一种显示模组及其显示装置.pdf

本发明公开了一种显示模组，包括玻璃基板和柔性印刷电路板，所述玻璃基板包括测试板，所述测试板包括多个测试条，所述柔性印刷电路板包括多个与所述测试板相对的导电条，所述各测试板与其相对的导电条分别组成多个测试组，所述柔性印刷电路板上的导电条与所述玻璃基板上的测试条电连接，所述各测试组的测试条与相对导电条的水平接触部分之和为接触长度，所述多个测试组中至少有一组为偏位测试组，所述偏位测试组的最大接触长度小于其他至少一个测试组的最大接触长度。结合测试平台，该结构能够可以从整体检测绑定(bonding)的偏位状况，并且，该显示模组结构简单，便于操作。

权利要求书
1.  一种显示模组，其特征在于：所述显示模组包括玻璃基板和柔性印刷电路板，所述玻璃基板包括测试板，所述测试板包括多个测试条，所述各测试条相连，所述柔性印刷电路板包括多个与所述测试板相对的导电条，所述各测试板与其相对的导电条分别组成多个测试组，
所述柔性印刷电路板上的导电条与所述玻璃基板上的测试条电连接，所述各测试组的测试条与相对导电条的水平接触部分之和为接触长度，所述多个测试组中至少有一组为偏位测试组，所述偏位测试组的最大接触长度小于其他至少一个测试组的最大接触长度。

2.  如权利要求1所述的显示模组，其特征在于：至少一组所述偏位测试组的最大接触长度小于其他任意一个测试组的最大接触长度。

3.  如权利要求1所述的显示模组，其特征在于：至少一组所述偏位测试组的所述导电条相对的所述测试条中至少有一条所述测试条的宽度小于其他所述测试条或导电条。

4.  如权利要求1所述的显示模组，其特征在于：至少一组所述偏位测试组的所述测试条相对的所述导电条中至少有一条所述导电条的宽度小于其他所述测试条或导电条。

5.  如权利要求1所述的显示模组，其特征在于：至少一组偏位测试组的相邻的两个测试条的间距与其相对的两条导电条的间距不等。

6.  如权利要求1-5所述的显示模组，其特征在于：所述测试板的形状为U形。

7.  如权利要求6所述的显示模组，其特征在于：所述测试板为一体成形。

8.  如权利要求7所述的显示模组，其特征在于：所述测试条的个数至少为两条。

9.  如权利要求8所述的显示模组，其特征在于：所述柔性印刷电路板上的导电条与所述玻璃基板上的测试条串联。

10.  如权利要求9所述的显示模组，其特征在于：所述导电条与测试条的材质为导电材料。

11.  如权利要求10所述的显示模组，其特征在于：所述导电材料为氧化铟锡(ITO)或金属。

12.  一种显示装置，其特征在于：如权利要求1-11任一项权利要求所述的显示模组。

说明书一种显示模组及其显示装置
技术领域
本发明涉及显示模组的制造领域，尤其涉及一种可自动检测柔性印刷电路板与玻璃间压合及偏位状况的显示模组。
背景技术
在传统的放大镜检测中不易看清楚异方性导电胶膜(Anisotropic Conductive Film)金球破裂状况，而专业显微镜测试效率相对较低，较为损工时，不利于产品100％检测。对于结构特殊的产品，更是无法准确判断。如：单层On-cell型触摸屏的柔性印刷电路板的特殊架构，正反面都看不清异方性导电胶膜(Anisotropic Conductive Film)金球粒子分布和压痕状况，故不能准确判定压合偏位状况。
存在的问题：1.目前的检测技术，只能初略判断单边偏位程度，无法检测绑定(bonding)性不佳的产品。2.目前的检测技术，无法有效拦截绑定(bonding)不强的产品。3.产线测试困难，无法实现自动检测。
发明内容
本发明为解决上述技术问题，提供了一种可自动检测柔性印刷电路板与玻璃基板间压合及偏位状况的显示模组，所述显示模组包括玻璃基板和柔性印刷电路板，所述玻璃基板包括测试板，所述测试板包括多个测试条，所述柔性印刷电路板包括多个与所述测试板相对的导电条，所述各测试板与其相对的导电条分别组成多个测试组，所述柔性印刷电路板上的导电条与所述玻璃基板上的测试条电连接，所述各测试组的测试条与相对导电条的水平接触部分之和为接触长度，所述多个测试组中至少有一组为偏位测试组，所述偏位测试组的最大接触长度小于其他至少一个测试组的最大接触长度。
可选地，至少一组所述偏位测试组的最大接触长度小于其他任意一个测试组的最大接触长度。
可选地，至少一组所述偏位测试组的所述测试条相对的所述导电条中至 少有一条所述导电条的宽度小于其他所述测试条或导电条。
可选地，至少一组所述偏位测试组的所述导电条相对的所述测试条中至少有一条所述测试条的宽度小于其他所述测试条或导电条。
可选地，至少一组偏位测试组的相邻的两个测试条的间距与其相对的两条导电条的间距不等。
可选地，所述测试板的形状为U形。
可选地，所述测试板为一体成形。
可选地，所述测试条的个数至少为2条。
可选地，所述柔性印刷电路板上的导电条与所述玻璃基板上的测试条串联。
可选地，所述导电条与测试条的材质为导电材料。
可选地，所述导电材料为氧化铟锡(ITO)或金属。
本发明还提供了一种显示装置，包括前述任一一项所述的显示模组。
由此，结合测试平台，可以从整体检测绑定(bonding)的偏位状况，并且，该显示模组结构简单，便于操作。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的一种显示模组的结构示意图；
图2为本发明实施例二提供的一种显示模组的结构示意图；
图3为本发明实施例三提供的一种显示模组的结构示意图；
图4为本发明实施例四提供的一种显示模组的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一
图1所示为本发明实施例一提供的一种显示模组，包括玻璃基板端(Chip  on Glass)1，柔性印刷电路板端(Film on Glass)2，测试组3，以及偏位测试组4。其中，测试组3包括测试板3A及与其相对的导电条3B，测试板3A呈U形，包括两条测试条3a和连接部3b,3a与3b一体成形。偏位测试组4包括偏位测试板4A及与其相对的导电条4B，偏位测试板4A呈U形，包括两条偏位测试条4a和连接部4b,4a与4b一体成形，偏位测试条4a的宽度小于与其相对的偏位导电条4B的宽度，偏位导电条4B的宽度与导电条3B的宽度相等。将柔性印刷电路板端的导电条与玻璃基板端的测试条串联，各测试条与其相对的导电条的水平接触部分为接触长度。偏位测试组4的最大接触长度，即偏位导电条4B与偏位测试条4a完全接触时的长度，要小于测试组3的最大接触长度，即导电条3B与测试条3a完全接触时的长度。测试板3A与偏位测试板4A的材料为铝、钼和钼、铝、钼的层叠材料，导电条3B和偏位导电条4B的材料为铝。
可选地，测试板3A与偏位测试板4A的材料为铝和钼的层叠材料或者铝、钼、铝的层叠结构，或者可单独为氧化铟锡(ITO)材料，在此不做限定，只要所有材料为导电材料即可。
可选地，测试板3A与偏位测试板4A可为非一体成形结构，即测试条3a和导电条3B可为拼接结构，同样，偏位测试条4a和导电条4B可为拼接结构。
可选地，测试条3a和/或偏位测试条4a的个数可大于2。
可选地，偏位测试组4的个数可为多个，在此不做限定，大于等于1个即可。
可选地，偏位测试组4中，导电条4B的宽度可小于测试条4a的宽度，在此对宽度不做限定，只要使偏位测试组4的最大接触长度小于测试组3的最大长度即可。
由此，在测试时，结合测试平台，测量绑定(bonding)后串联电路的电阻。假设产线能容忍的绑定(bonding)偏位值为可绑定(bonding)偏位50％，那么可将偏位测试条4a的宽度设计成与其相对的偏位导电条4B的宽度的50％，这样，偏位测试组4的最大接触长度小于测试组3的最大接触长度，当绑定(bonding)发生偏位，可根据电阻大小，判断绑定(bonding)偏位状况。当绑定(bonding)偏位50％时，整串测试电路呈开路状态，从而得知绑定(bonding)的偏位已超出产线容忍值，可提前做出预防。
同时，该显示模组结构操作简单，仅在设计时改变偏位测试组中偏位导电条或偏位测试条的宽度即可，测试时可从绑定(bonding)整体上检测绑定(bonding)状况，有效拦截绑定(bonding)不强的产品，并且提高了产线绑定(bonding)检测的效率。
实施例二
如图2所示，为本发明实施例二提供的一种显示模组。本实施例中与前述实施例相同部分不再赘述，仅描述不同部分。与前述实施例不同，本实施例中，偏位测试条4a的宽度与其相对的偏位导电条4B的宽度相等，且偏位测试条4a与偏位导电条4B的宽度小于测试条3a与导电条3B的宽度。
由此，在测试时，结合测试平台，测量绑定(bonding)后串联电路的电阻。假设产线能容忍的绑定(bonding)偏位值为可绑定(bonding)偏位50％，那么可将偏位测试条4a与偏位导电条4B的宽度设计成测试条3a与导电条3B宽度的50％，这样，偏位测试组4的最大接触长度小于测试组3的最大接触长度，当绑定(bonding)发生偏位，可根据电阻大小，判断绑定(bonding)偏位状况。当绑定(bonding)偏位50％时，整串测试电路呈开路状态，从而得知绑定(bonding)的偏位已超出产线容忍值，可提前做出预防。
同时，该显示模组结构操作简单，仅在设计时改变偏位测试组中可同时调节偏位导电条和偏位测试条的宽度，提高了测试的精准性，测试时可从绑定(bonding)整体上检测绑定(bonding)状况，有效拦截绑定(bonding)不强的产品，并且提高了产线绑定(bonding)检测的效率。
实施例三
如图3所示，为本发明实施例三提供的一种显示模组。本实施例中与前述实施例相同部分不再赘述，仅描述不同部分。与前述实施例不同，偏位测试条4a的宽度与其相对的偏位导电条4B的宽度相等，但两条偏位测试条4a的间距大于两条偏位导电条4B的间距。
可选地，偏位测试条4a的宽度与其相对的偏位导电条4B的宽度相等的情况下，可设置两条偏位测试条4a的间距小于两条偏位导电条4B的间距，在此不做限定，只要使偏位测试组4的最大接触长度大于测试组3的最大接触长度 即可。
由此，在测试时，结合测试平台，测量绑定(bonding)后串联电路的电阻。假设产线能容忍的绑定(bonding)偏位值为可绑定(bonding)偏位50％，偏位测试条4a的宽度与其相对的偏位导电条4B的宽度相等的情况下，设置两条偏位测试条4a的间距小于/大于两条偏位导电条4B的间距，使偏位测试条4a与偏位导电条4B的最大接触长度为测试条3a与导电条3B的50％，当绑定(bonding)发生偏位，可根据电阻大小，判断绑定(bonding)偏位状况。当绑定(bonding)偏位50％时，整串测试电路呈开路状态，从而得知绑定(bonding)的偏位已超出产线容忍值，可提前做出预防。
同时，该显示模组结构由于增加了单位面积内测试条或导电条的间距，因此单位面积内的测试条或导电条的数量减少，削减了制作成本，并且在测试时可从绑定(bonding)整体上检测绑定(bonding)状况，有效拦截绑
(bonding)不强的产品，并且提高了产线绑定(bonding)检测的效率。
实施例四
如图4所示，为本发明实施例四提供的一种显示模组。本实施例中与前述实施例相同部分不再赘述，仅描述不同部分。与前述实施例不同，偏位测试条4a的宽度小于其相对的偏位导电条4B的宽度，且两条偏位测试条4a的间距大于两条偏位导电条4B的间距。
可选地，偏位测试条4a的宽度可小于其相对的偏位导电条4B的宽度，且两条偏位测试条4a的间距小于两条偏位导电条4B的间距。
可选地，偏位测试条4a的宽度可大于其相对的偏位导电条4B的宽度，且两条偏位测试条4a的间距小于两条偏位导电条4B的间距。
可选地，偏位测试条4a的宽度可大于其相对的偏位导电条4B的宽度，且两条偏位测试条4a的间距大于两条偏位导电条4B的间距。
在此需要再次说明的是，在这里不对偏位测试条4a及偏位导电条4B的宽度及间距进行限定，只要保证偏位测试条4a与偏位导电条4B的最大接触长度，即偏位测试条4a及偏位导电条4B完全接触时的水平长度大于测试条3a与导电条3B的最大接触长度，即测试条3a与导电条3B完全接触时的水平长度即可。
由此，在测试时，结合测试平台，测量绑定(bonding)后串联电路的电阻。 假设产线能容忍的绑定(bonding)偏位值为可绑定(bonding)偏位50％，则通过调整偏位测试条4a或偏位导电条4B的宽度，并且使两条偏位测试条4a的间距与其相对的两条偏位导电条4B的间距不等，使偏位测试条4a与偏位导电条4B的最大接触长度为测试条3a与导电条3B的50％，当绑定(bonding)发生偏位，可根据电阻大小，判断绑定(bonding)偏位状况。当绑定(bonding)偏位50％时，整串测试电路呈开路状态，从而得知绑定(bonding)的偏位已超出产线容忍值，可提前做出预防。
同时，该显示模组结构增加了模组设计的灵活性，可根据不同显示模组的不同情况设计不同显示模组需要的偏位测试组，并且在测试时可从绑定(bonding)整体上检测绑定(bonding)状况，有效拦截绑(bonding)不强的产品，并且提高了产线绑定(bonding)检测的效率。
实施例五
本实施例提供一种包含前述任意一种实施例所述显示模组的显示装置，本实施例中与前述实施例相同部分不再赘述，仅描述不同部分。本发明提供的显示模组可应用于任意一种显示装置，适用于任意一种显示装置，因此，本实施例提供的显示装置为通常意义上的显示装置，该显示装置包含本发明提供的显示模组。
最后需要说明的是，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。