点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法.pdf

本发明公开了点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，包括点阵结构体测试机、功能检测切换辅助装置和待学习点阵结构体，所述点阵结构体测试机内设智能测试处理模块，与外部设置的插架插入槽连接，所述功能检测切换辅助装置设置有第一端排线安装插头、线束排线组和第二端排线安装插头，依次相互连接，所述点阵结构体测试机通过插架插入槽与待学习点阵结构体连接，连接完成后，智能测试处理模块通过一系列自动执行步骤，能够识别出待学习点阵结构体的规格型号，并自动生成相应的最佳测试程序组合。本发明能够让点阵结构体测试机自动识别未知的新款点阵结构体，为其自动生成测试检验程序，省去人工制作治具、编程、测试等常规程序，既节省了大量的人力，物力，也节省大量的时间。

权利要求书
1.  点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，其特征在于：包括点阵结构体测试机（1）和待学习点阵结构体（4），所述点阵结构体测试机（1）内设智能测试处理模块，与外部设置的插架插入槽（3）连接，所述功能检测切换辅助装置（2）设置有第一端排线安装插头（5）、线束排线组（7）和第二端排线安装插头（6），依次相互连接，所述点阵结构体测试机（1）通过插架插入槽（3）与待学习点阵结构体（4）连接。

2.  根据权利要求1所述的点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，其特征在于：所述待学习点阵结构体（4）与功能检测切换辅助装置（2）连接，所述功能检测切换辅助装置（2）包含传感器、开关、电子元器件和接插件的任意取舍和组合。

3.  根据权利要求2所述的点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，其特征在于：所述传感器包含温度传感器、压力传感器，位移传感器、速度传感器、湿度传感器、光线传感器、红外传感器、电磁波传感器；所述开关包括机械式开关、电子开关，电子机械开关及具有开关功能的装置；所述电子元器件包括二极管、三极管、电容及带多个电子元器件的电路板；所述接插件包括金属接插件、塑料接插件和复合材料接插件。

4.  点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，其特征在于：智能测试处理模块通过一系列自动执行步骤，能够识别出待学习点阵结构体的规格型号，并自动生成相应的最佳测试程序组合，其步骤如下： 
步骤1）将待学习点阵结构体（4）通过插架插入槽（3）与点阵结构体测试机（1）完成连接；
步骤2）点阵结构体测试机（1）启动智能测试处理模块；
步骤3）智能测试处理模块通过插架插入槽（3）输出学习信号；
步骤4）学习信号通过待学习点阵结构体（4）进行传输；
步骤5）点阵结构体测试机（1）接受到通过待学习点阵结构体（4）传输的学习信号；
步骤6）智能测试处理模块分析判断线束的构成和功能；
步骤7）智能测试处理模块通过插架插入槽（3）输出验证信号；
步骤8）验证信号通过待学习点阵结构体（4）进行传输；
步骤9）点阵结构体测试机（1）接受到通过待学习点阵结构体（4）传输的验证信号；
步骤10）智能测试处理模块分析判断验证信号，生成学习后的线束规格和测试资料。

5.  根据权利要求4所述的点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，其特征在于：所述步骤4）学习信号通过待学习点阵结构体（4）进行传输时受到功能检测切换辅助装置（2）的扰动，所述步骤5）点阵结构体测试机（1）接受到的学习信号是受到扰动后的学习信号。

6.  根据权利要求4所述的点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，其特征在于：所述步骤7）智能测试处理模块通过插架插入槽（3）输出验证信号和所述步骤8）验证信号通过待学习点阵结构体（4）进行传输时，点阵结构体测试机（1）能够提醒操作人员或操作装置操作功能检测切换辅助装置（2），配合验证信号进行验证。

7.  根据权利要求6所述的点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，其特征在于：所述步骤9）点阵结构体测试机（1）接受到通过待学习点阵结构体（4）传输的验证信号和步骤10）智能测试处理模块分析判断验证信号，当验证信号符合预期时，完成了待学习点阵结构体（4）学习和验证。

8.  根据权利要求6所述的点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，其特征在于：所述步骤9）点阵结构体测试机（1）接受到通过待学习点阵结构体（4）传输的验证信号和步骤10）智能测试处理模块分析判断验证信号，当验证信号不符合预期时，发出信息和指令，提醒操作功能检测切换辅助装置（2），超过预设提醒次数或操作超时，则提示验证失败，请求重新学习操作或取出未学习成功的待学习点阵结构体（4）。

9.  根据权利要求4所述的点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，其特征在于：所述步骤4）至步骤7）能够编成组，多次重复出现，所述步骤8）至步骤10能够编成组，多次重复出现。

10.  根据权利要求4所述的点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，其特征在于：所述步骤3）至步骤10）能够编成组，多次重复出现。

说明书点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法
技术领域
本发明涉及一种烟花生产测试工具，具体涉及点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法。
背景技术
点阵结构体是实现图纹烟花的关键零部件，决定了烟花的显示能不能做到用户需求的效果，也是决定图纹烟花能不能小型化，整体化的关键部件，点阵结构体的体积、点阵密集程度，成型效率，生产成本和后加工处理的步骤都严重制约了图纹烟花的整体成本，安全性，可靠性和生产效率，点阵结构体需要精密模具、精密成型、大量精密后处理加工工具，质量检测工具，整形工具、装填工具和防误、防爆炸措施等，图纹烟花的核心部件需要大量的跨行业跨技术领域的高新技术支持和原创的勇于开拓，敢于实验的精神，现有各行业缺少相应的技术支持，特别是本行业烟花技术领域可供参考的资料惨不忍睹，处处需要自己去开拓。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术存在的以上问题，提供点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，本发明能够让点阵结构体测试机自动识别未知的新款点阵结构体，为新款点阵结构体自动生成测试检验程序，省去人工制作治具、编程、测试等常规程序，既节省了大量的人力，物力，也节省大量的时间。
为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本发明通过以下技术方案实现：
点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，包括点阵结构体测试机（1）和待学习点阵结构体（4），所述点阵结构体测试机（1）内设智能测试处理模块，与外部设置的插架插入槽（3）连接，所述功能检测切换辅助装置（2）设置有第一端排线安装插头（5）、线束排线组（7）和第二端排线安装插头（6），依次相互连接，所述点阵结构体测试机（1）通过插架插入槽（3）与待学习点阵结构体（4）连接。
进一步的，所述待学习点阵结构体（4）与功能检测切换辅助装置（2）连接，所述功能检测切换辅助装置（2）包含传感器、开关、电子元器件和接插件的任意取舍和组合。
进一步的，所述传感器包含温度传感器、压力传感器，位移传感器、速度传感器、湿度传感器、光线传感器、红外传感器、电磁波传感器；所述开关包括机械式开关、电子开关，电子机械开关及具有开关功能的装置；所述电子元器件包括二极管、三极管、电容及带多个电子元器件的电路板；所述接插件包括金属接插件、塑料接插件和复合材料接插件。
点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，智能测试处理模块通过一系列自动执行步骤，能够识别出待学习点阵结构体的规格型号，并自动生成相应的最佳测试程序组合，其步骤如下：
步骤1）将待学习点阵结构体（4）通过插架插入槽（3）与点阵结构体测试机（1）完成连接；
步骤2）点阵结构体测试机（1）启动智能测试处理模块；
步骤3）智能测试处理模块通过插架插入槽（3）输出学习信号；
步骤4）学习信号通过待学习点阵结构体（4）进行传输；
步骤5）点阵结构体测试机（1）接受到通过待学习点阵结构体（4）传输的学习信号；
步骤6）智能测试处理模块分析判断线束的构成和功能；
步骤7）智能测试处理模块通过插架插入槽（3）输出验证信号；
步骤8）验证信号通过待学习点阵结构体（4）进行传输；
步骤9）点阵结构体测试机（1）接受到通过待学习点阵结构体（4）传输的验证信号；
步骤10）智能测试处理模块分析判断验证信号，生成学习后的线束规格和测试资料。
进一步的，所述步骤4）学习信号通过待学习点阵结构体（4）进行传输时受到功能检测切换辅助装置（2）的扰动，所述步骤5）点阵结构体测试机（1）接受到的学习信号是受到扰动后的学习信号。
进一步的，所述步骤7）智能测试处理模块通过插架插入槽（3）输出验证信号和所述步骤8）验证信号通过待学习点阵结构体（4）进行传输时，点阵结构体测试机（1）能够提醒操作人员或操作装置操作功能检测切换辅助装置（2），配合验证信号进行验证。
进一步的，所述步骤9）点阵结构体测试机（1）接受到通过待学习点阵结构体（4）传输的验证信号和步骤10）智能测试处理模块分析判断验证信号，当验证信号符合预期时，完成了待学习点阵结构体（4）学习和验证。
进一步的，所述步骤9）点阵结构体测试机（1）接受到通过待学习点阵结构体（4）传输的验证信号和步骤10）智能测试处理模块分析判断验证信号，当验证信号不符合预期时，发出信息和指令，提醒操作功能检测切换辅助装置（2），超过预设提醒次数或操作超时，则提示验证失败，请求重新学习操作或取出未学习成功的待学习点阵结构体（4）。
进一步的，所述步骤4）至步骤7）能够编成组，多次重复出现，所述步骤8）至步骤10能够编成组，多次重复出现。
进一步的，所述步骤3）至步骤10）能够编成组，多次重复出现。
本发明的有益效果是:
能够让点阵结构体测试机自动识别未知的新款点阵结构体，为新款点阵结构体自动生成测试检验程序，省去人工制作治具、编程、测试等常规程序，既节省了大量的人力，物力，也节省大量的时间。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本发明的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1是本发明的一种实施例的轴侧示意图；
图2是本发明的一种实施例的轴侧示意图。
图中标号说明：1、点阵结构体测试机，2、待学习点阵结构体，3、插架插入槽，4、功能检测切换辅助装置，5、第一端排线安装插头，6、第二端排线安装插头，7、线束排线组。
具体实施方式
下面将参考附图并结合实施例，来详细说明本发明。
    参照图1-图2所示，点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，包括点阵结构体测试机1和待学习点阵结构体2，所述点阵结构体测试机1内设智能测试处理模块，与外部设置的插架插入槽3连接，所述待学习点阵结构体2连接处设置有第一端排线安装插头5、线束排线组7和第二端排线安装插头6，依次相互连接，所述点阵结构体测试机1通过插架插入槽3与待学习点阵结构体2连接。
进一步的，所述待学习点阵结构体2设置有功能检测切换辅助装置4，所述功能检测切换辅助装置4包含传感器、开关、电子元器件和接插件的任意取舍和组合。
进一步的，所述传感器包含温度传感器、压力传感器，位移传感器、速度传感器、湿度传感器、光线传感器、红外传感器、电磁波传感器；所述开关包括机械式开关、电子开关，电子机械开关及具有开关功能的装置；所述电子元器件包括二极管、三极管、电容及带多个电子元器件的电路板；所述接插件包括金属接插件、塑料接插件和复合材料接插件。
点阵结构体测试机目标点阵结构体自学习测试方法，智能测试处理模块通过一系列自动执行步骤，能够识别出待学习点阵结构体的规格型号，并自动生成相应的最佳测试程序组合，其步骤如下：
步骤1将待学习点阵结构体2通过插架插入槽3与点阵结构体测试机1完成连接；
步骤2点阵结构体测试机1启动智能测试处理模块；
步骤3智能测试处理模块通过插架插入槽3输出学习信号；
步骤4学习信号通过待学习点阵结构体2进行传输；
步骤5点阵结构体测试机1接受到通过待学习点阵结构体2传输的学习信号；
步骤6智能测试处理模块分析判断线束的构成和功能；
步骤7智能测试处理模块通过插架插入槽3输出验证信号；
步骤8验证信号通过待学习点阵结构体2进行传输；
步骤9点阵结构体测试机1接受到通过待学习点阵结构体2传输的验证信号；
步骤10智能测试处理模块分析判断验证信号，生成学习后的线束规格和测试资料。
进一步的，所述步骤4学习信号通过待学习点阵结构体2进行传输时受到功能检测切换辅助装置4的扰动，所述步骤5点阵结构体测试机1接受到的学习信号是受到扰动后的学习信号。
进一步的，所述步骤7智能测试处理模块通过插架插入槽3输出验证信号和所述步骤8验证信号通过待学习点阵结构体2进行传输时，点阵结构体测试机1能够提醒操作人员或操作装置操作功能检测切换辅助装置4，配合验证信号进行验证。
进一步的，所述步骤9点阵结构体测试机1接受到通过待学习点阵结构体2传输的验证信号和步骤10智能测试处理模块分析判断验证信号，当验证信号符合预期时，完成了待学习点阵结构体2学习和验证。
进一步的，所述步骤9点阵结构体测试机1接受到通过待学习点阵结构体2传输的验证信号和步骤10智能测试处理模块分析判断验证信号，当验证信号不符合预期时，发出信息和指令，提醒操作功能检测切换辅助装置4，超过预设提醒次数或操作超时，则提示验证失败，请求重新学习操作或取出未学习成功的待学习点阵结构体2。
进一步的，所述步骤4至步骤7能够编成组，多次重复出现，所述步骤8至步骤10能够编成组，多次重复出现。
进一步的，所述步骤3至步骤10能够编成组，多次重复出现。
本实施例的工作原理如下：
首先将待学习点阵结构体2通过插架插入槽3与点阵结构体测试机1完成连接，再启动点阵结构体测试机1上的智能测试处理模块，智能测试处理模块通过插架插入槽3输出学习信号，学习信号通过待学习点阵结构体2进行传输，操作功能检测切换辅助装置4，扰动学习信号，点阵结构体测试机1接受到通过待学习点阵结构体2传输的受扰动的学习信号，智能测试处理模块分析判断线束的构成和功能，智能测试处理模块通过插架插入槽3输出验证信号，提醒用户配合操作功能检测切换辅助装置4，验证信号通过待学习点阵结构体2进行传输，点阵结构体测试机1接受到通过待学习点阵结构体2传输的验证信号，智能测试处理模块分析判断验证信号，根据验证信号的正误情况，自动生成学习后的线束规格和测试资料或提醒用户重新操作学习。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。