激光光学确定铸坯导辊的高度的探头、系统及应用与方法.pdf

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1、(10)申请公布号 CN 103033136 A (43)申请公布日 2013.04.10 C N 1 0 3 0 3 3 1 3 6 A *CN103033136A* (21)申请号 201210370546.7 (22)申请日 2012.09.29 11183450.3 2011.09.30 EP G01B 11/02(2006.01) (71)申请人西门子 VAI 金属科技有限责任公司 地址奥地利林茨 (72)发明人 T.菲恩哈默 J.古滕布鲁纳 W.豪斯莱特纳 C.欣特雷特 M.迈尔霍费尔 J.佩恩 P.普兰克 M.施塔雷迈尔 (74)专利代理机构中国专利代理(香港)有限公 司 720。

2、01 代理人胡莉莉 刘春元 (54) 发明名称 激光光学确定铸坯导辊的高度的探头、系统 及应用与方法 (57) 摘要 本发明涉及激光光学确定铸坯导辊的高度的 探头、系统及应用与方法。本发明涉及对圆柱形辊 的圆周表面进行采样的测量接触探头和借助于测 量系统对铸坯导架中的铸坯导辊的实际高度的激 光光学确定的方法。本发明的目标是描述可快速 地以高精确度和简单装置确定铸坯导辊的实际高 度的测量接触探头和方法。该目标通过测量接触 探头实现，其具有：接触探头；连接到接触探头的 垂直导引成型件；包括探测器试场和距离评估单 元的激光接收单元，其中激光接收单元可在导引 成型件上沿垂直方向移位，探测器试场被用于探。

3、 测激光束，并且距离评估单元确定激光束相对于 激光接收单元的第一垂直距离；以及移位测量装 置，用于确定接触探头与激光接收单元之间的第 二垂直距离。 (30)优先权数据 (51)Int.Cl. 权利要求书2页 说明书7页 附图8页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书 2 页 说明书 7 页 附图 8 页 1/2页 2 1.一种用于对圆柱形辊（20）的圆周表面（21）进行采样的测量接触探头（1），所述测量 接触探头（1）具有： - 至少一个接触探头（2），所述至少一个接触探头（2）包括接触表面（3）； - 刚性地连接到所述接触探头（2）的垂直导引成型件（4）； 。

4、- 激光接收单元（5），所述激光接收单元（5）包括探测器试场（6）和距离评估单元（7）， 其中所述激光接收单元（5）能够在所述导引成型件（4）上沿着垂直方向被移位，所述探测 器试场（6）被实现用于探测激光束（8），并且所述距离评估单元（7）能够确定所述激光束 （8）相对于所述激光接收单元（5）的第一垂直距离VA 1 ；以及 - 移位测量装置（9），用于确定在所述接触探头（2）与所述激光接收单元（5）之间的第 二垂直距离VA 2 。 2.根据权利要求1所述的测量接触探头，其特征在于，所述测量接触探头（1）具有通信 模块（11），用于通过信息技术装置连接到评估单元（30），其中所述通信模块（11）。

5、被连接到 所述移位测量装置（9）和被连接到所述距离评估单元（7）。 3.根据权利要求1所述的测量接触探头，其特征在于，所述测量接触探头（1）具有评 估单元（30），其中所述评估单元（30）被连接到所述移位测量装置（9）和所述距离评估单元 （7）。 4.根据权利要求2或3所述的测量接触探头，其特征在于，操作控制部（12）通过信号 技术装置被连接到通信模块（11）或被连接到评估单元（30），其中所述操作控制部（12）优 选地被布置在所述测量接触探头（1）上。 5.根据权利要求1所述的测量接触探头，其特征在于，在所有情况下，接触探头（2）被 布置在所述测量接触探头（1）的翼部（13）上，其中两个翼部。

6、（13）围成角度45 135。 6.根据权利要求5所述的测量接触探头，其特征在于，所述测量接触探头具有至少三 个接触探头，其中两个接触探头被布置在第一平面中，并且一个接触探头被布置在第二平 面中，而且所述第一平面与所述第二平面平行地被对准。 7.根据权利要求1所述的测量接触探头，其特征在于，所述测量接触探头（1）具有用于 相对于所述导引成型件（4）而固定所述激光接收单元（5）的位置的闭锁装置（15），或者所 述测量接触探头（1）具有阻尼器。 8.一种用于对圆柱形辊（20）的高度进行激光光学测量的测量系统，其具有： - 激光器（31）； - 根据权利要求1至7中的任一权利要求所述的测量接触探头（。

7、1）； - 评估单元（30），所述评估单元（30）通过信息技术装置被连接到所述测量接触探头 （1）；以及 - 输出单元（32），用于输出辊（20）的高度。 9.根据权利要求8所述的测量系统，其特征在于，所述测量系统包括发射机（33），并且 所述测量接触探头（1）包括位置测量系统的接收机（14），其中所述接收机（14）通过信号技 术装置被连接到通信模块（11）或被连接到评估单元（30），使得能够确定所述测量接触探 头（1）的位置。 10.一种用于借助于测量系统对铸坯导架中的铸坯导辊（20）的实际高度H Actual 进行激 权 利 要 求 书CN 103033136 A 2/2页 3 光光学确定。

8、的方法，所述测量系统包括激光器（31）、根据权利要求1至7中的任一权利要 求所述的测量接触探头（1）以及评估单元（30），所述测量接触探头（1）包括激光接收装置 （5）、探测器试场（6）、距离评估单元（7）、接触探头（2）和接触表面（3），所述评估单元（30） 通过信息技术装置被连接到所述测量接触探头（1），所述方法包括以下方法步骤： - 对所述激光器（31）进行定位； - 接通所述激光器（31）； - 借助于所述测量接触探头（1）对所述铸坯导辊（20）进行采样，其中所述测量接触探 头（1）的至少一个接触表面（3）接触所述铸坯导辊（20）的圆周表面（21）上的点，并且激光 束（35）贯穿所述探。

9、测器试场（6）； - 启动测量； - 借助于所述距离评估单元（7）确定在所述激光束（35）与所述激光接收单元（5）之间 的第一垂直距离VA 1 ，并借助于所述移位测量装置（9）确定在所述接触探头（2）与所述激光 接收单元（5）之间的第二垂直距离VA 2 ； - 在所述评估单元（30）中利用H Actual = VA 1 + VA 2 计算铸坯导辊的实际高度H Actual 。 11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，在步骤“启动测量”之后， - 通过位置测量系统（14）的接收机确定所述测量接触探头（1）的位置； - 所述测量接触探头（1）的位置被发送到所述评估单元（30）； - 所述评估。

10、单元（30）确定在设定点高度H Setpoint 与所述实际高度H Actual 之间的差= H Setpoint - H Actual ；以及 - 通过输出单元（32）输出所述差。 12.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述设定点高度H Setpoint 是从计算机辅 助设计数据导出的。 13.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述设定点高度H Setpoint 、所述实际高度 H Actual 以及所述差被记录在测量记录中。 14.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，在步骤“对所述激光器进行定位”中，所 述激光器（31）被刚性地连接到铸坯导架（40）的固定框架（41），或。

11、被刚性地连接到底座。 15.根据权利要求8至9中的任一权利要求所述的测量系统的用于执行根据权利要求 10至14中的任一权利要求所述的方法的应用。 权 利 要 求 书CN 103033136 A 1/7页 4 激光光学确定铸坯导辊的高度的探头、 系统及应用与方法 技术领域 0001 本发明涉及一种适合于对圆柱形辊（cylindrical roller）（例如单流连铸 机的铸坯导架（strand guide）中的辊、或者冷轧机或热轧机的辊道或带钢加工设备 （strip processing installation）的辊道中的辊）的圆周表面进行采样的测量接触探头 （measuring touch 。

12、probe）。采样被理解为通过接触对至少一个点进行感测，其中测量接触 探头的接触表面接触所述圆周表面上的点。 0002 此外，本发明还涉及一种适合于对圆柱形辊的高度进行激光光学测量的测量系 统。 0003 另外，本发明涉及一种用于借助于测量系统对铸坯导架中的铸坯导辊的实际高度 H Actual 进行激光光学确定的方法。铸坯导辊的高度对于单流连铸机的无故障运行而言是重 要的，因为部分被固化的钢绞线（strand）尤其是只能经受住低水平的机械负荷。例如由于 不正确地被调节的铸坯导辊而引起的过度的机械负荷可以导致不可接受得高的弯曲应力， 该弯曲应力可以导致钢绞线中的裂缝，乃至可以导致薄坯壳（stra。

13、nd shell）的漏钢。 0004 最后，本发明涉及根据权利要求8至9中的任一权利要求所述的测量系统的用于 执行根据权利要求10至14中的任一权利要求所述的方法的应用。 背景技术 0005 公知的实践是对单流连铸机的铸坯导架中的辊（也称为铸坯导辊）在所谓的水平 台（leveling stand）上进行整平。通常在这种情况下，铸坯导轨的部分（例如铸坯导架段 的内框架或外框架）被夹在水平台上，并且通过测量装置（例如通过钢绞线测微计（strand micrometer）来确定铸坯导辊相对于钢尺的实际距离。根据铸坯导架的安装几何形状，可 能限定在尺与辊之间的设定点距离，使得可以精确地调节铸坯导辊的高。

14、度，例如通过垫片 来调节。由于钢尺的弯曲，对铸坯导辊的高度的确定是不精确的，并且由于大量的手动测 量，所以这非常耗时。另外的缺点在于，这些高度并未自动地被感测和被记录。 0006 尽管从计量学的技术领域原则上公知了借助于测量接触探头对对象进行激光光 学整平，但是由于在弧形的铸坯导架段的不同的辊之间的高度差相对大，所以现有的刚性 实现的测量接触探头仍不适合于精确地且快速地确定该实际高度。 发明内容 0007 本发明的目标是克服现有技术的缺点，并且是描述一种用于确定铸坯导架中的铸 坯导辊的实际高度的方法，借助于测量接触探头和方法可以： 快速地，即在用于测量和评估的短时间内， 利用尽可能简单的装置，。

15、 在不需要精细的评估的情况下，以及 以高精确度地， 确定铸坯导辊的实际高度。 说 明 书CN 103033136 A 2/7页 5 0008 该目标是通过一种用于对圆柱形辊的圆周表面进行采样的测量接触探头来实现 的，该测量接触探头具有： 至少一个包括接触表面的接触探头； 垂直导引成型件（guide profile），所述垂直导引成型件刚性地被连接到所述接触 探头； 激光接收单元，所述激光接收单元包括探测器试场（detector field）和距离评估 单元，其中所述激光接收单元在导引成型件上沿垂直方向是可移位的，所述探测器试场被 实现用于探测激光束，并且所述距离评估单元可以确定所述激光束相对于。

16、所述激光接收单 元的第一垂直距离VA 1 ；以及 移位测量装置，用于确定所述接触探头与所述激光接收单元之间的第二垂直距离 VA 2 。 0009 在这种情况下，可以通过至少一个包括接触表面的接触探头来对圆柱形辊的圆周 表面上的点进行采样。根据该圆周表面上的一个点（或者也可能多个点），可能在考虑到几 何形状（例如基于已知的辊直径）的情况下，可能推出辊的高度。接触探头自身刚性地被连 接到测量接触探头的垂直导引成型件，其中所述导引成型件可以具有例如圆形或多边形的 断面。测量接触探头具有包括探测器试场的激光接收单元，其中所述探测器试场被实现来 感测激光束的高度。在这种情况下的激光接收单元在导引成型件上。

17、是可移位的，使得可以 感测到大于所述探测器试场的纵向扩展的高度。所述探测器试场主要地包括多个分立的探 测器，所述多个分立的探测器例如成列地或以包括多个列的矩阵而被布置。所述探测器试 场自身被连接到距离评估单元，其中所述距离评估单元可以确定所述激光束相对于所述激 光接收单元的第一垂直距离。由于可以借助于移位测量装置来确定所述激光接收单元相对 于所述接触探头的距离，所以所述激光束距所述接触探头的第二垂直距离由此也可以充分 地被确定。在这种情况下的所述移位测量装置可被集成在例如所述导引成型件中，或者可 被布置在所述导引成型件的外部。所有的接触移位测量装置（例如电位器）或无需接触地进 行操作的移位测量。

18、装置（例如磁致伸缩的、感应式的、电容性的、或光学的移位测量装置）可 以被用于移位测量。 0010 为了确保测量接触探头在长期使用中的精确性，有利的是将该接触探头实现来以 便是可更换的。 0011 为了保持测量接触探头相对简单、稳健和轻便，有利的是测量接触探头具有用于 通过信息技术装置连接到评估单元的通信模块，其中所述通信模块被连接到所述移位测量 装置和被连接到所述距离评估单元。结果，来自所述测量接触探头的数据由信息技术装置 （例如有线地或无线地）被发送到评估单元，例如被发送到个人计算机，其中所述评估单元 确定所述辊的高度，并且如果需要的话，计算所述高度的设定点/实际偏差。例如，所述通 信模块被。

19、实现为蓝牙或WLAN接口。 0012 可替换地，所述测量接触探头同样可能具有评估单元，其中所述评估单元被连接 到所述移位测量装置和所述距离评估单元。在这种情况下，所述评估单元被实现为例如微 控制器，所述微控制器被集成到所述测量接触探头中。在这种情况下，所述测量接触探头还 可能具有指示器单元（例如显示器），使得不仅可以在所述测量接触探头上评估所述高度， 而且可以在所述测量接触探头上输出所述高度。 说 明 书CN 103033136 A 3/7页 6 0013 为了启动测量，有益的是通过信号技术装置将操作控制部（operating control） 连接到所述通信模块或连接到所述评估单元。如果该操。

20、作控制部被布置在所述测量接触探 头上，则可能进行简单的操作。 0014 如果接触探头在所有情况下都被布置在翼部（limb）上，则所述测量接触探头可能 被可靠地放置到所述铸坯导辊上，其中两个翼部围成角度45 135。如果测量接 触探头的几何形状、辊的直径和在接触探头与激光接收单元之间的距离是已知的，则可以 容易地确定铸坯导辊的高度。 0015 如果所述测量接触探头具有至少三个接触探头，则可以以特别简单的方式实现放 置，其中两个接触探头被布置在第一平面中，并且一个接触探头被布置在第二平面中，而且 所述第一平面与所述第二平面平行地被对准。这可以被实现，例如，因为两个翼部在所有情 况下都被串联地布置，。

21、使得所述激光接收装置与所述第一平面和所述第二平面平行地被布 置，即被布置在垂直于所述辊的纵向轴线的平面中。 0016 如果所述接触表面具有弧形的、特别是圆柱形的或球形的轮廓，则可以确保在所 述接触探头与所述圆周表面之间的所限定的线接触或点接触。 0017 为了防止激光接收单元在测量接触探头已被放置上之后的不期望的移位，有利的 是测量接触探头具有闭锁装置（例如夹紧装置或固定螺钉），用于固定激光接收单元相对于 导引成型件的位置，或者测量接触探头具有阻尼器。该阻尼器（例如气体加压阻尼器）例如 被布置在导引成型件与激光接收单元之间，使得可能防止由激光接收单元的重力所导致的 激光接收单元的不期望的移位。。

22、 0018 有利的是，测量系统具有 激光器； 测量接触探头； 评估单元，所述评估单元通过信息技术装置被连接到所述测量接触探头；以及 输出单元，用于输出所述辊的高度。 0019 如上面已经陈述的那样，所述评估单元（并且可能地也是所述输出单元）可以在结 构上是分离的，或者可以被集成到所述测量接触探头中。 0020 优选地，所述激光器被实现为旋转式激光器，其中所述旋转的旋转式激光器跨过 光平面。测量接触探头由此可以被设置到不同的位置，而不必重新对准激光器。 0021 为了使得能够感测所述测量接触探头的位置，有利的是，所述测量系统包括发射 机，并且所述测量接触探头包括位置测量系统的接收机，其中所述接收。

23、机通过信号技术装 置被连接到所述通信模块或被连接到所述评估单元，使得可以确定所述测量接触探头的位 置。所述位置测量系统可以是例如有源RFID测量系统、UWB系统、WLAN系统、红外或超声测 量系统，而且可以是GPS或所谓的“差分GPS”测量系统。所述测量接触探头的位置可以被 用于对所述辊的实际高度H Actual 与可能取决于位置的设定点高度H Setpoint 进行自动比较，使 得所述评估单元可以自动地确定在设定点高度H Setpoint 与实际高度H Actual 之间的偏差。 0022 此外，使得高度的（取决于位置的）记录成为可能。设定点位置和铸坯导辊的实际 高度限定了铸坯导辊必须被定位。

24、于其中的立方体的（或长方体的）设定点控制体积。因此， 除了实际高度与设定点高度的偏差之外，如果需要的话，还可能确定实际控制体积与设定 点控制体积（例如与控制体积的空间重心的距离）的偏差。实际控制体积是从实际位置和实 说 明 书CN 103033136 A 4/7页 7 际高度并考虑测量容差而获得的。 0023 根据本发明的目标同样通过一种用于借助于测量系统对铸坯导架中的铸坯导辊 的实际高度进行激光光学确定的方法来实现，其中所述测量系统包括激光器、根据权利要 求1至7中的任一权利要求所述的测量接触探头以及评估单元，所述测量接触探头包括激 光接收装置、探测器试场、距离评估单元、接触探头和接触表面，。

25、所述评估单元通过信息技 术装置被连接到所述测量接触探头，所述方法包括以下方法步骤： 对所述激光器进行定位； 接通所述激光器； 借助于所述测量接触探头对所述铸坯导辊进行采样，其中所述测量接触探头的至 少一个接触表面接触所述铸坯导辊的圆周表面上的点，并且激光束贯穿所述探测器试场； 启动测量； 借助于所述距离评估单元确定在所述激光束与所述激光接收单元之间的第一垂直 距离VA 1 ，以及借助于所述移位测量装置确定在所述接触探头与所述激光接收单元之间的 第二垂直距离VA 2 ， 在所述评估单元中，利用H Actual = VA 1 + VA 2 计算所述铸坯导辊的实际高度H Actual 。 0024 。

26、优选地，所述激光器执行旋转运动，其中所述激光跨过光平面。 0025 有利的是，在步骤“启动测量”之后， 通过位置测量系统的接收机确定测量接触探头的位置； 测量接触探头的位置被发送到评估单元； 评估单元确定在设定点高度H Setpoint 与实际高度H Actual 之间的差；以及 通过输出单元输出该差。 0026 在铸坯导辊的测量中，设定点高度H Setpoint 常常被分配到测量接触探头的位置。 0027 有益的是根据计算机辅助（CAD）数据推出设定点高度H Setpoint 。 0028 有利的是将设定点高度H Setpoint 、实际高度H Actual 以及差记录在测量记录中。 002。

27、9 对于高度精确的测量，有利的是，在步骤“对激光器进行定位”中，将激光器刚性地 （但是可拆卸地）连接到铸坯导架的固定框架或连接到底座。由此，激光器伴随地经历与铸 坯导架相同的移位（或振动），使得这些移位并不会对精确性产生负面的影响。 0030 有利的是，根据权利要求8至9中的任一权利要求所述的测量系统被用于执行根 据权利要求10至14中的任一权利要求所述的方法。 附图说明 0031 通过下面对非限制性示例性实施例的描述给出了本发明的另外的优点和特征，其 中参考以下附图，所述附图示出了以下内容： 图1：测量接触探头的第一实施例的截面表示； 图2：根据图1的测量接触探头的非截面表示； 图3：具有两。

28、个翼部的测量接触探头的第二实施例； 图4：测量接触探头的第三实施例； 图5：测量接触探头的第四实施例； 图6：根据本发明的对铸坯导辊的高度的确定的表示； 说 明 书CN 103033136 A 5/7页 8 图7：根据本发明的对三个铸坯导辊的高度的确定的表示； 图8：根据现有技术的对铸坯导辊的高度的确定的表示。 具体实施方式 0032 图1以截面表示示出了测量接触探头1的第一实施例。可以借助于测量接触探头 1来对（未示出的）圆柱形辊的圆周表面进行采样，其中接触探头2的球形接触表面3接触 所述圆周表面。接触探头2被连接到圆形导引成型件4，其中激光接收单元5可以相对于导 引成型件4垂直地被移位，并。

29、且激光接收单元5被实现来以便可关于导引成型件4的纵向 轴线（被表示为箭头的移位方向）枢转。为了在没有行动的情况下进行导向，导引成型件具 有磨削表面（ground surface），并且激光接收单元5具有环形套管。可以通过被实现为电 位器的移位测量装置9来确定在激光接收单元5与接触探头2之间的距离。作为对电位器 的替换，该移位测量装置也可以被实现为LVDT测量装置、磁致伸缩测量装置或被实现为具 有电接口的量尺。在导引成型件4与激光接收单元5的壳体之间布置有压缩弹簧，该压缩 弹簧限定了测量接触探头的中性位置，并确保在接触表面3与辊之间的所限定的接触。 0033 图2示出了激光接收装置5的探测器试场。

30、6、以及激光束8或光平面35。作 为电子电路而被布置在激光接收装置5的上端部处的距离评估单元7被连接到探测 器试场6，其中距离评估单元7可以确定激光束8距激光接收单元5的第一垂直距 离VA 1 。因此，由于从移位测量装置9已知在接触探头2与激光接收单元5之间的 第二垂直距离VA 2 ，并且从距离评估单元7已知在激光接收单元5与激光束8之间 的垂直距离VA 1 ，所以测量接触探头1上的评估单元可以确定铸坯导辊的实际高度 ，即在激光束8、35与接触表面（确切地说，铸坯导辊的顶部边缘）之间的距离。 为了使测量接触探头1的操作更符合人体工程学，在测量接触探头上布置操作控制部12。 在操作控制部12已被。

31、按压之后，垂直距离VA 1 和VA 2 被确定，并且在评估单元中计算实际高 度H Actual 。然后借助于被实现为蓝牙接口的通信模块将该实际高度发送到（在结构上与测量 接触探头1相分离的）指示器单元。 0034 图3示出了测量接触探头1的第二实施例，该测量接触探头1具有被实现为翼部 13的两个接触探头2。这两个翼部13围成角度，使得翼部13的两个接触表面3 同时接触圆柱形辊的圆周表面。因此，根据翼部13的几何形状，并利用铸坯导辊的直径的 知识，又可能确定铸坯导辊的高度。此外，测量接触探头1具有所谓的“差分GPS”的接收机 14，使得在对铸坯导辊的采样期间可以确定测量接触探头在大厅中的位置。由。

32、此可以存储 与测量接触探头的不同位置相对应的设定点高度H Setpoint ，使得评估单元可以在所有情况下 都确定偏差 = H Setpoint - H Actual 。在该实施例的情况下，如在图1中那样，移位测量装置 被集成到激光接收装置5中。 0035 图4示出了测量接触探头1的第三实施例，然而其中与图3不同，移位测量装置9 被布置在激光接收装置5的外部。在这种情况下，移位测量装置被实现为无需接触地进行 操作的所谓的磁致伸缩移位测量系统（参见巴鲁夫（Balluff）“微脉冲”）。 0036 图5示出了测量接触探头1的第四实施例。与图4不同，该测量接触探头具有两 个平行的导引成型件4，使得激。

33、光接收单元5没有相对于翼部13旋转的危险。 说 明 书CN 103033136 A 6/7页 9 0037 图6示出了用于确定铸坯导辊20的高度的测量系统。首先，旋转式激光器31被 定位在接近于铸坯导辊20的台上，使得该激光器在被接通时作为旋转运动34的结果而产 生水平的光平面35。然后，借助于测量接触探头1对铸坯导辊20进行采样，使得被实现为 翼部13的两个接触探头2的接触表面3接触铸坯导辊20的圆周表面21。然后，激光接收 单元5在圆形导引成型件4上沿着垂直方向移位，使得光平面35的激光束8贯穿探测器试 场6。在该移位之后，通过在激光接收装置与导引成型件之间作用的夹紧（或闭锁）装置来 锁住。

34、激光接收装置的垂直位置，使得重力并不会导致激光接收装置5的降低。然后启动测 量，因为测量装置1上的操作控制部12被按压。在启动测量之后，测量接触探头1中的距 离评估单元确定在激光束8与激光接收单元5的下边缘之间的第一垂直距离VA 1 。移位测 量装置确定在接触探头2与激光接收单元5的下边缘之间的第二垂直距离VA 2 。然而，通过 H Actual = VA 1 + VA 2 ，因此确定铸坯导辊20的实际高度，其中在空间上位于激光接收装置5的 内部的评估单元中计算该实际高度，并通过输出单元32显示该实际高度。 0038 在激光器的调节中，该过程可以是例如如下：首先，固定激光器。然后，通过测量装 。

35、置确定该段的通常为四个的基准支撑点（在其中该段被支撑在所述台上的那些点）的位置， 其中初始地测量所有四个点。根据这四个点，确定基准测量平面，其中一个点（例如所谓的 第四点，因为（如公知的那样）三个点跨过平面）被适配到基准测量平面，如果需要的话通过 “垫补”来适配。如果需要的话，在对所述高度的实际测量中，使用第二激光接收机，该第二 激光接收机确保激光平面的（不一定是水平的）对准。 0039 图7示出了针对三个铸坯导辊20的实际高度的确定，其中所述辊被定位在不同的 水平。在这种情况下可以看出的是，激光接收单元5在所有情况下必须在导引成型件4上 垂直地被移位，以便使激光束8、35贯穿探测器试场6。相。

36、对于中间的表示，在左侧的表示中 的激光接收单元5已被向下移位，而在右侧的表示中被向上移位。在右侧和左侧的表示的 情况下，通过虚线来指示激光接收单元5相对于中央的表示的未移位的位置。激光接收装 置5的持续移位能力的优点是，可以借助于一个测量接触探头来覆盖大的垂直高度范围。 此外，不需要借助于可连接的或拧上的适配板或适配杆来使刚性的测量接触探头适配于不 同的高度。 0040 显然，特别有利的是，测量接触探头1具有位置测量系统的接收机、例如“差分 GPS”接收机，使得设定点高度 H Setpoint 在所有情况下被分配给铸坯导辊的不同位置。因此， 测量接触探头上的评估单元可以已确定偏差 = H Se。

37、tpoint - H Actual ，并在测量接触探头上的 输出单元上直接输出该偏差。 0041 图8示出了借助于钢绞线测微计对铸坯导辊20的实际高度H Actual 的确定。 0042 在进行单流连铸安装作业或冷轧厂或热轧厂中的辊床的作业的过程中，有利的是 使用根据本发明的测量接触探头，或根据本发明的测量系统，或者是在整备作业中应用根 据本发明的方法。 0043 尽管已经基于优选的示例性实施例更详细地图示和描述了本发明，但是本发明并 不限于所公开的例子，并且本领域的技术人员可以从中导出其它变型，而不背离本发明的 保护范围。 0044 附图标记列表： 1 测量接触探头 说 明 书CN 1030。

38、33136 A 7/7页 10 2 接触探头 3 接触表面 4 导引成型件 5 激光接收单元 6 探测器试场 8 激光束 9 移位测量装置 11 通信模块 12 操作控制部 13 翼部 14 位置测量系统的接收机 15 闭锁装置 20 铸坯导辊 21 圆周表面 30 评估单元 31 旋转式激光器 32 输出单元 33 发射机 34 旋转运动 35 光平面 40 铸坯导架段 41 框架 VA 1 第一垂直距离 VA 2 第二垂直距离 角度 说 明 书CN 103033136 A 10 1/8页 11 图 1 说 明 书 附 图CN 103033136 A 11 2/8页 12 图 2 说 明 书 附 图CN 103033136 A 12 3/8页 13 图 3 说 明 书 附 图CN 103033136 A 13 4/8页 14 图 4 说 明 书 附 图CN 103033136 A 14 5/8页 15 图 5 说 明 书 附 图CN 103033136 A 15 6/8页 16 图 6 说 明 书 附 图CN 103033136 A 16 7/8页 17 图 7 说 明 书 附 图CN 103033136 A 17 8/8页 18 图 8 说 明 书 附 图CN 103033136 A 18 。