光记录方法和光记录装置 技术领域 本发明涉及用于对光盘进行信息记录的光记录方法和光记录装置， 特别涉及在记 录时使用的写策略 ( 在记录中使用的激光器的发光控制设定值 ) 或在记录功率的最佳控制 (OPC ： Optimum Power Control) 中使用的 OPC 用设定值等记录参数的决定方法。
背景技术 为了对光盘进行信息记录， 需要结合光盘的特性适当地调整作为在记录时使用的 记录参数的写策略和 OPC( 记录功率的最佳控制 ) 用的设定值。通常， 在光盘中记录有由盘 生产商确定的记录参数的推荐值， 但是， 用于决定所述推荐值的光记录装置的光拾取器与 一般的光记录装置的光拾取器的规格不同的情况占绝大多数， 所以在这种情况下， 即使使 用记录参数的推荐值也无法正常记录的情况较多。 因此， 一般地， 光记录装置按照每个光盘 的 ID( 识别信息 ) 保持最佳的记录参数 ( 写策略和 OPC 用设定值 ) 并用于记录。
但是， 这样， 为了使光记录装置针对光盘保持固有的最佳记录参数， 需要按照每个 光盘预先求出最佳的记录参数， 例如存在如下问题 ： 在光记录装置出厂后， 针对新发售的光 盘， 不能具有最佳的记录参数。
作为其对应策略， 存在如下技术 ： 读取由于试写而形成的坑 ( 标记 ) 部分， 对读取 出的坑部分的信号的偏差进行评价， 反复调整写策略的修正使得所述偏差处于规定范围内 ( 例如参照专利文献 1 ～ 5)。并且， 存在如下技术 ： 读出在光盘中记录的写策略的推荐值， 根据写策略的开头脉冲宽度的推荐值， 通过计算而求出在记录中使用的开头脉冲宽度 ( 例 如专利文献 6)。
现有技术文献
专利文献
专利文献 1 ： 日本特开 2006-004601 号公报 ( 第 1-14 页、 第 1-16 图 )
专利文献 2 ： 日本特开 2006-031915 号公报 ( 第 1-13 页、 第 1-10 图 )
专利文献 3 ： 日本特开 2006-048907 号公报 ( 第 1-16 页、 第 1-19 图 )
专利文献 4 ： 日本特开 2006-164486 号公报 ( 第 1-13 页、 第 1-17 图 )
专利文献 5 ： 日本特开 2007-018582 号公报 ( 第 1-11 页、 第 1-11 图 )
专利文献 6 ： 日本特许第 3907630 号公报 ( 第 1-15 页、 第 1-11 图 )
发明内容 发明要解决的课题
在上述现有的光记录装置中， 在反复调整写策略的修正的情况下， 到记录开始之 前需要时间， 大量消耗了有限的光盘的测试记录区域。并且， 由于写策略的发光规则， 需要 调整的写策略的参数较多， 仅变更各个参数， 有时无法进行适当地调整。
并且， 在通过计算而求出写策略的情况下， 根据在光盘中记录的写策略的推荐值 的开头脉冲宽度的推荐值， 通过计算而求出在记录中使用的开头脉冲宽度， 存在只能够对
应特定的发光规则而无法对应不同的发光规则的问题。
本发明是为了解决上述问题而完成的， 其目的在于， 得到如下的光记录方法和光 记录装置 ： 针对预先未判明最佳的记录参数的光盘， 也能够求出可进行适当记录的记录参 数， 而不会在记录开始之前花费较长时间。
并且， 其目的在于， 得到如下的光记录方法和光记录装置 ： 与写策略的发光规则或 记录倍速无关， 能够求出可进行适当记录的记录参数。
用于解决课题的手段
本发明的光记录方法按照由与记录数据长度对应的多个参数构成的记录参数， 在 光记录介质上照射激光， 从而在光记录介质中记录信息， 其特征在于， 该光记录方法具有以 下步骤 ：
记录条件推荐值读取步骤， 从记录有记录参数的推荐值的光记录介质中读取所述 记录参数的推荐值 ；
记录参数决定步骤， 使用在所述记录参数推荐值读取步骤中读取出的所述记录参 数推荐值、 预先求出的矢量信息和近似系数， 求出在记录中应该使用的记录参数 ； 以及
写入步骤， 使用所求出的记录参数， 通过所述记录方法进行针对所述光记录介质 的写入， 所述矢量信息是按照使参数相互间的相关较强的方式对针对多个光记录介质的 记录参数最佳值与所述记录参数推荐值之间的各个参数差分值统计求出的各参数的矢量 成分，
所述近似系数是通过对转换信息与表示各光记录介质的特征的特征信息之间的 关系进行近似而求出的近似系数， 该转换信息表示所述矢量信息与所述参数差分值之间的 关系， 该特征信息是根据所述记录参数推荐值和所述矢量信息求出的。
发明效果
根据本发明， 在与光盘对应的最佳的记录参数不明的情况下， 也能够迅速地求出 最佳的记录参数。
附图说明 图 1 是示出在本发明的实施方式的光记录方法和装置中使用的光盘的结构的一 例的图。
图 2 是示出本发明的实施方式的光记录装置的框图。
图 3(a) ～ (c) 是示出在图 2 的再现特性测定部 150 中测定的再现信号的不对称 的例子的图。
图 4 是示出在图 2 的再现特性测定部 150 中测定的再现信号的调制度的例子的 图。
图 5(a) ～ (e) 是示出在本发明的实施方式的光记录装置中、 在针对光盘的记录为 EFM+(8-16) 调制的情况 (DVD 的情况 ) 下生成的写策略的一例的图。
图 6 是示出本发明的实施方式 1 的光记录装置中的记录顺序的一例的流程图。
图 7 是示出实施方式 1 的记录参数决定的处理 ( 图 6 的步骤 S14) 的顺序的流程 图。
图 8 是示出实施方式 1 的光记录装置中的光盘 500 为 DVD-R 时的特征参数 D 与转 换参数 X 之间的关系 ( 实测结果 ) 的图。
图 9 是示出实施方式 1 的光记录装置中的光盘 500 为 BD-R 时的特征参数 D 与转 换参数 X 之间的关系 ( 实测结果 ) 的图。
图 10 是示出现有的记录参数的列表的图。
图 11 是示出本发明的实施方式 2 的包含特征参数 D 和针对该特征参数 D 的记录 参数的偏置量的列表的图。
图 12 是示出本发明的实施方式 2 的记录参数决定的处理 ( 图 6 的步骤 S14) 的顺 序的流程图。
图 13 是示出本发明的实施方式 3 的记录参数决定 ( 图 6 的步骤 S14) 的处理的顺 序的流程图。
图 14 是示出本发明的实施方式 4 的光记录装置中的记录顺序的流程图。 具体实施方式
本发明的光记录方法和光记录装置针对预先记录有记录参数推荐值的光盘进行 记录。通过该光盘的制造生产商， 将记录参数推荐值作为适于在记录中使用的记录参数记 录在光盘的规定区域、 例如图 1 的导入区域中。并且， 根据光盘的种类来决定用于决定记录 参数推荐值的条件、 例如光记录装置的光拾取器的规格 ( 例如物镜的数值孔径 NA 或激光器 的波长等 )。这里， 光盘的种类具有 Blu-ray Disc(BD)、 DVD、 CD 等， 还分别被分类为改写型 和补记型。
光盘所记录的记录参数推荐值包含写策略 ( 脉冲宽度或边缘位置的设定值、 记录 功率和消去功率的比率等用于决定激光器的发光模式的记录参数的设定值 ) 的推荐值和 用于通过 OPC 对记录功率进行优化的推荐设定值 ( 例如不对称值等 )。
进而， 按照针对光盘进行记录时的记录速度或写策略的发光规则 ( 例如呈多脉冲 状发光的规则、 呈非多脉冲状发光的规则等 )， 将记录参数推荐值记录在光盘中。
所述记录参数推荐值假设在规定条件下进行记录。 因此， 如果记录条件不同， 则优 选利用与记录参数推荐值不同的记录参数进行记录。在本发明中， 利用基于从光盘中读取 出的记录参数推荐值和由在记录中使用的光记录装置的光拾取器求出的最佳记录参数之 间的关系的系数， 根据记录参数推荐值， 决定在记录中使用的记录参数并进行记录。
实施方式 1
以下说明的实施方式中的光记录方法进行标记边缘记录 (PWM 记录 )。而且， 根据 要在光盘上记录的数据， 按照写策略 ( 在记录中使用的激光器发光波形规则 ) 使半导体激 光器发光， 形成记录标记， 由此进行信息记录。
图 2 是示出本发明的实施方式 1 的光记录装置 100 的基本结构例的图。这里， 图2 的光记录装置 100 示出向光盘 500 记录进行了 EFM+(8-16) 调制后的记录数据的情况 ( 例 如光盘 500 是 DVD 的情况 )。
伺服控制部 180 对用于使光盘 500 旋转的主轴电动机 181、 用于使光头 300 的位置 移动的螺旋电动机 182、 以及光头 300 的致动器 ( 未图示 ) 进行控制。
来自光头 300 的再现信号利用前置放大电路 110 放大， 被输入到中央控制部 200。所输入的信号利用中央控制部 200 进行地址信息的解码， 得到光头 300 的当前位置 ( 表示 光头 300 的当前位置的地址信息 )。
通过对伺服控制部 180 赋予表示当前位置的地址信息与应该存取的位置 ( 存取对 象位置 ) 的地址信息之间的差分， 伺服控制部 180 控制螺旋电动机 182， 使光头 300 向存取 对象位置移动。进而， 伺服控制部 180 根据来自前置放大器 110 的伺服错误信号， 进行对焦 控制、 循轨控制。
在数据再现时， 从激光器驱动部 320 所驱动的半导体激光器 310 出射的具有数据 再现所需要的输出值 ( 再现功率 ) 的激光经由准直透镜 330、 光束分离器 340 和物镜 350 聚 光照射到光盘 500。来自光盘 500 的反射光通过物镜 350 后， 由光束分离器 340 使其与入射 光分离， 经由检测透镜 360 被受光元件 370 接受。
利用上述的半导体激光器 310、 准直透镜 330、 光束分离器 340、 物镜 350 和检测透 镜 360 构成光学系统， 利用该光学系统、 受光元件 370、 激光器驱动部 320 和致动器 ( 未图 示 ) 构成光拾取器 300。
受光元件 370 将光信号转换为电信号。 关于在受光元件 370 中转换的电信号， 除了 如上所述经由前置放大器 110 输入到中央控制部 200 以外， 还输入到再现信号处理部 120。 再现信号处理部 120 对来自前置放大器 110 的电信号进行均衡化处理 ( 波形整 形 )， 将其输入到记录质量测定部 130 和数据解码器 140。并且， 再现信号处理部 120 将均 衡化处理之前的信号输入到再现特性测定部 150。
再现特性测定部 150 求出不对称值或调制度值等的再现特性， 用于调整记录时所 需要的记录功率。并且， 记录质量测定部 130 测定再现信号的抖动值和错误率等信号质量。
数据解码器 140 对所输入的再现信号进行二值化， 进行解调和纠错等处理， 由此， 生成 ( 再现 ) 记录在光盘 500 中的数据。光记录装置 100 与上位控制器 400 连接， 中央控 制部 200 将所生成的数据存储在缓存器 190 中后， 发送到上位控制器 400。
在再现特性测定部 150 求解不对称值的情况下， 再现特性测定部 150 对所输入的 电信号 ( 从前置放大器 110 输出的信号 ) 进行 AC( 交流 ) 耦合， 根据 AC 耦合后的电信号来 计算不对称值 β。图 3(a) ～ (c) 示出上述 AC 耦合后的电信号的例子。再现特性测定部 150 检测图 3(a) ～ (c) 所例示的信号的峰值电平 A1 和谷值电平 A2。根据检测到的峰值电 平 A1 和谷值电平 A2， 使用下式 (1) 计算不对称值 β。
β ＝ (A1+A2)/(A1-A2) ...(1)
其中， 在最长间隔 (space) 和最长标记 (mark) 交替出现的部分产生峰值电平 A1 和谷值电平 A2， 这些值将最短间隔和最短标记交替出现的部分的峰值电平和谷值电平的平 均值表示为零电平。
如上所述， 图 3(a) ～ (c) 示出在再现特性测定部 150 中检测到的再现信号 ( 从 前置放大器 110 输出的信号 ) 的不对称的检测例， 其中， 图 3(a) 示出 β 值＜ 0 的情况， 图 3(b) 示出 β 值＝ 0 的情况， 图 3(c) 示出 β 值＞ 0 的情况。
并且， 在再现特性测定部 150 求解调制度值的情况下， 再现特性测定部 150 检测所 输入的电信号的峰值电平 PK 和谷值电平 BT。该情况下， 与求解不对称的情况不同， 不进行 AC 耦合， 直接检测 ( 通过 DC 耦合 ) 得到的信号的峰值电平 PK 和谷值电平 BT， 根据该峰值 电平 PK 和谷值电平 BT， 使用下式 (2) 计算调制度。
调制度＝ (PK-BT)/PK ...(2)
图 4 示出这种通过 DC 耦合得到的信号的一例。如图所示， 峰值 PK、 谷值 BT 以零电 平 ( 没有针对受光元件 370 的输入 ( 没有来自光盘的反射光输入 ) 时的输出偏置值 ) 为基 准。峰值 PK、 谷值 BT 分别对应于最长间隔、 最长标记的电平。
在数据记录时， 中央控制部 200 将来自所述上位控制器 400 的数据存储在缓存器 190 中后， 利用数据编码器 160 附加纠错码， 按照调制规则进行调制， 按照光盘 500 的格式生 成记录数据。
写策略控制部 170 根据记录数据生成写策略信号。即， 在从中央控制部 200 设定 了写策略后， 当从数据编码器 160 赋予用于指定表示标记长度的周期数 n 的记录数据时， 写 策略控制部 170 输出与这种记录数据对应的写策略信号 ( 按照写策略生成的、 具有与发光 脉冲串的波形大致相同的波形的信号 )。
激光器驱动部 320 通过与所生成的写策略信号对应的驱动电流， 驱动半导体激光 器 310。从半导体激光器 310 出射的具有数据记录所需要的输出值 ( 记录功率 ) 的激光经 由准直透镜 330、 光束分离器 340 和物镜 350 聚光照射到光盘 500。由此， 形成标记， 形成由 标记和位于标记相互间的间隔构成的记录部。 图 5(a) ～ (e) 示出在图 2 所示的光记录装置 100 中由写策略控制部 170 生成的写 策略信号的例子。图 5(a) 示出由标记部 MA 和间隔部 SA 构成的记录数据的例子。图 5(b) 示出在向光盘 500 记录图 5(a) 的记录数据时形成的光盘上的标记 MK 和位于标记 MK 相互 间的间隔 SP。进行 EFM+(8-16) 调制后的记录数据从与用于记录最短标记的周期数 n ＝ 3 即 3T 对应的长度起， 具有与周期数 n ＝ 11 即 11T 对应的长度、 以及与用于记录最长标记的 周期数 n ＝ 14 即 14T 对应的长度。
图 5(a) ～ (e) 假设了如下情况 ： 记录最短标记、 即 3T 的标记， 接着记录第 2 短的 标记、 即 4T 的标记， 接着记录第 4 短的标记、 即 6T 的标记。
图 5(c) 示出在光盘 500 向可改写的记录介质 ( 例如 DVD-RW) 记录数据的情况下 由写策略控制部 170 生成的写策略信号的例子。并且， 图 5(d) 和图 5(e) 示出在光盘 500 向可补记的记录介质 ( 例如 DVD-R) 记录数据的情况下由写策略控制部 170 生成的写策略 信号的例子， 图 5(d) 的写策略信号用于低倍速 ( 例如 1 倍速～ 4 倍速 ) 的记录， 图 5(e) 的 写策略信号用于高倍速 ( 例如 4 倍速以上 ) 的记录。
为了由写策略控制部 170 生成图 5(c) ～ (e) 这种写策略信号， 中央控制部 200 需 要设定多个写策略参数， 写策略信号的形式越复杂， 其种类越增加。
中央控制部 200 在光记录装置 100 进行针对光盘 500 的写入或读出时控制装置全 体， 接受来自记录质量测定部 130 的抖动等记录质量、 来自再现特性测定部 150 的不对称值 或调制度值、 来自数据解码器 140 的再现数据， 另一方面， 对数据编码器 160、 写策略控制部 170、 激光器驱动部 320、 伺服控制部 180 赋予控制信号。
中央控制部 200 还进行以下参照图 6 ～图 9 说明的记录参数的决定、 特别是记录 参数的设定值的计算、 使用计算出的记录参数进行的试写的控制等。
中央控制部 200 例如具有 CPU 210、 存储该 CPU 210 的动作用的程序的非易失性存 储器例如 ROM 220、 以及存储数据的数据存储器例如 RAM 230。存储在 ROM 220 中的程序包 含以下参照图 6 说明的记录参数的运算、 以及定义了运算或记录功率调整所需要的设定值
等的部分。并且， 如后所述， ROM 220 还用于存储预先确定的系数等， 优选为可改写型的存 储器。
一般地， 通过在记录信息之前进行试写， 进行记录功率的优化。下面说明该顺序。
最初， 例如使用随机的记录数据模式， 改变记录功率来进行针对光盘 500 的试写， 接着， 再现光盘 500 上的记录了该测试模式的区域， 通过再现特性测定部 150 检测不对称 值， 在中央控制部 200 中对检测到的不对称值与作为目标的不对称值进行比较， 求出最佳 的记录功率。
一般地， 如果增大记录功率， 则不对称值变大， 如果减小记录功率， 则不对称值变 小。这里， 不对称值大多用于在补记型光盘 (DVD-R 或 BD-R 等 ) 中对记录功率进行优化的 情况， 与此相对， 在改写型盘 (DVD-RW 或 BD-RE 等 ) 中， 多使用调制度。一般地， 如果增大记 录功率， 则调制度的值也变大， 如果减小记录功率， 则调制度的值也变小。
在中央控制部 200 中， 对与彼此不同的多个记录功率对应的不对称值的检测值与 目标值进行比较， 将生成最接近目标值的检测值的记录功率设定为最佳的记录功率。
另外， 也可以取而代之利用一个记录功率进行针对光盘 500 的试写， 然后进行再 现， 根据再现结果检测不对称值， 将检测到的不对称值与作为目标的不对称值进行比较， 根 据比较结果来增减记录功率， 求出最佳值。 并且， 在改写型盘的情况下， 有时使用如下方法 ： 不是将作为最佳记录功率的调 制度作为目标值， 而是针对记录功率， 将调制度的变化大的记录功率的区域 ( 记录功率小 于最佳记录功率的区域 ) 中的调制度作为目标值， 对所求出的记录功率乘以预先设定的系 数， 从而计算最佳记录功率。
下面， 参照图 6 说明本实施方式的光记录方法的顺序。
最初， 当将光盘 500 插入光再现装置 100 中时， 通过未图示的传感器检测该情况 ( 步骤 S10)， 传递到中央控制部 200， 中央控制部 200 借助伺服控制部 180 驱动光头 300， 判 别插入光再现装置 100 中的光盘 500 的种类 (CD、 DVD、 BD 等种类 ) 以及光盘 500 是几层盘 等 ( 步骤 S11)。
接着， 在步骤 S12 中， 调整与光盘 500 之间的倾斜角度、 伺服条件等后， 在步骤 S13 中， 从光盘 500 中读出由盘生产商预先记录的记录参数推荐值。并且， 在步骤 S13 中， 还同 时读出要读出的记录参数推荐值的发光规则和记录速度的信息。在光盘 500 中记录有与多 个发光规则和记录速度对应的记录参数推荐值的情况下， 选择针对光盘 500 进行记录时实 际使用的发光规则和记录速度， 从光盘 500 中读出记录参数推荐值。所读出的记录参数推 荐值 WR 例如保持在中央控制部 200 的 RAM 230 中。
接着， 在步骤 S14 中， 使用所读出的记录参数推荐值和预先存储在中央控制部 200 内 ( 例如 ROM 220) 的记录参数计算用的系数， 计算并设定在记录中使用的记录参数。之后 参照图 7 对其进行详细说明。
然后， 当通过未图示的单元赋予记录的指示时 ( 步骤 S15)， 在步骤 S16 中， 使用在 步骤 S14 中设定的记录参数， 进行针对所述光盘 500 的试写。即， 在步骤 S14 中， 在写策略 控制部 170 中设定在中央控制部 200 内设定的记录参数的写策略， 由此， 在写策略控制部 170 中生成基于测试模式的写策略， 使用光头 300 进行针对光盘 500 的试写。然后， 利用光 头 300 再现光盘 500 上的记录了测试模式的区域， 在中央控制部 200 中对由再现特性测定
部 150 检测到的再现特性 ( 不对称值或调制度 ) 与在步骤 S14 中设定的记录参数的 OPC 设 定值 ( 不对称值或调制度 ) 进行比较， 并进行控制以使两者一致， 由此， 决定最佳的记录功 率。
最后， 在步骤 S17 中， 根据在步骤 S14 中设定的记录参数的写策略和在步骤 S16 中 决定的记录功率， 开始针对光盘 500 的真正的数据写入 ( 正式写入 )。
上述的步骤 S10 的处理通过中央控制部 200 和未图示的对光盘的插入进行检测的 传感器进行， 步骤 S11 和步骤 S12 的处理通过光头 300、 前置放大器 110、 伺服控制部 180 和 中央控制部 200 进行， 步骤 S13 的处理通过光头 300、 伺服控制部 180、 前置放大器 110、 再现 信号处理部 120、 数据解码器 140 和中央控制部 200 进行， 步骤 S14 的处理通过中央控制部 200 进行， 步骤 S15 的处理通过中央控制部 200 和未图示的接受记录的指示的单元 ( 接口 ) 进行， 步骤 S16 的处理通过伺服控制部 180、 前置放大器 110、 再现信号处理部 120、 再现特性 测定部 150、 中央控制部 200、 写策略控制部 170 和光头 300 进行， 步骤 S17 以后的数据记录 处理通过中央控制部 200、 数据编码器 160、 写策略控制部 170、 伺服控制部 180 和光头 300 进行。
图 7 详细示出图 6 的步骤 S14 的记录参数决定用的处理。
在步骤 S20 中， 从中央控制部 200 的 ROM 220 中读出与在步骤 S13 中从光盘中读 出的记录参数推荐值的发光规则和记录速度对应的记录参数计算系数。并且， 还读出在步 骤 S13 中读出并保持在 RAM 230 中的记录参数推荐值 WR。
作为记录参数计算系数， 读出主成分矢量 PC 和系数 Ca、 Cb。系数 Ca、 Cb 也被称为 近似系数。
主成分矢量 PC 是通过对记录参数推荐值与记录参数最佳值的差分量应用主成分 分析而得到的主成分矢量， 如下表示。
PC1 ＝ [PC11， PC12，…， PC1n]
PC2 ＝ [PC21， PC22，…， PC2n]
： ： ： ：
PCm ＝ [PCm1， PCm2，…， PCmn]
...(3)
其中， m 与进行了主成分分析的记录参数的数量 n 相同， m 越小， 作用率越大 ( 作用 率越大， 相关越强 )。
主成分分析是针对多个变量统计求出无偏方差最大的新变量 ( 主成分 ) 的分析。 针对残差同样求出无偏方差最大的主成分， 按照作用率 ( 影响度 ) 的顺序求出第 1 主成分、 第 2 主成分、 第 3 主成分 ...... 的主成分 ( 求出数量与参数相同的主成分 )。该主成分作 为由原来的变量的合成变量表示的主成分矢量示出， 由于是以变量的无偏方差最大的方式 求出的， 因此， 作为原来变量相互间的相关较强的矢量成分求出。
这里， 关于针对记录参数推荐值与记录参数最佳值的各个参数的差分量进行主成 分分析， 所以， 按照各个参数相互间的相关从强到弱的顺序求出主成分矢量。
并且， 系数 Ca 和 Cb 是求解记录参数推荐值与记录参数最佳值的差分时使用的系 数， 分别按照记录参数的数量存储在中央控制部 200 的 ROM 220 中。具体而言如下表示 (m 是主成分矢量的数量 )。Ca ＝ [Ca1， Ca2，…， Cam]
Cb ＝ [Cb1， Cb2，…， Cbm]
...(4)
另外， 主成分矢量 PC 和系数 Cai、 Cbi(i ＝ 1、 2、 ...m) 按照发光规则和记录速度存 储在中央控制部 200( 例如 ROM 220) 中。
接着， 在步骤 S21 中， 根据记录参数推荐值和所述主成分矢量， 计算特征参数 D。 根 据在步骤 S13 中从光盘中读出的、 在步骤 S20 中从 RAM 230 中读出的记录参数推荐值 WR、 以 及在步骤 S20 中从 ROM 220 中读出的主成分矢量 PC， 如下计算特征参数 D。
D1 ＝ PC11×WR1+PC12×WR2+… +PC1n×WRn
D2 ＝ PC21×WR1+PC22×WR2+… +PC2n×WRn
：
Dm ＝ PCm1×WR1+PCm2×WR2+… +PCmn×WRn
...(5A)
式 (5A) 能够使用上式 (3) 的主成分矢量 PC1 ～ PCm 如下进行改写。
[ 数式 1]
接着， 在步骤 S22 中， 根据在步骤 S21 中计算出的特征参数 D 和在步骤 S20 中读出 的系数 Ca、 Cb， 如下计算转换参数 X。
X1 ＝ D1×Ca1+Cb1
X2 ＝ D2×Ca2+Cb2
：
Xm ＝ Dm×Cam+Cbm
...(6A)
接着， 在步骤 S23 中， 根据在步骤 S20 中读出的主成分矢量 PC 和在步骤 S22 中计 算出的转换参数 X， 如下计算在记录中使用的记录参数 (WU) 与记录参数推荐值 (WR) 之间的 偏置量 OF。
OF1 ＝ PC11×X1+PC21×X2+… +PCm1×Xm
OF2 ＝ PC12×X1+PC22×X2+… +PCm2×Xm
：
OFn ＝ PC1n×X1+PC2n×X2+… +PCmn×Xm
...(7)
式 (7) 能够使用主成分矢量 PC1 ～ PCm 如下进行改写。
[ 数式 2]
在式 (7a) 中， PC1t ～ PCmt 分别是由式 (3) 表示的 1 行 n 列的矩阵的转置矩阵 ( 即 n 行 1 列的矩阵 )。
最后， 在步骤 S24 中， 根据在步骤 S23 中计算出的偏置量 OF 和在步骤 S13 中读出 的记录参数推荐值 WR， 如下计算在记录中使用的记录参数 WU。
WU1 ＝ WR1+OF 1
WU2 ＝ WR2+OF2
：
WUn ＝ WRn+Ofn
...(8A)
接着， 对这样求出在记录中使用的记录参数的理由进行说明。
理想的是， 在记录中使用的记录参数 WU 成为在光记录装置 100 中得到最佳记录性 能的记录参数最佳值 WO。
这里， 记录参数最佳值 WO 是信号质量最佳的记录参数， 但是， 在各个光盘 500 中， 存在多个信号质量良好的记录参数， 作为维持信号质量的条件， 记录功率和由写策略规定 的脉冲宽度的关系彼此相反。 即， 增大记录功率并缩窄由写策略规定的脉冲宽度， 或者相反 地减小记录功率并扩大由写策略规定的脉冲宽度， 由此能够维持信号质量。 这是因为， 通过 利用相反的关系对两者进行调整， 维持对光盘 500 赋予的总热量。
根据上述的记录功率和由写策略规定的脉冲宽度的关系， 能够维持信号质量， 但 是， 在记录功率较大的情况下和记录功率较小的情况下， 针对记录功率的余量和针对由写 策略规定的脉冲宽度的余量不同。
记录功率较大、 由写策略规定的脉冲宽度较窄的一方针对记录功率的余量变宽。 相反， 记录功率较小、 由写策略规定的脉冲宽度较宽的一方针对记录功率的余量变小。 这是 因为， 由写策略规定的脉冲宽度较窄的一方记录功率变动时的热量的变化小。
另一方面， 针对由写策略规定的脉冲宽度的余量成为与针对记录功率的余量相反 的关系。
因此， 在对记录参数进行优化时， 优选考虑基于记录功率和由写策略规定的脉冲 宽度的余量来设定各个参数。
这里， 在本实施方式中， 根据记录在光盘 500 中的记录参数的推荐值， 通过计算来 求出在记录中使用的记录参数， 所以， 当考虑误差时， 优选针对写策略的变动的余量较宽。
但是， 还考虑针对记录功率的余量， 需要使针对记录功率的余量停留在光记录装 置不产生不良情况的电平。
如上所述， 在本实施方式中使用的记录参数最佳值 WO 使用针对写策略的变动的 余量较宽、 即在记录功率较低、 由写策略规定的脉冲宽度较宽的区域内进行优化的记录参 数。
另外， 在各个区域 ( 从记录功率低的区域到记录功率高的区域之间 ) 中求解记录
参数最佳值 WO 的情况下， 也可以如下所述求解记录参数最佳值 WO。 在从记录功率低的区域 到记录功率高的区域之间改变记录参数最佳值 WO， 求出多个在各个区域中进行了记录参数 的优化的结果， 关于所求出的多个结果 ( 记录参数最佳值 )， 使用主成分分析等方法， 求出 相关较强的主成分矢量 PC。这里， 使用作用率最大的第 1 主成分矢量 PC1。
这里， 在求解所述主成分矢量 PC 时， 也可以不是针对相同生产商的相同生产批次 的光盘 500， 而是针对不同生产商的不同生产批次的 ( 因此特性不同的多个 ) 光盘 500， 同 样求出多个记录参数最佳值， 对所求出的所有记录参数最佳值进行主成分分析。
但是， 光盘 500 的种类和写策略的发光规则等需要使用相同条件下的种类和发光 规则。这里所说的 “种类” 是指利用 BD 的补记型或改写型、 DVD 的补记型或改写型进行分类 后的种类。并且， 关于写策略的发光规则， 即使上述 “种类” 相同， 由于记录速度等预先记录 在光盘中的推荐写策略的类型 ( 多脉冲型或非多脉冲型 ) 或所设定的参数不同， 因此， 需要 在相同类型中应用相同参数 ( 即 “相同条件的发光规则” )。
接着， 使用所求出的第 1 主成分矢量 PC1 变更记录参数最佳值 WO。 首先， 选定记录 参数 WO 内的成为基准的参数 WOs。此时， 作为该成为基准的参数 WOs， 选定与由写策略规定 的脉冲宽度相关联的参数， 并且， 在第 1 主成分矢量 PC1 内， 优选选定矢量量 ( 矢量的绝对 值 ) 尽可能大 ( 换言之与第 1 主成分矢量 PC1 相同方向的成分尽可能大 ) 的参数。 接着， 通过已经求出的记录参数最佳值 WO， 向与第 1 主成分矢量 PC1 平行的直线的 方向位移。此时， 使所述选定的参数 WOs 位移， 使其与期望值、 例如由写策略规定的脉冲宽 度一致。此时的所述参数 WOs 的期望值例如成为能够充分确保针对写策略的余量的设定。
如上所述求出记录参数最佳值 WO。
并且， 在光盘 500 中记录有光盘生产商在特定的光记录装置中设定为最佳的记录 参数推荐值 WR， 如果求解该记录参数推荐值 WR 和记录参数最佳值 WO 的关系式， 则能够根据 记录参数推荐值 WR 求出在记录中使用的记录参数 WU。
在本发明的实施方式中， 在记录参数推荐值 WR 和记录参数最佳值 WO 的关系式中， 使用所述两者的值的差和相关较强的主成分矢量 ( 通过应用主成分分析而得到的主成分 矢量 )。
首先， 针对多个 (k 种 ) 光盘 500， 如下求出记录参数最佳值 WO 和记录参数推荐值 WR 的差 DF( ＝ WO-WR)。
DF1
＝ {WO11-WR11， WO12-WR12，…， WO1n-WR1n}
DF2
＝ {WO21-WR21， WO22-WR22，…， WO2n-WR2n}
： ： ： ：
DFk
＝ {WOk1-WRk1， WOk2-WRk2，…， WOkn-WRkn}
...(9)
其中， n 是记录参数的数量， k 是在计算中使用的光盘 500 的数量。
通过对所得到的差 DF 进行主成分分析， 得到主成分矢量。
PC1 ＝ [PC11， PC12，…， PC1n]
PC2 ＝ [PC21， PC22，…， PC2n]
： ： ： ：
PCm ＝ [PCm1， PCm2，…， PCmn]
...(10)
得到主成分矢量的从作用率高 ( 相关强 ) 的第 1 主成分 PC1 到第 m 主成分 PCm(m 与记录参数的数量 n 相等 )。
接着， 在各光盘 500 中， 当将依赖于光盘 500 而变化的值设为转换参数 X 时， 差 DF 与主成分矢量 PC 之间的关系表现为以下的线性方程式 ( 以下是关于一种光盘 500 的计算 式， 针对各个光盘 500 进行同样的计算 )。
DF1 ＝ PC11×X1+PC21×X2+… +PCm1×Xm
DF2 ＝ PC12×X1+PC22×X2+… +PCm2×Xm
：
DFn ＝ PC1n×X1+PC2n×X2+… +PCmn×Xm
...(11)
式 (11) 能够使用主成分矢量 PC1 ～ PCm 如下进行改写。
[ 数式 3]
在式 (11a) 中， PC1t、 PC2t、 ...PCmt 与关于式 (7a) 说明的矩阵相同。 由于差 DF 和主成分矢量 PC 已知， 所以通过求解该线性方程式， 能够求出转换参数X 的值。 接着， 转换参数 X 是依赖于光盘 500 而变化的值， 通过与能够从光盘 500 得到的记 录参数推荐值 WR 关联起来， 求出转换参数 X。这样， 根据转换参数 X 和主成分矢量 PC 求出 差 DF， 在记录参数推荐值 WR 中加上差 DF， 由此， 能够导出在记录中应该使用的记录参数 WU。
转换参数 X 和记录参数推荐值 WR 的关联使用已经求出的主成分矢量 PC。
首先， 通过对按照主成分矢量 PC 的每个主成分 ( 第 1 主成分～第 m 主成分 ) 乘以 记录参数推荐值 WR 而得到的值进行合计， 如下计算表示各个光盘 500 的特征的特征参数 D( 以下是关于一种光盘 500 的计算式， 针对各个光盘 500 进行同样的计算 )。
D1 ＝ PC11×WR1+PC12×WR2+… +PC1n×WRn
D2 ＝ PC21×WR1+PC22×WR2+… +PC2n×WRn
：
Dm ＝ PCm1×WR1+PCm2×WR2+… +PCmn×WRn
...(5B)
式 (5B) 与式 (5A) 同样， 能够使用主成分矢量 PC1 ～ PCm 表示。
在多个 (k 种 ) 光盘 500 中求出的特征参数 D 与转换参数 X 的关系成为比例关系， 能够使用系数 Ca、 Cb 如下所述利用一次式进行近似。这里， x 是表示各个光盘 500 的结果 的索引值， x ＝ 1 ～ k。
X1(x) ＝ Ca1×D1(x)+Cb1
X2(x) ＝ Ca2×D2(x)+Cb2
：
Xm(x) ＝ Cam×Dm(x)+Cbm
...(12)
图 8、 图 9 示出实际求出的特征参数 D1(x) 与转换参数 X1(x) 的关系。这里， 图8 示出 DVD-R 中的结果， 图 9 示出 BD-R 中的结果， 可知， 两者均能够利用直线近似。另外， 与 特征参数 D1 与转换参数 X1 的关系同样， 第 2 主成分以后的特征参数 D 与转换参数 X 的关 系也能够利用直线近似。
如上所述， 如果可知预先调查的主成分矢量 PC、 表示特征参数 D 与转换参数 X 之间 的关系的系数 Ca、 Cb、 以及记录参数推荐值 WR， 则能够求出与记录参数最佳值 WO 同等的在 记录中应该使用的记录参数 WU。
另外， 为了求出主成分矢量和系数 Ca、 Cb， 需要预先在多个光盘 500 中调查记录参 数最佳值， 但是， 不需要针对所有光盘 500 进行调查， 特别地， 只要选定记录在光盘 500 中的 记录参数推荐值大幅不同的光盘即可。
并且， 使用通过主成分分析而得到的相关强的主成分矢量， 求出记录参数推荐值 与记录参数最佳值之间的关系， 所以针对未预先调查的光盘 500， 如果记录有记录参数推荐 值， 则通过使用与其发光规则和记录倍速对应的主成分矢量和系数 Ca、 Cb， 也能够求出在记 录中应该使用的记录参数 WU。
如上所述， 在本实施方式 1 中， 根据记录参数最佳值和记录在光盘 500 中的记录 参数推荐值， 预先求出对记录参数的最佳值与推荐值之差进行主成分分析的结果而得到的 主成分矢量、 以及在特征参数 D 与转换参数 X 的关系式中使用的系数 Ca、 Cb， 根据在记录中 使用的记录在光盘 500 中的记录参数推荐值， 使用预先设定的主成分矢量和系数 Ca、 Cb， 能 够计算在记录中应该使用的记录参数， 所以在与光盘 500 对应的最佳记录参数不明的情况 下， 也能够求出最佳的记录参数。
并且， 根据记录在光盘 500 中的记录参数推荐值以及预先存储在中央控制部 200 中的主成分矢量和系数 Ca、 Cb， 通过计算而计算出在记录中使用的记录参数， 所以与通过试 写来调整记录参数特别是写策略的情况相比， 在记录开始之前不会花费多余的调整时间。 并且， 不需要在中央控制部 200 中存储庞大的记录参数最佳值， 光记录装置 100 仅保持与记 录对应的光盘 500 的种类 (BD 或 DVD、 CD 等 )、 以及与发光波形规则或记录倍速对应的主成 分矢量和系数 Ca、 Cb 即可， 能够节减存储器容量。
另外， 如上所述， 关于各光记录介质存在多个记录参数最佳值， 但是， 在使用针对 多个光记录介质预先调查光记录介质的记录参数推荐值与在记录中使用的光记录方法中 的记录参数最佳值的差分量并对该差分量进行主成分分析而求出的主成分矢量作为矢量 信息的情况下， 作为用于决定矢量信息的记录参数最佳值， 可以使用以如下方式进行优化 的值 ： 记录功率的变动在可容许的范围内， 并且能够以低记录功率得到良好的记录性能， 并 且， 也可以使用以如下方式进行优化的值 ： 记录功率或由写策略规定的脉冲宽度的参数在 多个光记录介质相互间成为彼此接近的值。
实施方式 2接着， 说明实施方式 2 的光记录方法的顺序。
一般地， 光记录装置 100 在中央控制部 200 内 ( 例如 ROM 220 内 ) 保持分别与光 盘 500 的 ID 对应的记录参数的列表。这里， 在记录参数的列表 ( 表 ) 中一起保持有写策略 的各参数的设定值、 以及作为进行功率调整时的目标值的不对称值或调制度等。图 10 示出 记录参数的列表的一例。这里， 光盘 500 的 ID 由制作光盘 500 的生产商预先设定， 作为固 有信息记录在光盘 500( 例如导入区域等 ) 中。
在实施方式 2 中， 作为该记录参数的列表， 代替与光盘 500 的 ID 对应的记录参数， 保持与特征参数 D 对应的记录参数的偏置量的列表。
图 11 示出与特征参数 D 对应的记录参数的偏置量 WP 的列表的一例。
特征参数 D 的求解方法与实施方式 1 的情况大致相同， 记录参数的偏置量 WP 相当 于实施方式 1 中的记录参数最佳值 WO 与记录参数推荐值 WR 之差 DF( ＝ WO-WR)， 按照每个 特征参数 D 而列表化。
另外， 在图 11 中， 特征参数 D 使用通过主成分分析而得到的与所有主成分 ( 数量 与进行了主成分分析的记录参数的数量相同 ) 对应的特征参数 D(Di1 ～ Din)， 但是， 也可以 仅使用与作用率大的主成分对应的特征参数 D。
实施方式 2 的光记录方法的顺序与关于实施方式 1 而参照图 6 说明的方法大致相 同。但是， 步骤 S14 的记录参数决定的具体方法不同。即， 代替参照图 7 说明的方法， 利用 图 12 所示的方法进行。
在图 12 中， 在步骤 S30 中， 与图 7 的步骤 S20 同样， 作为与在步骤 S13 中从光盘 中读出的记录参数推荐值的发光规则和记录速度对应的记录参数计算系数， 从中央控制部 200 的 ROM 220 中读出主成分矢量 PC。并且， 还读出在步骤 S13 中读出并保持在 RAM 230 中的记录参数推荐值 WR。
接着， 在步骤 S31 中， 根据主成分矢量 PC 以及在步骤 S13 中从光盘中读出的、 在步 骤 S30 中从 RAM 230 中读出的记录参数推荐值 WR， 计算特征参数 D。
这里， 主成分矢量预先存储在中央控制部 200 的 ROM 220 中， 在特征参数 D 的计算 中使用符合所使用的光盘 500 的种类 (BD、 DVD、 CD 等 ) 以及所读出的记录参数推荐值的发 光规则和记录倍速的条件的主成分矢量。
根据记录参数推荐值 WR 和所述主成分矢量 PC， 如下计算特征参数 D。这里， n表 示记录参数的数量， m 与进行了主成分分析的记录参数的数量 n 相同， m 越小， 作用率越大 ( 作用率越大， 相关越强 )。
D1 ＝ PC11×WR1+PC12×WR2+… +PC1n×WRn
D2 ＝ PC21×WR1+PC22×WR2+… +PC2n×WRn
：
Dm ＝ PCm1×WR1+PCm2×WR2+… +PCmn×WRn
...(5C)
式 (5C) 也与式 (5A) 同样， 能够使用主成分矢量 PC1 ～ PCm 表示。
接着， 在步骤 S32 中， 对在步骤 S31 中求出的特征参数 D 与图 11 的列表中的特征 参数 D 进行比较， 求出两者相同的记录参数的偏置量 WPi1 ～ WPin。
接着， 在步骤 S34 中， 将在步骤 S32 中求出的记录参数的偏置量 WPi1 ～ WPin 与在步骤 S13 中从光盘 500 中读出的记录参数推荐值 WR 相加， 计算在记录中使用的记录参数 WU。
该运算由下式表示。
WU1 ＝ WR1+WPi1
WU2 ＝ WR2+WPi2
：
WUn ＝ WRn+WPin
...(13)
另外， 在本实施方式 2 中， 在列表中具有与特征参数 D 对应的记录参数的偏置量， 但是， 也可以不是记录参数的偏置量。例如， 也可以代替记录参数的偏置量， 而具有与特征 参数 D 对应的转换参数 X 作为列表。该情况下， 关于步骤 S33 中的记录参数的计算， 需要根 据在列表中保持的数据来变更计算。
并且， 在记录参数目标中不包含与在步骤 S31 中计算出的特征参数 D 相同的值的 情况下， 与实施方式 1 同样进行计算即可。
进而， 记录参数列表保持在中央控制部 200 内 ( 例如 ROM 220 内 )， 但是， 在 ROM 220 使用可改写的例如 EEPROM 时， 在列表中没有特征参数 D 的情况下， 也可以重新追加。
如上所述， 在本实施方式 2 中， 按照根据记录参数推荐值计算出的特征参数 D， 在 光记录装置中存储记录参数最佳值与记录参数推荐值的差分量的列表， 选择与根据光盘 500 的记录参数推荐值计算出的特征参数 D 对应的记录参数的差分量， 在记录参数推荐值 中加上所述差分量， 计算在记录中使用的记录参数， 所以与现有的按照光盘 500 的 ID 来保 持列表的情况相比， 不会使记录参数相同的信息重复多个， 能够高效地使用存储器容量。 并 且， 与实施方式 1 相比， 能够省略式 (6A) 和式 (7) 的运算。
实施方式 3
接着， 说明实施方式 3 的光记录方法的顺序。
实施方式 3 的光记录方法的顺序与参照图 6 对实施方式 1 进行说明的方法大致相 同。但是， 步骤 S14 的记录参数决定的具体方法不同。即， 代替参照图 7 说明的方法， 利用 图 13 所示的方法进行。
在步骤 S40 中， 与图 7 的步骤 S20 同样， 读出在步骤 S13 中从光盘中读出的记录参 数推荐值 WR 和预先设定并存储在中央控制部 200 的 ROM 220 中的记录参数计算系数 Da、 Db。并且， 还读出在步骤 S13 中读出并保持在 RAM 230 中的记录参数推荐值 WR。
这里， 系数 Da、 Db 是求解记录参数推荐值与记录参数最佳值的差分时使用的系 数， 也被称为近似系数， 分别按照记录参数的数量存储在中央控制部 200 的 ROM 220 中。系 数 Da、 Db 如下表示 (n 是记录参数的数量 )。
Da ＝ {Da1， Da2，…， Dan}
Db ＝ {Db1， Db2，…， Dbn}
...(14)
系数 Dai、 Dbi(i ＝ 1、 2、 ...n) 按照发光规则和记录速度存储在中央控制部 200 的 ROM 220 中。
接着， 在步骤 S44 中， 根据在步骤 S13 中从光盘中读出的、 在步骤 S40 中从 RAM230中读出的记录参数推荐值 WR、 以及在步骤 S40 中从 ROM 220 中读出的记录参数计算系数 Dai、 Dbi， 如下计算在记录中使用的记录参数 WU。
WU1 ＝ WR1×(Da1+1)+Db1
WU2 ＝ WR2×(Da2+1)+Db2
：
WUn ＝ WRn×(Dan+1)+Dbn
...(15)
接着， 对这样求出在记录中使用的记录参数的理由进行说明。
理想的是， 在记录中使用的记录参数 WU 成为在光记录装置 100 中得到最佳记录性 能的记录参数最佳值 WO。
在本实施方式 3 中， 记录参数最佳值 WO 和记录参数推荐值 WR 之差 DF 与记录参数 推荐值 WR 的关系能够近似为线形， 通过对多个光记录介质的记录参数推荐值 WR 和在记录 中应该使用的记录参数最佳值 WO 的差分量 DF 与记录参数推荐值 WR 之间的关系进行近似， 求出上述系数 Da、 Db， 例如按照使以下关系成立的方式确定。
DF1 ＝ WO1-WR1 ＝ Da1×WR1+Db1
DF2 ＝ WO2-WR2 ＝ Da2×WR2+Db2
：
DFn ＝ WOn-WRn ＝ Dan×WRn+Dbn
...(16)
因此， 记录参数最佳值 WO 能够如下变形。
WO1 ＝ WR1×(Da1+1)+Db1
WO2 ＝ WR2×(Da2+1)+Db2
：
WOn ＝ WRn×(Dan+1)+Dbn
...(17)
理想的是， 在记录中使用的记录参数 WU 与记录参数最佳值 WO 相等， 所以为了求解 在记录中使用的记录参数 WU， 只要将上式中的记录参数最佳值 WO 作为在记录中使用的记 录参数 WU 即可。即， 如果在式 (17) 中将 WO 置换为 WU， 则得到式 (15)。
另外， 记录参数最佳值 WO 需要与实施方式 1 同样求出。
并且， 本实施方式 3 与本实施方式 1 相比， 能够减少计算量， 但是， 所求出的在记录 中使用的记录参数 WU 的误差 ( 与记录参数最佳值 WO 之间的误差 ) 大。
如上所述， 在实施方式 3 中， 根据记录参数最佳值和记录在光盘 500 中的记录参数 推荐值， 预先对记录参数的最佳值和推荐值之差与记录参数推荐值之间的关系进行线性近 似， 求出系数 Da、 Db， 根据在记录中使用的记录在光盘 500 中的记录参数推荐值， 使用预先 设定的系数 Da、 Db， 能够计算在记录中应该使用的记录参数， 所以在与光盘 500 对应的最佳 记录参数不明的情况下， 也能够求出最佳的记录参数。
并且， 根据记录在光盘 500 中的记录参数推荐值和预先存储在中央控制部 200 中 的系数 Da、 Db， 通过计算而计算出在记录中使用的记录参数， 所以与通过试写来调整记录参 数特别是写策略的情况相比， 在记录开始之前不会花费多余的调整时间。 并且， 不需要在中央控制部 200 中存储庞大的记录参数最佳值， 光记录装置 100 仅保持与记录对应的光盘 500 的种类 (BD 或 DVD、 CD 等 )、 以及与发光波形规则或记录倍速对应的系数 Da、 Db 即可， 能够 节减存储器容量。
实施方式 4
接着， 说明实施方式 4 的光记录方法的顺序。
图 14 示出本实施方式 4 的光记录方法的顺序。这里， 步骤 S16 以前的处理和步骤 S17 以后的处理与图 6 或图 12 相同， 所以省略。
在步骤 S16 中， 在进行了记录功率的调整后， 使用在步骤 S16 中调整后的记录功率 和在步骤 S14 中决定的在记录中使用的记录参数的写策略， 在步骤 S51 中进行试写， 再现所 记录的信号并测定其信号质量 ( 记录质量 )。例如使用设于光盘 500 的测试记录区域进行 该试写。
在步骤 S52 中， 对所测定的信号质量 ( 记录质量 ) 与预先设定的基准值进行比较， 判断是否没有问题。该判断也被称为记录性能判断。
在步骤 S52 的判断为性能好 (OK) 的情况下 (“是” 的情况， 性能优于基准值的情 况 )， 在步骤 S17 中开始记录数据。 在步骤 S52 的判断为性能不好 (NG) 的情况下 (“否” 的情况， 性能差于基准值的 情况 )， 进行步骤 S53 的处理。
在步骤 S53 中， 对在步骤 S51 的试写中使用的记录参数中的一部分参数进行变更， 再次在步骤 S51 中使用变更后的记录参数进行试写， 此后进行同样的处理。
这里， 关于在步骤 S53 中变更的记录参数， 例如优先选择求出系数 Ca、 Cb 或系数 Da、 Db 时的近似精度 ( 相关强度 ) 低的参数。该近似精度与系数 Ca、 Cb 或 Da、 Db 一起保持 在中央控制部 200 中。这样， 能够优先修正在记录中使用的记录参数中的、 与本来在记录中 应该使用的记录参数最佳值的偏差大的记录参数。
并且， 作为在步骤 S53 中变更的记录参数， 也可以预先调查针对记录性能的影响 大的记录参数， 从而修正针对记录性能的影响大的记录参数。
另外， 在图 14 中， 在步骤 S52 中， 在性能突破基准值之前， 反复进行步骤 S53、 步骤 S51 的处理， 但是， 例如， 也可以设置执行试写的次数的限制， 在超过限制的情况下， 停止此 后的记录参数的变更。并且， 也可以使用在此之前得到的记录参数中的性能最佳的记录参 数， 在自步骤 S17 起记录数据。但是， 在得知即使记录也无法再现的性能恶劣的情况下， 也 可以停止而不进行自步骤 S17 起的处理。
并且， 在图 14 中， 在步骤 S53 中变更了记录参数后， 进行步骤 S51 的试写， 但是， 也 可以在进行步骤 S16 的功率调整后， 进行步骤 S51 的试写。
如上所述， 在本实施方式 4 中， 根据从光盘 500 中读出的记录参数推荐值， 使用预 先设定的系数和关系式， 计算在记录中应该使用的记录参数， 然后， 追加通过试写来检查记 录质量的处理以及在记录质量差的情况下修正所计算出的记录参数的处理， 所以即使在基 于计算的记录参数的结果中产生误差， 也能够修正为适当的记录参数。
并且， 以通过计算而求出的记录参数为基准， 进行记录参数的修正， 所以成为接近 记录参数最佳值的参数的修正， 能够以较少的试写次数进行适当的记录参数的修止。
并且， 保持求出系数 Ca、 Cb 或系数 Da、 Db 时的近似精度 ( 相关强度 ) 的信息， 优先
修正近似精度差 ( 相关弱 ) 的记录参数， 所以先修正与记录参数最佳值的偏差大的记录参 数的可能性高， 能够以较少的试写次数进行适当的记录参数的修正。
并且， 从非常接近最佳记录参数的状态起进行记录参数的修正， 所以能够通过较 少的试写进行修正， 能够缩短记录开始之前的待机时间， 还能够将测试记录区域的消耗抑 制为较少。
并且， 进行基于上述求出的记录参数的记录再现性能的检查和记录参数的修正， 所以针对各个光记录装置的偏差或各个光盘的偏差， 也能够实现良好的记录再现性能。
并且， 在本实施方式中， 通过主成分分析求出主成分矢量， 但是， 不限于主成分分 析， 也可以使用对多变量进行统计解析的例如独立成分分析法等不同的方法。
并且， 在本实施方式中， 示出光记录装置 100 向光盘 500 记录进行了 EFM+(8-16) 调制后的记录数据的情况 ( 例如光盘 500 为 DVD 的情况 )， 但是， 针对光盘的信息记录也能 够应用于向光盘 500 记录进行了 1-7 调制后的记录数据的情况 ( 例如光盘 500 为 Blu-ray Disc 的情况 ) 等， 并不特别依赖于调制方式等。只要至少在光盘 500 中记录有记录参数推 荐值， 且能够预先求出与其发光规则或记录倍速对应的主成分矢量和系数 Ca、 Cb 即可。
进而， 在本实施方式中， 利用通过主成分分析得到的所有主成分矢量， 但是， 作用 率小的主成分矢量几乎不会影响记录参数， 所以也可以根据主成分矢量的作用率来选定是 否利用。
并且， 在本实施方式中， 使用所有写策略和 OPC 用设定值作为记录参数进行主成 分分析， 但是， 根据光盘 500， 在主成分分析中也可以不包含无法设定变更的参数。
并且， 例如， 也可以利用写策略和 OPC 用设定值分别进行主成分分析。但是， 该情 况下， 也需要分别进行其他计算， 只要按照在主成分分析中使用的每个记录参数进行计算 即可。
并且， 在本实施方式中， 通过对主成分矢量 PC 的每个主成分 ( 第 1 主成分～第 m 主 成分 ) 乘以记录参数推荐值 WR 而得到的值进行合计， 求出特征参数 D， 但是， 也可以不进行 合计， 而求出平均值。并且， 根据每个主成分 ( 第 1 主成分～第 m 主成分 ) 乘以记录参数推 荐值 WR 而得到的值， 也可以利用欧几里得距离或马氏距离等。但是， 需要使特征参数 D 与 转换参数 X 的关系能够利用一次式进行近似。但是， 也不一定必须能够利用一次式进行近 似， 如果求出能够从特征参数 D 唯一转换为转换参数 X 的规则和转换式， 则也可以使用该规 则和转换式。
并且， 在本实施方式中， 预先求出主成分矢量和系数 Ca、 Cb， 但是， 针对各型号的光 记录装置进行一次即可， 针对相同型号的多个光记录装置能够使用相同系数。 即， 在关于某 个型号的光记录装置求出系数后， 只要在相同型号的光记录装置中设定所求出的系数并出 厂即可。
标号说明
100 ： 光记录装置 ； 110 ： 前置放大器 ； 120 ： 再现信号处理部 ； 130 ： 记录质量测定 部； 140 ： 数据解码器 ； 150 ： 再现特性测定部 ； 160 ： 数据编码器 ； 170 ： 写策略控制部 ； 180 ： 伺服控制部 ； 181 ： 主轴电动机 ； 182 ： 螺旋电动机 ； 190 ： 缓存器 ； 200 ： 中央控制部 ； 210 ： CPU ； 220 ： ROM ； 230 ： RAM ； 300 ： 光头 ； 310 ： 半导体激光器 ； 320 ： 激光器驱动电路 ； 330 ： 准直 透镜 ； 340 ： 光束分离器 ； 350 ： 物镜 ； 360 ： 检测透镜 ； 370 ： 受光元件 ； 400 ： 上位控制器 ； 500 ：光盘。