

    中科专利商标代理有限责任公司11021

    代理人:

    任岩

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    内容摘要

    一种测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置,包括:一光源;一偏振控制器,其输入端与光源的输出端相连;一光隔离器,其输入端与偏振控制器的输出端相连;一半导体光发大器,其输入端与光隔离器的输出端相连;一光功率测试仪,其输入端与半导体光发大器的输出端相连。本发明具有结构简单、成本低,测试方法精度高的优点。

    权利要求书

    1.  一种测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置,包括:
    一光源;
    一偏振控制器,其输入端与光源的输出端相连;
    一光隔离器,其输入端与偏振控制器的输出端相连;
    一半导体光发大器,其输入端与光隔离器的输出端相连;
    一光功率测试仪,其输入端与半导体光发大器的输出端相连。

    2.
      根据权利要求1所述的测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置,其中该光源是半导体窄线宽激光器或可调谐激光器。

    3.
      根据权利要求1所述的测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置,其中所述偏振控制器的带宽大于半导体光放大器的带宽。

    4.
      根据权利要求1所述的测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置,其中所述光源的波长包含在半导体光放大器的超辐射谱之内。

    5.
      根据权利要求1所述的测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置,其中该光功率测试仪是光功率计或光谱分析仪。

    说明书

    测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置
    技术领域
    本发明属于光电子技术领域,特别涉及一种测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置。
    背景技术
    半导体光放大器(SOA)由于体积小、成本低、易与其他光电器件集成,在全光通信系统中将发挥至关重要的作用,利用SOA可以构成光开关列阵及光交换系统,光放大器波长转换在以波分复用技术为核心的全光网络中更是具有许多独到的应用。在光纤通信系统中,半导体光放大器的主要性能指标包括:小信号增益、噪声指数、增益带宽、偏振灵敏度。传统的测试半导体光放大器偏振灵敏度的方法,需要将TE模和TM模区分开来,即首先用TE偏振的半导体激光器的输出光耦合入偏振控制器,调整偏振控制器至功率最大,来确定TE模所对应的角度,偏振控制器旋转90度即为TM模所对应的角度,再将半导体光放大器与偏振控制器相连,分别测出TE模和TM模的增益,即可计算出半导体光放大器的偏振灵敏度。该方法过于复杂,且精度不高。
    发明内容
    本发明的目的在于,提供一种测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置,具有结构简单、成本低,测试方法精度高的优点。
    本发明提供一种测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置,包括:
    一光源;
    一偏振控制器,其输入端与光源的输出端相连;
    一光隔离器,其输入端与偏振控制器的输出端相连;
    一半导体光发大器,其输入端与光隔离器的输出端相连;
    一光功率测试仪,其输入端与半导体光发大器的输出端相连。
    从上述技术方案可以看出,本发明具有以下有益效果:
    本发明提供的一种测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置,具有结构简单、成本低,测试方法精度高的优点。
    附图说明
    为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明作进一步的详细说明,其中:
    图1是本发明的结构示意图;
    图2是本发明测量半导体光放大器偏振灵敏度的理论示意图。
    具体实施方式
    请参阅图1所示,本发明提出的一种测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置,该系统包括:
    一光源10,所述光源10可以是半导体窄线宽激光器,也可以是可调谐激光器;
    一偏振控制器11,其输入端与光源10的输出端相连;
    一光隔离器12,其输入端与偏振控制器11的输出端相连;
    一半导体光发大器13,其输入端与光隔离器12的输出端相连;
    其中,所述偏振控制器11的带宽要大于所述半导体光放大器13的带宽;所述光源10的波长要包含在所述半导体光放大器13的超辐射谱之内;
    一光功率测试仪14,其输入端与半导体光发大器13的输出端相连;所述光功率测试仪14可以是光功率计,也可以是光谱分析仪。
    测量半导体光放大器14的偏振灵敏度时,连续调节偏振控制器11,输入到半导体光放大器13的激光历经各个偏振态,并记录下光功率测试仪14的最大读数Pmax和Pmin,则该半导体光放大器13的偏振灵敏度为Pmax-Pmin(dB)。
    请参阅图2,图2为所述半导体光放大器偏振灵敏度的装置的理论示意图,当光源10产生的激光经过偏振控制器11和光隔离器12以α角耦 合到半导体光放大器13中,将分别在TE和TM两个偏振态上得到增益,并在输出后合成为一个偏振态。理想情况下,半导体光放大器13在两个偏振态上的增益相同,即无论如何调节偏振控制器,输出功率都不变。但实际上,半导体光放大器13在两个偏振态上的增益不可能完全相同,连续调节偏振控制器11时,输出光的功率会发生变化,当输入光完全与TE模或TM模重合时,即α=0。或α=90。时光功率达到最大或最小,此时,光功率可以表征半导体光放大器13在单独偏振态上的输出功率。假设输入光的功率为P,则半导体光放大器13在两个偏振态上的增益分别为Gmax=Pmax-P,Gmin=Pmin-P,根据半导体光放大器13偏振灵敏度的定义,ΔG=|GTE-GTM|,则可以得出半导体光放大器13的偏振灵敏度为ΔG=Gmax-Gmin=Pmax-Pmin
    以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

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    测量 半导体 放大器 偏振 灵敏度 装置
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