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1、(10)申请公布号 CN 102840844 A(43)申请公布日 2012.12.26CN102840844A*CN102840844A*(21)申请号 201110165400.4(22)申请日 2011.06.20G01B 21/00(2006.01)G01B 21/20(2006.01)(71)申请人纬创资通股份有限公司地址中国台湾新北市汐止区新台五路一段88号21楼(72)发明人谢福钦(74)专利代理机构北京嘉和天工知识产权代理事务所(普通合伙) 11269代理人严慎(54) 发明名称检测治具及利用检测治具的检测方法(57) 摘要一种检测治具及利用检测治具的检测方法。检测治具用来检测。
2、标准件与待测件的尺寸差值，其包括具有容置空间的治具主体及设置于治具主体对应第一轴向的位置上的第一测量单元。第一测量单元包括第一接触探针、第一测量读表及第一归零按键，第一接触探针相对容置空间向内突出且弹性地沿第一轴向移动用来触抵标准件或待测件；第一测量读表连接于第一接触探针用来显示第一归零值或第一测量值；第一归零按键设置于第一测量读表上用来归零第一测量读表；当第一接触探针在第一测量读表归零后触抵待测件时，第一测量读表显示第一测量值，待测件相对标准件在第一轴向上的第一尺寸差值等于第一测量值与第一归零值的差值。本发明可准确判断尺寸差值。(51)Int.Cl.权利要求书3页 说明书6页 附图8页(19。
3、)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请权利要求书 3 页 说明书 6 页 附图 8 页1/3页21.一种检测治具，该检测治具用来检测一标准件与一待测件的尺寸差值，该检测治具包括：一治具主体，该治具主体具有一容置空间，该容置空间用来容置该标准件或该待测件；以及一第一测量单元，该第一测量单元设置于该治具主体对应一第一轴向的位置上，该第一测量单元包括：一第一接触探针，该第一接触探针相对该容置空间向内突出且弹性地沿该第一轴向移动，用来在该标准件靠合于该容置空间内时触抵该标准件，以及用来在该待测件靠合于该容置空间内时触抵该待测件；一第一测量读表，该第一测量读表连接于该第一接触探针，用来显示一。
4、第一归零值或对应该待测件的一第一测量值；以及一第一归零按键，该第一归零按键设置于该第一测量读表上，用来在该第一接触探针触抵该标准件时，归零该第一测量读表以显示该第一归零值；其中当该第一接触探针在该第一归零按键归零该第一测量读表后触抵该待测件时，该第一测量读表显示该第一测量值，该待测件相对该标准件在该第一轴向上的一第一尺寸差值等于该第一测量值与该第一归零值的一差值。2.如权利要求1所述的检测治具，其中该第一测量读表以指针指示或数字显示的方式显示该第一归零值以及该第一测量值。3.如权利要求1所述的检测治具，其中该第一轴向对应该治具主体的一X轴方向。4.如权利要求1所述的检测治具，该检测治具还包括：。
5、一第二测量单元，该第二测量单元设置于该治具主体对应一第二轴向的位置上，该第二测量单元包括：一第二接触探针，该第二接触探针相对该容置空间向内突出且弹性地沿该第二轴向移动，用来在该标准件靠合于该容置空间内时触抵该标准件，以及用来在该待测件靠合于该容置空间内时触抵该待测件；一第二测量读表，该第二测量读表连接于该第二接触探针，用来显示一第二归零值或对应该待测件的一第二测量值；以及一第二归零按键，该第二归零按键设置于该第二测量读表上，用来在该第二接触探针触抵该标准件时，归零该第二测量读表以显示该第二归零值；其中当该第二接触探针在该第二归零按键归零该第二测量读表后触抵该待测件时，该第二测量读表显示该第二测。
6、量值，该待测件相对该标准件在该第二轴向上的一第二尺寸差值等于该第二测量值与该第二归零值的一差值。5.如权利要求4所述的检测治具，其中该第二轴向对应该治具主体的一Y轴方向。6.如权利要求4所述的检测治具，该检测治具还包括：一第三测量单元，该第三测量单元设置于该治具主体对应一第三轴向的位置上，该第三测量单元包括：一第三接触探针，该第三接触探针相对该容置空间向内突出且弹性地沿该第三轴向移动，用来在该标准件靠合于该容置空间内时触抵该标准件，以及用来在该待测件靠合于该容置空间内时触抵该待测件；权 利 要 求 书CN 102840844 A2/3页3一第三测量读表，该第三测量读表连接于该第三接触探针，用来。
7、显示一第三归零值或对应该待测件的一第三测量值；以及一第三归零按键，该第三归零按键设置于该第三测量读表上，用来在该第三接触探针触抵该标准件时，归零该第三测量读表以显示该第三归零值；其中当该第三接触探针在该第三归零按键归零该第三测量读表后触抵该待测件时，该第三测量读表显示该第三测量值，该待测件相对该标准件在该第三轴向上的一第三尺寸差值等于该第三测量值与该第三归零值的一差值。7.如权利要求6所述的检测治具，其中该第三轴向对应该治具主体的一Z轴方向。8.如权利要求6所述的检测治具，其中该治具主体包括：一上盖；以及一下盖，该下盖枢接于该上盖的一侧，该下盖用来与该上盖共同形成该容置空间。9.如权利要求8所。
8、述的检测治具，其中该第一测量单元以及该第三测量单元分别设置于该上盖对应该第一轴向以及该第三轴向的位置上，该第二测量单元设置于该下盖对应该第二轴向的位置上。10.如权利要求1所述的检测治具，其中该治具主体包括：一上盖；以及一下盖，该下盖枢接于该上盖的一侧，该下盖用来与该上盖共同形成该容置空间。11.一种利用一检测治具的检测方法，该检测方法检测一标准件与一待测件的尺寸差值，该检测治具包括一治具主体以及一第一测量单元，该治具主体具有一容置空间以容置该标准件或该待测件，该第一测量单元设置于该治具主体对应一第一轴向的位置上，该检测方法包括：将该标准件靠合于该容置空间内；该第一测量单元沿该第一轴向触抵该标。
9、准件；该第一测量单元在归零后显示一第一归零值；将该待测件靠合于该容置空间内；以及该第一测量单元沿该第一轴向触抵该待测件以显示对应该待测件的一第一测量值；其中该待测件相对该标准件在该第一轴向上的一第一尺寸差值等于该第一测量值与该第一归零值的一差值。12.如权利要求11所述的检测方法，其中该检测治具还包括一第二测量单元，该第二测量单元设置于该治具主体对应一第二轴向的位置上，该检测方法还包括：该第二测量单元在该标准件靠合于该容置空间内时沿该第二轴向触抵该标准件；该第二测量单元在归零后显示一第二归零值；以及该第二测量单元在该待测件靠合于该容置空间内时沿该第二轴向触抵该待测件以显示对应该待测件的一第二测。
10、量值；其中该待测件相对该标准件在该第二轴向上的一第二尺寸差值等于该第二测量值与该第二归零值的一差值。13.如权利要求12所述的检测方法，其中该检测治具还包括一第三测量单元，该第三测量单元设置于该治具主体对应一第三轴向的位置上，该检测方法还包括：该第三测量单元在该标准件靠合于该容置空间内时沿该第三轴向触抵该标准件；权 利 要 求 书CN 102840844 A3/3页4该第三测量单元在归零后显示一第三归零值；以及该第三测量单元在该待测件靠合于该容置空间内时沿该第三轴向触抵该待测件以显示对应该待测件的一第三测量值；其中该待测件相对该标准件在该第三轴向上的一第三尺寸差值等于该第三测量值与该第三归零值。
11、的一差值。权 利 要 求 书CN 102840844 A1/6页5检测治具及利用检测治具的检测方法技术领域0001 本发明涉及一种检测治具及利用检测治具的检测方法，尤指一种用来检测标准件与待测件的尺寸差值的检测治具及利用检测治具的检测方法。背景技术0002 一般而言，常见的用来检测工件尺寸是否正确的方式是使用其上具有符合标准工件结构轮廓的容置槽的检测块，并根据待测工件是否可置入容置槽中的结果，来快速地得知待测工件是否落在标准规格范围内。然而，这种方式无法准确地得知待测工件与标准工件之间的尺寸差值，故不利于后续工件尺寸的校正。上述问题虽可利用能读出工件尺寸值的测量工具(如光标卡尺等)来解决，但却。
12、也会带来费时费工的测量流程。0003 因此，本发明提供一种用来检测标准件与待测件的尺寸差值的检测治具及利用检测治具的检测方法，以解决上述的问题。发明内容0004 本发明公开一种检测治具，该检测治具用来检测一标准件与一待测件的尺寸差值，该检测治具包括：一治具主体以及一第一测量单元。该治具主体具有一容置空间，该容置空间用来容置该标准件或该待测件；该第一测量单元设置于该治具主体对应一第一轴向的位置上，该第一测量单元包括：一第一接触探针、一第一测量读表以及一第一归零按键，该第一接触探针相对该容置空间向内突出且弹性地沿该第一轴向移动，用来在该标准件靠合于该容置空间内时触抵该标准件，以及用来在该待测件靠合。
13、于该容置空间内时触抵该待测件；该第一测量读表连接于该第一接触探针，用来显示一第一归零值或对应该待测件的一第一测量值；该第一归零按键设置于该第一测量读表上，用来在该第一接触探针触抵该标准件时，归零该第一测量读表以显示该第一归零值；其中当该第一接触探针在该第一归零按键归零该第一测量读表后触抵该待测件时，该第一测量读表显示该第一测量值，该待测件相对该标准件在该第一轴向上的一第一尺寸差值等于该第一测量值与该第一归零值的一差值。0005 本发明还公开该第一测量读表以指针指示或数字显示的方式显示该第一归零值以及该第一测量值。0006 本发明还公开该第一轴向对应该治具主体的一X轴方向。0007 本发明还公开。
14、该检测治具还包含一第二测量单元，其设置于该治具主体对应一第二轴向的位置上，该第二测量单元包含一第二接触探针、一第二测量读表，以及一第二归零按键。该第二接触探针相对该容置空间向内突出且弹性地沿该第二轴向移动，用来在该标准件靠合于该容置空间内时触抵该标准件，以及用来在该待测件靠合于该容置空间内时触抵该待测件。该第二测量读表连接于该第二接触探针，用来显示一第二归零值或对应该待测件的一第二测量值。该第二归零按键设置于该第二测量读表上，用来在该第二接触探针触抵该标准件时，归零该第二测量读表以显示该第二归零值。当该第二接触探针在该第二说 明 书CN 102840844 A2/6页6归零按键归零该第二测量读。
15、表后触抵该待测件时，该第二测量读表显示该第二测量值，该待测件相对该标准件在该第二轴向上的一第二尺寸差值等于该第二测量值与该第二归零值的一差值。0008 本发明还公开该第二轴向对应该治具主体的一Y轴方向。0009 本发明还公开该检测治具还包含一第三测量单元，其设置于该治具主体对应一第三轴向的位置上，该第三测量单元包含一第三接触探针、一第三测量读表，以及一第三归零按键。该第三接触探针相对该容置空间向内突出且弹性地沿该第三轴向移动，用来在该标准件靠合于该容置空间内时触抵该标准件，以及用来在该待测件靠合于该容置空间内时触抵该待测件。该第三测量读表，其连接于该第三接触探针，用来显示一第三归零值或对应该待。
16、测件的一第三测量值。该第三归零按键设置于该第三测量读表上，用来在该第三接触探针触抵该标准件时，归零该第三测量读表以显示该第三归零值。当该第三接触探针在该第三归零按键归零该第三测量读表后触抵该待测件时，该第三测量读表显示该第三测量值，该待测件相对该标准件在该第三轴向上的一第三尺寸差值等于该第三测量值与该第三归零值的一差值。0010 本发明还公开该第三轴向对应该治具主体的一Z轴方向。0011 本发明还公开该治具主体包含一上盖以及一下盖。该下盖枢接于该上盖的一侧，该下盖用来与该上盖共同形成该容置空间。0012 本发明还公开该第一测量单元以及该第三测量单元分别设置于该上盖对应该第一轴向以及该第三轴向的。
17、位置上，该第二测量单元设置于该下盖对应该第二轴向的位置上。0013 本发明还公开一种利用一检测治具的检测方法，该检测方法检测一标准件与一待测件的尺寸差值，该检测治具包括一治具主体以及一第一测量单元，该治具主体具有一容置空间以容置该标准件或该待测件，该第一测量单元设置于该治具主体对应一第一轴向的位置上，该检测方法包括：将该标准件靠合于该容置空间内；该第一测量单元沿该第一轴向触抵该标准件；该第一测量单元在归零后显示一第一归零值；将该待测件靠合于该容置空间内；以及该第一测量单元沿该第一轴向触抵该待测件以显示对应该待测件的一第一测量值；其中该待测件相对该标准件在该第一轴向上的一第一尺寸差值等于该第一测。
18、量值与该第一归零值的一差值。0014 本发明还公开该检测治具还包含一第二测量单元，该第二测量单元设置于该治具主体对应一第二轴向的位置上，该检测方法还包含该第二测量单元在该标准件靠合于该容置空间内时沿该第二轴向触抵该标准件、该第二测量单元在归零后显示一第二归零值，以及该第二测量单元在该待测件靠合于该容置空间内时沿该第二轴向触抵该待测件以显示对应该待测件的一第二测量值。该待测件相对该标准件在该第二轴向上的一第二尺寸差值等于该第二测量值与该第二归零值的一差值。0015 本发明还公开该检测治具还包含一第三测量单元，该第三测量单元设置于该治具主体对应一第三轴向的位置上，该检测方法还包含该第三测量单元在该。
19、标准件靠合于该容置空间内时沿该第三轴向触抵该标准件，该第三测量单元在归零后显示一第三归零值，以及该第三测量单元在该待测件靠合于该容置空间内时沿该第三轴向触抵该待测件以显示对应该待测件的一第三测量值。该待测件相对该标准件在该第三轴向上的一第三尺寸差值说 明 书CN 102840844 A3/6页7等于该第三测量值与该第三归零值的一差值。0016 综上所述，本发明采用测量单元设置于用来容置标准件或待测件的治具主体上的配置，以使用归零按键在接触探针触抵标准件时归零测量读表以显示归零值，以及利用测量读表在接触探针在归零按键归零测量读表后触抵待测件时显示测量值，藉此即可根据测量值与归零值的差值而得出待测。
20、件相对标准件的尺寸差值。如此一来，本发明所提供的检测治具不仅可准确地判断出待测件的尺寸是否落在预设的制造规格内，以利于后续工件质量控管以及作为后续工件尺寸校正的参考依据，此外，由于不须额外使用测量工具以进行人工测量，本发明所提供的检测治具亦可解决先前技术中所提及的测量流程费时费工的问题。附图说明0017 图1为根据本发明一实施例所提出的检测治具的收合示意图。0018 图2为图1的检测治具的展开示意图。0019 图3为图1的检测治具的俯视图。0020 图4为图3的检测治具沿剖面线3-3的剖面侧视图。0021 图5为本发明利用图1的检测治具以检测出标准件与待测件在治具主体的第一轴向上的尺寸差值的方。
21、法的流程图。0022 图6为图4的第一测量读表的正视图。0023 图7为图4的第一接触探针触抵待测件的剖面侧视图。0024 图8为图7的第一测量读表的正视图。0025 主要组件符号说明：0026 具体实施方式0027 请参阅图1以及图2，图1为根据本发明一实施例所提出的一检测治具10的收合示意图，图2为图1的检测治具10的展开示意图。如图1以及图2所示，检测治具10包含一治具主体12、一第一测量单元14、一第二测量单元16，以及一第三测量单元18。在此实施例中，治具主体12包含一上盖20以及一下盖22，下盖22枢接于上盖20的一侧，用以与上盖20共同形成一容置空间21。说 明 书CN 1028。
22、40844 A4/6页80028 在此针对第一测量单元14、第二测量单元16，以及第三测量单元18的机构设计进行描述，请参阅图3以及图4，图3为图1的检测治具10的俯视图，图4为图3的检测治具10沿剖面线3-3的剖面示意图。由图3以及图4可知，第一测量单元14设置于治具主体12上且对应治具主体12的第一轴向，在此实施例中，第一测量单元14设置于上盖20对应如图3所示的X轴方向的位置上(但不受此限)，第一测量单元14包含一第一接触探针24、一第一测量读表26，以及一第一归零按键28。0029 第一接触探针24相对容置空间21向内突出且弹性地沿第一轴向(即图3所示的X轴方向)线性移动，其中在此实施。
23、例中，第一接触探针24的弹性移动可采用第一接触探针24连接弹簧的方式来达到，当用来作为尺寸检测标准的标准件或是检测治具10所欲检测的待测件靠合于容置空间21内时，第一接触探针24用来相对应地触抵标准件或待测件。0030 第一测量读表26连接于第一接触探针24，用来显示第一归零值或对应待测件的第一测量值，其中第一测量读表26可为一般常见的测量读表，如千分表等。0031 第一归零按键28设置于第一测量读表26上，用来在第一接触探针24触抵标准件时，归零第一测量读表26以使第一测量读表26显示出第一归零值。至于第一接触探针24驱动第一测量读表26指示出读数的机构连动以及第一归零按键28归零第一测量读。
24、表26的归零设计，其为先前技术中常见的机构设计，例如可利用弹簧连接第一接触探针24以及第一测量读表26，藉以在第一接触探针24接触标准件或待测件而使弹簧伸长或压缩时，经由弹簧带动第一测量读表26上的指针指示出相对应的数值。0032 除此之外，如图3以及图4所示，第二测量单元16设置于治具主体12上且对应治具主体12的第二轴向，其中第二测量单元16较佳地设置于下盖22对应如图3所示的Y轴方向的位置上(但不受此限)，而第三测量单元18则是设置于治具主体12上且对应治具主体12的第三轴向，其中第三测量单元18较佳地设置于上盖20对应如图3所示的Z轴方向的位置上(但不受此限)。0033 在此实施例中，。
25、第二测量单元16以及第三测量单元18可具有与第一测量单元14相同的机构设计，简言之，第二测量单元16包含一第二接触探针30、一第二测量读表32，以及一第二归零按键34，而第三测量单元18包含一第三接触探针36、一第三测量读表38，以及一第三归零按键40，至于上述组件的相关描述，其可参照上述针对第一测量单元14的描述类推，故在此不再说明。0034 以下针对检测治具10的检测操作进行详细的说明，请参阅图5，其为本发明利用图1的检测治具10以检测出标准件与待测件在治具主体12的第一轴向上的尺寸差值的方法的流程图，该方法包含下列步骤：0035 步骤500：将标准件靠合于治具主体12的容置空间21内；0。
26、036 步骤502：第一接触探针24沿治具主体12的第一轴向触抵标准件；0037 步骤504：按压第一归零按键28归零第一测量读表26以使第一测量读表26显示第一归零值；0038 步骤506：将待测件靠合于治具主体12的容置空间21内；0039 步骤508：第一接触探针24沿治具主体12的第一轴向触抵待测件；0040 步骤510：第一测量读表26显示对应待测件的第一测量值。0041 在此就上述步骤进行说明。首先，如图4所示，其可将一标准件42置入容置空间说 明 书CN 102840844 A5/6页921内(步骤500)，接着在将标准件42靠合于容置空间21的右侧壁后，第一接触探针24就会沿着。
27、治具主体12的第一轴向(即图4所示的X轴方向)触抵标准件42(步骤502)，此时，即可按压第一归零按键28归零第一测量读表26(步骤504)，以使第一测量读表26显示第一归零值，其相关显示，举例来说，可如图6所示，图6为图4的第一测量读表26的正视图。0042 由图6可知，当按压第一归零按键28以归零第一测量读表26时，第一测量读表26上的指针就会指示在读数0的位置上，此处读数0可被视为第一归零值，藉此，通过按压第一归零按键28的归零操作，第一接触探针24触抵标准件42的位置即可被视为判断待测件与标准件42的尺寸差值的参考依据，换句话说，无论待测件的尺寸大于或是小于标准件42的尺寸，其均可通过。
28、第一接触探针24驱动第一测量读表26的指针从读数0的位置相对应地向右或向左偏转的方式，来得知待测件与标准件42在治具主体12的第一轴向的尺寸差值，其中，在此实施例中，第一测量读表26上的指针从读数0的位置向右偏转代表待测件的尺寸较标准件42为大，而指针从读数0的位置向左偏转则是代表待测件的尺寸较标准件42为小，但不受此限。0043 请同时参阅图4以及图7，图7为图4的第一接触探针24触抵待测件44的剖面侧视图，在完成上述归零操作且将如图4所示的标准件42从治具主体12内取出之后，即可执行步骤506，也就是将所欲检测的一待测件44置入容置空间21内，接着在将待测件44靠合于容置空间21的右侧壁后。
29、(如图7所示)，第一接触探针24就会沿着治具主体12的第一轴向触抵待测件44(步骤508)。0044 在此实施例中，假设待测件44在治具主体12的第一轴向上的尺寸小于标准件42在治具主体12的第一轴向上的尺寸，因此第一接触探针24就会从如图4所示的位置伸长至如图7所示的位置而与待测件44触抵，从而驱动第一测量读表26上的指针从读数0的位置向左偏转，以显示对应待测件44的第一测量值(步骤510)，其相关显示，举例来说，其可如图8所示，图8为图7的第一测量读表26的正视图。0045 由图8可知，在检测如图7所示的待测件44的情况下，第一测量读表26上的指针向左偏转而指示在读数4的位置，此处读数4可。
30、被视为第一测量值。如此一来，待测件44相对标准件42在治具主体12的第一轴向上的第一尺寸差值就可以根据上述第一测量值与第一归零值的差值而得知，也就是说，在此举例中，可得知待测件44在治具主体12的第一轴向上的尺寸较标准件42小4个单位差，其中第一测量读表26所采用的长度单位可根据其实际使用需求而有所变化，举例来说，若是第一测量读表26所采用的长度单位为0.01mm，则表示待测件44在治具主体12的第一轴向上的尺寸较标准件42小0.04mm，藉此，即可准确地得知待测件44与标准件42之间的尺寸差值。0046 同理，待测件44相对标准件42在治具主体12的第二轴向(即图7所示的Y轴方向)上的第二尺。
31、寸差值以及在治具主体12的第三轴向(即图7所示的Z轴方向)上的第三尺寸差值可参照上述步骤而得知。简言之，在待测件44在第二轴向的检测上，第二归零按键34可在第二接触探针30在第二轴向上触抵标准件42时，归零第二测量读表32以显示第二归零值，而第二测量值则是可利用第二测量读表32在第二接触探针30在第二归零按键34归零第二测量读表32后触抵待测件44时而显示的，如此即可根据第二测量值与第二归零值的差值而得知待测件44相对标准件42在第二轴向上的第二尺寸差值。说 明 书CN 102840844 A6/6页100047 此外，在待测件44在第三轴向的检测上，第三归零按键40可在第三接触探针36在第三。
32、轴向上触抵标准件42时，归零第三测量读表38以显示第三归零值，而第三测量值则是可利用第三测量读表38在第三接触探针36在第三归零按键40归零第三测量读表38后触抵待测件44时而显示的，如此即可根据第三测量值与第三归零值的差值而得知待测件44相对标准件42在第三轴向上的第三尺寸差值。0048 综上所述，根据执行上述步骤所得的待测件44与标准件42在三轴向上的第一尺寸差值、第二尺寸差值，以及第三尺寸差值，本发明所提供的检测治具10就可准确地判断出待测件44的整体结构尺寸是否落在预设的制造规格内，以利于后续工件质量控管以及作为后续工件尺寸校正的参考依据。0049 值得一提的是，检测治具10上的测量读。
33、表显示数值的设计可不限于上述实施例所提及的指针指示的方式，其亦可改使用其他具有相似显示功效的设计，如数字显示设计等。此外，第二测量单元16以及第三测量单元18为可选择性省略的组件，藉以简化检测治具10的机构设计。举例来说，检测治具10可选择性地只配置有第一测量单元14而仅具有测量标准件与待测件在单一轴向上的尺寸差值的功能；或者是，检测治具10可选择性地只配置有第一测量单元14以及第二测量单元16而仅具有测量标准件与待测件在双轴向上的尺寸差值的功能。0050 相比较于先前技术，本发明采用测量单元设置于用来容置标准件或待测件的治具主体上的配置，以使用归零按键在接触探针触抵标准件时归零测量读表以显示归零值，以及利用测量读表在接触探针在归零按键归零测量读表后触抵待测件时显示测量值，藉此即可根据测量值与归零值的差值而得出待测件相对标准件的尺寸差值。如此一来，本发明所提供的检测治具不仅可准确地判断出待测件的尺寸是否落在预设的制造规格内，以利于后续工件质量控管以及作为后续工件尺寸校正的参考依据，此外，由于不须额外使用测量工具以进行人工测量，本发明所提供的检测治具亦可解决先前技术中所提及的测量流程费时费工的问题。0051 以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡是根据本发明权利要求书的范围所作的等同变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。说 明 书CN 102840844 A10。