测试光学模块的装置与方法.pdf

本发明有关于测试光学模块的方法及装置。本发明的方法使用一光学模块测试装置以测试一光学模块，该方法包含将光学模块固定在光学模块测试装置，再移动一测试图使测试图通过光学模块，以获得一图像图，判断光学模块是否具有缺陷。本发明的光学模块测试装置用于测试一光学模块，该装置包含一装载单元以及一驱动单元。其中装载单元用于固定光学模块；驱动单元用以移动一测试图，使测试图通过光学模块，获得一图像图以判断光学模块是否具有缺陷。

1.  一种测试光学模块的方法，利用具有一装载单元的一光学模块测试装置及一测试图，该方法包含下列步骤：
将该光学模块固定在该装载单元内；
移动该测试图使该测试图通过该光学模块，以提取该测试图的图像而获得一图像图；以及
比较该测试图及该图像图，以判断该光学模块是否具有缺陷。

2.  如权利要求1所述的方法，其中该测试图包含一黑色区域。

3.  如权利要求2所述的方法，其中比较该测试图及该图像图的步骤中，当该图像图较该测试图多一亮线时，则表示该光学模块具有缺陷。

4.  如权利要求1所述的方法，其中该光学模块可由该装载单元拔出。

5.  如权利要求2所述的方法，其中该测试图还包含与该黑色区域相邻的一白色区域。

6.  一种光学模块测试装置，应用于测试一光学模块，该装置包含：
一装载单元，用于容纳该光学模块；以及
一驱动单元，用以移动一测试图，使该测试图通过该光学模块，以提取该测试图的图像而获得一图像图，以判断该光学模块是否具有缺陷。

7.  如权利要求6所述的光学模块测试装置，其中该测试图包含一黑色区域。

8.  如权利要求7所述的光学模块测试装置，其中判断该光学模块是否具有缺陷比较该测试图及该图像图，当该图像图较该测试图多一亮线时，则表示该光学模块具有缺陷。

9.  如权利要求7所述的光学模块测试装置，该装置还包含一控制单元，用以记录该图像图并判断该光学模块是否具有缺陷。

10.  如权利要求9所述的光学模块测试装置，其中判断该光学模块是否具有缺陷用该控制单元比较该测试图及该图像图，当该图像图较该测试图多一亮线时，则表示该光学模块具有缺陷。

11.  如权利要求8所述，其中该测试图还包含与该黑色区域相邻的一白色区域。

测试光学模块的装置与方法
技术领域
本发明有关于一种测试光学模块的方法及装置，特别用在测试图像提取装置的光学模块的方法及装置。
背景技术
图像提取装置其原理是将光线照射至欲获取图像的物体上，光线反射回来后由光学模块接收，并将光学信号转换为模拟信号，最后再转换为计算机可以显示、编辑、储存和输出的数字格式。其中图像是指照片、文字页、图形和插画等，甚至如硬币或纺织品等三维物件都算是图像的一种。
由于光学模块是确保图像质量的重要关键，因此在图像提取装置出厂之前的测试中都会有测试光学模块的项目，以确保图像质量。请参阅图1a、1b，图像提取装置100包含一视窗玻璃102(window glass)及一光学模块103。公知技术中测试光学模块方法的说明请参阅图2，公知技术中测试光学模块方法为在图像提取装置100组装完毕(步骤201)；在视窗玻璃102上放置一测试图101(test chart)(步骤202)；启动图像提取装置100(步骤203)；光学模块103移动(步骤204)，并通过测试图(test chart)101；提取测试图101的图像(步骤205)；获得图像图(image graph)(步骤206)；比较测试图101及图像图(步骤207)；判断图像图是否多一亮线(步骤208)；当图像图较测试图101多出亮线时，则可知该光学模块103具有缺陷(步骤209)。
然而，由于是在光学模块103在图像提取装置100组装完成后进行测试，因此当判断光学模块103具有缺陷时，必须拆解整个图像提取装置100，检视光学模块103以分析缺陷来源。而拆解装置耗时耗人力、效率低。除此之外，组装图像提取装置100属后段制造程序，因此当发现光学模块103具有缺陷，则同批使用同样条件、机台制造出的光学模块亦有缺陷的疑虑，必须整批追回以进行详尽的测试，费时费力亦不符合经济效益。
发明内容
鉴于上述公知技术中的测试光学模块的缺点，本发明提出一种测试光学模块的方法及装置，在一光学模块制成时即可测试光学模块。
本发明的一方面提供一种测试光学模块的方法，在一光学模块制成后即可测试光学模块，可提早发现具有缺陷的光学模块及造成缺陷的来源，提高经济效益。
本发明的另一方面是提供一种光学模块测试装置，可使一光学模块即装即测，精确并有效率测试光学模块，具有高经济效益。
依据本发明具体实施例的测试光学模块方法，使用一光学模块测试装置以测试一光学模块。测试光学模块方法将光学模块固定在光学模块测试装置，再移动一测试图使测试图通过光学模块，以提取测试图的图像而获得一图像图，最后判断光学模块是否具有缺陷。
依据本发明具体实施例的光学模块测试装置，包含一装载单元及一驱动单元。其中装载单元用于固定一光学模块；驱动单元用以移动一测试图，使测试图通过光学模块，以提取测试图的图像而获得一图像图，判断光学模块是否具有缺陷。
附图说明
图1a为图像提取装置的俯视图；
图1b为图像提取装置的侧视图；
图2为公知技术的测试光学模块的流程图；
图3a为本发明的光学模块测试装置的俯视图；
图3b、3c为本发明的光学模块测试装置的图(图3a为I至I′切面图，图3b为II至II′切面图)；
图4为本发明的测试光学模块的流程图；
图5a、b为测试图
图6a、b为测试光学模块所得的图像图
附图元件符号说明
100图像提取装置              101，301测试图
102视窗玻璃                  103，303光学模块
300光学模块测试装置          305黑色区域
307白色区域                  309装载单元
311驱动单元             313手插排线
315控制单元             316马达
317转轴                 318皮带
319测试平台             320连接单元
具体实施方式
本发明是一种测试光学模块的方法及装置，在一光学模块制成时即可进行光学模块测试，以免除公知技术中须拆解整个图像提取装置100所需的人力及时间，符合经济效益。
依据本发明具体实施例的测试光学模块方法使用一种光学模块测试装置300以测试一光学模块303，请参阅图3a、3b，该光学模块测试装置300包含一装载单元309及一驱动单元311。本发明具体实施例的测试光学模块方法请参阅图4，以获得详细的说明。测试光学模块方法首先固定光学模块303在光学模块测试装置300上(步骤401)，以装载单元309容纳并承载光学模块303在光学模块测试装置300上，使得光学模块303固定并与光学模块测试装置300电气连接。其后启动光学模块测试装置300(步骤402)。通过驱动单元311，移动测试图301，并使测试图301通过光学模块303(步骤403)。当测试图301通过光学模块303时，光学模块303提取测试图图像(步骤404)以获得一图像图(步骤405)。提取图像过程是光线照射至测试图301，再经反射后由光学模块303接收并将模拟信号解读后，模拟信号再转成数字信号送至光学模块测试装置300。
在制造图像提取装置的过程中，因机器耗损及人为疏失等原因，造成光学模块303具有缺陷。光学模块303的缺陷包含落在光学模块303镜面上的灰尘(mirror dust)，诸如毛丝、白点、黑点、印痕等，以及镜面亮点、气孔等质量缺陷。这种缺陷对提取到的图像造成影响，一般会在图像上留下一条亮线，影响图像提取的质量。
因此，如图5所示，本发明所使用的测试图301至少包含一黑色区域305(图5a)，或是兼具黑色区域305(图5a)与一白色区域307(图5b)，当光学模块303具有缺陷时，例如灰尘诸如毛丝、白点、黑点、印痕等落在光学模块303镜片上，或镜片本身具有亮点、气孔等质量缺陷时，光线照射至测试图301，再经反射后由具有缺陷的光学模块303接收将形成一亮点，因此当测试图301黑色区域305通过该光学模块303时，将在所得的图像黑色区域上形成亮线。测试光学模块303所得的图像图参见图6a、6b，图6a是正常的光学模块303所得的图像图，图6b是异常的光学模块303所得的图像图，图6b箭头所指为光学模块303异常所造成的亮线。在获得图像图后(步骤405)，比较测试图及图像图(步骤406)，判断图像图是否多亮线(步骤407)，例如由肉眼或机械判断该图像图是否较测试图301多亮线。较佳实施例采用一具有黑色区域305与白色区域307相邻的测试图301，此时图像图的亮线尤为明显。
当图像图较测试图301多出亮线时，则光学模块303异常，具有缺陷(步骤408)，将光学模块303拔出光学模块测试装置300，则可替换光学模块303(步骤409)以进行下一次测试。反之，图像图较测试图301无亮线，则表示光学模块303正常(步骤410)，组装图像提取装置(步骤411)则可出货(步骤412)。使用本发明的测试光学模块方法，在光学模块303制成后即可进行测试，因此当光学模块303具有缺陷时，仅需将光学模块303拔出，即可进行下一次光学模块的测试，以进行一连串测试光学模块。如此可免除公知技术拆解整个图像提取装置100所需的人力及时间，并可提早发现具有缺陷的光学模块及造成缺陷的来源，以减少制造操作所做的努力，借此降低工时，提高经济效益。
相较于公知技术中测试光学模块方法移动光学模块103使光学模块103通过测试图101，获得图像图。与其不同，本发明光学模块测试以固定光学模块303，移动测试图301使测试图301通过光学模块303以获得图像图。若图像图较测试图301多出亮线，即光学模块具有缺陷时，公知技术须拆除图像提取装置100(步骤210)，替换光学模块103(步骤211)，并再组装成图像提取装置100以进行下一次测试光学模块，至光学模块正常(步骤212)才可出货(步骤213)。与其不同，本发明在光学模块303具有缺陷时仅需将光学模块303拔出以替换光学模块303，并插入另一个光学模块，当光学模块测试正常即组装成图像提取装置并出货。此为本发明与公知技术明显区别之处。
依据本发明具体实施例的光学模块测试装置，请参阅图3a、3b，以获得详细的说明。光学模块测试装置300包含一装载单元309、一传动单元311。装载单元309用于容纳并承载光学模块303，连接光学模块303及光学模块测试装置300，使得光学模块303固定并与光学模块测试装置300电气连接，例如以一手插排线313电气连接光学模块303与光学模块测试装置300。
驱动单元311作为移动测试图301之用，驱动单元311在一具体实施例中包含一马达316、一转轴317、一皮带318及一可移动式测试平台319。马达316及转轴317带动皮带318，皮带318以一连接单元320连接皮带318及可移动式测试平台319，则当皮带318移动时带动可移动式测试平台319运动，使测试平台319上置放的测试图301移动。当测试图301通过光学模块303，则测试图301的图像得以被提取而形成一图像图。其中，测试图301包含一黑色区域305，当光学模块303具有缺陷时，比较测试图301及图像图，则可明显观察到一亮线在图像图地黑色区域。测试图301较佳实施例包含黑色区域305(图5a)及一白色区域307(图5b)时，具有缺陷的光学模块303使得图像图的黑色区域与白色区域相邻处的亮线尤为明显。
本发明具体实施例的光学模块测试装置还包含一控制单元315以记录并执行图像比较。控制单元315记录图像图并比较测试图301及图像图，当控制单元315读取到一连续白色数据，则控制单元315送出光学模块303具有缺陷的信号，此时的图像图较测试图301多亮线。参见图6，图6a是正常的光学模块303所得的图像图，图6 b是异常的光学模块303所得的图像图。
使用本发明的光学模块测试装置300可精确并有效率测试光学模块303，当光学模块303具有缺陷时，仅需将光学模块303与装载单元309连接处拆除即可拆卸光学模块303，以利进行下一次测试。而公知技术是将测试图101置于待测试的图像提取装置100上，以获得图像图，当光学模块103具有缺陷时须拆解整个图像提取装置100，以检视光学模块103。因此，本发明的光学模块测试装置300提供一个可使光学模块303即装即测的装置，可免除公知技术拆解整个图像提取装置100的缺点，可减少所需的人力及时间。
本发明通过参考不同的实施例描述如上，本领域的技术人员会认识到，若干一般的替换无疑地亦不脱离本发明的精神及范畴。然而，不能以其限定本发明的范围，即依本发明所揭示的构思所进行的等效变化或修改，仍应涵盖在本发明的范围内。